《承壓設(shè)備無損檢測》宣貫講義第一部分通用要求一、通用要求1、JB／4730．1~4730．6(以下簡稱JB／T4730)一2005將1994版標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)題《壓力容器無損檢測》改為《承壓設(shè)備無損檢測》?1994版標(biāo)難主要用于壓力容器及部分壓力管道制造、安裝的無損檢測，屬于制造檢驗標(biāo)準(zhǔn)的范疇，當(dāng)時鍋爐制造、安裝、長輸管道安裝，涉及國家質(zhì)監(jiān)總局、電力部、建設(shè)部、中石油等部門或系統(tǒng)，所選擇的無損檢測標(biāo)準(zhǔn)各不相同，導(dǎo)致標(biāo)準(zhǔn)使用混亂，而且缺口比較大。由于鍋爐、歷力容器及壓力管道都是承壓設(shè)備，有比較多的共性和同一性，美國ASME《鍋爐壓力容器規(guī)范》第V篇就是將其檢測內(nèi)容放在一起考慮的。2003年國務(wù)院頒布了《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》，將鍋爐、壓力容器及壓力管道等通稱為承壓類特種設(shè)備。承壓類特種設(shè)備的無損檢測標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一是大勢所趨。通過用JB／T4730—2005將鍋爐、壓力容器及壓力管道的無損檢測的規(guī)定統(tǒng)一后，一方面檢驗檢測單位使用起來比較方便和明確，另一方面安全監(jiān)察機(jī)構(gòu)管理起來也比較清楚。JB／T4730—2005包括了《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》中規(guī)定的承壓設(shè)備即鍋爐、壓力容器及壓力管道的所有無損檢測，不但包括承壓設(shè)備制造、安裝過程的無損檢測，同時還包括了承壓設(shè)備的原材料、零部件的檢測，以及在用承壓設(shè)備定期檢驗的無損檢測。因此將標(biāo)準(zhǔn)的標(biāo)題改為《承壓設(shè)備無損檢測》應(yīng)該說是名符其實的。2、JB／T4730．1—2005有哪些內(nèi)容，編寫通用要求的目的是什么?通用要求內(nèi)容包括：(1)范圍；(2)規(guī)范性引用文件；(3)術(shù)語和定義；(4)使用原則；(5)一般要求；(6)附錄A“鍋爐、壓力容器及壓力管道無損檢測相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及文件目錄”。通用要求把無損檢測技術(shù)方面的一些基本原則和內(nèi)容，以及無損檢測管理方面的共性內(nèi)容歸納到一起，這樣就使整個標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)更加緊湊，各分篇的內(nèi)容更加簡練。編寫通用要求的另一目的是便于非無損檢測專業(yè)的人員，例如承壓類設(shè)備的設(shè)計人員和管理人員，快速了解和應(yīng)用JB／T4730。這些人不可能花很多時間去通讀整個標(biāo)準(zhǔn)，研究無損檢測技術(shù)的細(xì)節(jié)，而只需要把握無損檢測技術(shù)的基本原則從而能正確應(yīng)用JB／T4730，從此角度看，通用要求是很有用的。3、射線檢測有哪些優(yōu)點和局限性？（1）直接記錄—底片；（2）缺陷投影圖像，定性定量準(zhǔn)確；（3）體積型缺陷檢出率很高，而面積型缺陷檢出率受多種因素影響；（4）適宜檢測厚度較薄的的工件而不適宜檢驗較厚的工件；（5）適宜檢測對接焊縫，檢測角焊縫效果較差，不適宜檢測板材、棒材、鍛件；（6）有些試件結(jié)構(gòu)和現(xiàn)場條件不適合射線照相；（7）對缺陷在工件中厚度方向的位置、尺寸（高度）的確定比較困難；（8）檢測成本高；（9）射線照相檢測速度慢；（10）射線對人體有傷害。4、超聲檢測優(yōu)缺點和局限性。（1）面積型缺陷檢出率較高，而體積型缺陷檢出率較低，反射面大小；（2）適宜厚度較大工件，不適宜較薄工件；（3）應(yīng)用范圍廣試件；，（4）檢測成本低、速度快，儀器體積小，重量輕，現(xiàn)場使用較方便；（5）無法得到缺陷直觀圖像，定性困難，定量精度不高；（6）檢測結(jié)果無直接見證記錄；（7）對缺陷在工件厚度方向上的定位較準(zhǔn)確；（8）材質(zhì)、晶粒度對探傷有影響；（9）工件不規(guī)則的外形和一些結(jié)構(gòu)會影響檢測；（10）探頭掃查面的平整度和粗糙度對其有一定影響。5、磁粉檢測有哪些優(yōu)點和局限性。（1）適宜鐵磁材料探傷，不能用于非；（2）可以檢出表面和近表面缺陷，不能內(nèi)部；（3）檢測靈敏度很高，可以發(fā)現(xiàn)極細(xì)小的裂紋以及其他缺陷；（4）檢測成本很低，速度快；（5）工件形狀和尺寸有時對探傷有影響，難以磁化而無法探。6、滲透檢測有哪些優(yōu)點和局限性。（1）除疏松多孔性材料外任何種類材料；（2）形狀復(fù)雜部件，一次達(dá)到全面檢測；（3）同時存在幾個方向缺陷，用一次完成；（4）不需要大型設(shè)備，可不用水電；（5）試件表面光潔度影響大，探傷結(jié)果往往容易受操作人員水平影響；（6）可以檢出表面開口缺陷，對埋藏或閉合表面缺陷無法檢出；（7）檢測工序多，速度慢；（8）檢測靈敏度比磁粉低；（9）材料較貴、成本較高；（10）有些材料易燃、有毒。7、有色金屬內(nèi)部缺陷，優(yōu)先選擇？優(yōu)先選擇射線，其次超聲。一般較?。簭撵`敏度、可靠性、缺陷定性定量上，選擇射線照相法更適合一些。超聲法對薄板在靈敏度、可靠性、缺陷定性定量上有局限性。一是要另外制作參考試塊，才能進(jìn)行探頭折射角測試、儀器掃描線調(diào)節(jié)、探傷靈敏度確定等操作；二是普通探頭折射角按鋼材聲速標(biāo)定，有色金屬材料聲速與鋼材不同，所以原有折射角將發(fā)生改變而可能不適用。8、制造方法對無損檢測選擇。結(jié)構(gòu)特點、尺寸、缺陷不同，針對性。焊接、鍛造、鑄造：鑄造-晶粒子粗，無法用超聲；鍛造內(nèi)部缺陷主要變形方向延伸，透照垂直，不適用射線；焊接、釬焊、摩擦焊接頭。熔合不良，不適宜用射線；熔化焊，焊接接頭型式選擇檢測法；對接頭可用射線、超聲；角接頭、T型頭透照難，照相質(zhì)量不高，一般用超聲。結(jié)構(gòu)復(fù)雜、加工和焊接先后、熱處理否都影響方法選擇。9、制造中如何選擇。材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、尺寸、缺陷、經(jīng)濟(jì)性考慮：制造工序排（括號次要選擇）原材料工序內(nèi)部缺陷表面缺陷選擇板材檢測UTMT（PT）鍛件和棒材檢測UTMT（PT）管材UT（RT）MT（PT）螺栓胚件UTMT（PT）焊接工序內(nèi)部缺陷表面缺陷坡口UTPT（MT）清根——PT（MT）對接焊縫RT（UT）MT（PT）角焊縫和T型焊縫UT（RT）PT（MT）其他工序內(nèi)部缺陷表面缺陷選擇工卡具焊疤——MT（PT）爆炸復(fù)合材料復(fù)合層UT——堆焊復(fù)合材料堆焊前的基材——MT（PT）堆焊復(fù)合材料堆焊后的復(fù)合層UTPT高強(qiáng)度鋼水壓試驗后表面裂紋——MT按工件種類試件分類內(nèi)部缺陷表面缺陷檢測方法RTUTMTPTET鍛件不適用很適用很適用很適用有條件用鑄件很適用適用很適用適用有條件用壓延件（管、板、型材）不適用很適用很適用適用很適用焊縫很適用很適用很適用很適用不適用10、如何評價探傷方法對缺陷的適應(yīng)性。UT、RT用于內(nèi)部缺陷檢測；MT、PT、ET用于表面缺陷檢測。UT、RT也可用于表面裂紋、針孔，但靈敏度低得多；MT、ET也可檢測出一些近表面埋藏缺陷，但可靠性不高。射線：對體積型缺陷檢出率高；超聲對面積型缺陷檢出率高；對面積型缺陷，射線檢測希望缺陷與射線束平行，此時檢出率最高，傾斜角度越大，檢出率越低；超聲檢測相反，缺陷與聲束垂直時檢出率最高。細(xì)小彌散缺陷：疏松、白點，射線檢測困難；表面缺陷，如折疊，超聲檢測困難，因為缺陷波與表面回波混淆：無損檢測方法對缺陷適應(yīng)性歸納：缺陷種類RTUT分層不適用很適用疏松不適用適用氣孔很適用適用縮孔很適用適用未焊透很適用很適用未熔合有條件用很適用夾渣很適用適用裂紋適用適用白點不適用適用表面缺陷：缺陷種類RTUTMTPTET表面裂紋有條件用有條件用很適用很適用很適用表面針孔適用不適用有條件用很適用有條件用折疊————適用適用適用斷口白點不適用不適用很適用很適用——11、失效及模式對方法選擇影響。