精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上專心---專注---專業(yè)專心---專注---專業(yè)精選優(yōu)質(zhì)文檔-----傾情為你奉上專心---專注---專業(yè)無損檢測超聲波試題(UT二級)一、是非題1.1受迫振動的頻率等于策動力的頻率。√1.2波只能在彈性介質(zhì)中產(chǎn)生和傳播?！粒☉?yīng)該是機(jī)械波）1.3由于機(jī)械波是由機(jī)械振動產(chǎn)生的，所以波動頻率等于振動頻率?！?.4由于機(jī)械波是由機(jī)械振動產(chǎn)生的，所以波長等于振幅?！?.5傳聲介質(zhì)的彈性模量越大，密度越小，聲速就越高?！?.6材料組織不均勻會影響聲速，所以對鑄鐵材料超聲波探傷和測厚必須注意這一問題?！?.7一般固體介質(zhì)中的聲速隨溫度升高而增大?！?.8由端角反射率試驗(yàn)結(jié)果推斷，使用K≥l.5的探頭探測單面焊焊縫根部未焊透缺陷，靈敏度較低，可能造成漏檢?！?.9超聲波擴(kuò)散衰減的大小與介質(zhì)無關(guān)。√1.10超聲波的頻率越高，傳播速度越快。×1.11介質(zhì)能傳播xx和表面波的必要條件是介質(zhì)具有切變彈性模量?！?.12頻率相同的縱波，在水中的波長大于在鋼中的波長。×1.13既然水波能在水面?zhèn)鞑?，那么超聲表面波也能沿液體表面?zhèn)鞑ァ！?.14因?yàn)槌暡ㄊ怯蓹C(jī)械振動產(chǎn)生的，所以超聲波在介質(zhì)中的傳播速度即為質(zhì)點(diǎn)的振動速度。×1.15如材質(zhì)相同，細(xì)鋼棒(直徑<λ=與鋼鍛件中的聲速相同?！粒–細(xì)鋼棒＝（E/ρ）?）1.16在同種固體材料中，縱、橫渡聲速之比為常數(shù)?！?.17水的溫度升高時，超聲波在水中的傳播速度亦隨著增加。×1.18幾乎所有的液體（水除外），其聲速都隨溫度的升高而減小。√1.19波的疊加原理說明，幾列波在同一介質(zhì)中傳播并相遇時，都可以合成一個波繼續(xù)傳播?！?.20介質(zhì)中形成駐波時，相鄰兩波節(jié)或波腹之間的距離是一個波長。×（應(yīng)是λ/4；相鄰兩節(jié)點(diǎn)或波腹間的距離為λ/2）1.21具有一定能量的聲束，在鋁中要比在鋼中傳播的更遠(yuǎn)?！?.22材料中應(yīng)力會影響超聲波傳播速度，在xx應(yīng)力時聲速減小，在壓應(yīng)力時聲速增大，根據(jù)這一特性，可用超聲波測量材料的內(nèi)應(yīng)力。√1.23材料的聲阻抗越大，超聲波傳播時衰減越大?！粒ǔ煞幢龋?.24平面波垂直入射到界面上，入射聲壓等于透射聲壓和反射聲壓之和?！?.25平面波垂直入射到界面上，入射能量等于透射能量與反射能量之和。√1.26超聲波的擴(kuò)散衰減與波型，聲程和傳聲介質(zhì)、晶粒度有關(guān)?！?.27對同一材料而言，xx的衰減系數(shù)比縱波大得多?！?.28界面上入射聲束的折射角等于反射角。×1.29當(dāng)聲束以一定角度入射到不同介質(zhì)的界面上，會發(fā)生波形轉(zhuǎn)換。√1.30在同一固體材料中，傳播縱、xx時聲阻抗不一樣?！蹋╖＝ρ·C）1.31聲阻抗是衡量介質(zhì)聲學(xué)特性的重要參數(shù)，溫度變化對材料的聲阻抗無任何影響。×1.32超聲波垂直入射到平界面時，聲強(qiáng)反射率與聲強(qiáng)透射率之和等于1?！?.33超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時，界面一側(cè)的總聲壓等于另一側(cè)的總聲壓。√1.34超聲波垂直入射到Z2>Zl的界面時，聲壓透過率大于1，說明界面有增強(qiáng)聲壓的作用?！?.35超聲波垂直入射到異質(zhì)界時，聲壓往復(fù)透射率與聲強(qiáng)透射率在數(shù)值上相等?！?.36超聲波垂直入射時，界面兩側(cè)介質(zhì)聲阻抗差愈小，聲壓往復(fù)透射率愈低?！?.37當(dāng)鋼中的氣隙（如裂紋）厚度一定時，超聲波頻率增加，反射波高也隨著增加。√（聲壓反射率也隨頻率增加而增加）1.38超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時，同種波型的反射角等于折射角?！?.39超聲波傾斜入射到異質(zhì)界面時，同種波型的折射角總大于入射角。1.40超聲波以10o角入射至水／鋼界面時，反射角等于10o?！?.41超聲波入射至鋼／水界面時，第一臨界角約為14.5o?！粒ㄋ?鋼界面時，aⅠ＝14.5o；鋼/水界面不存在第一臨界角一說，因?yàn)閤x不在水中傳播）1.42第二介質(zhì)中折射的xx平行于界面時的縱波入射角為第一臨界角。×1.43如果有機(jī)玻璃／鋁界面的第一臨界角大于有機(jī)玻璃／鋼界面第一臨界角，則前者的第二臨界角也一定大于后者?！粒ㄤX的縱波速度>鋼的縱波速度，鋁的xx速度<鋼的xx速度）1.44只有當(dāng)?shù)谝唤橘|(zhì)為固體介質(zhì)時，才會有第三臨界角。√1.45xx斜入射至鋼，空氣界面時，入射角在30o左右時，xx聲壓反射率最低。√1.46超聲波入射到C1<C2的凹曲面時，其透過波發(fā)散?！粒ň劢梗?.47超聲波入射到C1>C2的凸曲面時，其透過波集聚。√1.48以有機(jī)玻璃作聲透鏡的水浸聚焦探頭，有機(jī)玻璃／水界面為凹曲面?！粒ㄋ劢固筋^就是利用平面波入射到C1>C2的凸曲面上）1.49介質(zhì)的聲阻抗愈大，引起的超聲波的衰減愈嚴(yán)重?！粒ǔ煞幢龋?.50聚焦探頭輻射的聲波，在材質(zhì)中的衰減小。×（衰減大，因?yàn)榫劢固筋^有涉及發(fā)散波）1.51超聲波探傷中所指的衰減僅為材料對聲波的吸收作用。×1.52超聲平面波不存在材質(zhì)衰減?！粒ú淮嬖跀U(kuò)散衰減）2.1超聲波頻率越高，近場區(qū)的xx也就越大。√（個人感覺答案有錯，沒有前提無法對比）2.2對同一個直探頭來說，在鋼中的近場xx比在水中的近場xx大。×2.3聚焦探頭的焦距應(yīng)小于近場xx。√2.4探頭頻率越高，聲束擴(kuò)散角越小?！?.5超聲波探傷的實(shí)際聲場中的聲束軸線上不存在聲壓為零的點(diǎn)?！?.6聲束指向性不僅與頻率有關(guān)，而且與波型有關(guān)。√2.7超聲波的波長越長，聲束擴(kuò)散角就越大，發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力也就越強(qiáng)?！?.8因?yàn)槌暡〞U(kuò)散衰減，所以檢測應(yīng)盡可能在其近場區(qū)進(jìn)行?！?.9因?yàn)榻鼒鰠^(qū)內(nèi)有多個聲壓變?yōu)榱愕狞c(diǎn)，所以探傷時近場區(qū)缺陷往往會漏檢?！?.10如超聲波頻率不變，晶片面積越大，超聲波的近場xx越短?！?.11面積相同，頻率相同的圓晶片和方晶片，超聲場的近場xx一樣長。√2.12面積相同，頻率相同的到晶片和方晶片，其聲束指向角亦相同?！?.13超聲場的近場xx愈短，聲束指向性愈好?！?.14聲波輻射的超聲波的能量主要集中在主聲束內(nèi)?！?.15聲波輻射的超聲波，總是在聲束中心軸線上的聲壓為最高。×（近場區(qū)內(nèi)軸線上的聲壓不一定最高）2.16探傷采用低頻是為了改善聲束指向性，提高探傷靈敏度?！粒☉?yīng)是提高頻率）2.17超聲場中不同橫截面上的聲壓分布規(guī)律是一致的?！粒ń鼒鰠^(qū)與遠(yuǎn)場區(qū)各橫截面上聲壓分布不同）2.18在超聲場的未擴(kuò)散區(qū)，可將聲源輻射的超聲波看成平面波，平均聲壓不隨距離增加而改變?！?.19斜角探傷xx聲場中假想聲源的面積大于實(shí)際聲源面積?！?.20頻率和晶片尺寸相同時，xx聲束指向性比縱波好?！?.21圓晶片斜探頭的上指向角小于下指向角?！?.22如斜探頭入射點(diǎn)到晶片的距離不變，入射點(diǎn)到假想聲源的距離隨入射角的增加而減小?！?.23200mm處Φ4長橫孔的回波聲壓比100mm處Φ2長橫孔的回波聲壓低?！?.24球xx的回波聲壓隨距離的變化規(guī)律與平底xx相同?！?.25同聲程理想大平面與平底xx回波聲壓的比值隨頻率的提高而減小?！?.26軸類工件外圓徑向探傷時，曲底面回波聲壓與同聲程理想大平面相同?！?.27對空心圓柱體在內(nèi)xx探傷時，曲底面回波聲壓比同聲xx平面低。×3.l超聲波探傷中，發(fā)射超聲波是利用正壓電效應(yīng)，接收超聲波是利用逆壓電效應(yīng)。×3.2增益l00dB就是信號強(qiáng)度放大100倍?！粒ㄕ{(diào)節(jié)增益作用是改變接收放大器的放大倍數(shù)）3.3與鋯鈦酸鉛相比，xx作為壓電材料性能穩(wěn)定、機(jī)電耦合系數(shù)高、壓電轉(zhuǎn)換能量損失小等優(yōu)點(diǎn)?！?.4與普通探頭相比，聚焦探頭的分辨力較高?！?.5使用聚焦透鏡能提高靈敏度和分辨力，但減小了探測范圍。√3.6點(diǎn)聚焦探頭比線聚焦探頭靈敏度高?！?.7雙晶探頭只能用于縱波檢測?！?.8B型顯示能夠展現(xiàn)工件內(nèi)缺陷的埋藏xx?！?.9C型顯示能展現(xiàn)工件中缺陷的xx和寬度，但不能展現(xiàn)xx?！?.10通用AVG曲線采用的距離是以近場xx為單位的歸一化距離，適用于不同規(guī)格的探頭。