1、ICT 培訓(xùn)資料一一.ICT的根本認(rèn)識(shí)的根本認(rèn)識(shí) v 1. ICT即在線測(cè)試儀In Circuit Tester,是一大堆高級(jí)電表的組合。但它能對(duì)在線電路板上的元件測(cè)試進(jìn)行有效的隔v 離(Guarding),而萬用表那么不能.所以,萬用表能測(cè)的它也能測(cè),萬v 用表不能測(cè)的,它可能能測(cè).v 2. ICT能測(cè):Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等. v 3. ICT與ATE的區(qū)別: ICT只作靜態(tài)測(cè)試,而ATE那么作動(dòng)態(tài)測(cè)試.即ICT對(duì)被測(cè)板不通電,而ATE要對(duì)被測(cè)板通電才能測(cè)試,二二ICT的測(cè)試原理的測(cè)試原理 當(dāng)Rx有旁路R1)時(shí)， Ix=Is-I1Is 故：Vx/IsRx此時(shí)取A

2、點(diǎn)電位Va, 送至C 點(diǎn), 令Vc=Va, 那么： I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 從而： Vx/Is=Rx如圖:1. Guarding(隔離隔離)的實(shí)現(xiàn)的實(shí)現(xiàn)： 2. 量測(cè)電阻R： (1).單個(gè)R(mode D1,D2): 直流定電流源: 利用Vx=IsRx歐姆定律， 那么Rx=Vx/Is. 信號(hào)源Is取恒流 0.1uA5mA,量回Vx即可算出Rx值.如以下圖一.圖一圖一 圖二圖二 (2). R/C(mode V5,CV): 直流定電壓源: 信號(hào)源Vs取恒壓 0.2V，量回 Ix，那么Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上圖二.(3).R/L(mode P1,P2,

3、P3,P4,P5): 相位法測(cè)試相位法測(cè)試:信號(hào)源取交流電壓源信號(hào)源取交流電壓源Vs，籍相位法輔，籍相位法輔助助.|Y|Cos=YRx=1/Rx,并并|Y|=Ix/Vs故：故：Rx=1/|Y|Cos 如以下圖如以下圖:3. 量測(cè)電容量測(cè)電容C&電感電感L： (1).單個(gè)單個(gè)C&LMode A1.A2.A3.A4.A5 ： 交流定電壓交流定電壓:交流電壓源一定交流電壓源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2fCx,求得：求得：Cx=Ix/2fVs.Vs/Ix=Zl=2fLx, 求得：求得：Lx=Vs/2fIx. 注注:3UF以上電容用以上電容用(Model DC) (2).C/R或或L/R:(P1.

4、P2.P3.P4.P5)相位法測(cè)試相位法測(cè)試: 1. |Y|Sin=|Ycx|,即即CxSin=Cx 求得：求得：Cx=CxSin (Cx=Ix/2fVs) 2.|Y|Sin=|Ycx|,即即Sin/Cx=1/Cx 求得：求得：Lx=Lx/Sin(Lx=Vs/2fIx) 如以下圖如以下圖:4. 量測(cè)PN結(jié)：D、Q、IC 信號(hào)源0-10V/3mA or 30mA可程式電壓源,量PN結(jié)導(dǎo)通電壓 一般順向電壓0.7V;反向電壓2.2V.這里主要講下三極管的三端量測(cè)法晶體管做三端點(diǎn)量測(cè)時(shí) ,假設(shè)晶體管為NPN type,實(shí)際值(ACTval)設(shè)定值為DA1所送電壓，標(biāo)準(zhǔn)值(STDval)設(shè)定值即為晶體

5、管的VCES電壓值。改變實(shí)際值(ACTval)(從0.5V往上增加) ，直到晶體管飽和導(dǎo)通(測(cè)試值應(yīng)低于0.2V)。如果晶體管為PNP type，改變實(shí)際值(ACTval)欄的電壓(從4.5V往下減少) ，直到晶體管飽和導(dǎo)通測(cè)試值應(yīng)低0.2V。 5. 量測(cè)Open/Short： 即以阻抗判定：先對(duì)待測(cè)板上所有Pin點(diǎn)進(jìn)行學(xué)習(xí),R20即歸為Short Group，然后Test時(shí)進(jìn)行比較，R80判為Open.短路1080開路20學(xué)習(xí)參考點(diǎn) 6.低壓測(cè)試方法(LV) 低壓功能測(cè)試是允許你供給某一定電壓到零件兩端，同時(shí)測(cè)量零件兩端的電壓，如測(cè)電容反向、Zener二極管、或IC都可使用此法。 假設(shè)我們要