失效：使用期限內(nèi)，因設(shè)計結(jié)構(gòu)不合理、制造質(zhì)量不良、使用維護(hù)不當(dāng)或其他原因而導(dǎo)致失去原設(shè)計參數(shù)正常工作的效能。后果：一般無法使用、生產(chǎn)不能進(jìn)行；承壓使用工況和介質(zhì)特殊性，嚴(yán)重：快速破裂引起爆炸、有毒或易燃物質(zhì)泄漏引起中毒、燃燒或爆燃，危及人身和財產(chǎn)安全，甚至發(fā)生巨大災(zāi)害性事故。承壓設(shè)備失效大致可分為強(qiáng)度、剛度、失穩(wěn)和泄漏失效等四大類。強(qiáng)度失效是壓力容器主要失效模式，包括韌性斷裂、脆性斷裂、疲勞斷裂、蠕變斷裂、腐蝕斷裂。在承壓設(shè)備在用檢驗中，通過對失效模式預(yù)測來針對性選擇無損檢測方法是非常重要的。例如對有應(yīng)力腐蝕斷裂傾向的設(shè)備，由于應(yīng)力腐蝕發(fā)生在工件表面，就應(yīng)選擇表面無損檢測方法；疲勞斷裂一般在交變載荷下的應(yīng)力集中部位發(fā)生，疲勞裂紋可能起源于工件表面結(jié)構(gòu)不連續(xù)處，也可能在內(nèi)部缺陷部位生成裂紋并擴(kuò)展，因此對預(yù)測可能疲勞斷裂失效的構(gòu)，不僅需要應(yīng)用表面無損檢測方法，對存在內(nèi)部缺陷的部位還應(yīng)選擇射線或超聲檢測方法。第二部分射線檢測-標(biāo)準(zhǔn)比對一、范圍（1）1、大大擴(kuò)展：覆蓋鍋爐、壓力容器、壓力管道、支撐件和結(jié)構(gòu)件（原來適用壓力容器）：覆蓋制造、安裝，在用檢驗各領(lǐng)域；覆蓋原材料、零部件、到整臺設(shè)備驗收各個環(huán)節(jié)（原僅適用制造）；覆蓋碳鋼、不銹鋼、鈦、鋁、銅、鎳及其合金材料（原僅適用碳素鋼、不銹鋼、鈦、鋁及其合金）。2、將“射線透照質(zhì)量分級”改為“射線照相技術(shù)”分級。二、規(guī)范性引用文件（2）引用了最新版本標(biāo)準(zhǔn)，原引用文件不完整。三、一般要求（3）1、人員基本相同；2、原標(biāo)準(zhǔn)5．3通過引用4.3作出規(guī)定，要求：技術(shù)培訓(xùn)、取證和視力；3、新標(biāo)準(zhǔn)概括為三方面：技術(shù)培訓(xùn)取證、輻射防護(hù)培訓(xùn)取證和視力。視力要求引用GB11533標(biāo)準(zhǔn)，更準(zhǔn)確、完整。四、射線膠片（3.2）1、按照GB/T19384-1：2003，采用“膠片系統(tǒng)”概念，分四類：T1-T4，代替原“號數(shù)分類”；2、按射線照相技術(shù)級別選用膠片，糾正了原來錯誤（如需縮短曝光時間）和不清晰的（如需提高射線透照的底片質(zhì)量）規(guī)定；3、新增加了“采用γ線對裂紋敏感性大的材料進(jìn)行射線檢測，應(yīng)采用T2類或更高類別膠片”五、觀片燈（3.3）1、通過引用JB/T7903標(biāo)準(zhǔn)，對觀片燈提出了全面性能要求，不再是僅限于最大亮度。2、修改了原中觀片燈最大亮度（不小于100000CD/M2）和底片透過亮度（不小于30CD/M2）的指標(biāo)。六、黑度計（3.4）增加條款，原無。七、增感屏（3.5）1、應(yīng)用增感屏內(nèi)容，規(guī)定更全面和具體。2、刪除了原標(biāo)準(zhǔn)中允許使用熒光增感屏和金屬熒光增感屏的內(nèi)容，因為此類屏將造成射線照相質(zhì)量嚴(yán)重降低。3、對γ射線和高能X射線照相，新標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)照相技術(shù)等級規(guī)定所使用的增感屏的材質(zhì)和厚度，原無此規(guī)定。4、使用前屏《=0.03MM的真空包裝膠片，可在工件和膠片之間加0.07MM-0.15MM附加鉛屏，以提高照相質(zhì)量，原無類似規(guī)定。八、像質(zhì)計（3.6）1、通過引用HB7684標(biāo)準(zhǔn)將像質(zhì)計絲徑擴(kuò)展到0.050MM（第19號絲），以滿足母材厚度2MM-4MM的焊接接頭射線照相靈敏度顯示要求。2、像質(zhì)計材料增加了鎳、銅。3、刪除原金屬射線透照等效系數(shù)表，且不采用對不同金屬像質(zhì)計用吸收系數(shù)換算確定靈敏度的方法。實際射線照相應(yīng)用時，如沒有相同材料像質(zhì)計，可以使用較低原子序數(shù)材料制作的像質(zhì)計。九、表面要求和射線檢測時機(jī)（3.7）1、表面要求相同。2、對檢測時機(jī)作出明確規(guī)定，并特別強(qiáng)調(diào)了具有延遲裂紋傾向材料的檢測問題。十、射線檢測技術(shù)等級選擇（3.8）原無此條款。規(guī)定了不同技術(shù)級別適用場合、選擇原則、應(yīng)用前提和要求，既解決了現(xiàn)場實際可能遇到的問題，又保證了檢測質(zhì)量。十一、輻射防護(hù)（3.9）原標(biāo)準(zhǔn)5.2.1中給出的是關(guān)于輻射危害的常識性簡單要求,5.2.4中將輻射防護(hù)劑量限值中，對隨機(jī)效應(yīng)的劑量限值作為一般劑量限值要求在標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定下來，這不符合輻射防護(hù)的基本原則，也不符合我國有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定?，F(xiàn)刪除了原錯誤條款和非標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容，引用了我國新的輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)：GB18871-2002、GB16357-1996、GB18465——2001，更新了規(guī)定內(nèi)容。十二、具體要求（4）1、將透照布置分為5條，即透照方式、透照方向、一次透照長度、小管的透照布置和透照次數(shù)，分別敘述，比較清晰。2、為突出重點，將原來中透照方式圖5—1內(nèi)容移入附錄。3、明確了“單壁透照優(yōu)先”的選用透照方式的基本原則。十三、透照方向（4.1.2）基本相同。十四、一次性透照長度（4.1.3）1、對100MM<D0<=400MM的環(huán)向焊接接頭（包括曲率相同的曲面焊接接頭）的A級、AB級照相的K值控制放寬，從K<=1.1放寬至K〈= 1.2。2、環(huán)向?qū)咏宇^所需的透照次數(shù)無須計算，可參照附錄D（資料性附錄）的曲線圖確定。十五、小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照布置（4.1.4）原對小徑管對接接頭的透照方式、透照次數(shù)等方面規(guī)定得均不夠明確，此處明確了小徑管的概念、傾斜透照方式橢圓成像和垂直透照方式重疊成像的選擇實施條件、100%檢測小徑管對接接頭的透照次數(shù)、以及允許透照一次的前提。十六、第4章之（4.2.1，4.2.2）1、修改了原標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于允許的最高透照電壓的規(guī)定，用EN1435-1997的圖代替原標(biāo)準(zhǔn)圖5-6，改變了對小厚度范圍不適當(dāng)?shù)?、過嚴(yán)的限定。2、刪除了原標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)曝光時間選用透照電壓的錯誤表述。3、增加了Se-75源的適用透照厚度范圍。4、進(jìn)一步降低了Ir—92源和Se-75源的最小透照厚度。十七、射線源至工件表面的最小距離（4.3）1、一次透照長度不屬于幾何條件，現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)將一次透照長度內(nèi)容移至第4.1.3條。2、原標(biāo)準(zhǔn)圖5-2內(nèi)容在新標(biāo)準(zhǔn)中以計算式的方式給出。3、修正了原標(biāo)準(zhǔn)圖5-4的錯誤。十八、曝光量（4.4）1、對X射線的曝光量推薦值按射線照相技術(shù)級別分別規(guī)定，且對推薦的曝光量值附加了焦距前提條件，糾正了原標(biāo)準(zhǔn)中曝光量推薦值規(guī)定的不確定性。2、對γ射線曝光時間作出限制。