1、(一) 簡(jiǎn)介 普通, 儀表的消費(fèi)測(cè)試、檢定測(cè)試都是在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)展的，試品均為線性電阻構(gòu)成的高阻箱,其示值準(zhǔn)確度的影響要素主要有： 1. 絕緣表的準(zhǔn)確度等級(jí) 2. 電阻箱電阻示值因溫度、濕度、實(shí)驗(yàn)電壓、灰塵污垢引入的偏向。 3. 測(cè)試方法引入的偏向。 儀表按計(jì)量規(guī)程要求檢定合格是保證現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試準(zhǔn)確的先決條件。 然而，即使是檢定合格的儀表，在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)往往有較大差距。主要有： 1. 同一儀表測(cè)試同一試品存在的反復(fù)測(cè)試偏向。 2. 不同儀表測(cè)試同一試品存在的臺(tái)間偏向。 這是被測(cè)試品是電容性負(fù)載的緣由。試品電容量愈大，數(shù)據(jù)差別愈大。電力部門的實(shí)驗(yàn)對(duì)象多是電容量較大的試品。應(yīng)該留意到：應(yīng)該留

2、意到： 實(shí)驗(yàn)對(duì)象的絕緣特性是隨環(huán)境溫度、濕度變化的。不同時(shí)期獲取的實(shí)驗(yàn)對(duì)象的絕緣特性是隨環(huán)境溫度、濕度變化的。不同時(shí)期獲取的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)會(huì)有所不同。有時(shí)，實(shí)驗(yàn)對(duì)象的溫度與環(huán)境溫度的不平衡也實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)會(huì)有所不同。有時(shí)，實(shí)驗(yàn)對(duì)象的溫度與環(huán)境溫度的不平衡也會(huì)影響示值準(zhǔn)確度，如作為介質(zhì)的絕緣用油的油溫與環(huán)境溫度的差別會(huì)影響示值準(zhǔn)確度，如作為介質(zhì)的絕緣用油的油溫與環(huán)境溫度的差別就不應(yīng)超越就不應(yīng)超越5。 同一儀表順序測(cè)試同一試品存在的反復(fù)測(cè)試偏向的成因主要有：同一儀表順序測(cè)試同一試品存在的反復(fù)測(cè)試偏向的成因主要有： 1. 測(cè)試方法不同必然會(huì)產(chǎn)生不同的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。假設(shè)采用不同的額測(cè)試方法不同必然會(huì)產(chǎn)生不同的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)

3、。假設(shè)采用不同的額定電壓進(jìn)展反復(fù)測(cè)試，那么實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)往往有較大差距。定電壓進(jìn)展反復(fù)測(cè)試，那么實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)往往有較大差距。 試品內(nèi)相聯(lián)絡(luò)的各部分的銜接、短路、開路以及試品與儀表間測(cè)試試品內(nèi)相聯(lián)絡(luò)的各部分的銜接、短路、開路以及試品與儀表間測(cè)試線銜接點(diǎn)不同，都有能夠產(chǎn)生不同的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。線銜接點(diǎn)不同，都有能夠產(chǎn)生不同的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。 2. 電容性負(fù)載其介質(zhì)在直流電壓的作用下會(huì)產(chǎn)生極化，由于實(shí)驗(yàn)電容性負(fù)載其介質(zhì)在直流電壓的作用下會(huì)產(chǎn)生極化，由于實(shí)驗(yàn)過的試品極化電勢(shì)的存在或放電不充分過的試品極化電勢(shì)的存在或放電不充分, 使得反復(fù)測(cè)試時(shí)產(chǎn)生不同的使得反復(fù)測(cè)試時(shí)產(chǎn)生不同的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。在實(shí)際中實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。在實(shí)際中,試品要想充

