1、1/4電子產(chǎn)品可靠性與維修性國家標(biāo)準(zhǔn)（共 39 項(xiàng)）序號(hào)國家標(biāo)準(zhǔn)號(hào)1GB/T1772-1979 標(biāo)準(zhǔn)名稱電子元器件失效率試驗(yàn)方法2GB/T2689.1-1981 恒定應(yīng)力壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)方法總則（用于威布爾分布）3GB/T2689.2- 1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的圖估計(jì)法（用于威布爾分布）4GB/T2689.3- 1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的簡單線性無偏估計(jì)（用于威布爾分布）5GB/T2689.4- 1981 壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)的最好線性無偏估計(jì)（用于威布爾分布）6GB/T3187-19948GB/T4885-19859GB/T4888-1985 可靠性、維修性術(shù)語正態(tài)

2、分布完全樣本可靠度單側(cè)置信下限故障樹名詞術(shù)語和符號(hào)7GB/T4087.3-1985 數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)處理和解釋二項(xiàng)分布可靠度單側(cè)置信下限10GB/T5080.1-1986 設(shè)備可靠性試驗(yàn)總要求11GB/T5080.2-1986 設(shè)備可靠性試驗(yàn)周期設(shè)計(jì)導(dǎo)則2/413GB/T5080.4-1985 設(shè)備可靠性試驗(yàn)可靠性測定試驗(yàn)的點(diǎn)估計(jì)和區(qū)間估計(jì)方法 （指數(shù)分布）14GB/T5080.5-1985 設(shè)備可靠性試驗(yàn)成功率的驗(yàn)證試驗(yàn)方案15GB/T5080.6-1996 設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(yàn)16GB/T5080.7-1986 設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)

3、方案 17GB/T5081-198518GB/T6990-198619GB/T6991-198620 電子產(chǎn)品現(xiàn)場工作可靠性、 有效性和維修性數(shù)據(jù)收集指南電子設(shè)備用元器件（或部件）規(guī)范中可靠性條款的編寫指南電子元器件可靠性數(shù)據(jù)表示方法GB/T6992.1-1995 可信性管理第 1 部分:可信性大綱管理指南GB/T19000.4-1995 質(zhì)量管理和質(zhì)量保證第 4 部分:可信性大綱管理指南系統(tǒng)和設(shè)備研制生產(chǎn)中的可靠性程序21GB/T3/46992.2-1997 可信性管理第 2 部分:可信性大綱要素和工作項(xiàng)目22GB/T6993-198623GB/T7288.1-1987 設(shè)備可靠性試驗(yàn)推薦的

4、試驗(yàn)條件室內(nèi)便攜設(shè)備粗模擬24GB/T7288.2-1987 設(shè)備可靠性試驗(yàn)推薦的試驗(yàn)條件固定使用在有氣候防護(hù)場所設(shè)備精模擬 25GB/T7289-198726GB/T7826-198727GB/T7827-198728GB/T7828-198729GB/T7829-1987 可靠性、維修性與有效性預(yù)計(jì)報(bào)告編寫指南系統(tǒng)可靠性分析技術(shù)-失效模式和效應(yīng)分析(FMEA)程序可靠性預(yù)計(jì)程序可靠性設(shè)計(jì)評(píng)審故障樹分析程序30GB/T9414.1- 1988 設(shè)備維修性導(dǎo)則第一部分:xx 導(dǎo)言31GB/T9414.2- 1988 設(shè)備維修性導(dǎo)則第二部分:規(guī)范與合同中的 XX 要求4/432GB/T9414.3-1988 設(shè)備維修性導(dǎo)則第三部分:XX 大綱33GB/T9414.4-1988 設(shè)備維修性導(dǎo)則第五部分:設(shè)計(jì)階段的 XX 研究34GB/T9414.5-1988 設(shè)備維修性導(dǎo)則第六部分:XX 檢驗(yàn)35GB/T9414.6-1988 設(shè)備維修性導(dǎo)則第七部分:XX 數(shù)據(jù)的收集、分析與表示36GB/T9414.7-2000 設(shè)備維修性導(dǎo)則第四部分:診斷測試37GB/T9414.8-2001 設(shè)