數(shù)電實驗箱面包板Led燈電源IC底座脈沖源74ls00撥開關(guān)1精選版課件ppt數(shù)電實驗箱面包板Led燈電源IC底座脈沖源74ls00撥開關(guān)集成塊、集成塊（IC）底座三角形、圓形標(biāo)志開始逆時針數(shù)。從第1個管腳到第n個管腳。DIP（daulin-linepackage）雙列直插式封裝。BGA（Bsllgridarraypackage）球柵陣列封裝。例：cup，賽揚(yáng)366。前圖，反面；后圖，正面。2精選版課件ppt集成塊、集成塊（IC）底座三角形、圓形標(biāo)志開始逆時針數(shù)。從第撥開關(guān)位置“1”接5V電源的“+”；位置“2”接5V電源的“-”；位置“3”接各種“輸入”小撥桿位置1、2、33精選版課件ppt撥開關(guān)位置“1”接5V電源的“+”；3精選版課件ppt穩(wěn)壓源、導(dǎo)線最右邊兩個接線柱，左“+”，右“﹣”。粗導(dǎo)線，連接電源和實驗箱。細(xì)導(dǎo)線，連接箱子里面的接線柱。4精選版課件ppt穩(wěn)壓源、導(dǎo)線最右邊兩個接線柱，左“+”，右“﹣”。4精選版課模擬萬用表5精選版課件ppt模擬萬用表5精選版課件ppt表頭和表盤6精選版課件ppt表頭和表盤6精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．熟悉TTL與非門外形和管腳引線排列。2．通過測試了解與非門的直流參數(shù)。一、實驗?zāi)康模?精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．熟悉TTL與非門外形和實驗一TTL與非門參數(shù)測試集成電路的二大系列：(1)TTL—Transistor-transistorLogic三極管-三極管邏輯電路。74LS系列集成電路(低功耗肖特基TTL電路)是一種比較理想的和使用最廣的器件。(2)CMOS—Complementary-SymmeteryMetal-Oxide-SemiconductorCircuit互補(bǔ)對稱式金屬-氧化物-半導(dǎo)體電路。二、實驗原理：8精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試集成電路的二大系列：二、實實物接線圖9精選版課件ppt實物接線圖9精選版課件ppt實物接線圖10精選版課件ppt實物接線圖10精選版課件ppt實物接線圖11精選版課件ppt實物接線圖11精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試Ui(V)00.50.70.91.01.11.21.31.41.51.82.03.5Uo(V)表4.1電壓傳輸特性測量表三、實驗內(nèi)容及步驟：圖4.10電壓傳輸特性曲線電壓輸入（V）ABY電壓輸出（V）0010-1.00114.0-3.81011.1-4.01100.1612精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試Ui(V)00.50.70實驗一TTL與非門參數(shù)測試TTL與非門直流參數(shù)的定義在教材中已有介紹?，F(xiàn)將測試電路繪出：圖4.1是低電平輸出電源電流ICCL測試電路（當(dāng)輸入端全為高電平時，流入電源端的電流）；圖4.2是低電平輸入電流IIL測試電路（當(dāng)某一輸入端接低電平、其余輸入端接高電平時，從該輸入端流出的電流）；圖4.2IIL測試電路二、實驗原理：1．TTL與非門直流參數(shù)的測量圖4.1ICCL測試電路13精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試TTL與非門直流參數(shù)的定義實驗一TTL與非門參數(shù)測試圖4.3是高電平輸入電流IIH測試電路（當(dāng)某一輸入端接高電平、其余輸入端接低電平時，流入該輸入端的電流）；圖4.4是測量電壓傳輸特性的電路（輸出電壓UO與輸入電壓Ui之間的關(guān)系，將某一輸入端的電壓從零逐漸增大,而將其它輸入端接高電平）。圖4.4電壓傳輸特性測試電路二、實驗原理：1．TTL與非門直流參數(shù)的測量圖4.3IIH測試電路14精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試圖4.3是高電平輸入電流I實驗一TTL與非門參數(shù)測試圖4.7平均傳輸延遲時間tpd2．測平均傳輸延遲時間

在與非門輸入端加上一個脈沖電壓，則輸出電壓將有一定的時間延遲，表明延遲時間的輸入、輸出電壓波形如圖4.7所示。從輸入脈沖上升沿的50%處起到輸出脈沖下降沿的50%處的時間稱為上升延遲時間tpd1；從輸入脈沖下降沿的50%處起到輸出脈沖上升沿的50%處的時間稱為下降延遲時間tpd2。tpd1

與tpd2的平均值稱為平均傳輸延遲時間tpd，此值愈小愈好。二、實驗原理：15精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試圖4.7平均傳輸延遲時間實驗一TTL與非門參數(shù)測試