4、分消除極化較難實(shí)現(xiàn)。試品要想充分消除極化較難實(shí)現(xiàn)。 另外另外, 儀表的輸出電流才干愈小，反復(fù)測(cè)試數(shù)據(jù)差別愈大。由于儀表的輸出電流才干愈小，反復(fù)測(cè)試數(shù)據(jù)差別愈大。由于電容性負(fù)載的絕緣特性參數(shù)都是時(shí)間的函數(shù)，電流愈小，測(cè)試數(shù)據(jù)電容性負(fù)載的絕緣特性參數(shù)都是時(shí)間的函數(shù)，電流愈小，測(cè)試數(shù)據(jù)所處時(shí)點(diǎn)的變化率愈大。假設(shè)是人工采集數(shù)據(jù)，其采集誤差不可忽所處時(shí)點(diǎn)的變化率愈大。假設(shè)是人工采集數(shù)據(jù)，其采集誤差不可忽視。留意到以上問題，有利于對(duì)數(shù)據(jù)的了解和分析。視。留意到以上問題，有利于對(duì)數(shù)據(jù)的了解和分析。 采取相應(yīng)對(duì)策：測(cè)試前試品充分放電；同一測(cè)試方法；采用輸采取相應(yīng)對(duì)策：測(cè)試前試品充分放電；同一測(cè)試方法；采用輸出

5、電流才干大的儀表，將有利于減少反復(fù)測(cè)試偏向。出電流才干大的儀表，將有利于減少反復(fù)測(cè)試偏向。 不同型號(hào)、不同規(guī)格儀表測(cè)試同一試品不同型號(hào)、不同規(guī)格儀表測(cè)試同一試品, 除了反復(fù)測(cè)試偏向存除了反復(fù)測(cè)試偏向存在的影響外，臺(tái)間偏向的成因主要是：在的影響外，臺(tái)間偏向的成因主要是： 1. 儀表的實(shí)驗(yàn)電源具有不同的負(fù)載特性。儀表的實(shí)驗(yàn)電源具有不同的負(fù)載特性。 2. 儀表的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處置方法不同。儀表的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處置方法不同。 3. 儀表的運(yùn)用方法不同。儀表的運(yùn)用方法不同。 絕緣電阻表普通由實(shí)驗(yàn)電壓源發(fā)生、穩(wěn)定、限制、維護(hù)和絕緣電阻表普通由實(shí)驗(yàn)電壓源發(fā)生、穩(wěn)定、限制、維護(hù)和數(shù)據(jù)處置采集、運(yùn)算、存儲(chǔ)、顯示兩部分電路組

6、成。數(shù)據(jù)處置采集、運(yùn)算、存儲(chǔ)、顯示兩部分電路組成。 儀表的實(shí)驗(yàn)電壓源都具有一定的內(nèi)阻。內(nèi)阻不同，試品充電電儀表的實(shí)驗(yàn)電壓源都具有一定的內(nèi)阻。內(nèi)阻不同，試品充電電流的大小不同，試品兩端端電壓建立時(shí)間的長(zhǎng)短不一，同時(shí)也呵斥流的大小不同，試品兩端端電壓建立時(shí)間的長(zhǎng)短不一，同時(shí)也呵斥試品介質(zhì)的吸收與極化的速率和程度不同。由此，在同一試品上產(chǎn)試品介質(zhì)的吸收與極化的速率和程度不同。由此，在同一試品上產(chǎn)生的電壓、電流與時(shí)間的數(shù)量關(guān)系不同，即生的電壓、電流與時(shí)間的數(shù)量關(guān)系不同，即R15S、R60S、R10min這些時(shí)點(diǎn)值的不同。這些時(shí)點(diǎn)值的不同。 儀表的輸出短路電流才干越大、輸出功率越大，測(cè)得的試品絕儀表的輸

