1、Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 2Rev. 2.0MeasureMeasureDefineDefineAnalyzeAnalyzeImproveImproveControControl lq Measure Measure 概要概要 q Project Y Project Y q 基礎統(tǒng)計基礎統(tǒng)計q 測定測定System System 分析分析q Six Sigma Six Sigma 測度測度q 工程能力分析工程能力分析q Process MapProcess Map & & 特性要因圖特性要因

2、圖 q FDM FDMProprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 3Rev. 2.0Six Sigma Six Sigma 測度測度理解理解Six SigmaSix Sigma的主要測度的主要測度-DPU, DPO, DPMODPU, DPO, DPMO-FTY, RTY, YFTY, RTY, YNORNORProprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 4Rev. 2.0DPUDPU與與DPMODPMOq DPO (Defects per Opportun

3、ity) DPO (Defects per Opportunity) l 每機會缺陷數(shù)q DPU (Defects per Unit) DPU (Defects per Unit) l 每單位缺陷數(shù)l 為了消除缺陷的基準l 工廠單位改善中使用q DPMO (Defects per Million Opportunities) DPMO (Defects per Million Opportunities)l 每百萬機會缺陷數(shù)l 考慮制品復雜度的比較基準l 企業(yè)內(nèi)或企業(yè)之間Benchmarking手段OpportunityOpportunityDefectsDefectsDPODPO= =000

4、,000,1yOpportunitDefectDPMO UnitUnitDefectsDefectsDPODPO= =Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 5Rev. 2.0制品部品 2部品 1組裝品 A組裝品 B特性 B特性 Aq 機會機會(Opportunity)(Opportunity) l 有可能發(fā)生缺陷的檢查或試驗對象 l 發(fā)生缺陷的機會在特性、部品、組裝品等制品任何階段 都可能存在。Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 6Rev.

5、2.0q 復雜度復雜度( (Complexity )Complexity ) 總機會數(shù)與制品或Process復雜度正比。部品特性材料機械工具次序制品Process復雜度復雜度相關部品、特性或材料越多，成為越復雜的制品。相關機械、工具或次序越多，成為越復雜的Process.Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 7Rev. 2.0q DPU/DPO/DPMODPU/DPO/DPMO以下以下DrillingDrilling加工的例中計算加工的例中計算DPUDPU與與 DPMODPMO. . Data Data 類型是類型是?

6、 ? UnitUnit? ? DefectDefect? ? OpportunityOpportunity? ? DPUDPU? ? DPMODPMO? ?Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 8Rev. 2.0q DPUDPU計算計算總生產(chǎn)單位數(shù)總缺陷數(shù)=DPUl DPU不能考慮一個單位里有多少缺陷機會。 DPU=DPMO總缺陷發(fā)生機會數(shù)總缺陷數(shù)1,000,000=DPMO =q DPMODPMO計算中心計算中心l 一般表示6水準時，比不良率 3.4ppm更恰當?shù)氖?.4DPMO DPU/DPO/DPMO DPU/D

7、PO/DPMO 事例事例l 使用互相不同的Process、制品之 間或制造領域和非領域之間比較時更 恰當。 Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 9Rev. 2.0q DPMO DPMO 計算例計算例 缺陷數(shù)缺陷數(shù) 某個PCB以800個焊接點和200個部品構成。在這 PCB中發(fā)現(xiàn)焊接不良6處和不良部品2個。 DPMO是? DPMO = (6+2)/(800+200) * 百萬百萬 = 8,000Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 10Rev.

8、 2.0qDP(M)O DP(M)O 計算時注意事項計算時注意事項 例) 某部品的生產(chǎn)工程中不良發(fā)生機會數(shù)是100,000次，但正常作業(yè) 過程中只對其中1,000次機會進行評價，結果一個部品里發(fā)現(xiàn)10個 缺陷，以下計算中哪個正確？ DPO = 10 / 100,000 DPO = 10 / 1,000機會是有缺陷發(fā)生的可能性，以檢查及試驗對象被評價時機會是有缺陷發(fā)生的可能性，以檢查及試驗對象被評價時 Count Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 11Rev. 2.0 YieldYield在工程的各階段中包括再作業(yè)或

9、部品的廢棄等不良的管理指標，在工程的各階段中包括再作業(yè)或部品的廢棄等不良的管理指標， 是良品率的概念。是良品率的概念。l 初期數(shù)率初期數(shù)率 ( (FTY, First Time Yield) : FTY, First Time Yield) : 決定各別工程的品質(zhì)水準時使用。再作業(yè)決定各別工程的品質(zhì)水準時使用。再作業(yè)/ /不修理的不修理的ProcessProcess中適用。中適用。 l 累計數(shù)率累計數(shù)率 ( (RTY, Rolled Throughput Yield) : RTY, Rolled Throughput Yield) : 表現(xiàn)全體工程的品質(zhì)水準時使用的指標中的一個。表現(xiàn)全體工程的