十九、曝光曲線現(xiàn)將曝光曲線單獨作為一條，并增加了校驗內(nèi)容要求。二十、無用射線和散射線屏蔽（4.6）現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)明確了何種情況下應(yīng)進(jìn)行背散射防護(hù)檢查，增加了背散射的檢查方法和防護(hù)措施，完善了原標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。二十一、像質(zhì)計的使用（4.7）1、現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)按照像質(zhì)計的位置、放置、個數(shù)、識別、小管的像質(zhì)計放置，對像質(zhì)計的使用作出系統(tǒng)而清晰的規(guī)定。2、原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定“當(dāng)射線源一側(cè)無法放置像質(zhì)計時，可放在膠片一側(cè)的工件表面上”但像質(zhì)計指數(shù)應(yīng)提高一級或通過對比試驗，使實際像質(zhì)指數(shù)達(dá)到規(guī)定要求?，F(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)取消“像質(zhì)指數(shù)應(yīng)提高一級”的內(nèi)容，規(guī)定像質(zhì)計放置膠片側(cè)時必須通過對比試驗。3、環(huán)形對接焊接接頭采用源置于中心周向曝光時的像質(zhì)計數(shù)量，現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定至少在圓周上等間隔地放置3個像質(zhì)計，而原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定每隔90度放置一個，需放四個。4、現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了采用源置于球心的球罐對接焊接接頭全景曝光的像質(zhì)計數(shù)量及放置位置。原標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定。5、現(xiàn)規(guī)定了一次曝光連續(xù)排列的多張膠片的像質(zhì)計數(shù)量及放置位置。而原標(biāo)準(zhǔn)中未作規(guī)定。6、現(xiàn)規(guī)定在鄰近焊縫的母材金屬區(qū)觀測金屬絲影像，原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定是在焊縫區(qū)觀測金屬絲影像。二十二、標(biāo)記（4.8）現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)按照標(biāo)記的組成、構(gòu)成、使用、要求重新組織了規(guī)定內(nèi)容，并補(bǔ)充了標(biāo)記符號本身的制作要求內(nèi)容，消除了原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不完整的不足。二十三、膠片處理(4.9)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)對原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定內(nèi)容進(jìn)行了簡化，刪除了多余的敘述以及實際中很少使用的用補(bǔ)充液維持顯影液性能的內(nèi)容。按照膠片系統(tǒng)分類的概念規(guī)定：膠片處理條件應(yīng)符合膠片制造商要求。二十四、評片要求（4.10）1、增加了評片人員對評片前暗適應(yīng)的規(guī)定。2、現(xiàn)規(guī)定底片黑度D>2.5時，透過底片評定范圍內(nèi)的亮度不應(yīng)低于10CD/M2，而不是原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的30CD/M2。這一規(guī)定符合實際，與國外規(guī)定一致。3、現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)簡化了原標(biāo)準(zhǔn)對底片評定范圍規(guī)定的敘述，便于標(biāo)準(zhǔn)的工程應(yīng)用。二十五、底片質(zhì)量（4.11）1、對像質(zhì)計影像位置和標(biāo)記的要求，現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)與原標(biāo)準(zhǔn)相同。2、現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的底片黑度范圍比原標(biāo)準(zhǔn)有較大提高。且對X射線和γ射線底片采用統(tǒng)一黑度下限值,改變了原標(biāo)準(zhǔn)分別對X射線和γ射線規(guī)定不同下限值的做法。3、用X射線透照小管徑或其他截面厚度變化大的工件，其最低黑度允許降低的規(guī)定、多膠片方法的底片黑度的規(guī)定、燈亮度能夠滿足要求黑度D>4.0的底片允許進(jìn)行評定的規(guī)定，均為新規(guī)定。原標(biāo)準(zhǔn)無類似規(guī)定。二十六、底片的像質(zhì)計靈敏度（4.11.3）現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)有較大改變：1、要求達(dá)到的射線照相靈敏度（像質(zhì)指數(shù)）依據(jù)公稱厚度T或透照厚度W給出，不計焊縫余高，對帶墊板焊縫不計墊板厚度。2、現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)要求在鄰近焊縫的母材區(qū)域觀測金屬絲，這與原標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào)從焊縫區(qū)域觀測金屬絲明顯不同。3、按透照方式和像質(zhì)計擺放位置，用3張表給出要求達(dá)到的像質(zhì)指數(shù)。即：單壁透照、像質(zhì)計置于源側(cè)時應(yīng)符合表5的規(guī)定；雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于源側(cè)時應(yīng)符合表6規(guī)定；雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于膠片側(cè)時應(yīng)符合表7規(guī)定。二十七、底片質(zhì)量要求(4.11.4)基本相同。新標(biāo)準(zhǔn)敘述較簡潔。二十八、承壓設(shè)備熔化焊對接接頭射線檢測質(zhì)量分級（5）修訂主要內(nèi)容:1、將原質(zhì)量分級規(guī)定擴(kuò)展到鍋爐產(chǎn)品。2、理順標(biāo)準(zhǔn)結(jié)構(gòu)，將JB4730-1994標(biāo)準(zhǔn)中涉及射線照相檢驗技術(shù)的內(nèi)容全部移出，如：6.1.2、6.2.2、6.2.3、6.2.4、6.3.2、6.3.3、6.3.4、6.4.2、6.4.3、6.4.4、6.4.5等。3、以缺陷類型、質(zhì)量分級依據(jù)、質(zhì)量分級的一般規(guī)定等層次，重新編寫了有關(guān)條文。加強(qiáng)了缺陷評定區(qū)的概念。4、按照缺陷對性能影響與工藝過程對性能影響的考慮，增加了對圓形缺陷放松的規(guī)定條文。5、考慮到原標(biāo)準(zhǔn)多年應(yīng)用的實際情況，刪除了在實際工作中很少應(yīng)用的原標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于擴(kuò)大評定區(qū)的有關(guān)規(guī)定。6、鋁焊接接頭評級，對φ4以上大氣孔控制比原標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)。二十九、承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)咏宇^射線檢測質(zhì)量分級（6）增加了鋼、鎳、銅及銅合金制壓力管道環(huán)焊縫的射線檢測質(zhì)量分級內(nèi)容；增加了鋁及鋁合金、鈦及鈦合金壓力接管環(huán)焊縫射線檢測質(zhì)量分級內(nèi)容。