√3.11在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸?！?.12A型顯示xx，利用DGS曲線板可直觀顯示缺陷的當(dāng)量大小和缺陷xx。√3.13電磁超聲波探頭的優(yōu)點(diǎn)之一是換能效率高，靈敏度高。×3.14多通道xx是由多個或多對探頭同時工作的xx。×（應(yīng)是交替工作）3.15xx中的發(fā)射電路亦稱為觸發(fā)電路。×（同步電路又稱觸發(fā)電路）3.16xx中的發(fā)射電路亦可產(chǎn)生幾百伏到上千伏的電脈沖去激勵探頭晶片振動?！?.17xx的掃描電路即為控制探頭在工件探傷面上掃查的電路?！粒⊕呙桦娐酚址Q時基電路，用來產(chǎn)生鋸齒波電壓施加到示波管水平偏轉(zhuǎn)板上，產(chǎn)生一條水平掃描時基線）3.18xx發(fā)射電路中的阻尼電阻的阻值愈大，發(fā)射強(qiáng)度愈弱?！粒ǜ淖冏枘崾钦{(diào)節(jié)發(fā)射脈沖的電壓幅度和脈沖寬度，阻值越大，發(fā)射強(qiáng)度越強(qiáng)，發(fā)射聲能越多，分辨力越小。）3.19調(diào)節(jié)xx“xx細(xì)調(diào)”旋鈕時，可連續(xù)改變掃描線掃描速度?！蹋◤亩篃晒馄辽匣夭ㄩg距大幅度地壓縮或擴(kuò)展）3.20調(diào)節(jié)xx“抑制”旋鈕時，抑制越大，儀器動態(tài)范圍越大?！?.21調(diào)節(jié)xx“延遲”旋鈕時，掃描線上回波信號間的距離也將隨之改變?！?.22不同壓電晶體材料中聲速不一樣，因此不同壓電材料的頻率常數(shù)也不相同?！?.23不同壓電材料的頻率常數(shù)不一樣，因此用不同壓電材料制作的探頭其標(biāo)稱頻率才能相同。×3.24壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)(d33)大，則說明該晶片接收性能好?！粒▔弘姂?yīng)變常數(shù)d33大，發(fā)射性能好，發(fā)射靈敏度高）3.25壓電晶片的壓電電壓常數(shù)（g33）大，剛說明該晶片接收性能好?！蹋▌t接收靈敏度就高）3.26探頭中壓電晶片背面加吸收塊是為了提高機(jī)械品質(zhì)因素Qm，減少機(jī)械能損耗?！粒游諌K是為了減小機(jī)械品質(zhì)因素，Qm小就表示損耗大，脈沖寬度小，分辨率高）3.27工件表面比較租糙時，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜?！?.28斜探頭楔塊前部和上部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失?！粒康氖菫榱藴p少雜波）3.29由于水中只能傳插縱波，所以水浸探頭只能進(jìn)行縱波探傷?！?.30雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測面距離愈遠(yuǎn)復(fù)蓋區(qū)愈大?！?.31有機(jī)玻璃聲透鏡水浸聚焦探頭，透鏡曲率半徑愈大，焦距愈大?！?.32利用IIW試塊上Φ50mmxx兩側(cè)面的距離，僅能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。√3.33當(dāng)斜探頭對準(zhǔn)IIW2試塊上R5曲面時，熒光屏上的多次反射回波是等距離的?！?.34中心切槽的半圓試塊，其反射特點(diǎn)是多次回波總是等距離出現(xiàn)。√3.35與IIW試塊相比CSK-IA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭分辨力。√3.36調(diào)節(jié)xx的“水平”旋鈕，將會改變儀器的水平線性?！粒ㄕ{(diào)節(jié)水平旋鈕只是使掃描線xx掃描線上的回波一起左右移動一段距離，但不改變回波間距，故也不會改變水平線性）3.37測定儀器的“動態(tài)范圈”時，應(yīng)將儀器的“抑制”、“xx補(bǔ)償”旋鈕置于“關(guān)”的位置?！?.38盲區(qū)與始波寬度是同一概念?！粒^(qū)是指從檢測面到能夠發(fā)現(xiàn)缺陷的最小距離，盲區(qū)的大小與儀器的阻塞時間和始脈沖寬度有關(guān)）3.39測定組合靈敏度時，可先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電噪聲電平≤l0%，再進(jìn)行測試?！?.40測定“始波寬度”對，應(yīng)將儀器的靈敏度調(diào)至最大?！粒`敏度應(yīng)調(diào)到標(biāo)準(zhǔn)“0”點(diǎn)）3.41為提高分辨力，在滿足探傷靈敏度要求情況下，儀器的發(fā)射強(qiáng)度應(yīng)盡量調(diào)得低一些。√3.42在數(shù)字化智能超聲波xx中，脈沖重復(fù)頻率又稱為采樣頻率?！?.43雙晶探頭主要用于近表面缺陷的探測?！?.44溫度對斜探頭折射角有影響，當(dāng)溫度升高對，折射角將變大?！?.45日前使用最廣泛的測厚儀是共振式測厚儀?！粒☉?yīng)是脈沖反射式測厚儀）3.46在鋼中折射角為60。的斜探頭，用于探測鋁時，其折射角將變大?！粒ㄐ碧筋^在鋼中折射角為xx折射角，鋁的xx折射角比鋼的?。?.47“發(fā)射脈沖寬度”就是指發(fā)射脈沖的持續(xù)時間?！?.48軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響?！?.49脈沖反射式和穿透式探傷，使用的探頭是同一類型的?！粒ù┩甘教絺奶筋^發(fā)射的是連續(xù)波）3.50聲束指向角較小且聲柬截面較窄的探頭稱作窄脈沖探頭?！?.1在液浸式檢測中，返回探頭的聲能還不到最初值的1%?！?.2垂直探傷時探傷面的粗糙度對反射波高的影響比斜角探傷嚴(yán)重?！?.3超聲脈沖通過材料后，其中心頻率將變低?！?.4串列法探傷適用于檢查垂直于探測面的平面缺陷。√4.5“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好?！粒`敏度太高雜波多）4.6所謂“幻影回波”，是由于探傷頻率過高或材料晶粒粗大引起的?！粒ㄔ蚴侵貜?fù)頻率過高）4.7當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。×（當(dāng)量法適用于面積小于截面的缺陷尺寸評定）4.8半波高度法用來測量小于聲束截面的缺陷的尺寸?！?.9串列式雙探頭法探傷即為穿透法．×4.10厚焊縫采用串列法掃查時，如焊縫xx磨平，則不存在死區(qū)?！粒ㄉ舷卤砻娑即嬖诿^(qū)）4.11曲面工件探傷時，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好?！?.12實(shí)際探傷中，為提高掃查速度減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低?！粒梢圆捎酶鼡Q探頭方法來鑒別探頭雜波）4.13采用當(dāng)量法確定的缺陷尺寸一般小于缺陷的實(shí)際尺寸?！?.14只有當(dāng)工件中缺陷在各個方向的尺寸均大于聲束截面時，才能采用測長法確定缺陷xx?！粒y長法適用于面積大于聲束截面或xx大于聲束截面直徑的缺陷的評定）4.15絕對靈敏度法測量缺陷指示xx時，測長靈敏度高，測得的缺陷xx大?！?.16當(dāng)工件內(nèi)存在較大的內(nèi)應(yīng)力時，將使超聲被的傳播速度及方向發(fā)生變化。√4.17超聲波傾斜入射至缺陷表面時，缺陷反射波高隨入射角的增大而增高?！?.1鋼板探傷時，通常只根據(jù)缺陷波情況判定缺陷?！粒ㄟ€可根據(jù)底波衰減情況來判定缺陷）5.2當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時，由于缺陷多次反射波互相干涉容易出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”?！粒ǔ暡}沖相對于薄層較窄時，薄層兩側(cè)的各次反射波、透射波互不干涉，當(dāng)鋼板中缺陷大于聲束截面時同理）5.3厚鋼板探傷中，若出現(xiàn)缺陷的多次反射波，說明缺陷的尺寸一定較大?！?.4較薄鋼板采用底波多次法探傷時，如出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”，說明鋼板中缺陷尺寸一定很大?！?.5復(fù)合鋼扳探傷時，可從母材一側(cè)探傷，也可從復(fù)合材料一側(cè)探傷?！?.6用板波法探測厚度5mm以下薄鋼板時，不僅能檢出內(nèi)部缺陷，同時能檢出表面缺陷?！?.7鋼管水浸聚焦法探傷時，不宜采用線聚焦探頭探測較短缺陷?！?.8采用水浸聚焦探頭檢驗(yàn)鋼管時，聲透鏡的中心部分厚度應(yīng)為k／2的整數(shù)倍。√5.9鋼管作手工接觸法xx探傷時，應(yīng)從順、逆時針兩個方向各探傷一次?！?.10鋼管水浸探傷時，水中加入適量活性劑是為了調(diào)節(jié)水的聲阻抗，改善透聲性?！粒榱嗽鰪?qiáng)水對鋼管表面的潤濕作用）5.11鋼管水浸探傷時，如鋼管中無缺陷，熒光屏上只有始波和界面波。√5.12用斜探頭對大口徑鋼管作接觸法xx探傷時，其跨距比同厚度平板大?！?.1對軸類鍛件探傷，一般來說以縱波直探頭從徑向探測效果最佳?！?.2使用斜探頭對軸類鍛件作圓柱面軸向探測時，探頭應(yīng)采用正反兩個方向掃查?！?.3對餅形鍛件，采用直探頭作徑向探測是最佳的探傷方法?！?.4調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的底波法，其含義是鍛件掃查過程中依據(jù)底波變化情況評定鍛件質(zhì)量等級?！