由圖4.6所示的環(huán)形振蕩器測出平均傳輸延遲時間tpd，如果每個與非門的tpd都相等，則振蕩信號的周期T=6tpd，于是：tpd=T/62．測平均傳輸延遲時間二、實驗原理：圖4.6環(huán)形振蕩器電路16精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試由圖4.6所示的環(huán)形振蕩實驗一TTL與非門參數(shù)測試2．測平均傳輸延遲時間二、實驗原理：

為了證明上述自激振蕩過程，將圖4.6中的反饋線AD斷開，如圖4.8所示，然后在門1的輸入端加入一個頻率合適的方波Vi，同時觀察Vi、Vo和VF波形(以Vi作同步信號)，如圖4.9所示，Vo是Vi反相后右移tpd波形，如果Vi的頻率符合振蕩所需的相移條件，即Vi比Vo恰好右移2tpd，則3tpd=tp。式中tp為Vi的脈沖寬度，則圖4.6將輸出周期為Ｔ的方波，顯然Ｔ＝2×3tpd=6tpd

故得：tpd=T/6電路依靠合閘時的擾動電壓起振。17精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試2．測平均傳輸延遲時間二、圖4.8斷開反饋線的環(huán)形振蕩器圖4.9Vi、VO和VF波形實驗一TTL與非門參數(shù)測試2．測平均傳輸延遲時間二、實驗原理：18精選版課件ppt圖4.8斷開反饋線的環(huán)形振蕩器圖4.9Vi、VO和實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．根據(jù)與非門的邏輯功能檢查與非門是否良好。2．測量下列各直流參數(shù)（1）低電平輸出電源電流ICCL(圖4.1)。（2）低電平輸入電流IIL(圖4.2)。（3）高電平輸入電流IIH(圖4.3)。（4）電壓傳輸特性(圖4.4)，完成表4.1，并畫出電壓傳輸特性曲線(完成圖4.10)。（5）扇出系數(shù)NO(圖4.5)。（6）平均傳輸延遲時間tpd(圖4.6)。三、實驗內(nèi)容及步驟：19精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．根據(jù)與非門的邏輯功能檢實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．閱讀所用與非門（74LS00）的說明書，了解其線路、引線排列邏輯功能和參數(shù)。2．與非門什么情況下輸出高電平？什么情況下輸出低電平？其不用的輸入端如何處理？四、預(yù)習(xí)要求：20精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．閱讀所用與非門（74L實驗一TTL與非門參數(shù)測試五、實驗報告1．列出直流參數(shù)的實測數(shù)據(jù)表格。畫出傳輸特性，確定VOFF、VON、VOL、VOH值，與出廠參數(shù)相比，判斷所測的電參數(shù)是否合格。21精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試五、實驗報告1．列出直流參實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．YB4320型示波器一臺2．萬用表MF—47一臺3．穩(wěn)壓電源YB1718 一臺4．?dāng)?shù)字邏輯實驗箱 一臺