7、出短路電流才干越大、輸出功率越大，測(cè)得的試品絕緣特性值越接近真值。在實(shí)際中，儀表的實(shí)驗(yàn)電源的負(fù)載才干大到緣特性值越接近真值。在實(shí)際中，儀表的實(shí)驗(yàn)電源的負(fù)載才干大到使數(shù)據(jù)誤差可忽略的程度即可。使數(shù)據(jù)誤差可忽略的程度即可。 那么，根據(jù)試品電容量的大小，商定儀表的短路電流、跌落電那么，根據(jù)試品電容量的大小，商定儀表的短路電流、跌落電阻中值電阻等技術(shù)參數(shù)，以滿足測(cè)試的需求是非常必要的。阻中值電阻等技術(shù)參數(shù)，以滿足測(cè)試的需求是非常必要的。 儀表內(nèi)部對(duì)實(shí)驗(yàn)過程的數(shù)據(jù)信號(hào)的處置是需求一定時(shí)間完成的儀表內(nèi)部對(duì)實(shí)驗(yàn)過程的數(shù)據(jù)信號(hào)的處置是需求一定時(shí)間完成的，采集、運(yùn)算、存儲(chǔ)、顯示各環(huán)節(jié)都會(huì)產(chǎn)生延時(shí)，滯后于試品絕緣

8、，采集、運(yùn)算、存儲(chǔ)、顯示各環(huán)節(jié)都會(huì)產(chǎn)生延時(shí)，滯后于試品絕緣特性值的產(chǎn)生。延時(shí)太多，引入的丈量誤差就不可忽略。特性值的產(chǎn)生。延時(shí)太多，引入的丈量誤差就不可忽略。特別是不具有自動(dòng)存儲(chǔ)功能的模擬指針式儀表，其除了信號(hào)處置特別是不具有自動(dòng)存儲(chǔ)功能的模擬指針式儀表，其除了信號(hào)處置電路的延時(shí)外，還有機(jī)械系統(tǒng)的表頭指針指示的延滯。電路的延時(shí)外，還有機(jī)械系統(tǒng)的表頭指針指示的延滯。KD2676h、KD2677、KD2678等系列儀表在第一時(shí)間處置并鎖定等系列儀表在第一時(shí)間處置并鎖定R15S、R60S、R10min時(shí)點(diǎn)值，不受運(yùn)算、顯示延時(shí)的影響。時(shí)點(diǎn)值，不受運(yùn)算、顯示延時(shí)的影響。 那么，選用數(shù)據(jù)處置準(zhǔn)確、快速的

9、儀表，以滿足測(cè)試的需求是非那么，選用數(shù)據(jù)處置準(zhǔn)確、快速的儀表，以滿足測(cè)試的需求是非常必要的。常必要的。 有些儀表具有實(shí)驗(yàn)電壓延續(xù)可調(diào)或步進(jìn)加壓的功能，采用延續(xù)可有些儀表具有實(shí)驗(yàn)電壓延續(xù)可調(diào)或步進(jìn)加壓的功能，采用延續(xù)可調(diào)或步進(jìn)加壓的方式進(jìn)展實(shí)驗(yàn)，其實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與一次加壓實(shí)驗(yàn)方式所調(diào)或步進(jìn)加壓的方式進(jìn)展實(shí)驗(yàn)，其實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與一次加壓實(shí)驗(yàn)方式所獲取的數(shù)據(jù)沒有直接的可比性。獲取的數(shù)據(jù)沒有直接的可比性。最后，值得提請(qǐng)留意的是，實(shí)驗(yàn)過程中因缺點(diǎn)、過失出現(xiàn)的異常最后，值得提請(qǐng)留意的是，實(shí)驗(yàn)過程中因缺點(diǎn)、過失出現(xiàn)的異常偏向；現(xiàn)場(chǎng)干擾、試品帶電等景象引起的偏向，有些與電容特性類偏向；現(xiàn)場(chǎng)干擾、試品帶電等景象引起的偏向，