粒☉?yīng)是根據(jù)缺陷回波情況評定質(zhì)量等級）6.5鍛件探傷中，如缺陷引起底波明顯下降或消失時，說明鍛件中存在較嚴(yán)重的缺陷?！?.6鍛件探傷時，如缺陷被探傷人員判定為白點(diǎn)．則應(yīng)按密集缺陷評定鍛件等級?！?.7鑄鋼件超聲波探傷，一般以縱波直探頭為主?！?.1焊縫xx探傷中，裂紋等危害性缺陷的反射波輻一般很高?！?.2焊縫xx探傷時，如采用直射法，可不考慮結(jié)構(gòu)反射，變型波等干擾同波的影響?！?.3采用雙探頭串列法掃查焊縫時，位于焊縫xx方向任何部位的缺陷，其反射波均出現(xiàn)在熒光屏上同一位置?！?.4焊縫探傷所用斜探頭，當(dāng)楔塊底面前部磨損較大時，其K值將變小?！?.5焊縫xx探傷時常采用液態(tài)耦合劑，說明橫渡可以通過液態(tài)介質(zhì)薄層?！?.6當(dāng)焊縫中的缺陷與聲束成一定角度時，探測頻率較高時，缺陷回波不易被探頭接收?！?.7窄脈沖聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)是能量集中，穿透力強(qiáng)，所以適合于xx鋼焊縫檢測?！粒ň劢固筋^的優(yōu)點(diǎn)是聲束細(xì)，靈敏度高，信噪比高）7.8一股不采用從堆焊層一側(cè)探測的方法檢測堆焊層缺陷?！?.9鋁焊縫探傷應(yīng)選用較高頻率的xx專用斜探頭。√7.10裂縫探傷中，裂紋的回波比較尖銳，探頭轉(zhuǎn)動時，波很快消失。×二、選擇題1.1以下關(guān)于諧振動的敘述-哪一條是錯誤的（A）A、諧振動就是質(zhì)點(diǎn)在作勻速圓周運(yùn)動。B、任何復(fù)雜振動都可視為多個諧振動的合成C、在諧振動中，質(zhì)點(diǎn)在位移最大處受力最大，速度為零。D、在諧振動中，質(zhì)點(diǎn)在平衡位置速度最大，受力為零。1.2以下關(guān)于阻尼振動的敘述，哪一條是錯誤的（D）A、阻尼使振動物體的能量逐漸減小。B、阻尼使振動物體的振幅逐漸減小。C、阻尼使振動物體的運(yùn)動速率逐漸減小。D、阻尼使振動周期逐漸變長．1.3超聲波是頻率超出入耳聽覺的彈性機(jī)械波，其頻率范圍約為：（A）A、高于2萬赫芝B、1—10MHzC、高于200HzD、0.25～15MHz1.4在金屬材料的超聲波探傷中，使用最多的頻率范圍是：（C）A、10～25MHzB、l～10001KHzC、1～5MHzD大于20000MHz1.5機(jī)械波的波速取決于（D）A、機(jī)械振動中質(zhì)點(diǎn)的速度B、機(jī)械振動中質(zhì)點(diǎn)的振幅C、機(jī)械振動中質(zhì)點(diǎn)的振動頻率D、彈性介質(zhì)的特性1.6在同種固體材料中，縱波聲速CL．橫渡聲速Cs,表面波聲速Cn之間的關(guān)系是：（C）A、CR>Cs>CLB、Cs>CL>CRC、CL>Cs>CRD、以上都不對1.7在下列不同類型超聲波中，哪種渡的傳播速度隨頻率的不同而改變？（B）A、表面波B、板波C、疏密波（縱波）D、剪切波（xx）1.8超聲波入射到異質(zhì)界面時，可能發(fā)生（D）A、反射B、折射C、波型轉(zhuǎn)換D、以上都是1.9超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與（D）有關(guān)。A、介質(zhì)的彈性B介質(zhì)的密度C、超聲波波型D、以上全部1.10在同一固體材料中，縱、橫渡聲速之比，與材料的（C）有關(guān)？A、密度B、彈性模量C、泊松比D、以上全部1.11質(zhì)點(diǎn)振動方向垂直于波的傳播方向的波是（B）A、縱波B、xxC、表面波D、蘭姆波1.12在流體中可傳插：（A）A、縱波B、xxC、縱波、xx及表面波D、切變波1.13超聲縱波、xx和表面波速度主要取決于：（C）A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上都不全面，須視具體情況而定1.14板波的速度主要取決于：（D）A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性和質(zhì)量D、以上都不全面，須視具體情況定1.15鋼中超聲波縱波聲速為cm/s，若頻率為10MHz則其波長為：（C）A、59mmB、5.9mmC、0.59mmD、2.36mm1.16下面哪種超聲波的波長最短（A）A、水中傳播的2MHz縱波B、鋼中傳播的2.5MHzxxC、鋼中傳播的5MHz縱波D、鋼中傳播的2MHz表面波1.17一般認(rèn)為表面波作用于物體的xx大約為（C）A、半個波長B、一個波長C、兩個波長D、3.7個波長1.18鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會降低到原來的1/25。（B）A、五個波長B、一個波長C、1/10波長D、0.5波長1.19脈沖反射法超聲波探傷主要利用超聲波傳播過程中的（B）A、散射特性B、反射特性C、透射特性D、擴(kuò)散特性1.20超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時有（D）A、質(zhì)點(diǎn)振動和質(zhì)點(diǎn)移動B、質(zhì)點(diǎn)振動和振動傳遞C、質(zhì)點(diǎn)振動和能量傳播D、B和C1.21超聲波在彈性介質(zhì)中的速度是（B）A、質(zhì)點(diǎn)振動的速度B、聲能的傳播速度C、波長和傳播時間的乘積D、以上都不是1.22若頻率一定，下列哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長最短：（D）A、剪切xxB、壓縮xxC、橫渡D、xx表面xx（表面xx）1.23材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波（B）A、在傳播時的材質(zhì)衰減B、從一個介質(zhì)到達(dá)另一個介質(zhì)時在界面上的反射和透射C、在傳播時的散射D、擴(kuò)散角大小1.24聲阻抗是：（C）A、超聲振動的參數(shù)B、界面的參數(shù)C、傳聲介質(zhì)的參數(shù)D、以上都不對1.25當(dāng)超聲縱波由水垂直射向鋼時，其透射系數(shù)大于1，這意味著：（D）A、能量守恒定律在這里不起作用B、透射能量大于入射能量C、A與B都對D、以上都不對1.26當(dāng)超聲縱波由鋼垂直射向水時，其反射系數(shù)小于0，這意味著：（B）A、透射能量大于入射能量B、反射超聲波振動相位與入射聲波互成180。C、超聲波無法透入水中D、以上都不對1.27垂直入射于異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：（C）A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)B、與界面二邊材料的密度有關(guān)C、與界面二邊材料的聲阻抗有關(guān)D、與入射聲波波型有關(guān)1.28在液浸探傷中，哪種波會迅速衰減：（C）（衰減系數(shù)與波速、密度成反比，頻率的平方xx）A、縱波B、xxC、表面波D、切變波1.29超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當(dāng)?shù)恼系K物時，將發(fā)生（B）A、只繞射，無反射B、既反射又繞射C、只反射無繞射D、以上都可能1.30在同一固體介質(zhì)中，當(dāng)分別傳播縱、xx時，它的聲阻抗將是（C）A、一樣B、傳播xx時大C、傳播縱波時大D、無法確定1.31超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時，反射波與透過波聲能的分配比例取決于（C）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速B、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù)C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗D、以上全部1.32在同一界面上，聲強(qiáng)透過率T與聲壓反射率r之間的關(guān)系是（B）A、T=r2B、T=1-r2C、T=1+rD、T=1-r1.33在同一界面上聲強(qiáng)反射率R與聲強(qiáng)透過率T之間的關(guān)系是（D）A、R+T=1B、T=1-RC、R=1-TD、以上全對1.34超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時，其傳播方向的改變主要取決于（B）A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部1.35傾斜入射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)（D）A、反射xx型B、入射角度C、界面兩側(cè)的聲阻抗D、以上都是1.36縱波垂直入射水浸法超聲波探傷，若工件底面全反射，計(jì)算底面回波聲壓公式：（）T=4Z1Z2/(Z1+Z2)21.37一般地說，如果頻率相同，則在粗晶材料中穿透能力最強(qiáng)的振動波型為（B）A、表面波B、縱波C、xxD、三種波型的穿透力相同1.38不同振動頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是：（A）（在同一介質(zhì)中，波速與頻率無關(guān)）A、0.5MHz的縱波B、2.5MHz的xxC、10MHz的爬波D、5MHz的表面波1.39在水／鋼界面上，水中入射角為17o，在鋼中傳播的主要振動波型為（C答案為什么不是B呢）A、表面波B、xxC、縱波D、B和C1.40當(dāng)超聲縱波由有機(jī)玻璃以入射角15o射向鋼界面時，可能存在（D）A、反射縱波B、反射xxC、折射縱波和折射橫渡D、以上都有1.41如果將用于鋼的K2探頭去探測鋁（CFe=3.23km/s,CAl=3.10km/s)則K值會（B）。