10、品質(zhì)水準時使用的指標中的一個。表現(xiàn)為初期數(shù)率的倍。表現(xiàn)為初期數(shù)率的倍。l 標準化數(shù)率標準化數(shù)率 ( (Y YNorNor, , Normalized Yield) : Normalized Yield) : 表現(xiàn)全體工程的品質(zhì)水準時使用的指標中的一個，表現(xiàn)全體工程的品質(zhì)水準時使用的指標中的一個，在在ProcessProcess中初期數(shù)率適用幾何平均概念。中初期數(shù)率適用幾何平均概念。q Yield( Yield(數(shù)率數(shù)率) )的種類的種類q Yield (Yield (數(shù)率數(shù)率) )Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 -

11、12Rev. 2.045,000 ppm 浪費浪費30,000 ppm 浪費浪費56,000 ppm 浪費浪費95.5% 數(shù)率數(shù)率97% 數(shù)率數(shù)率94.4% 數(shù)率數(shù)率RTY = 0.955*0.97*0.944 = 87.4%不但是最終階段，其它各階段的能力不但是最終階段，其它各階段的能力RTY都重視。都重視。 YieldProprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 13Rev. 2.0l 已知的DATA是缺陷DATA時- 是意味著泊松分布中PX = 0 (沒有一個缺陷的概率).-eDPUl 已知的DATA是不良率或數(shù)率DAT

12、A時DPUeRTY YieldRTY = FTY1FTY2 FTY3 q YNor 計算計算YNor = FTY1 FTY2 FTYnnProprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 14Rev. 2.0l 生產(chǎn)一個單位部品所需 3個工程，各工程的初期數(shù)率為 FTYi . l 各單位工程中發(fā)生的缺陷數(shù)，跟隨著擁有以下概率函數(shù)的泊松分布。 DPUdpudpudpuee-+-=)(321, 2 , 1 , 0 ,!)(xxdpuexXPxidpui- 但, 為 單位工程 i 的 平均缺陷數(shù)idpul 因此各單位工程的數(shù)率是在工程中一

13、個缺陷都不發(fā)生的概率，如下。idpueXP-=0l 按以上的結果，可以確認下面的等式。 3RTY = FTYi i = 1 YieldProprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 15Rev. 2.0想想下面的工程。想想下面的工程。收入檢查收入檢查100%數(shù)率數(shù)率SMD檢查檢查95.5%數(shù)率數(shù)率PBA檢查檢查97.0%數(shù)率數(shù)率ICT94.4%數(shù)率數(shù)率 RTY = 1.00 0.955 0.970 0.944 = 0.874 = 87.4 %Y%7.96967.0874.0RTY414Nor=q Yield (數(shù)率數(shù)率) Yie

14、ldProprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 16Rev. 2.0例1) 現(xiàn)場某一位機士對特定類型Defect觀察結果 346個生產(chǎn)單位中發(fā)現(xiàn)1個。對這特性(Characteristic)的 RTY?0.002893461=DPU00289.0= 0.99711=-eeRTYDPU計算)例2) 有3個工程組成的生產(chǎn)Line，各工程通過數(shù)率為 98% 時Line的 RTY ?計算)0.980.980.98RTY = 0.98 0.98 0.98 = 0.941192 YieldYieldProprietary to Sams

15、ung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 17Rev. 2.0 水準水準 : 規(guī)格中心和規(guī)格上限或下限距離是標準偏差規(guī)格中心和規(guī)格上限或下限距離是標準偏差的幾倍？的幾倍？q 水準的概念水準的概念l 品質(zhì)特性值隨正態(tài)分布時，從規(guī)格中心到規(guī)格界限為止距離相當于標準偏差幾倍的測度，Process散布越小，水準越大。m m1 3 平均平均規(guī)格界限規(guī)格界限 l 測定Process可以生產(chǎn)多少均一品質(zhì)制品能力的測度。Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 18Rev. 2.01 m m1 發(fā)生不良限