10、有些與電容特性類似，應(yīng)加以區(qū)別，不應(yīng)與電容性負(fù)載特性產(chǎn)生的景象相混淆。似，應(yīng)加以區(qū)別，不應(yīng)與電容性負(fù)載特性產(chǎn)生的景象相混淆。 絕緣測(cè)試雖然是最根本的電氣實(shí)驗(yàn)，但在各地各種場(chǎng)所下絕緣測(cè)試雖然是最根本的電氣實(shí)驗(yàn)，但在各地各種場(chǎng)所下也有許多復(fù)雜的不同景象和解釋。往往使實(shí)驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)很難被也有許多復(fù)雜的不同景象和解釋。往往使實(shí)驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)很難被接受和認(rèn)定。接受和認(rèn)定。主要由以下幾方面緣由呵斥：主要由以下幾方面緣由呵斥： 各地運(yùn)用的絕緣電阻表的性能、規(guī)格、型號(hào)不一樣各地運(yùn)用的絕緣電阻表的性能、規(guī)格、型號(hào)不一樣; 對(duì)測(cè)試規(guī)程的了解和執(zhí)行的區(qū)別對(duì)測(cè)試規(guī)程的了解和執(zhí)行的區(qū)別; 操作人員的閱歷和才干的區(qū)別操作人員的

11、閱歷和才干的區(qū)別;綜合上述情況，結(jié)合我們了解的有限情況和體驗(yàn)，提出我們的綜合上述情況，結(jié)合我們了解的有限情況和體驗(yàn)，提出我們的粗淺分析，僅供大家討論與參考。粗淺分析，僅供大家討論與參考。其耐壓值應(yīng)為絕緣測(cè)試電壓值的其耐壓值應(yīng)為絕緣測(cè)試電壓值的1.51.5倍以上先單獨(dú)倍以上先單獨(dú)丈量并記錄該電容器的絕緣值，然后與被測(cè)試品并丈量并記錄該電容器的絕緣值，然后與被測(cè)試品并聯(lián)測(cè)試聯(lián)測(cè)試, ,試品的絕緣值應(yīng)為并聯(lián)測(cè)試值去除該電容器試品的絕緣值應(yīng)為并聯(lián)測(cè)試值去除該電容器絕緣值后的值。絕緣值后的值。4 4 檢定安裝要留意電壓變差、溫度變差和環(huán)境濕度檢定安裝要留意電壓變差、溫度變差和環(huán)境濕度引起的器具本身產(chǎn)生的

12、示值偏向。引起的器具本身產(chǎn)生的示值偏向。多電壓指針式絕緣電阻表，在檢定過程上要留意多電壓指針式絕緣電阻表，在檢定過程上要留意表盤刻度上標(biāo)注的各額定電壓下試值讀取的倍率，表盤刻度上標(biāo)注的各額定電壓下試值讀取的倍率，每個(gè)電壓所測(cè)的絕緣示值要乘以相對(duì)應(yīng)的倍率。每個(gè)電壓所測(cè)的絕緣示值要乘以相對(duì)應(yīng)的倍率。IR圖中圖中E0: 表內(nèi)高壓源表內(nèi)高壓源 r : 高壓源內(nèi)阻高壓源內(nèi)阻C: 分布電容分布電容 IC: 電容充電電流電容充電電流R: 試品絕緣電阻試品絕緣電阻 IR: 絕緣走漏電流絕緣走漏電流IX= IR+ IC : 絕緣表測(cè)得的電流絕緣表測(cè)得的電流ABRE0EICIXLCr圖1 試品上的端電壓即電容C上

13、的電壓由下式?jīng)Q議： 式(1)式中： 為試品上的端電壓。 為試品施加高壓的時(shí)間。 為時(shí)間常數(shù)，其中 是電源內(nèi)阻與試品絕緣電阻的并聯(lián)值。由于絕緣電阻R 遠(yuǎn)大于電源內(nèi)阻r，所以： RX=r/Rr 那么 =r.c 式2式1可寫作 式3/01tCUEecUtcRxRrRx/ .0011tt r cCUEeEeiCE00tuC, uR, iCuC式式3表述的端電壓表述的端電壓UC 隨時(shí)間上升隨時(shí)間上升的曲線如右圖示的曲線如右圖示,由圖可見由圖可見:試品上的電壓是隨加上高壓后時(shí)間的試品上的電壓是隨加上高壓后時(shí)間的推移而逐漸上升的，最終到達(dá)；推移而逐漸上升的，最終到達(dá)；給電容充電的電流是隨時(shí)間的推移而給電容充