A、大于2B、小于2C、仍等于2D、還需其它參數(shù)才能確定1.42如果超聲縱波由水以20o入射到鋼界面，則在鋼中xx折射角為（A）。A、約48oB、約24oC、39oD以上都不對1.43第一臨界角是：（C）A、折射縱波等于90o時的xx入射角B、折射橫渡等于90o時的縱波入射角C、折射縱波等于90o時的縱波入射角D、入射縱波接近口0o時的折射角1.44第二臨界角是：（B）A、折射縱波等于90o時的xx入射角B、折射xx等于90o時的縱波入射角C、折射縱波等于90o時的縱波入射角D、入射縱波接近90o對的折射角1.45要在工件中得到純xx，探頭入射角α必須：（C）A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C、在第一、第二臨界角之間D、小于第二臨界角1.46一般均要求斜探頭楔塊材料的縱波速度小于被檢材料的縱波聲速，因?yàn)橹挥羞@樣才有可能：（A）A、在工件中得到純xxB、得到良好的聲束指C、實(shí)現(xiàn)聲束聚焦D、減少近場區(qū)的影響1.47縱波以20。入射角自水入射至鋼中，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（D）xx不能在水中傳播1.48用入射角為52。的斜探頭探測方鋼，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（D）1.49直探頭縱波探測具有傾斜底面的鍛鋼件，下圖中哪一個聲束路徑是正確的？（B）1.50第一介質(zhì)為有機(jī)玻璃(CL=2700m/s)，第二介質(zhì)為銅(CL=4700m/s;Cs=2300m/s),則第Ⅱ臨界角為（B）1.5l用4MHz鋼質(zhì)保護(hù)膜直探頭經(jīng)甘油耦合后，對鋼試件進(jìn)行探測，若要得到最佳透聲效果，其耦臺層厚度為（甘油CL=1920m／s）（D）A、1.45mmB、0.20mmC、0.7375mmD、0.24mm1.52用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對接焊縫中得到橫檢測，此時探頭聲束軸線相對于探測面的傾角范圍為：（B）A、14.7o～27.7oB、62.3o～75.3oC、27.2o～56.7oD、不受限制1.53有一不銹鋼復(fù)合鋼板，不銹鋼復(fù)合層聲阻抗Z1，基體鋼板聲阻抗Z2，今從鋼板一側(cè)以2.5MHz直探頭直接接觸法探測，則界面上聲壓透射率公式為：（C）1.54由材質(zhì)衰減引起的超聲波減弱db數(shù)等于：（A）A、衰減系數(shù)與聲程的乘積B、衰減系數(shù)與xx的乘積C、e-μs（μ為衰減系數(shù)，s為聲程）D以上都不對1.55超聲波（活塞波）在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：（D）A、介質(zhì)對超聲波的吸收B、介質(zhì)對超聲波的散射C、聲束擴(kuò)散D、以上全部1.56斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時，其xx：（D）A、在有機(jī)玻璃斜楔塊中產(chǎn)生B、從晶片上直接產(chǎn)生C、在有機(jī)玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生1.57制作凹曲面的聚焦透鏡時，若透鏡材料聲速為C1，第二透聲介質(zhì)聲速為C2，則兩者材料應(yīng)滿足如下關(guān)系：（A）A、C1>C2B、C1<C2C、CI=C2D、Z1=Z21.58當(dāng)聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時，透鏡焦距將：（A）A、增大B、不變C、減小D以上都不對1.59平面波在曲界面上透過情況，正確的圖是：（B）1.60以下關(guān)于板波性質(zhì)的敘述，哪條是錯誤的（D）A、按振動方向分，板波可分為SH波和蘭姆波，探傷常用的是蘭姆波B、板渡聲速不僅與介質(zhì)特性有關(guān)，而且與板厚、頻率有關(guān)C、板波聲速包括相速度和群速度兩個參數(shù)D、實(shí)際探傷應(yīng)用時，只考慮相速度．無須考慮群速度1.61由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于（B）A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.62與超聲頻率無關(guān)的衰減方式是(A)（擴(kuò)散衰減只與波振面的形狀有關(guān)）A、擴(kuò)散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是1.63下面有關(guān)材料衰減的敘述，哪句話是錯誤的；（D）A、橫渡衰減比縱波嚴(yán)重B、衰減系數(shù)一般隨材料的溫度上升而增大C、當(dāng)晶粒度大于波長1/10時對探傷有顯著影響D、提高增益可完全克服衰減對探傷的影響2.1波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)并且隨（B）A、頻率增加，晶片直徑減小而減小B、頻率或晶片直徑減小而增大C、頻率或晶片直徑減小而減小D、頻率增加，晶片直徑減小而增大2.2晶片直徑D=20mm的直探頭，在鋼中測得其零幅射角為10o，該探頭探測頻率約為：（D）A、2.5MHzB、5MHzC、4MHzD、2MHz2.3直徑xx12mm晶片5MHz直探頭在鋼xx的指向角是：（C）A、5.6°B、3.5°C、6.8°D、24.6°2.4Φ14mm，2.5MHz直探頭在鋼中近場區(qū)為：（B）A、27mmB、21mmC、38mmD、以上都不對2.5上題探頭的非擴(kuò)散區(qū)xx約為：（A）A、35mmB、63mmC、45mmD、以上都不對2.6在非擴(kuò)散區(qū)內(nèi)大平底距聲源距離增大l倍，其回波減弱（D）A、6dbB、12dbC、3dbD、0db2.7利用球面波聲壓公式（P=PoπD2／4λ）得到的規(guī)則反射體反射聲壓公式應(yīng)用條件是：（D）A、S≥2N近似正確B、S≥3N基本正確C、S≥6N正確D、以上都對2.8在超聲探頭遠(yuǎn)場區(qū)中：（B）A、聲束邊緣聲壓較大B、聲束中心聲壓最大C、聲束邊緣與中心強(qiáng)度一樣D、聲壓與聲束寬度xx2.9活塞波聲場，聲束軸線上最后一個聲壓極大值到聲源的距離稱為（A）A、近場xxB、未擴(kuò)散區(qū)C、主聲束D、超聲場2.10下列直探頭，在鋼中指向性最好的是（C）A、2.5P20ZB、3P14ZC、4P20ZD、5P14Z2.11下面有關(guān)擴(kuò)散角的敘述-哪一條是錯誤的（B）A、用第一零輻射角表示B、為指向角的一半C、與指向角相同D、是主聲束輻射錐角之半2.12超聲場的未擴(kuò)散區(qū)xx（C）A、約等于近場xxB、約等于近場xx0.6倍C、約為近場xx1.6倍D、約等于近場xx3倍2.13遠(yuǎn)場范圍的超聲波可視為（C）A、平面波B、柱面波C、球面波D、以上都不對2.14在探測條件相同的情況下面積比為2的兩個平底xx，其反射xx相差（A）A、6dBB、12dBC、9dBD、3dB2.15在探測條件相同的情況下，xx比為4兩個球形人工缺陷，其反射xx相差（B）A、6dBB、l2dBC、24dBD、8dB2.16在探測條件相同的情況下，直徑比為2的兩個實(shí)心圓柱體，其曲底面同xx相差（C）A、12dBB、9dBC、6dBD、3dB；2.17外徑為D，內(nèi)徑為d的實(shí)心圓柱體，以相同的靈敏度在內(nèi)壁和外圓探測，如忽略耦合差異，則底波高度比為（D）2.18同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大1倍則回波減弱：（B）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.19同直徑的長橫孔在球面波聲場中距離聲源距離增大1倍回波減弱（答案是A，但是覺得應(yīng)該是D）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.20在球面波聲場xxB平底距聲源距離增大1倍回波減弱：（A）A、6dbB、12dbC、3dbD、9db2.21對于柱面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（D）A、增大6dbB、減小6dbC、增大3dbD、減小3db2.22對于球面波，