6、測(cè)一個(gè)6V的穩(wěn)壓二極管,我們可以在實(shí)際值中填入9V,標(biāo)準(zhǔn)值中填入6,當(dāng)實(shí)際植的單位是V,而標(biāo)準(zhǔn)值不是0時(shí),系統(tǒng)會(huì)送出一個(gè)9V電壓至穩(wěn)壓二極管兩端,然后量測(cè)穩(wěn)壓二極管的電壓是否為5.6V,從而判定好壞.LV模式最大送出電壓為10V 7.高壓測(cè)試方法高壓測(cè)試方法(HV) 高壓測(cè)試的原理與設(shè)定方法與低壓相似,只是在模式里選(HV),高壓最大送出電壓為50V跳線測(cè)試跳線測(cè)試(Jumper Test) 跳線測(cè)試跳線測(cè)試(Jumper Test)采用一個(gè)比較器硬件線路，因此，測(cè)采用一個(gè)比較器硬件線路，因此，測(cè)試的結(jié)果只有、四個(gè)值，單位以試的結(jié)果只有、四個(gè)值，單位以JP表示，其代表表示，其代表的意義如下：的

7、意義如下： JP： 10 歐姆歐姆(ohm) JP： 10歐姆歐姆(ohm)， 20歐姆歐姆( ohm) JP： 20歐姆歐姆(ohm)， 80歐姆歐姆( ohm) JP： 80歐姆歐姆(ohm) 三三ICT測(cè)試程序的制作測(cè)試程序的制作 一準(zhǔn)備好2PCS空PCB板，1PCS實(shí)板，1份BOM及原理圖邦線圖，提供給供給商分析 二供給商根據(jù)我們的要求制作測(cè)試機(jī)架及原始程序 三根據(jù)BOM，電路圖，針點(diǎn)圖進(jìn)行相對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序的調(diào)試1單板的調(diào)試 按“Ctrl+E進(jìn)入元件編輯界面 先熟悉一下界面對(duì)照壞機(jī)故障，加深印象 A 元件元件Component的調(diào)試的調(diào)試(R,C,L,D,Q) 電阻電阻RDebug:(

8、1).根據(jù)根據(jù)R的大小的大小,系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整測(cè)試電流大小系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整測(cè)試電流大小. F9:單步測(cè)試單步測(cè)試 Alt+F9:整頁測(cè)試整頁測(cè)試 F5:對(duì)調(diào)對(duì)調(diào)AB點(diǎn)點(diǎn) F10自動(dòng)自動(dòng)Guarding. Alt+H:查看串連元查看串連元件件.Alt+J:查看并聯(lián)元件查看并聯(lián)元件. (2).R/C:Model(CV&V5)(3).R/D:Model(D2&V5).(4).R/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) 電容電容CDebug: (1).單個(gè)電容單個(gè)電容3uf以上信號(hào)源既可用交流也可以上信號(hào)源既可用交流也可用直流用直流.300uf以上只可用以上只可用DC模式模式.470pf以以下用下用A

9、4&A5; 470pf3uf用模式用模式. (2).C/R:Model(A1.A2.A3.A4.A5) (3).C/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) (4).C/D:Model(DC&A1A5)470PF3UF300UFA1.A2.A3.A4.A5DCDC.A1.A2D&Q&IC的的Debug (1).單個(gè)D&Q&IC正向:0.7V左右;反向2V以上. (2).D/C:Model(LV低電壓) (3).D/D:Model(CM,除正向?qū)y(cè)試,還需做電流測(cè)試 (4).Zerer:需作反向電流測(cè)試.10V48V的Zerer可用 HV(高電壓)測(cè)試. (5).Q的CE極:需判斷Q的類