第三部分超聲檢測一、范圍（1）適用范圍擴(kuò)大到鍋爐、壓力管道。增加了在用承壓設(shè)備的超生檢測內(nèi)容。使標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一，便于應(yīng)用。二、規(guī)范性引用文件（2）代替了JB4126、ZBJ04001、ZBY230、ZBY231、ZBY232。三、一般要求（3）基本相同。四、檢測設(shè)備（3.2）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容.五、探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能（3.2.2）工作頻率范圍由1MHZ-5MHZ改為0.5MHZ-10MHZ.六、探頭基本相同.七、超聲探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能(3.2.2.3)基本相同.八、超聲檢測一般方法(3.3)基本相同.九、掃查覆蓋率(3.3.2)基本相同.十、探頭的移動速度（3.3.3）基本相同.十一、掃查靈敏度原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定掃查靈敏度至少比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。（掃查時,儀器顯示信號幅度要比靜態(tài)時低,為了不漏檢缺陷,掃查靈敏度要高于基準(zhǔn)靈敏度(參考水平),ASME規(guī)范也基本相同）.十二、藕合劑（3.3.5）基本相同.十三、靈敏度補(bǔ)償（3.3.6）藕合補(bǔ)償、衰減補(bǔ)償與原標(biāo)準(zhǔn)基本相同；曲面補(bǔ)償去掉了“（0.9-1.5）的參考試塊”的要求.十四、系統(tǒng)校準(zhǔn)和復(fù)核(3.4)基本相同.十五、新購探頭測定(3.4.3)原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容.十六、檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定(3.4.4)基本相同.十七、檢測過程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核去掉了原標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定“開路電壓波動”的復(fù)核要求。十八、檢測結(jié)束前儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核（3.4.6）原規(guī)定”掃描量程的復(fù)核:如果距離一波幅曲線上任意一點在掃描線上的偏移超過掃描讀數(shù)的10%,則掃描量程應(yīng)予以修正,并在檢測記錄中加以標(biāo)明.”規(guī)定不明確,現(xiàn)規(guī)定較合理.十九、校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(3.4.7)基本相同.二十、試塊（3.5）標(biāo)準(zhǔn)試塊種類,原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)條款.原標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的鍛件用標(biāo)準(zhǔn)試塊CSI數(shù)量(反射體)偏少,難以滿足要求.標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度須經(jīng)計量部門檢定合格,原標(biāo)準(zhǔn)中無相應(yīng)規(guī)定.對試塊的厚度,原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定為”平均厚度”.二十一、承壓設(shè)備用原材料、零部件的超聲檢測和質(zhì)量分級（4）增加了鍋爐板材；增加了鎳及鎳合金以及雙相不銹鋼板材。二十二、探頭選用(4.1.2)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)把板厚>20MM-250MM分為兩檔,更為合理.原標(biāo)準(zhǔn)中未規(guī)定雙晶直探頭性能相應(yīng)內(nèi)容.二十三、標(biāo)準(zhǔn)試塊（4.1.3）基本相同.二十四、基準(zhǔn)靈敏度（4.1.4）“檢測靈敏度”改為“基準(zhǔn)靈敏度”，明確了概念?！鞍搴癫恍∮谔筋^的3倍近場區(qū)時”，原規(guī)定“板厚大于60MM時”，不準(zhǔn)確。二十五、檢測方法（4.1.5）基本相同.二十六、藕合方式（4.1.5.2）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容.二十七、掃查方式（4.1.5.3）相同.二十八、缺陷的測定與記錄(4.1.6)基本相同.二十九、缺陷的評定方法(4.1.7)“缺陷的評定方法”中,增加了“單個缺陷的指示長度小于40MM時，可不作記錄”的規(guī)定。“缺陷面積百分比的評定規(guī)則”中增加了“如鋼板面積小于1M*1M，可按比例折算?！薄颁摪遒|(zhì)量分級：表3”中，質(zhì)量等級由4個級別改為5個級別，增加了一個判廢質(zhì)量等級（V級）；并說明：IV級鋼板主要用于與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的制造安裝；各級別允許的單個缺陷指示長度數(shù)值比原先有所增大。三十、橫波檢測（4.1.9）相同.三十一、承壓設(shè)備用鋼鍛件超聲檢測（4.2）增加了“鍋爐用鍛件”三十二、探頭原標(biāo)準(zhǔn)“探頭”無相應(yīng)內(nèi)容。三十三、試塊（4.2.3）相同.三十四、檢測時機(jī)（4.2.4）去掉了“若熱處理后鍛件形狀不適合超聲檢測時，也可在熱處理前進(jìn)行，但在熱處理后仍應(yīng)對緞件進(jìn)行可能完全的檢測?！比?、檢測方法（4.2.5）原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定“鍛件一般應(yīng)進(jìn)行縱波檢測”改為“鍛件應(yīng)進(jìn)行縱波檢測”。其余相同。三十六、靈敏度的確定（4.2.6）原“檢測靈敏度”改為“基準(zhǔn)靈敏度”。雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度：原標(biāo)準(zhǔn)未明確基準(zhǔn)靈敏度對應(yīng)的反射體。新標(biāo)準(zhǔn)明確基準(zhǔn)靈敏度對應(yīng)的反射體為φ3平底孔。其余規(guī)定相同。三十七、工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定（4.2.7）“工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定”基本相同；“衰減系數(shù)的計算公式”增加了T<3N的衰減系數(shù)的計算公式.三十八、缺陷當(dāng)量的確定（4.2.8）基本相同.三十九、缺陷記錄（4.2.9）相同.四十、質(zhì)量分級（4.2.10）原標(biāo)準(zhǔn)“如果被檢測人員判定為危害性缺陷時，可以不受上述條文的限制?！备臑椤爱?dāng)缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時，鍛件的質(zhì)量等級為V級?！逼溆嘞嗤?。四十一、承壓設(shè)備鋁及鋁合金和鈦合金板材超聲檢測（4.3）無相應(yīng)內(nèi)容,該節(jié)為新增內(nèi)容.四十二、探頭選用（4.3.2）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容,新增.四十三、檢測方法（4.3.3）新增內(nèi)容.四十四、掃查方式（4.3.3.2）新增內(nèi)容.四十五、基準(zhǔn)靈敏度的確定（4.3.3.3）新增內(nèi)容.四十六、藕合方式（4.3.4）新增內(nèi)容.四十七、缺陷記錄（4.3.5）新增內(nèi)容.四十八、缺陷邊界范圍或指示長度的測定方法（4.3.5.2）新增內(nèi)容.