距聲源距離增大1倍，聲壓變化是：（B）A、增大6dbB、減小6dbC、增大3dbD、減小3db2.23比Φ3mm平底xx回波小7db的同聲程平底xx直徑是：（B）A、Φ1mmB、Φ2mmC、Φ4mmD、Φ0.5mm2.24比Φ3mm長橫xx反射小7db的同聲xxxx直徑是（A）A、Φ0.6mmB、Φ1mmC、Φ2mmD、Φ0.3mm2.25以下敘述中哪一條不是聚焦探頭的優(yōu)點(diǎn)（C）A、靈敏度高B、橫向分辨率高C、縱向分辨高D、探測粗晶材料時信噪比高2.26以下敘述中，哪一條不是聚焦探頭的缺點(diǎn)（C）A、聲束細(xì)，每次掃查探測區(qū)域小，效率低B、每只探頭僅適宜探測某一xx范圍缺陷，通用性差C、由于聲波的干涉作用和聲透鏡的球差，聲束不能完全匯聚一點(diǎn)D、以上都是3.1A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：（C）A、缺陷的性質(zhì)和大小B、缺陷的形狀和取向C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時問D、以上都是3.2A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指：（C）A、近場區(qū)B、聲束擴(kuò)散角以外區(qū)域C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時間D、以上均是3.3A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：（A）A、超聲回波的幅度大小B、缺陷的位置C、被探材料的厚度D、超聲傳播時間3.4A型掃描顯示中，水平基線代表：（C）A、超聲回波的幅度大小B、探頭移動距離C、聲波傳播時間D、缺陷尺寸大小3.5脈沖反射式超聲波xx中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（C）A、發(fā)射電路B、掃描電路C、同步電路D、顯示電路3.6脈沖反射超聲波xx中，產(chǎn)生時基線的電路單元叫做（A）A、掃描電路B、觸發(fā)電路C、同步電路D、發(fā)射電路3.7發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通常可達(dá)（A）A、幾百xx到上千xxB、幾十xxC、幾xxD、1xx3.8發(fā)射脈沖的持續(xù)時間叫：（A）A、始脈沖寬度B、脈沖周期C、脈沖振幅D、以上都不是3.9探頭上標(biāo)的2.5MHz是指：（B）A、重復(fù)頻率B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率D、以上都不對3.10影響儀器靈敏度的旋紐有：（D）A、發(fā)射強(qiáng)度和增益旋紐B、衰減器和抑制C、xx補(bǔ)償D、以上都是3.11儀器水平線性的好壞直接影響：（C）A、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷C、缺陷的精確定位D、以上都對3.12儀器的垂直線性好壞會影響：（A）A、缺陷的當(dāng)量比較B、AVG曲線面板的使用C、缺陷的定位D、以上都對3.13接收電路中，放大器輸入端接收的同波電壓約有（D）A、幾百xxB、100V左右C、10V左右D、0.001～1V3.14同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為（B）A、l—2個B、數(shù)十個到數(shù)千個C、與工作頻率相同D、以上都不對3.15調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會影響xx的（D）A、垂直線性B、動態(tài)范圍C、靈敏度D、以上全部3.16放大器的不飽和信號高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放放大器的（B）A、靈敏度范圍B、線性范圍C、分辨力范圍D、選擇性范圍3.17單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出，這是因?yàn)椋海–）A、近場干擾B、材質(zhì)衰減C、盲區(qū)D、折射3.18同步電路的同步脈沖控制是指：（D）A、發(fā)射電路在單位時間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B、掃描電站每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)C、探頭晶片在單位時間內(nèi)向工件重復(fù)幅射超聲波次數(shù)D、以上全部都是3.19表示xx與探頭組合性能的指標(biāo)有：（B）A、水平線性、垂直線性、衰減器精度B、靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場分辨力C、動態(tài)范圍、頻帶寬度、探測寬度D、垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率3.20使儀器得到滿幅顯示時Y軸偏轉(zhuǎn)板工作電壓為80V，現(xiàn)晶片接收到的缺陷信號電壓為40mv，若要使此缺陷以50%垂直幅度顯示，儀器放大器應(yīng)有多大增益量？（C）A、74dBB、66dBC、60dBD、80dB3.21脈沖反射式超聲波xx同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：（C）A、掃描xxB、掃描速度C、單位時間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)D、鋸齒波電壓幅度3.22壓電晶片的基頻是：（A）A、晶片厚度的函數(shù)B、施加的脈沖寬度的函數(shù)C、放大器放大特性的函數(shù)D、以上都不對3.23探頭的分辨力：（B）（頻帶寬度大，則脈沖越窄，分辨力越好）A、與探頭晶片直徑xxB、與頻帶寬度xxC、與脈沖重復(fù)頻率xxD、以上都不對3.24當(dāng)激勵探頭的脈沖幅度增大時：（B）A、儀器分辨力提高B、儀器分辨力降低，但超聲強(qiáng)度增大C、聲波穿透力降低D對試驗(yàn)無影響3.25探頭晶片背面加上阻尼塊會導(dǎo)致：（D）（Qm值降低，盲區(qū)減?。〢、Qm值降低．靈敏度提高B、Qm值增大，分辨力提高C、Qm值增大，盲區(qū)增大D、Qm值降低，分辨力提高3.26為了從換能器獲得最高靈敏度：（C）A、應(yīng)減小阻尼塊B、應(yīng)使用大直徑晶片C、應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵D、換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大3.27超聲試驗(yàn)系統(tǒng)的靈敏度：（A）A、取決于探頭高頻脈沖發(fā)生器和放大器B、取決于同步脈沖發(fā)生器C、取決于換能器機(jī)械阻尼D、隨分辨力提高而提高3.28換能器尺寸不變而頻率提高時：（C）A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場xx增大D、指向性變鈍3.29一般探傷時不使用xx補(bǔ)償是因?yàn)樗鼤海˙）A、影響缺陷的精確定位B、影響AVG曲線或當(dāng)量定量法的使用C、導(dǎo)致小缺陷漏撿D、以上都不對3.30晶片共振波長是晶片厚度的（A）A、2倍B、1/2倍C、l倍D、4倍3.31已知PZT-4的頻率常數(shù)是2000m/s，2.5MHz的PZT-4晶片厚度約為：（A）（N＝t×f0）A、0.8mmB、l.25mmC、1.6mmD、0.4mm3.32在毛面或曲面工件上作直探頭探傷時，應(yīng)使用：（B）A、硬保護(hù)膜直探頭B、軟保護(hù)膜直探頭C、大尺寸直探頭D、高頻直探頭3.33目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：（C）A、xxB鈦酸鋇C、鋯鈦酸鉛D硫酸鋰3.34聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：（A）A、探測近表面缺陷B、精確測定缺陷xxC、精確測定缺陷高度D、用于表面缺陷探傷3.35超聲波xx的探頭晶片用的是下面哪種材料：（C）A、導(dǎo)電材料B磁致伸縮材料C、壓電材料D磁性材料3.36下面哪種材料最適宜做高溫探頭：（D）A、xxB、硫酸鋰C、鍺鈦酸鉛D、鈮酸鋰3.37下面哪種壓電材料最適宜制作高分辨率探頭：（C）A、xxB鋯鈦酸鉛C、偏鈮酸鉛D、鈦酸鋇3.38下列壓電晶體中哪一種作高頻探頭較為適宜（B）A、鈦酸鋇(CL=5470m/s)B、鈮酸鋰（CL=7400m/s）C、PZT（CL=4400m/s）D、鈦酸鉛(CL=4200m/S)3.39表示壓電晶體發(fā)射性能的參數(shù)是（C）A、壓電電壓常數(shù)g33B、機(jī)電耦合系數(shù)KC、壓電應(yīng)變常數(shù)d33D、以上全部3.40以下關(guān)于爬xx探頭的敘述，哪一條是錯誤的（B）A、爬xx探頭的外形和結(jié)構(gòu)與橫渡斜探頭類似B、當(dāng)縱xx入射角大于或等于第二臨界角時，在第二介質(zhì)中產(chǎn)生爬xx(應(yīng)是以第一臨界角附近的角度)C、爬xx用于探測表層缺陷D、爬xx探測的xx范圍與頻率f和晶片直徑D有關(guān)。