5．參考元件：74LS00(二輸入端四與非門)管腳排列如圖4.11。圖4.1174LS00管腳排列圖六、實驗設(shè)備22精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．YB4320型示波器此課件下載可自行編輯修改，供參考！感謝您的支持，我們努力做得更好！23精選版課件ppt此課件下載可自行編輯修改，供參考！23精選版課件ppt數(shù)電實驗箱面包板Led燈電源IC底座脈沖源74ls00撥開關(guān)24精選版課件ppt數(shù)電實驗箱面包板Led燈電源IC底座脈沖源74ls00撥開關(guān)集成塊、集成塊（IC）底座三角形、圓形標(biāo)志開始逆時針數(shù)。從第1個管腳到第n個管腳。DIP（daulin-linepackage）雙列直插式封裝。BGA（Bsllgridarraypackage）球柵陣列封裝。例：cup，賽揚(yáng)366。前圖，反面；后圖，正面。25精選版課件ppt集成塊、集成塊（IC）底座三角形、圓形標(biāo)志開始逆時針數(shù)。從第撥開關(guān)位置“1”接5V電源的“+”；位置“2”接5V電源的“-”；位置“3”接各種“輸入”小撥桿位置1、2、326精選版課件ppt撥開關(guān)位置“1”接5V電源的“+”；3精選版課件ppt穩(wěn)壓源、導(dǎo)線最右邊兩個接線柱，左“+”，右“﹣”。粗導(dǎo)線，連接電源和實驗箱。細(xì)導(dǎo)線，連接箱子里面的接線柱。27精選版課件ppt穩(wěn)壓源、導(dǎo)線最右邊兩個接線柱，左“+”，右“﹣”。4精選版課模擬萬用表28精選版課件ppt模擬萬用表5精選版課件ppt表頭和表盤29精選版課件ppt表頭和表盤6精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．熟悉TTL與非門外形和管腳引線排列。2．通過測試了解與非門的直流參數(shù)。一、實驗?zāi)康模?0精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．熟悉TTL與非門外形和實驗一TTL與非門參數(shù)測試集成電路的二大系列：(1)TTL—Transistor-transistorLogic三極管-三極管邏輯電路。74LS系列集成電路(低功耗肖特基TTL電路)是一種比較理想的和使用最廣的器件。(2)CMOS—Complementary-SymmeteryMetal-Oxide-SemiconductorCircuit互補(bǔ)對稱式金屬-氧化物-半導(dǎo)體電路。二、實驗原理：31精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試集成電路的二大系列：二、實實物接線圖32精選版課件ppt實物接線圖9精選版課件ppt實物接線圖33精選版課件ppt實物接線圖10精選版課件ppt實物接線圖34精選版課件ppt實物接線圖11精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試Ui(V)00.50.70.91.01.11.21.31.41.51.82.03.5Uo(V)表4.1電壓傳輸特性測量表三、實驗內(nèi)容及步驟：圖4.10電壓傳輸特性曲線電壓輸入（V）ABY電壓輸出（V）0010-1.00114.0-3.81011.1-4.01100.1635精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試Ui(V)00.50.70實驗一TTL與非門參數(shù)測試TTL與非門直流參數(shù)的定義在教材中已有介紹?，F(xiàn)將測試電路繪出：圖4.1是低電平輸出電源電流ICCL測試電路（當(dāng)輸入端全為高電平時，流入電源端的電流）；圖4.2是低電平輸入電流IIL測試電路（當(dāng)某一輸入端接低電平、其余輸入端接高電平時，從該輸入端流出的電流）；圖4.2IIL測試電路二、實驗原理：1．TTL與非門直流參數(shù)的測量圖4.1ICCL測試電路36精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試TTL與非門直流參數(shù)的定義實驗一TTL與非門參數(shù)測試圖4.3是高電平輸入電流IIH測試電路（當(dāng)某一輸入端接高電平、其余輸入端接低電平時，流入該輸入端的電流）；圖4.4是測量電壓傳輸特性的電路（輸出電壓UO與輸入電壓Ui之間的關(guān)系，將某一輸入端的電壓從零逐漸增大,而將其它輸入端接高電平）。圖4.4電壓傳輸特性測試電路二、實驗原理：1．TTL與非門直流參數(shù)的測量圖4.3IIH測試電路37精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試圖4.3是高電平輸入電流I實驗一TTL與非門參數(shù)測試圖4.7平均傳輸延遲時間tpd2．測平均傳輸延遲時間

在與非門輸入端加上一個脈沖電壓，則輸出電壓將有一定的時間延遲，表明延遲時間的輸入、輸出電壓波形如圖4.7所示。從輸入脈沖上升沿的50%處起到輸出脈沖下降沿的50%處的時間稱為上升延遲時間tpd1；從輸入脈沖下降沿的50%處起到輸出脈沖上升沿的50%處的時間稱為下降延遲時間tpd2。tpd1

與tpd2的平均值稱為平均傳輸延遲時間tpd，此值愈小愈好。二、實驗原理：38精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試圖4.7平均傳輸延遲時間實驗一TTL與非門參數(shù)測試

由圖4.6所示的環(huán)形振蕩器測出平均傳輸延遲時間tpd，如果每個與非門的tpd都相等，則振蕩信號的周期T=6tpd，于是：tpd=T/62．測平均傳輸延遲時間二、實驗原理：圖4.6環(huán)形振蕩器電路39精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試由圖4.6所示的環(huán)形振蕩實驗一TTL與非門參數(shù)測試2．測平均傳輸延遲時間二、實驗原理：

為了證明上述自激振蕩過程，將圖4.6中的反饋線AD斷開，如圖4.8所示，然后在門1的輸入端加入一個頻率合適的方波Vi，同時觀察Vi、Vo和VF波形(以Vi作同步信號)，如圖4.9所示，Vo是Vi反相后右移tpd波形，如果Vi的頻率符合振蕩所需的相移條件，即Vi比Vo恰好右移2tpd，則3tpd=tp。式中tp為Vi的脈沖寬度，則圖4.6將輸出周期為Ｔ的方波，顯然Ｔ＝2×3tpd=6tpd

故得：tpd=T/6電路依靠合閘時的擾動電壓起振。40精選版課件ppt實驗一TTL與非門參數(shù)測試2．測平均傳輸延遲時間二、圖4.8斷開反饋線的環(huán)形振蕩器圖4.9Vi、VO和VF波形實驗一TTL與非門參數(shù)測試2．測平均傳輸延遲時間二、實驗原理：41精選版課件ppt圖4.8斷開反饋線的環(huán)形振蕩器圖4.9Vi、VO和實驗一TTL與非門參數(shù)測試1．根據(jù)與非門的邏輯功能檢查與非門是否良好。2．測量下列各直流參數(shù)（1）低電平輸出電源電流ICCL(圖4.1)。（2）低電平輸入電流IIL(圖4.2)。（3）高電平輸入電流IIH(圖4.3)。（4）電壓傳輸特性(圖4.4)，完