四十九、缺陷的評定方法（4.3.6）新增加內(nèi)容.五十、板材質(zhì)量分級（4.3.7）新增內(nèi)容.五十一、承壓設(shè)備用復(fù)合板超聲檢測（4.4）厚度適用范圍增加:由總厚度大于8MM改為基板厚度大于或等于6MM.原標(biāo)準(zhǔn)不適用于爆炸符合鋼板.五十二、探頭選用（4.4.2）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容.五十三、檢測方法（4.4.3）原標(biāo)準(zhǔn)兩側(cè)都可:新標(biāo)準(zhǔn)未規(guī)定從復(fù)合板側(cè)檢測的相應(yīng)內(nèi)容.五十四、藕合方式(4.4.3.2)無相應(yīng)內(nèi)容.五十五、掃查方式（4.4.3.3）新增加了可采用100%掃查的規(guī)定.五十六、基準(zhǔn)靈敏度的確定（4.4.4）新標(biāo)準(zhǔn)將“檢測靈敏度”改為“基準(zhǔn)靈敏度”。取消了對比試塊，直接用底波調(diào)節(jié)靈敏度，可減少試塊，簡化操作。五十七、未結(jié)合區(qū)的測定（4.4.5）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容.五十八、未結(jié)合缺陷的評定方法（4.4.6）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容.五十九、質(zhì)量分級（4.4.7）質(zhì)量分級由原來的三個級別改為四個級別,每個級別的要求比原來更嚴(yán)格.新標(biāo)準(zhǔn)未規(guī)定可不計的單個未結(jié)合區(qū)面積.六十、承壓設(shè)備用無縫鋼管超聲檢測（4.5）新標(biāo)準(zhǔn)增加了鍋爐及壓力管道用無縫管；適用的規(guī)格尺寸也增加了，原標(biāo)準(zhǔn)適用的高壓無縫鋼管外徑為12MM-480MM，不銹鋼管外徑為12MM-160MM、壁厚為2MM-10MM。六十一、試塊的制備和要求（4.5.2）基本相同，新標(biāo)準(zhǔn)增加了“對比試樣不得有大于或等于φ2MM當(dāng)量的自然缺陷?！绷?、檢測方法（4.5.3）相同.六十三、檢測設(shè)備（4.5.4）基本相同.六十四、靈敏度的確定（4.5.5）相同.六十五、承壓設(shè)備用鋼螺栓坯件的超聲檢測（4.6）增加了鍋爐及壓力管道,原標(biāo)準(zhǔn)適用的螺栓直徑為M50.六十六、探頭（4.6.2）增加了雙晶直探頭.六十七、試塊（4.6.3）相同.六十八、檢測方法（4.6.4）相同.六十九、靈敏度的確定（4.6.5）相同.七十、缺陷當(dāng)量的確定（4.6.6）相同.七十一、缺陷記錄（4.6.7）相同.七十二、質(zhì)量分級（4.6.8）基本相同.七十三、承壓設(shè)備用奧氏體鋼鍛件超聲檢測和質(zhì)量分級（4.7）增加了鍋爐及壓力管道.七十四、探頭（4.7.2）原標(biāo)準(zhǔn)探頭的工作頻率為0.5MHZ-2.5MHZ,晶片直徑為20MM-35MM.七十五、試塊（4.7.3）原標(biāo)準(zhǔn)最小的人工反射體為φ4,新標(biāo)準(zhǔn)改為φ3;其余基本相同.七十六、檢測時機(jī)和工件要求（4.7.4）相同.七十七、檢測方法（4.7.5）相同.七十八、靈敏度的校正（4.7.6）相同.七十九、缺陷記錄（4.7.7）缺陷記錄去掉了“游動信號”。八十、質(zhì)量分級（4.7.8）原標(biāo)準(zhǔn)單直探頭檢測的質(zhì)量分級根據(jù)反射體直徑不同,分五個等級,新標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)板厚,對應(yīng)不同直徑反射體,只分兩級.八十一、承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級（5）增加了鍋爐及壓力管道；適用的母材厚度由8MM-300MM，擴(kuò)大到8MM-400MM；新增加：6MM-8MM對接焊接接頭的超聲檢測可按照附錄G的規(guī)定進(jìn)行；如確有需要，壁厚為4MM-6MM的環(huán)向焊接接頭的超聲檢測可參照6.1進(jìn)行.鈦制壓力容器對接焊接接頭超聲檢測參照附錄M(資料性附錄)的規(guī)定進(jìn)行,奧氏體不銹鋼壓力容器對接焊接接頭超聲檢測參照附錄N(資料性附錄)的規(guī)定進(jìn)行.八十二、原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容。八十三、不同檢測技術(shù)等級的要求（5.1.2.2）“不同檢測技術(shù)等級的要求”原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容.原標(biāo)準(zhǔn)要求大致與B級檢測相當(dāng).以新標(biāo)準(zhǔn)的B級檢測要求與原標(biāo)準(zhǔn)相比,新標(biāo)準(zhǔn)增加了“母材厚度大于25MM-46MM”時，確有必要也可采用兩種K值探頭在焊接接頭的單面雙側(cè)進(jìn)行檢測；母材厚度大于100MM，原則上用兩種K值探頭采用直射波在焊接接頭的雙面雙側(cè)進(jìn)行檢測”的規(guī)定。原標(biāo)準(zhǔn)有“斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探頭檢測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項檢測僅作記錄，不屬于對母材的驗收檢測?！钡囊?guī)定。此條實際沒有得到執(zhí)行，新標(biāo)準(zhǔn)的B級去掉了母材檢測的內(nèi)容。八十四、試塊（5.1.3）新標(biāo)準(zhǔn)對CSK-IVA試塊作了改進(jìn),在T/2處增加了一個孔,標(biāo)準(zhǔn)孔直徑d與英寸相對應(yīng),試塊數(shù)量由四塊變?yōu)榱鶋K.其余基本相同.八十五、檢測準(zhǔn)備（5.1.4）“檢測區(qū)的寬度”原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定“應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個區(qū)域最小為10MM”，新標(biāo)準(zhǔn)將檢測區(qū)的寬度改為“最小為5MM，最大為10MM”。其余內(nèi)容基本相同。八十六、探頭K值（角度）（5.1.4.2）基本相同.八十七、檢測頻率（5.1.4.3）無相應(yīng)內(nèi)容.八十八、母材的檢測（5.1.4.4）原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:“斜探頭掃查聲速通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測”，但實際未得到執(zhí)行；現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：對于C級檢測，才需要對母材區(qū)域用直探頭檢測。母材檢測的要點新舊標(biāo)準(zhǔn)相同。八十九、距離-波幅曲線的繪制（5.1.5）增加了“如果距離—波幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的20%?！钡囊?guī)定。九十、距離-波幅曲線的靈敏度選擇（5.1.5.2）原標(biāo)準(zhǔn)壁下限8MM,現(xiàn)改為6MM；原標(biāo)準(zhǔn)壁厚上限300MM現(xiàn)改為400MM；現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)分為6MM-120MM、>120MM-400MM兩段.九十一、檢測方法（5.1.6）“對橫向缺陷的檢測要求”新舊標(biāo)準(zhǔn)有差異；對“電渣焊焊接接頭增加與焊縫中心線成45度的斜向掃查”，舊標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容；其余基本相同。九十二、曲面工件（直徑小于或等于500MM）對接焊接接頭的超聲檢測（5.1.6.2）增加了曲面工件定義(曲率半徑小于或等于500MM)，其余相同。九十三、管座角焊縫的檢測（5.1.6.3）新標(biāo)準(zhǔn)在b)2)中增加了“在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測”；在c)中，明確了直、斜探頭檢測靈敏度。