3.41窄脈沖探頭和普通探頭相比（D）A、Q值較小B、靈敏度較低C、頻帶較寬D、以上全部3.42采用聲透鏡方式制作聚焦探頭時，設(shè)透鏡材料為介質(zhì)1，欲使聲束在介質(zhì)2xx聚焦，選用平凹透鏡的條件是（C）A、Zl>Z2B、C1<C2C、C1>C2D、Z1<Zz3.43探頭軟保護(hù)膜和硬保護(hù)膜相比，突出優(yōu)點(diǎn)是（C）A、透聲性能好B、材質(zhì)衰減小C、有利消除耦合差異D、以上全部3.44以下哪一條，不屬于數(shù)字化智能超聲波xx的優(yōu)點(diǎn)（B）A、檢測精度高，定位定量準(zhǔn)確B、頻帶寬，脈沖窄C、可記錄存貯信號D、儀器有計(jì)算和自檢功能3.45以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點(diǎn)（A）A、探測范圍大B、盲區(qū)小C、工件中近場xx小D、雜波少3.46以下哪一條，不屬于雙晶探頭的性能指標(biāo)（D）A、工作頻率B、晶片尺寸C、探測xxD、近場xx3.47斜探頭前沿xx和K值測定的兒種方法中，哪種方法精度最高：（A）A、半圓試塊和橫孔法B、雙孔法C、直角邊法D、不一定，須視具體情況而定3.48超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為（D）A、檢測靈敏度B、時基線性C、垂直線性D、分辨力3.49用以標(biāo)定或測試超聲探傷系統(tǒng)的，含有模擬缺陷的人工反射體的金屬塊叫（C）A、晶體準(zhǔn)直器B、測角器C、參考試塊D、工件3.50對超聲探傷試塊材質(zhì)的基本要求是：（D）A、其聲速與被探工件聲速基本一致B、材料中沒有超過Φ2mm平底xx當(dāng)量的缺陷C、材料衰減不太大且均勻D、以上都是3.51CSK-IIA試塊上的Φl×6橫孔，在超聲遠(yuǎn)場．其反射xx隨聲程的變化規(guī)律與（D）相同。（平底xx、短橫xx、球xxxx一定時，聲壓變化隨距離變化一致）A、k值xxB、平底xxC、球xxD、以上B和C4.1采用什么超聲探傷技術(shù)不能測出缺陷xx？（D）A、直探頭探傷xxB、脈沖反射xxC、斜探頭探傷xxD、穿透xx4.2超聲檢驗(yàn)中，當(dāng)探傷面比較粗糙時，宜選用（D）A、較低頻探頭B、較粘的耦合劑C、軟保護(hù)膜探頭D、以上都對4.3超聲檢驗(yàn)中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點(diǎn)是（C）A、曲面探傷時可減少耦合損失B、可減少材質(zhì)衰減損失C、輻射聲能大且能量集中D、以上全部4.4探傷時采用較高的探測頻率，可有利于（D）A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B、區(qū)分開相鄰的缺陷C、改善聲束指向性D、以上全部4.5工件表面形狀不同時耦合效果不一樣，下面的說法中，哪點(diǎn)是正確的（A）A、平面效果最好B、凹曲面居中C、凸曲面效果最差D、以上全部4.6缺陷反射聲能的大小，取決于（D）A、缺陷的尺寸B、缺陷的類型C、缺陷的形狀和取向D、以上全部4.7聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時，缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是：（C）A、反射波高隨粗糙度的增大而增加B、無影響C、反射波高隨粗糙度的增大而下降D、以上A和C都可能4.8如果聲波在耦合介質(zhì)中波長為λ，為使透聲效果好，耦合層厚度為（D）A、λ/4的奇數(shù)倍B、λ/2整數(shù)倍C、小于λ/4且很薄D、以上B和C4.9表面波探傷時，儀器熒光屏上出現(xiàn)缺陷波的水平刻度值通常代表（B）A、缺陷xxB、缺陷至探頭前沿距離C、缺陷聲程D、以上都可以4.10探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時，如儀器用平試塊按xx1：1調(diào)掃描，下面哪種說法正確？（A）A、缺陷實(shí)際徑向xx總是小于顯示值B、顯示的水平距離總是大于實(shí)際弧長C、顯示值與實(shí)際值之差，隨顯示值的增加而減小D、以上都正確4.11采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時，下面哪種說法正確（B）?A、F/B相同，缺陷當(dāng)量相同B該法不能給出缺陷的當(dāng)量尺寸C、適于對尺寸較小的缺陷定量D、適于對密集性缺陷的定量4.12在頻率一定和材料相同情況下，xx對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是：（C）A、xx質(zhì)點(diǎn)振動方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅、橫渡探傷雜波少C、xx波長短（靈敏度＝λ/2）D、xx指向性好4.13采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力：（A）A、1.25MHzB、2.5MHzC、5MHzD、l0MHz（頻率越大，衰減越大，穿透能力就越?。?.14在用5MHzΦl0晶片的直探頭作水浸探傷時，水層厚度為20mm，此時在鋼工件中的近場區(qū)xx還有：（C）（N'＝N2－LC1/C2）A、10.7mmB、1.4mmC、16.3mmD、以上都不對4.15使用半波高度法測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時，所測的結(jié)果：（B）A、小于實(shí)際尺寸B、接近聲束寬度（測長法適用于面積大于聲束面或xx大于聲束面直徑的缺陷）C、稍大于實(shí)際尺寸D、等于晶片尺寸4.16棱邊再生波主要被用于測定：（D）A、缺陷的xxB、缺陷的性質(zhì)C、缺陷的位置D、缺陷的高度4.17從A型顯示熒光屏上不能直接獲得缺陷性質(zhì)信息。超聲探傷對缺陷的定性是通過下列方法來進(jìn)行：（D）A、精確對缺陷定位B、精確測定缺陷形狀C、測定缺陷的動態(tài)波形D、以上方法須同時使用4.18單斜探頭探傷時，在近區(qū)有幅度波動較快，探頭移動時水平位置不變的回波，它們可能是：（B）A、來自工件表面的雜波B、來自探頭的噪聲C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合劑噪聲4.19確定脈沖在時基線上的位置應(yīng)根據(jù)：（B）A、脈沖xxB、脈沖前沿C、脈沖后沿D、以上都可以4.20用實(shí)測折射角71°的探頭探測板厚為25mm的對接焊縫，熒光屏上最適當(dāng)?shù)穆暢虦y定范圍是：（D）A、l00mmB、125mmC、l50mmD、200mm4.21用IIW2調(diào)整時間軸，當(dāng)探頭對準(zhǔn)R50圓弧面時，示波屏上的回波位置（聲程調(diào)試）應(yīng)在；（B）4.22能使K2斜探頭得到圖示xxl：1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為（C）（d＝R/(1+K2）?A、50mmB、60mmC、67mmD、40mm（波圖水平刻度少個0，應(yīng)為30，90）4.23在厚焊縫斜探頭探傷時，一般宜使用什么方法標(biāo)定儀器時基線？（B）A、水平定能xxB、xx定位xxC、聲程定位xxD、一次波xx4.24在xx薄板焊縫斜探頭探傷時，宜使用什么方法標(biāo)定儀器時基線？（A）A、水平定位xxB、xx定位xxC、聲程定位xxD、二次被xx4.25對圓柱形簡體環(huán)縫探測時的缺陷定位應(yīng)：（A）（當(dāng)采用xx斜探頭檢測圓柱曲面時，若沿軸向檢測，缺陷定位A、按平板對接焊縫方法B、作曲面定位xx與平面相同；若沿周向檢測，缺陷定位則與平面不同，作曲面xx）C、使用特殊探頭D、視具體情況而定采用各種方法4.26在探測球形封頭上焊縫中的橫向缺陷時，缺陷定位應(yīng)：（B）A、按平板對接焊縫方法B、作曲面xxC、使用特殊探頭D、視具體情況決定是否采用曲面xx4.27在筒身外壁作曲面xx探傷時，缺陷的實(shí)際xxxx扳探傷時所得讀數(shù)：（B）A、大B、小C、相同D、以上都可能4.28在筒身內(nèi)壁作曲面xx探傷，所得缺陷的實(shí)際xx比按平板探傷時的讀數(shù)（A）A、大B、小C、相同D、以上都可艟4.29在筒身外壁作曲面xx探傷時，實(shí)際的缺陷前沿距離xx扳探傷時所得讀數(shù)（A）A、大B、小C、相同D、以上都可能4.30在筒身內(nèi)壁作曲面xx探傷時，實(shí)際的缺陷前沿距離比按平板探傷時所得讀數(shù)（B）A、大B、小C、相同D、以上都可能4.31為保證易于探出垂直于焊縫表面的平面型缺陷，凹曲面xx向斜探頭探傷應(yīng)選用（B）A、小K值探頭B、大K值探頭C、較保護(hù)膜探頭D、高頻探頭4.32在鍛件直探頭探傷時可能定不準(zhǔn)近側(cè)面缺陷的位置，其原因是：（A）A、側(cè)面反射波帶來干涉B、探頭太大，無法移至邊緣C、頻率太高D、以上都不是4.33在斜探頭厚焊縫探傷時，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（D）A、提高探