16、度3 平均平均記號前數(shù)值記號前數(shù)值(Z)越大，不良發(fā)生越大，不良發(fā)生的概率越小。的概率越小。6 規(guī)格界限規(guī)格界限3 水準的水準的穩(wěn)定工程穩(wěn)定工程6 水準的水準的穩(wěn)定工程穩(wěn)定工程Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 19Rev. 2.0l 由于作業(yè)者倒班、原材料LOT變化、設備的保養(yǎng)、模具交換等現(xiàn)實性的變化要素而規(guī)格中心和Process平均常時間維持一致狀態(tài)是很難。l 根據(jù)經(jīng)驗隨著時間過 去，一般Process平均離中心約 1.5左右變動。q Process dynamicsLSLUSL起點 1起點 2起點 3起點 4P

17、rocess 固有能力固有能力長期長期 Process 能力能力目標值Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 20Rev. 2.0q 水準和水準和 DPMO l 考慮Process現(xiàn)實變化，計算對應水準的缺陷率或不良率時， Process平均離規(guī)格中心標準偏差的1.5倍變動為前提計算。 l 在6水準Process中，100萬次機會中能發(fā)生3.4次左右缺陷，這相當于3.4DPMO. USLLSL規(guī)格中心3.43.4DPMODPMO4.5 4.5 .st.st1.5 1.5 .st.stProprietary to Sams

18、ung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 21Rev. 2.0999,999.6999,995999,991999,987999,979999,968999,952999,928999,892999,841999,767999,663999,517999,313999,032998,650998,134997,445996,533995,339993,790991,802989,276良品數(shù)良品數(shù)3.45913213248721081592333374836879681,3501,8662,5553,4674,6616,2108,19810,7246.05.9

19、4.03.93.8.st3.02.3.lt986,097977,250971,284964,070955,435945,201933,193919,243903,199884,930864,334841,345815,940788,145758,036725,747691,462655,422617,911579,260539,828500,000460,172良

20、品數(shù)良品數(shù)13,90322,75028,71635,93044,56554,79966,80780,75796,801115,070135,666158,655184,060211,855241,964274,253308,538344,578382,089420,740460,172500,000539,823.02.0.st2.22.01.00.0-0.1.

21、lt420,740382,089344,578308,538274,253241,964211,855184,060158,655135,666115,07096,80180,75766,80754,79944,56535,93028,71622,75017,86413,90310,7248,198良品數(shù)良品數(shù)579,260617,911655,422691,462725,747758,036788,145815,940841,345864,334884,930903,199919,243933,193945,201955,435964,070971,284977,250982,136986,

22、097989,276991,801.00.0-0.1-0.2-0.3-0.4-0.5-0.6-0.7-0.8-0.9.st-0.2-0.3-0.4-0.5-0.6-0.7-0.8-0.9-1.0-1.1-1.2-1.3-1.4-1.5-1.6-1.7-1.8-1.9-2.0-2.1-2.2-2.3-2.4.lt6,2104,6613,4672,5551,8661,3509686874833372331591087248322113953良品數(shù)良品數(shù)993,790995,339996,533997,445998,13499

23、8,650999,032999,313999,517999,663999,767999,841999,892999,928999,952999,968999,979999,987999,991999,995999,997-1.0-1.1-1.2-1.3-1.4-1.5-1.6-1.7-1.8-1.9-2.0-2.1-2.2-2.3-2.4-2.5-2.6-2.7-2.8-2.9-3.0.st-2.5-2.6-2.7-2.8-2.9-3.0-3.1-3.2-3.3-3.4-3.5-3.6-3.7-3.8-3.9-4.0-4.1-4.2-4.3-4.4-4.5.ltq 水準與水準與 DPMO 表表

24、Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 22Rev. 2.0q 水準計算水準計算 l l 缺點數(shù)缺點數(shù)DATA時時 - 求DPMO - 表中找出對應DPMO的Z.st值或利用 Minitab求。 l l DATA是不良率時是不良率時 - 以不良率可以計算出PPM.PPM = (不良率)1,000,000- 從表中找出與PPM值一樣的對應DPMO的 Z.st值或利用 Minitab求。 l l DATADATA是數(shù)率時是數(shù)率時 - Scrap、 再作業(yè)等為不良計算數(shù)率。 - 從表中找出對應每百萬個良品數(shù) = (數(shù)率)1,000,000 Z.st值或利用Minitab求。Proprietary to Samsung Electronics CompanySix Sigma 測度 - 23Rev. 2.0q 水準的計算水準的計算 例例l 例題 1. 對某工程生產(chǎn)出貨的制品特征類型缺陷， 經(jīng)過長期調(diào)查結果346個制品中發(fā)現(xiàn)1個缺陷。 計算在這工程的缺陷相關的水準。l 計算 1,000,000