舊標(biāo)準(zhǔn)對此規(guī)定不統(tǒng)一，有誤。九十四、T型焊接接頭的超聲檢測（5.1.6.4）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容.九十五、缺陷定量檢測（5.1.7）明確定量線靈敏度為基準(zhǔn)靈敏度；b）1）和2）中，增加了“使波幅度降到熒光屏滿刻度的80%后，”內(nèi)容；其余定位定量規(guī)定與舊標(biāo)準(zhǔn)相同。九十六、缺陷評定（5.1.8）基本相同.九十七、質(zhì)量分級（5.1.9）原標(biāo)準(zhǔn)II區(qū)缺陷根據(jù)指示長度評級，III區(qū)不評級；現(xiàn)改為所有缺陷都進(jìn)行質(zhì)量評級；增加“裂紋等危害性缺陷”概念。九十八、承壓設(shè)備堆焊層超聲檢測（5.2）增加了“鎳合金等堆焊層和母材再熱裂紋的超聲檢測”。九十九、檢測方法（5.2.2）舊標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定不明確.100、探頭（5.2.3）縱波雙晶斜探頭無相應(yīng)內(nèi)容；縱波斜探頭增加了K=1的要求；其余相同。101、對比試塊（5.2.4）增加了“試塊堆焊層表面的狀態(tài)應(yīng)和工件堆焊層的表面狀態(tài)相同”的要求；新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定T2型試塊和T3a)型試塊的“母材厚度T與被檢母材的厚度差不得超過10%”，原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定為25MM；其余基本相同。102、靈敏度校準(zhǔn)（5.2.5）采用T2型試塊校準(zhǔn)雙晶直探頭和采用T3型試塊校準(zhǔn)單直探頭,基準(zhǔn)靈敏度調(diào)節(jié)由φ2MM平底孔改為φ3MM平底孔；其余相同。103、掃查方式（5.2.6）增加了雙晶斜探頭掃查要求，雙晶直探頭改為“垂直于堆焊方向進(jìn)行掃查”；“缺陷當(dāng)量尺寸應(yīng)采用6dB法確定”。舊標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)規(guī)定；其余相同。104、質(zhì)量分級（5.2.7）原標(biāo)準(zhǔn)不評級，只分允許和不允許；現(xiàn)改為所有缺陷都進(jìn)行質(zhì)量分級。105、鋁及鋁合金制承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級（5.3）增加了鋁合金；適用于厚度大于或等于8MM，原為15MM。106、對比試塊（5.3.2）厚度大于或等于8MM，原為15MM；基準(zhǔn)反射體由φ5MM橫通孔改為φ2MM橫通孔，靈敏度提高了。107、檢測準(zhǔn)備（5.3.3）探頭的選擇“增加了選用頻率為2.5MHZ斜探頭”；距離-波幅曲線的基準(zhǔn)反射體由φ5MM橫通孔改為φ2MM的橫通孔。108、掃查方法（5.3.4）相同.109、缺陷定量檢測（5.3.5）增加了缺陷位置測定和缺陷最大反射波幅測定的要求.110、缺陷評定（5.3.6）“超過評定線的信號應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征……”無相應(yīng)內(nèi)容；其余相同。111、質(zhì)量分級（5.3.7）原標(biāo)準(zhǔn)II區(qū)缺陷根據(jù)指示長度評級、III區(qū)不評級；現(xiàn)改為所有缺陷都進(jìn)行質(zhì)量分級。112、承壓設(shè)備管子、壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測和質(zhì)量分級（6）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容。113、鋁及鋁合金制承壓設(shè)備管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^的超聲檢測和質(zhì)量分級（6.2）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容.114、在用承壓設(shè)備超聲檢測（7）原標(biāo)準(zhǔn)無相應(yīng)內(nèi)容。第四部分磁粉檢測一、范圍（1）原標(biāo)準(zhǔn)只適用壓力容器無損檢測，現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)將適用范圍擴(kuò)大到鍋爐、壓力容器、壓力管道等承壓設(shè)備的檢測，與承壓設(shè)備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件磁粉檢測也可參照執(zhí)行。二、規(guī)范性引用文件（2）原標(biāo)準(zhǔn)引用文件不完整，新版修訂中，引用了必要的最新版本標(biāo)準(zhǔn)。三、一般要求（3）原標(biāo)準(zhǔn)在11.2條通過引用4.3條作出規(guī)定,要求可概括為技術(shù)培訓(xùn)取證和視力,修訂后的視力要求按GB11533規(guī)定,提出了近距視力和遠(yuǎn)距視力要求,由于色弱視力已低于1.0,所以新標(biāo)準(zhǔn)參照J(rèn)B/T6061-1992的4.3,對色弱不再提出要求.四、磁粉檢測程序原標(biāo)準(zhǔn)無對應(yīng)條款。五、磁粉檢測設(shè)備（3.3）1、原標(biāo)準(zhǔn)對工件退磁后剩磁值要求太高，既沒有必要，也難于達(dá)到。故參考美國標(biāo)準(zhǔn)由原剩磁160A/M變更為240A/M。2、原標(biāo)準(zhǔn)無交叉磁軛方面的相應(yīng)規(guī)定，由于交叉磁軛一次可以檢測一個區(qū)域內(nèi)各個方向缺陷，因此在鍋爐、壓力容器行業(yè)得到廣泛使用，磁粉標(biāo)準(zhǔn)修改組在我國現(xiàn)有交叉磁軛設(shè)備進(jìn)行提升力和靈敏度試驗基礎(chǔ)上，提出了交叉電磁軛的提升力要求。六、磁粉、載體及磁懸液（3.4）1、對表面不規(guī)則工件（如螺紋根部）進(jìn)行熒光檢測時，為防止產(chǎn)生過度背景，宜選擇較低濃度的磁懸液，因此新標(biāo)準(zhǔn)將熒光磁粉配置濃度下限值降低至0.5g/L。2、原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的油基載體的粘度為動力粘度，而磁粉檢測主要考慮粘度對磁懸液流動性的影響，采用運動粘度更為合適，國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T15822和國外絕大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)也采用運動粘度方式表示，因此新標(biāo)準(zhǔn)修改為運動粘度值。七、標(biāo)準(zhǔn)試件（3.5）1、原標(biāo)準(zhǔn)中只推薦使用A型和C型試片,無D型和M1型試片.2、JB/T6065規(guī)定了D型試片內(nèi)容，D型試片適應(yīng)于探傷面窄小或工作表面曲率半徑較小的場合。3、M1型試片由鐵道科學(xué)研究院金化所生產(chǎn)，它是由三個不同深度而間隔相等的人工刻槽以同心圓形式做在同一試片上，一片多用，觀察磁痕跡顯示差異直觀。八、磁化電流類型及其選用（3.6）原標(biāo)準(zhǔn)對磁化規(guī)范電流值類型(峰值、平均值、有效值)未作詳細(xì)規(guī)定，新標(biāo)準(zhǔn)對此進(jìn)行補(bǔ)充完善。九、磁化方向（3.7）原標(biāo)準(zhǔn)無復(fù)合磁化內(nèi)容,鑒于復(fù)合磁化在承壓設(shè)備檢測上已廣泛應(yīng)用,新標(biāo)準(zhǔn)增加了復(fù)合磁化的內(nèi)容,以適應(yīng)我國承壓設(shè)備磁粉檢測現(xiàn)狀.十、磁化規(guī)范（3.8）磁粉檢測應(yīng)有適當(dāng)?shù)拇艌鰪?qiáng)度,為了使磁痕顯示的一致性,磁場強(qiáng)度必須控制在合理的范圍,通常是+_25%,影響磁場強(qiáng)度的因素是工件的尺寸、形狀、材質(zhì)以及磁化技術(shù)等。