頭聲束指向性B、校準(zhǔn)儀器掃描線性C、提高探頭前沿xx和K值測定精度D、以上都對4.34當(dāng)量大的缺陷實(shí)際尺寸：（A）A、一定大B不一定大C、一定不大D等于當(dāng)量尺寸4.35當(dāng)量小的缺陷實(shí)際尺寸：（B）A、一定小B、不—定小C、一定不小D、等于當(dāng)量尺寸4.36在超聲探傷時，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時，缺陷表面越平滑反射回波越：（B）（缺陷波高與缺陷波的指向性有關(guān)，缺陷表面光滑與否，對反射指向性無影響）D、大B、小C不影響D、不一定4.37當(dāng)聲束指向不與平面缺陷垂直時，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強(qiáng)度越：（B）A、大B、小C、無影響D、不一定4.38焊縫探傷中一般不宜選用較高頻率是因?yàn)轭l率越高（D）A、探頭及平面缺陷型缺陷指性向越強(qiáng)，缺陷方向不利就不易探出B、裂紋表面不光潔對回波強(qiáng)度影響越大C、雜波太多D、AB都對4.39厚度為600mm的鋁試件，用直探頭測得一回波的傳播時間為l65μs若縱波在鋁中聲速為6300m/S則此回波是（C）A、底面回波B、底面二次回波C、缺陷回波D、遲到回波4.40直探頭縱波探傷時，工件上下表面不平行會產(chǎn)生：（A）A、底面回波降低或消失B、底面回波正常C、底面回波變寬D、底面回波變窄4.41直探頭探測厚100mm和400mm的兩平底面鍛件，若后者探測面粗糙，與前者耦合差為5db，材質(zhì)衰減均為0.01dB／mm（雙程），今將前者底面回波調(diào)至滿幅(100%)高，則后者的底面回波應(yīng)是滿幅度的：（C）（20lg100/x=5+0.01(400-100)+20lg100/400）A、40%B、20%C、10%D、5%4.42厚度均為400mm，但材質(zhì)衰減不同的兩個鍛件，采用各自底面校正400／Φ2靈敏度進(jìn)行分別探測，現(xiàn)兩個鍛件中均發(fā)現(xiàn)缺陷，且回波高度和缺陷聲程均相同，則：（B）A、兩個缺陷當(dāng)量相同B、材質(zhì)衰減大的鍛件中缺陷當(dāng)量小C、材質(zhì)衰減小的鍛件中缺陷當(dāng)量小D、以上都不對4.43在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在？（D）A、缺陷回波B、底波或參考回波的減弱或消失C、接收探頭接收到的能量的減弱D、AB都對4.4在直接接觸法直探頭探傷時，底波消失的原因是：（D）A、耦合不良B、存在與聲束不垂直的平面缺陷C、存住與始脈沖不能分開的近表面缺陷D、以上都是4.45在直探頭探傷時，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（C）A、與表面成較大角度的平面缺陷B、反射條件很差的密集缺陷C、AB都對D、AB都不對4.46影響直接接觸法耦合損耗的原因有：（D）A、耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長及耦合介質(zhì)聲阻抗B、探頭接除面介質(zhì)聲阻抗C、工件被探測面材料聲阻抗D、以上都對4.47被檢工件晶粒粗大，通常會引起：（D）A、草狀回波增多B、信噪比下降C、底波次數(shù)減少D、以上全部4.48為減少凹面探傷時的耦合損耗，通常采用以下方法：（D）A、使用高聲阻抗耦合劑B、使用軟保護(hù)膜探頭C、使用較低頻率和減少探頭耦合面尺寸D、以上都可以4.49在平整光潔表面上作直探頭探傷時宜使用硬保護(hù)膜探頭，因?yàn)檫@樣：（B）A、雖然耦合損耗大，但有利于減小工件中噪聲B、脈沖窄，探測靈敏度高C、探頭與儀器匹配較好D、以上都對4.50應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（A）A、作為探測時的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評價工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具C、為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體4.51下面哪種參考反射體與入射聲束角度無關(guān)：（C）A、平底xxB、平行于探測面且垂直于聲束的平底槽C、平行于探測面且垂直于聲束的橫通孔D、平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口4.52測定材質(zhì)衰減時所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：（D）A、聲束擴(kuò)散損失B、耦合損耗C、工件幾何形狀影響D、以上都是4.53沿細(xì)長工件軸向探傷時，遲到波聲程△x的計(jì)算公式是：（D）4.54換能器尺寸不變而頻率提高時：(D應(yīng)選C吧)A、橫向分辨力降低B、聲束擴(kuò)散角增大C、近場區(qū)增大D、指向性變鈍4.55在確定缺陷當(dāng)量時，通常在獲得缺陷的最高回波時加以測定，這是因?yàn)椋海―）A、只有當(dāng)聲束投射到整個缺陷反射面上才能得到反射回波最大值B、只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人為地將缺陷信號的最高回波規(guī)定為測定基準(zhǔn)4.56考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵―）A、被檢工件厚度xxB、工件底面與探測面不平行C、耦合劑有較大聲能損耗D、工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異4.57探測粗糙表面的工件時，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：（C）A、聲阻抗小且粘度大的耦合劑B、聲阻抗小且粘度小的耦合劑C、聲阻抗大且粘度大的耦合劑D、以上都不是4.58超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于：（A）A、波長的一半B、一個波長C、四分之一波長D、若干個波長4.59與探測面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測方法是：（C）A、單斜探頭xxB、單直探頭xxC、雙斜探頭前后串列xxD、分割式雙直探頭xx4.60探測距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測時，下列哪種底面回波最高。（C）A、與探測面平行的大平底面B、R200的凹圓柱底面C、R200的凹球底面D、R200的凸圓柱底面4.61鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“xx”時，是由于（B）A、工件中有大面積傾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部4.62下面有關(guān)“幻象波”的敘述哪點(diǎn)是不正確的（C）A、幻象回波通常在鍛件探傷中出現(xiàn)B、幻象波會在掃描線上連續(xù)移動C、幻想波只可能出現(xiàn)在一次底波前D、降低復(fù)重頻率，可消除幻象波4.63下面有關(guān)61°反射波的說法，哪一點(diǎn)是錯誤的？（C）A、產(chǎn)生61°反射時，縱波入射角與橫渡反射角之和為90°B、產(chǎn)生61°反射時，縱波入射角為61°xx反射角為29°。C、產(chǎn)生6l°反射時，橫渡入射角為29。，縱波反射角為61°D、產(chǎn)生61°反射時，其聲程是恒定的4.64長軸類鍛件從端面作軸向探測時，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（D）A、三角反射xxB、61°反射xxC、輪廓回xxD、遲到xx4.65方形鍛件垂直法探傷時，熒光屏上出現(xiàn)一游動缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是（C）A、平行且靠近探測面B、與聲束方向平行C、與探測面成較大角度D、平行且靠近底面4.66缺陷反射聲壓的大小取決于：（D）A、缺陷反射面大小B、缺陷性質(zhì)C、缺陷取向D、以上全部5.1鋼板缺陷的主要分布方向是：（A）A、平行于或基本平行于鋼板表面B、垂直于鋼板表面C、分布方向無傾向性D、以上都可能5.2鋼板超聲波探傷主要應(yīng)采用：（A）A、縱波直探頭B、表面波探頭C、順波直探頭D、聚焦探頭5.3下面關(guān)于鋼板探傷的敘述，哪一條是正確的：（A）A、若出現(xiàn)缺陷波的多次反射，缺陷尺寸一定很大B、無底波時，說明鋼板無缺陷C、鋼板中不允許存在的缺陷尺寸應(yīng)采用當(dāng)量法測定（常用測長法測定指示xx和面積）D、鋼板探傷應(yīng)盡量采用低頻率5.4鋼板厚為30mm，用水浸法探傷，當(dāng)水層厚度為l5mm時，則第三次底面回波顯示于（B）A、二次界面回波之前B、二次界面回波之后C、一次界面回波之前D、不一定5.5復(fù)合材料探傷，由于兩介質(zhì)聲阻抗不同，在界面處有回波出現(xiàn)，為了檢查復(fù)合層結(jié)合質(zhì)量，下面哪條敘述是正確的：（C）A、兩介質(zhì)聲阻抗接近，界面回波小，不易檢查B、兩介質(zhì)聲阻抗接近，界面回波大，容易檢查C、兩介質(zhì)聲阻抗差別大，界面回波大，不易檢查D、兩介質(zhì)聲阻抗差別大，界面回波小，容易檢查5.6探測厚度為18mm的鋼板，在探傷波形上出現(xiàn)了“疊加效應(yīng)”，問哪一種說法是正確的：（B）A、同大于20mm的厚鋼板一樣，按F1評價缺陷B、因?yàn)榘搴裥∮?0mm，按F2評價缺陷C、按最大缺陷回波評價缺陷D、必須降低靈敏度重新探傷5.7探測T=28mm的鋼板，熒光屏上出現(xiàn)“疊加效應(yīng)”的波形，下面哪種評定缺陷的方法是正確的？