10、型(PNP&NPN) 為了使CE極飽和導(dǎo)通,NPN偏置電壓為0.7V1V; PNP偏置電壓為 4.5V2V;反向在0.5V以上. B. IC的學(xué)習(xí) a 按“Ctrl+I進(jìn)入IC編輯界面 按F4選出IC相對(duì)應(yīng)的參考地GND或電源VCC 按F3保存后退出b.進(jìn)入元件編輯界面,然后按ALT+I進(jìn)行保護(hù)二極體的學(xué)習(xí),根據(jù)提示,按測(cè)試要求選擇對(duì)話框,完成IC的自動(dòng)學(xué)習(xí)并保存注意:IC的參考點(diǎn)GND,VCC必須選對(duì),檢查IC腳位是否和測(cè)試針點(diǎn)相對(duì)應(yīng),否那么將產(chǎn)生錯(cuò)誤的程序GNDIC腳針點(diǎn)C. OPEN/SHORT的學(xué)習(xí)的學(xué)習(xí)在測(cè)試界面按CTRL+L,電腦將提示放入好板并進(jìn)行學(xué)習(xí)，學(xué)習(xí)后保存退出注意：系統(tǒng)只

11、會(huì)針對(duì)有測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行學(xué)習(xí)。當(dāng)單板程序調(diào)試穩(wěn)定后，我們就可以產(chǎn)生多連板啦！2多連板的產(chǎn)生多連板的產(chǎn)生A 在測(cè)試界面單擊設(shè)定，選擇在測(cè)試界面單擊設(shè)定，選擇“產(chǎn)生多連板程序產(chǎn)生多連板程序命令將彈出以下對(duì)話框命令將彈出以下對(duì)話框你只用根據(jù)你的要求填入數(shù)字就可以啦比方要做一個(gè)8連板的程序，你就填入4-2，到時(shí)電腦將自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)8連板的程序B 接下來將彈出一個(gè)對(duì)話框，提示輸入第二塊板的最小針點(diǎn)號(hào)對(duì)照針點(diǎn)圖找到第二塊的最小針點(diǎn)，填入對(duì)話框在下面對(duì)話框里填入0接下來是選擇新文檔存貯的路徑，假設(shè)默認(rèn)的話，文件將產(chǎn)生一個(gè)新的程序并保存在原文件夾中，不用擔(dān)憂會(huì)把原單板程序覆蓋最后把程序保存，一個(gè)完整的程序就完成

12、啦！假設(shè)還有個(gè)別不穩(wěn)定的工程，參考前面調(diào)試的方法，Debug直到穩(wěn)定四四ICT誤測(cè)分析誤測(cè)分析 1. ICT無法測(cè)試局部： 記憶體ICEPROM、SRAM、DRAM 并聯(lián)大10倍以上大電容的小電容 并聯(lián)小20倍以上小電阻的大電阻 單端點(diǎn)之線路斷線 D/L，D無法量測(cè) (6). 跳線并連 (7)IC之功能測(cè)試.2. PCB之測(cè)點(diǎn)或過孔綠油未翻開，或PCB吃錫不好。3. 壓床壓入量缺乏。探針壓入量應(yīng)以1/2-2/3為佳。4經(jīng)過免洗制程的PCB板上松香致探針接觸不良。5PCB板定位柱松動(dòng)，造成探針觸位偏離焊盤。6治具探針不良損壞。7. 零件廠牌變化可放寬+-%，IC可重新 Learning。8. 治

13、具未Debug好再進(jìn)行Debug。9. ICT本身故障。五五ICT的轉(zhuǎn)機(jī)流程的轉(zhuǎn)機(jī)流程1將待測(cè)Model 的機(jī)架準(zhǔn)備好. 2將紅外線保護(hù)開關(guān)拔至OFF位置,依次序取下原測(cè)試機(jī)架上模和下模.的34Pin排線紅外線保護(hù)開關(guān)64Pin排線3將待測(cè)機(jī)架放入,對(duì)好上,下模位置并固定好,再依次序插好34Pin排線固定夾具螺絲64pin排線4.固定好機(jī)架后,放一待測(cè)板在機(jī)架上,再調(diào)整行程控制感應(yīng)開關(guān),使上模,待測(cè)板,下模三者充分接觸好后,再固定好感應(yīng)開關(guān).行程控制開關(guān)6.將紅外線保護(hù)開關(guān)拔至ON位置,在D:目錄下調(diào)出待測(cè)板的測(cè)試程序.紅外線保護(hù)開關(guān)試測(cè)試5-10片待測(cè)板,PASS后交由測(cè)試員操作六六.ICT