14、電的電流是隨時(shí)間的推移而逐漸減小的，最終為零。逐漸減小的，最終為零。圖2 前面，我們?cè)趫D前面，我們?cè)趫D1中提到中提到 IR+IC即在絕緣電阻表測(cè)得的電流中，不僅有絕緣電阻上的分量，也參與了電即在絕緣電阻表測(cè)得的電流中，不僅有絕緣電阻上的分量，也參與了電容充電電流分量，這一充電電流使測(cè)得的絕緣電阻值在充電過程中顯現(xiàn)容充電電流分量，這一充電電流使測(cè)得的絕緣電阻值在充電過程中顯現(xiàn)得偏小。得偏小。 顯然，假設(shè)試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻顯然，假設(shè)試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻 r 很大，這一充電過很大，這一充電過程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。如式程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。如式2 = r c 時(shí)間常數(shù)時(shí)間常數(shù)是由內(nèi)阻

15、是由內(nèi)阻 r 和分布電容和分布電容 C 的乘積決議的單位為秒的乘積決議的單位為秒 鑒別絕緣電阻表的充電才干及其對(duì)吸收比鑒別絕緣電阻表的充電才干及其對(duì)吸收比R60S/R15S丈量的影響量，丈量的影響量，可按如以下圖示的檢定方法斷定?？砂慈缫韵聢D示的檢定方法斷定。圖中：圖中： C可采用可采用CBB型無極化無吸型無極化無吸收的優(yōu)質(zhì)電容，容量為收的優(yōu)質(zhì)電容，容量為 0.15/6.3kV ； R為為 5000M/5kV的電阻。的電阻。 絕緣表5000VELRCCABCAB設(shè)第一次絕緣丈量在相繞組與地和、相間進(jìn)展設(shè)第一次絕緣丈量在相繞組與地和、相間進(jìn)展,如以下圖示：如以下圖示：由于在第一次丈量前三相間介質(zhì)

16、處于原態(tài)，無極化景象，但當(dāng)相繞由于在第一次丈量前三相間介質(zhì)處于原態(tài)，無極化景象，但當(dāng)相繞組加上直流電壓后，相繞組與地及、相間的介質(zhì)發(fā)生極化，即：介組加上直流電壓后，相繞組與地及、相間的介質(zhì)發(fā)生極化，即：介質(zhì)極化的正極性朝向相繞組，介質(zhì)極化的負(fù)極性朝向地及、相繞組質(zhì)極化的正極性朝向相繞組，介質(zhì)極化的負(fù)極性朝向地及、相繞組。CABCAB改動(dòng)介質(zhì)極化極性是需求吸收儀表輸出電流能量的，即在加壓后的同一時(shí)點(diǎn)，改動(dòng)介質(zhì)極化極性是需求吸收儀表輸出電流能量的，即在加壓后的同一時(shí)點(diǎn)，經(jīng)相繞組流過地間絕緣體的吸收電流要比初次丈量相時(shí)所需電流大，從經(jīng)相繞組流過地間絕緣體的吸收電流要比初次丈量相時(shí)所需電流大，從而使得

17、測(cè)出的絕緣阻值變小了。而使得測(cè)出的絕緣阻值變小了。同理，在測(cè)完地，地，地后，回頭再次測(cè)同理，在測(cè)完地，地，地后，回頭再次測(cè)地時(shí)，其示值將比第一次的偏小，而與、相測(cè)試的值根本一致了。地時(shí)，其示值將比第一次的偏小，而與、相測(cè)試的值根本一致了。CABCABCABCAB兩次加電壓后相間極化形狀比較兩次加電壓后相間極化形狀比較圖圖近年來我國(guó)的發(fā)電機(jī)組越做越大，絕緣性能越來越好，對(duì)近年來我國(guó)的發(fā)電機(jī)組越做越大，絕緣性能越來越好，對(duì)絕緣測(cè)試的要求也有很大提高。絕緣測(cè)試的要求也有很大提高。上海電機(jī)廠、哈爾濱電機(jī)廠、德陽(yáng)東方電機(jī)廠等三大電機(jī)上海電機(jī)廠、哈爾濱電機(jī)廠、德陽(yáng)東方電機(jī)廠等三大電機(jī)廠已將我公司廠已將我公