這些因素的變動范圍廣泛，所以很難制定嚴(yán)格的磁場強(qiáng)度規(guī)則以適用于每種工件，新標(biāo)準(zhǔn)中介紹了這四種方法來確定磁場強(qiáng)度，原標(biāo)準(zhǔn)無此內(nèi)容。十一、軸向通電法和中心導(dǎo)體法的磁化規(guī)范（3.8.2）原標(biāo)準(zhǔn)中I=(12-20)D,不適合有特殊要求的工件檢驗,因此選擇的磁化電流擴(kuò)大了.在交流電連續(xù)法中I=(6-10)D同樣不適應(yīng)于有特殊要求的工件檢驗本標(biāo)準(zhǔn)軸向通電法中,因此新標(biāo)準(zhǔn)將磁化電流上限擴(kuò)大,交流電連續(xù)法I=(8-15)D；直流電（整流電）連續(xù)法：I=（12-32）D，與ASMESE-709一致。2、原標(biāo)準(zhǔn)中表11-4中心導(dǎo)體法磁化電流值計算方法太繁雜，本標(biāo)準(zhǔn)將其刪除。十二、偏置芯棒法（3.8.3）1、原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定芯棒偏心放置時，芯棒與工件內(nèi)表面的間距為10MM-15MM，實際操作時此間距控制很不方便，也沒有必要，檢測時芯棒靠近內(nèi)壁放置不僅靈敏度高，而且操作方便，因此新標(biāo)準(zhǔn)對此進(jìn)行改動。2、新標(biāo)準(zhǔn)表3“通電法和中心導(dǎo)體法磁化規(guī)范”同樣適應(yīng)于偏置芯棒法,不同的是通電法和中心導(dǎo)體法磁化電流計算公式中D為工件橫截面上最大尺寸,而偏置芯棒法時D為芯棒直徑加2倍工件壁厚.十三、觸頭法（3.8.4）原標(biāo)準(zhǔn)以工件厚度T=20MM作為參照基準(zhǔn)選擇磁化電流，現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)改為19MM，主要是參考了ASME規(guī)范要求。十四、磁軛法（3.8.5）由于磁極附近會產(chǎn)生漏磁場吸引磁粉形成非相關(guān)顯示,為排除此漏磁場干擾,現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)將最小磁極間距擴(kuò)大到75,與ASME規(guī)范一致.十五、線圈法（3.8.6）1、原標(biāo)準(zhǔn)中低充填正中放置時，I=1720R/N[6（L/D）-5]，而美國SE-709標(biāo)準(zhǔn)中低充填正中放置時NI=1690R/[6L/D-5]（+_10%）?，F(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)SE-709規(guī)定對此進(jìn)行改動。2、原標(biāo)準(zhǔn)無中充填因素線圈磁化內(nèi)容和有效直徑Deff磁化公式,現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)增加了這方法的內(nèi)容,擴(kuò)大了線圈法的應(yīng)用范圍.十六、質(zhì)量控制(3.9)1、質(zhì)量控制內(nèi)容包括磁粉檢測綜合性能試驗、磁懸液濃度測定、磁懸液污染判定、磁懸液潤濕性能檢驗、電流表、電磁軛的提升力、輔助儀表的校驗等內(nèi)容，磁粉檢測的工作質(zhì)量取決于質(zhì)量控制水平，原標(biāo)準(zhǔn)對此規(guī)定不夠詳細(xì)，新標(biāo)準(zhǔn)對此進(jìn)行補(bǔ)充完善，提出了質(zhì)量控制的相關(guān)要求，使標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定更加全面，對檢測工作具有指導(dǎo)意義。2、新標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量控制內(nèi)容是參照ASMESE-709的要求而制定的，國內(nèi)有些單位就這方面做得不夠，因此在新標(biāo)準(zhǔn)中專門列一節(jié)強(qiáng)調(diào)這個問題。十七、安全防護(hù)（3.10）這是新編寫的規(guī)定.原標(biāo)準(zhǔn)中沒有安全防護(hù)方面的內(nèi)容,新標(biāo)準(zhǔn)對此進(jìn)行補(bǔ)充完善,并與國際上先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)接軌,強(qiáng)調(diào)了健康、安全、環(huán)境方面的因素。十八、被檢工件表面的準(zhǔn)備（3.11）1、原標(biāo)準(zhǔn)中除工件表面粗糙度Ra不大于12.5um時，由于焊接件等工件檢測難以達(dá)到此粗糙度規(guī)定，因此現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)對此不作硬性規(guī)定，只強(qiáng)調(diào)表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，并將打磨后被檢工件的表面粗糙度放寬到Ra<=25um，使之更符合檢測實際。2、原標(biāo)準(zhǔn)無反差增強(qiáng)劑內(nèi)容，在承壓設(shè)備磁粉檢測中也有使用反差增強(qiáng)劑情況，效果不錯，新標(biāo)準(zhǔn)對此進(jìn)行了補(bǔ)充。十九、檢測時機(jī)（3.12）：與原標(biāo)準(zhǔn)相同。（ASTME1444-01規(guī)定在完成所有可能引起或暴露不連續(xù)性的操作后進(jìn)行磁粉檢測,現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)針對焊接件、緊固件和鍛件進(jìn)行細(xì)化，并考慮延遲裂紋的特點規(guī)定應(yīng)在焊接完成24h后進(jìn)行檢測，與《容規(guī)》要求相一致）。二十、檢測方法（4）原標(biāo)準(zhǔn)中有平行電纜法內(nèi)容，由于平行電纜法檢測時磁力線的一部分在空氣中，被檢工件中的磁場被大大減弱、扭曲并且分布不均勻，因而檢測不可靠。故新標(biāo)準(zhǔn)將原標(biāo)準(zhǔn)中的平行電纜法刪除，并增加了交叉磁軛法內(nèi)容。二十一、干法（4.2）同.二十二、連續(xù)法（4.4）同.二十三、交叉磁軛法（4.6）1、交叉磁軛法由于一次可以檢測一個區(qū)域內(nèi)各個方面缺陷，因此在鍋爐、壓力容器行業(yè)得到廣泛使用。但由于被檢設(shè)備大多是帶曲率的，四個磁極端面有時與工作檢測面貼合不夠，造成靈敏度不夠而漏檢。GB/T5822要求：四個磁極端面與檢測面之間應(yīng)盡量貼合，最大間隙不超過1.5MM,為避免移動速度太快而造成漏檢,要求檢測速度盡量均勻,一般不應(yīng)大于5MM/S,現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)采納了GB/T15822的規(guī)定,并對行走速度調(diào)整為4M/MIN.2、我國大多數(shù)交叉磁軛產(chǎn)生的是橢圓形的旋轉(zhuǎn)磁場多，如果交叉磁軛固定位置，分段對工件進(jìn)行探傷，就會使被探工件表面各點處于不同幅值的橢圓形旋轉(zhuǎn)磁場作用下，結(jié)果造成各點探傷靈敏度的不一致，對某些方向裂紋的探傷靈敏度降低，因此規(guī)定檢測時交叉磁軛要對工件作相對運動。二十四、磁痕顯示的分類和記錄（5）原標(biāo)準(zhǔn)無相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示和偽顯示內(nèi)容，其他內(nèi)容與新標(biāo)準(zhǔn)相同。二十五、缺陷磁痕的觀察（5.2）1、原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定非熒光磁粉檢測時，工件被檢面處可見光照度應(yīng)不小于500lx，新標(biāo)準(zhǔn)將此要求提高到1000lx，并考慮到現(xiàn)場采用便攜式設(shè)備檢測的環(huán)境條件，可見光照度可以適當(dāng)降低，但不得低于500lx。2、在熒光磁檢測時，原標(biāo)準(zhǔn)未對檢測人員作任何限制；由于光敏（光致變色）眼睛在存在紫外線輻射時會變暗，變暗程度與輻射的入射量成正比，影響對熒光磁粉痕跡的觀察和辨認(rèn)，因此新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了“檢測人員不準(zhǔn)戴對檢測有影響的眼睛”這一條款。