14、程序調(diào)試時(shí)本卷須知程序調(diào)試時(shí)本卷須知換上新機(jī)架時(shí)換上新機(jī)架時(shí),程序出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象程序出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象,這時(shí)我們需作程式調(diào)整這時(shí)我們需作程式調(diào)整,但但需注意如下幾項(xiàng)需注意如下幾項(xiàng): 1 首先要確定測(cè)試針是否良好首先要確定測(cè)試針是否良好,測(cè)試點(diǎn)是否接觸良好測(cè)試點(diǎn)是否接觸良好,元件是否元件是否假焊假焊,漏料漏料,錯(cuò)料等不良錯(cuò)料等不良. 2 按按“Ctrl +E進(jìn)入元件編輯進(jìn)入元件編輯,再按再按“Alt +R 跳至測(cè)試不良項(xiàng)跳至測(cè)試不良項(xiàng),按按F9進(jìn)行當(dāng)前項(xiàng)測(cè)試進(jìn)行當(dāng)前項(xiàng)測(cè)試. 3 調(diào)整程式時(shí)調(diào)整程式時(shí),要采用比照方式進(jìn)行要采用比照方式進(jìn)行,即用多塊板進(jìn)行比照調(diào)試即用多塊板進(jìn)行比照調(diào)試. 4 調(diào)試時(shí)

15、調(diào)試時(shí),只能在模式只能在模式(MD)(光標(biāo)移至此欄光標(biāo)移至此欄)按按Space 進(jìn)行選進(jìn)行選擇擇,檔位進(jìn)檔位進(jìn) 行行 選選 擇擇 (光標(biāo)移至此欄光標(biāo)移至此欄)按按Space 進(jìn)行選擇進(jìn)行選擇,延遲時(shí)間延遲時(shí)間,A.B 點(diǎn)對(duì)調(diào)點(diǎn)對(duì)調(diào)(F5)加隔離點(diǎn)加隔離點(diǎn)(F10) 五項(xiàng)中進(jìn)行調(diào)試五項(xiàng)中進(jìn)行調(diào)試. 5 必要時(shí),可調(diào)整上限,下限及標(biāo)準(zhǔn)植. 6 PF級(jí)電容調(diào)試時(shí),不可改動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)值及實(shí)際值,只作雜散電容補(bǔ)償調(diào)整,使用 “Alt+Y 自動(dòng)補(bǔ)償 7 級(jí)電阻,測(cè)試時(shí)不穩(wěn)定時(shí),可根據(jù)實(shí)際情況作跳線測(cè)試,即實(shí)際值欄改為 “JP 測(cè)試, JP標(biāo)準(zhǔn): 1JP10 ; 102JP 20 ; 20 3JP 80 . 8

16、電感測(cè)試不穩(wěn)定時(shí),也可作跳線測(cè)試,其方法與 級(jí)電阻設(shè)定相同,也可用頻率 (A2/A3/A4/A5) 進(jìn)行調(diào)試. 如遇電感并聯(lián)電容.電阻那么用(P1/P2/P3/P4/P5) 模式進(jìn)行調(diào)試七七ICT常見故障檢修常見故障檢修1系統(tǒng)板，自檢板，DC板，AC板，開關(guān)板的偵測(cè) A翻開JET下的Jet300a.dat文件進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試 如果是電阻，二極管，三極管壞或不穩(wěn)，多為DC板故障 如果是電容壞或不穩(wěn)，多為AC板故障 兩者都有，那么有可能是系統(tǒng)板或自檢板的故障 B翻開以下圖中的自我測(cè)試將會(huì)出現(xiàn) 其中MEAS TEST 就是系統(tǒng)板，自檢板，DC板，AC板 的檢測(cè) RELAY TEST 是多塊開關(guān)板的檢測(cè)，填入開關(guān)板的數(shù)量，就會(huì)顯示測(cè)試結(jié)果 當(dāng)然，機(jī)臺(tái)，卡槽也有可能影響測(cè)試 2常用快捷捷鍵常用快捷捷鍵 進(jìn)入元件編輯界面 CTRL+E 進(jìn)入短路編輯界面 CTRL+P 進(jìn)入不測(cè)點(diǎn)編輯界面 CTRL+S 進(jìn)入IC編輯界面 CTRL+I 進(jìn)入開/短路路學(xué)習(xí) CTRL+L 在元件編輯中常用的快捷鍵 尋找針點(diǎn) ALT+P 顯示并聯(lián)元件 ALT+J 顯示串聯(lián)元件 ALT+H 學(xué)習(xí)電容補(bǔ)償值 ALT+Y 單項(xiàng)測(cè)試 F9 整頁測(cè)試 ALT+F9 尋找隔離點(diǎn) F10 取消隔離點(diǎn) F4