18、司KD2678水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)公用絕緣表作為這些廠水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)公用絕緣表作為這些廠的公用配套儀表，在國(guó)內(nèi)得到了廣范的運(yùn)用，由于歷史緣由的公用配套儀表，在國(guó)內(nèi)得到了廣范的運(yùn)用，由于歷史緣由，目前，目前ZC-37絕緣表仍在一些發(fā)電廠運(yùn)用，這兩種儀表是我絕緣表仍在一些發(fā)電廠運(yùn)用，這兩種儀表是我國(guó)發(fā)電機(jī)組絕緣測(cè)試的主要儀表。國(guó)發(fā)電機(jī)組絕緣測(cè)試的主要儀表。為方便用戶對(duì)這兩種儀器有一個(gè)全面的認(rèn)識(shí)，下面的表格為方便用戶對(duì)這兩種儀器有一個(gè)全面的認(rèn)識(shí)，下面的表格給出了這兩種表的功能、性能的比較供客戶參考。給出了這兩種表的功能、性能的比較供客戶參考。3 3用數(shù)字萬(wàn)用表電阻檔測(cè)匯水管與機(jī)座之間的絕緣值用數(shù)字萬(wàn)用表電阻檔

19、測(cè)匯水管與機(jī)座之間的絕緣值(3k)(3k)測(cè)測(cè)匯水管與繞組的阻值匯水管與繞組的阻值(80k)(80k)。測(cè)試連線如下兩種接線測(cè)試方法：中性點(diǎn)斷開中性點(diǎn)斷開中性點(diǎn)連通中性點(diǎn)連通C相相接儀表繞組插孔接儀表繞組插孔2500V接儀表機(jī)座插孔接儀表機(jī)座插孔A相相C相相B相相接儀表繞組插孔接儀表繞組插孔2500V接儀表機(jī)座插孔接儀表機(jī)座插孔A相相B相相 圖中： C1，C2，C3 為分布電容； R1 為水阻 R2 為匯水管-機(jī)座間的電阻 R3 為發(fā)電機(jī)繞組對(duì)地絕緣電阻3繞組匯水管機(jī)座C1C2C3123 3 常見問題：常見問題： 1 1匯水管上串入有幾十毫伏直流電壓時(shí)，匯水管上串入有幾十毫伏直流電壓時(shí)，KD2

20、678KD2678型絕緣測(cè)試儀會(huì)出現(xiàn)如型絕緣測(cè)試儀會(huì)出現(xiàn)如下景象：下景象： 指針表顯示值很快指向無窮大，數(shù)字顯示的指針表顯示值很快指向無窮大，數(shù)字顯示的R15SR15S值比值比R60SR60S值要大，即值要大，即吸收比小于吸收比小于1 1。在匯水管上所帶的直流電壓越高，此種景象就越明顯。在匯水管上所帶的直流電壓越高，此種景象就越明顯。2 2匯水管上串入的直流電壓在幾百毫伏時(shí)，匯水管上串入的直流電壓在幾百毫伏時(shí)，KD2678KD2678型絕緣測(cè)試儀會(huì)出現(xiàn)型絕緣測(cè)試儀會(huì)出現(xiàn)如下景象：如下景象： 指針表顯示值擺動(dòng)幅度較大，數(shù)字表顯示的電壓值只需幾百伏或一千指針表顯示值擺動(dòng)幅度較大，數(shù)字表顯示的電壓值