二十六、復(fù)驗（6）由于返修后必須進(jìn)行檢測復(fù)驗已在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定，新標(biāo)準(zhǔn)將原“經(jīng)返修后的部位”此條內(nèi)容刪去。二十七、退磁（7）鍋爐、壓力容器及壓力管道用的材料一般剩磁很小，因此不要求退磁，如檢測后還需加熱到700度以上熱處理，也可以不退磁，本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了五種情況下需退磁。二十八、退磁方法（7.2）退磁一般是將工件放入等于或大于磁化工件磁場強(qiáng)度的磁場中,然后不斷改變磁場方向,同時逐漸減小磁場強(qiáng)度使其趨于零.交流電磁化工件應(yīng)用交流退磁法,直流電磁化工件應(yīng)用直流退磁法,大型工件可使用交流電磁軛進(jìn)行局部退磁或采用纏繞電纜線圈分段退磁.二十九、剩磁測定（7.3）原標(biāo)準(zhǔn)對工件退磁后剩磁值要求太高,既沒有必要,也難于達(dá)到,故參考美國標(biāo)準(zhǔn)由原剩磁160A/M變更為240A/M.三十、在用承壓設(shè)備的磁粉檢測（8）（新增內(nèi)容）高強(qiáng)鋼在使用中可能產(chǎn)生小裂紋，應(yīng)力腐蝕裂紋一般都比較細(xì)小，因此對高強(qiáng)度鋼以及對裂紋敏感的鐵磁性材料，或是長期工作在腐蝕介質(zhì)環(huán)境下有可能發(fā)生應(yīng)力腐蝕裂紋的場合，為發(fā)現(xiàn)細(xì)小裂紋，提高檢測靈敏度，應(yīng)采用熒光磁粉檢測法。三十一、磁粉檢測質(zhì)量分級（9）參照ASME規(guī)范和JIS有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)以及鍋爐、壓力容器、壓力管道行業(yè)有關(guān)單位提出的意見，制定了焊接接頭材料和受壓加工部件的磁粉檢測質(zhì)量等級分級標(biāo)準(zhǔn)，供設(shè)計人員選用，本標(biāo)準(zhǔn)中這部分的內(nèi)容對原標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)內(nèi)容作了較大改動，并增加了綜合評級內(nèi)容。三十二、磁粉檢測報告（10）與原標(biāo)準(zhǔn)一致。第五部分滲透檢測一、范圍（1）：原標(biāo)準(zhǔn)只適用于壓力容器無損檢測，新標(biāo)準(zhǔn)將適用范圍擴(kuò)大到了鍋爐、壓力容器、壓力管道承壓設(shè)備在制造、安裝及使用中的滲透檢測。（1、基于滲透檢測的基本原理和方法特點，其檢測對象為非多孔性材料表面開口缺陷，各國標(biāo)準(zhǔn)對此都規(guī)定一致。2、當(dāng)ASME規(guī)范第V卷第6章規(guī)定了滲透檢測基本要求，SE-165作為規(guī)范第V卷的應(yīng)用文件，提供了更加詳細(xì)的滲透檢測操作方法和程序，可作為編制檢驗規(guī)程的參考。3、原標(biāo)準(zhǔn)本部分規(guī)定了滲透檢測質(zhì)量分級要求，ASME規(guī)范第V卷滲透檢測標(biāo)準(zhǔn)中不包含質(zhì)量評定內(nèi)容，缺陷的評定和驗收標(biāo)準(zhǔn)見ASME規(guī)范相應(yīng)卷的產(chǎn)品規(guī)范要求中，如鍋爐和容器滲透檢測驗收標(biāo)準(zhǔn)分別見第I卷和第VIII卷的相應(yīng)規(guī)定）。二、規(guī)范性引用文件（2）原標(biāo)準(zhǔn)引用文件不完整，新標(biāo)準(zhǔn)引用了必要的最新版本標(biāo)準(zhǔn)。三、一般要求（3）原標(biāo)準(zhǔn)在11.2條通過引用4.3條作出規(guī)定,要求可概括為技術(shù)培訓(xùn)取證和視力.修訂后視力要求按GB11533的規(guī)定,提出了近距離視力和遠(yuǎn)距視力要求,由于色弱視力已低于1.0,所以新標(biāo)準(zhǔn)對色弱不再提出要求.四、滲透檢測劑（3.2）1、鑒于對產(chǎn)品質(zhì)量理念的提高，滲透檢測劑作為影響檢測質(zhì)量的商品，必須標(biāo)明生產(chǎn)日期和有效期，并應(yīng)附帶產(chǎn)品合格證和使用說明書，為此新標(biāo)準(zhǔn)的3.2.3作了相應(yīng)規(guī)定，原標(biāo)準(zhǔn)無此內(nèi)容。2、噴罐式滲透檢測劑廣泛應(yīng)用于承壓設(shè)備的檢測，噴罐泄漏不僅會影響檢測質(zhì)量，還會導(dǎo)致安全問題，因此新標(biāo)準(zhǔn)3.2.4規(guī)定“對于噴罐式滲透檢測劑，其噴罐表面不得有銹蝕，噴罐不得出現(xiàn)泄漏”，原標(biāo)準(zhǔn)無此規(guī)定。3、對滲透檢測劑質(zhì)量控制內(nèi)容，新標(biāo)準(zhǔn)沿用JB/T9216的規(guī)定要求，規(guī)定“如果被校驗的滲透劑與標(biāo)準(zhǔn)滲透劑的顏色濃度差超過20%時，就應(yīng)作為不合格”。五、設(shè)備、儀器和試塊（3.3）1、溶劑去除型著色一般使用噴罐技術(shù)，無需使用特殊的設(shè)備就能進(jìn)行檢驗，但在熒光滲透檢測中須使用黑光燈、黑光輻射照度計、熒光亮度計、照度計等設(shè)備和儀器，其性能直接關(guān)系到檢測質(zhì)量，因此新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了滲透檢測設(shè)備和儀器的內(nèi)容要求。原標(biāo)準(zhǔn)無此內(nèi)容。2、原標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了對比試塊主要用于檢驗檢測劑性能及操作工藝，此說法欠妥，因為鋁合金試塊A、B試塊上均應(yīng)具有細(xì)密相對稱的裂紋圖形，主要適用于滲透檢測劑靈敏度對比試驗和對用于非標(biāo)準(zhǔn)溫度下的滲透檢測方法的鑒定，鍍鉻試塊在同一試塊上具有不同尺寸裂紋，主要用于校驗檢測靈敏度和操作工藝正確性，因此新標(biāo)準(zhǔn)分別描述了兩類標(biāo)準(zhǔn)試塊的作用。3、對鋁合金試塊和鍍鉻試塊的制作要求和其他內(nèi)容分別見JB/T9213-1999、JB/T6064-1992相應(yīng)規(guī)定。4、由于著色滲透劑會使熒光猝滅，新標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：著色滲透檢測用的標(biāo)準(zhǔn)試塊不能用于熒光滲透檢測，反之亦然，原標(biāo)準(zhǔn)無此規(guī)定。六、滲透檢測方法分類和選用（3.4）1、熒光、著色滲透檢測劑已經(jīng)研制成功并得到應(yīng)用，因此新標(biāo)準(zhǔn)在表1滲透檢測方法分類中增加了這一新方法，并使檢測方法分類更加細(xì)化，將后乳化滲透檢測細(xì)分為親油型和親水型后乳化滲透檢測，將濕式顯像細(xì)分為水溶解顯像劑，水懸浮顯像劑；方法代號也與原標(biāo)準(zhǔn)不一致。2、原標(biāo)準(zhǔn)沒有滲透檢測靈敏度等級內(nèi)容規(guī)定，新標(biāo)準(zhǔn)參考EN571-1-6.3要求,用鍍鉻試塊鑒定靈敏度等級,以適應(yīng)不同檢測靈敏度的要求.七、檢測時機(jī)（3.5）原標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測11.7中規(guī)定了檢測時機(jī),而原標(biāo)準(zhǔn)滲透檢測中無此規(guī)定,兩者內(nèi)容不協(xié)調(diào),新標(biāo)準(zhǔn)本部分規(guī)定了檢測時機(jī),并與磁粉檢測部分要求相一致.八、滲透檢測基本程序（4）新標(biāo)準(zhǔn)比原標(biāo)準(zhǔn)多了干燥程序，熒光和著色滲透檢測工藝程序見附錄A（規(guī)范性附錄）。九、滲透檢測操作方法（5）新標(biāo)準(zhǔn)適當(dāng)降低了被檢工件機(jī)加工表面的粗糙度要求；由于焊接件檢測難以達(dá)到此粗糙度規(guī)定，因此新標(biāo)準(zhǔn)對非機(jī)加工表面的粗糙度可適當(dāng)放寬，但