21、只需幾百伏或一千多伏。在封鎖高壓時(shí)，數(shù)字表顯示電壓值在三千多伏。多伏。在封鎖高壓時(shí)，數(shù)字表顯示電壓值在三千多伏。 以上兩種匯水管帶電景象，都會(huì)使以上兩種匯水管帶電景象，都會(huì)使KD2678KD2678表無法正常測(cè)試。表無法正常測(cè)試。 測(cè)試前，在匯水管與機(jī)座間外加一個(gè)反向電壓測(cè)試前，在匯水管與機(jī)座間外加一個(gè)反向電壓, ,以抵消串入的直流電壓以抵消串入的直流電壓。然后可進(jìn)展測(cè)試。然后可進(jìn)展測(cè)試。3 3在測(cè)完地的絕緣值后，再測(cè)地；地的絕緣在測(cè)完地的絕緣值后，再測(cè)地；地的絕緣值時(shí)，其示值將比第一次的偏小，這是正常的見講議前部份。值時(shí)，其示值將比第一次的偏小，這是正常的見講議前部份。4 4 水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)組

22、在小修時(shí)，主機(jī)水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)組在小修時(shí)，主機(jī)母線母線主變結(jié)合絕緣測(cè)試為什么測(cè)得的主變結(jié)合絕緣測(cè)試為什么測(cè)得的阻值只需幾兆歐或幾十兆歐阻值只需幾兆歐或幾十兆歐 水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)在小修時(shí)，沒時(shí)延續(xù)開母線和主變，而是從中性點(diǎn)處并水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)在小修時(shí)，沒時(shí)延續(xù)開母線和主變，而是從中性點(diǎn)處并結(jié)合合式整體進(jìn)展絕緣測(cè)試。結(jié)合合式整體進(jìn)展絕緣測(cè)試。 日常我們所講發(fā)電機(jī)組的絕緣測(cè)試是水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)組三相繞組對(duì)機(jī)座之日常我們所講發(fā)電機(jī)組的絕緣測(cè)試是水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)組三相繞組對(duì)機(jī)座之間的電氣絕緣值。間的電氣絕緣值。中性點(diǎn)A相B相C相D母線E主變發(fā)電機(jī)組RARBRCRDARDBRDCREAR EB通常測(cè)試方法有：三相繞組對(duì)機(jī)座之

23、間分別進(jìn)展絕緣測(cè)試。即斷開中性點(diǎn)通常測(cè)試方法有：三相繞組對(duì)機(jī)座之間分別進(jìn)展絕緣測(cè)試。即斷開中性點(diǎn)的連結(jié)，和三相繞組對(duì)機(jī)座同時(shí)進(jìn)展絕緣測(cè)試即中性點(diǎn)處連結(jié)測(cè)試，并的連結(jié)，和三相繞組對(duì)機(jī)座同時(shí)進(jìn)展絕緣測(cè)試即中性點(diǎn)處連結(jié)測(cè)試，并聯(lián)法。繞組單相所測(cè)得的絕緣阻值要大于繞組三相并聯(lián)時(shí)所測(cè)得的阻值。聯(lián)法。繞組單相所測(cè)得的絕緣阻值要大于繞組三相并聯(lián)時(shí)所測(cè)得的阻值。 任何被測(cè)絕緣體在檢測(cè)絕緣時(shí)，被測(cè)試品都會(huì)存在因走漏而呵斥誤差。任何被測(cè)絕緣體在檢測(cè)絕緣時(shí)，被測(cè)試品都會(huì)存在因走漏而呵斥誤差。因此為了消除水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)組在丈量絕緣實(shí)驗(yàn)中因匯水管、法蘭盤走漏而呵因此為了消除水內(nèi)冷發(fā)電機(jī)組在丈量絕緣實(shí)驗(yàn)中因匯水管、法蘭盤走漏而呵斥的誤差，丈量?jī)x表在匯水管與法蘭盤處進(jìn)展走