（A）A、接缺陷第一次回波(Fl)評定缺陷B、按缺陷第二次回波(F2)評定缺陷C、按缺陷多次回波中最大值評定缺陷D、以上都可以5.8下面有關(guān)“疊加效應(yīng)”的敘述中，哪點(diǎn)是正確的（C）A、疊加效應(yīng)是波型轉(zhuǎn)換時產(chǎn)生的現(xiàn)象B、疊加效應(yīng)是幻象波的一種C、疊加效應(yīng)是鋼板底波多次反射時可看到的現(xiàn)象D、疊加效應(yīng)是探傷頻率過高而引起的5.9帶堆焊層工件中的缺陷有：（D）A、堆焊金屬中的缺陷B、堆焊層與母材間的脫層C、堆焊層下母材熱影響區(qū)的再熱裂紋D、以上三種都有5.10用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗(yàn)鋼板時，聲束進(jìn)入工件后將（B）A、因折射而發(fā)散B、進(jìn)一步集聚C、保持原聚焦?fàn)顩rD、以上都能5.11無縫鋼管缺陷分布的方向有；（D）A、平行于鋼管軸線的徑向分布B、垂直于鋼管軸線的徑向分布C、平行于鋼管表面的層狀分布D、以上都可能5.12小口徑鋼管超探時探頭布置方向?yàn)椋海–）A、使超聲沿周向射入工件以探測縱向缺陷B、使超聲沿軸向射入工件以探測橫向缺陷C、以上二者都有D、以上二者都沒有5.13小口徑無縫鋼管探傷中多用聚焦探頭，其主要目的是：（A）A、克服表面曲率引起超聲散焦B、提高探傷效率C、提高探傷靈敏度D、以上都對5.14鋼管原材料超探試樣中的參考反射體是：（C）A、橫xxB、平底xxC、槽D、豎xx5.15管材xx接觸法探傷時，入射角的允許范圍與哪一因素有關(guān)（D）A、探頭楔塊中的縱波聲速B、管材中的縱橫波聲速C、管子的規(guī)格D、以上全部5.16管材xx斜角探傷與板材斜角探傷顯著不同的地方是（C）A、內(nèi)表面入射角等于折射角B、內(nèi)表面入射角小于折射角C、內(nèi)表面入射角大于折射角D、以上都可能5.17管材水漫法探傷中，偏心距x與入射角α的關(guān)系是（sina=X/R）。（rR為管材的內(nèi)外半徑）5.18管材自動探傷設(shè)備中，探頭與管材相對運(yùn)動的形式是（D）A、探頭旋轉(zhuǎn)，管材直線前進(jìn)B、探頭靜止，管材螺旋前進(jìn)C、管材旋轉(zhuǎn)，探頭直線移動D、以上均可5.19下面有關(guān)鋼管水浸探傷的敘述中，哪點(diǎn)是錯誤的（C）A、使用水浸式縱波探頭B、探頭偏離管材中心線C、無缺陷時，熒光屏上只顯示始xx和l～2次底xxD、水層距離應(yīng)大于鋼中一次波聲程的1／25.20鋼管水浸聚焦法探傷中，下面有關(guān)點(diǎn)聚焦方法的敘述中，哪條是錯誤的？（B）A、對短缺陷有較高探測靈敏度B、聚焦方法一般采用圓柱面聲透鏡C、缺陷xx達(dá)到一定尺寸后（即超過焦距xx時），回波幅度不隨xx而變化D、探傷速度較慢5.21鋼管水浸聚焦法探傷時，下面有關(guān)線聚焦方式的敘述中，哪條是正確的？（D）A、探傷速度輕快B、回波幅度隨缺陷xx增大而增高C、聚焦方法一般采用圓柱面透鏡或瓦片型晶片D、以上全部5.22使用聚焦探頭對管材探傷，如聚焦點(diǎn)未調(diào)到與聲束中心線相垂直的管半徑上，且偏差較大距離，則會引起（B）A、盲區(qū)增大B、在管中折射發(fā)散C、多種xx型傳播D、同xx脈沖變寬6.1鍛件的鍛造過程包括：（A）A、加熱形變，成型和冷卻B、加熱，形變C、形變，成型D、以上都不全面6.2鍛件缺陷包括：（D）A、原材料缺陷B、鍛造缺陷C、熱處理缺陷D、以上都有6.3鍛件中的粗大晶?？赡芤穑海―）A、底波降低或消失B、噪聲或雜波增大C、超聲嚴(yán)重衰減D、以上都有6.4鍛件中的白點(diǎn)是在鍛造過程中哪個階段形成：（D）A、加熱B、形變C、成型D、冷卻6.5軸類鍛件最主要探測方向是：（B）A、軸向直探頭探傷B、徑向直探頭探傷C、斜探頭外圓面軸向探傷D、斜探頭外圓面周向探傷6.6餅類鍛件最主要探測方向是：（A）A、直探頭端面探傷B、直探頭翻面探傷C、斜探頭端面探傷D、斜探頭側(cè)面探傷6.7筒形鍛件最主要探測方向是：（A）A、直探頭端面和外圓面探傷B、直探頭外圓面軸向探傷C、斜探頭外四面xx探傷D、以上都是6.8鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能的是：（C）A、與主軸線平行B、與鍛造方向一致C、與鍛件金屬流線一致D、與鍛件金屬流線垂直6.9超聲波經(jīng)液體進(jìn)入具有彎曲表面工件時，聲束在工件內(nèi)將會產(chǎn)生：（C）A、與液體中相同的聲束傳播B、不受零件幾何形狀的影響C、凹圓弧面聲波將收斂，凸圓弧面聲波將發(fā)散D、與C的情況相反6.10鍛鋼件探測靈敏度的校正方式是：（D）A、沒有特定的方式B、采用底波方式C、采用試塊方式D、采用底波方式和試塊方式6.11以工件底面作為靈敏度校正基準(zhǔn)，可以：（D）A、不考慮探測面的耦合差補(bǔ)償B、不考慮材質(zhì)衰減差補(bǔ)償C、不必使用校正試塊D、以上都是6.12在使用2.5MHz直探頭做鍛件探傷時，如用400mm深底xx調(diào)整Φ3mm平底xx靈敏度，底xx調(diào)整后應(yīng)提高多少db探傷？（晶片直徑D=14mm）（A）A、36.5dbB、43.5dbC、50dbD、28.5db6.13在直探頭探傷，用2.5MHz探頭，調(diào)節(jié)鍛件200mm底波于熒光屏水平基線滿量度10。如果改用5MHz直探頭，儀器所有旋紐保持不變，則200mm底波出現(xiàn)在（C）A、刻度5處B、越出熒光屏外C、仍在刻度10處D、須視具體情況而定6.14化學(xué)成份相同，厚度相同，以下哪一類工件超聲波衰減最大（D）A、鋼板B、鋼管C、鍛鋼件D、鑄鋼件6.15通用AVG曲線的通用性表現(xiàn)在可適用于：（C）A、不同的探測頻率B、不同的晶片尺寸C、不同示波屏尺寸的A型xxD、以上都是6.16大型鑄件應(yīng)用超聲波探傷檢查的主要困難是：（D）A、組織不均勻B、晶粒非常粗C、表面非常粗糙D、以上都對6.17鍛鋼件大平底面與探測面不平行時，會產(chǎn)生：（A）A、無底面回波或底面回波降低B、難以發(fā)現(xiàn)平行探測面的缺陷C、聲波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影響6.18利用試塊法校正探傷靈敏度的優(yōu)點(diǎn)是：（B）A、校正方法簡單B、對大于3N和小于3N的鍛件都適用C、可以克服探傷面形狀對靈敏度的影響D、不必考慮材質(zhì)差異6.19下列哪種方法可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力：（B）A、用直徑較大的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)B、在細(xì)化晶粒的熱處理后檢驗(yàn)C、將接觸法探傷改為液浸法探傷D、將縱波探傷改為xx探傷6.20以下有關(guān)鍛件白點(diǎn)缺陷的敘述，哪一條是錯誤的（A）A、白點(diǎn)是一種非金屬夾雜物B、白點(diǎn)通常發(fā)生在鍛件中心部位C、白點(diǎn)的回波清晰尖銳往往有多個xx同時出現(xiàn)D、一旦判斷是xx點(diǎn)缺陷，該鍛件即為不合格6.21在鍛件探傷中當(dāng)使用底面多次回波計(jì)算衰減系數(shù)時應(yīng)注意一次底面回波聲（C）A、大于非擴(kuò)散區(qū)B、大于近場區(qū)C、大于3倍近場區(qū)D、無甚要求6.22鍛件超聲波探傷時機(jī)應(yīng)選樣（B）A、熱處理前孔槽臺階加工前B、熱處理后孔xx臺階加工前C、熱處理前xx臺階加工后D、熱處理xx臺階加工后6.23鋼鍛件探傷中，超聲波的衰減主要取決于（B）A、材料的表面狀態(tài)B、材料晶粒度的影響C、材料的幾何形狀D、材料對聲波的吸收6.24下面有關(guān)用試塊法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度的敘述中，哪點(diǎn)是正確的。（D）A、對厚薄鍛件都適用B、對平面和曲面鍛件都適用C、應(yīng)作耦合及衰減差補(bǔ)償D、以上全部6.25用底波法調(diào)節(jié)鍛件探傷靈敏度時，下面有關(guān)缺陷定量的敘述中哪點(diǎn)是錯誤的？（D）A、可不考慮探傷耦合差補(bǔ)償B、缺陷定量可采用計(jì)算法或A.V.C曲線法C、可不使用試塊D、缺陷定量可不考慮材質(zhì)衰減差xx6.26用直探頭檢驗(yàn)鋼鍛件時，引起底波明顯降低或消失的因素有（D）A、底面與探傷面不平行B、工件內(nèi)部有傾斜的大缺陷C、工件內(nèi)部有材質(zhì)衰減大的部位D、以上全部6.27鍛件探傷中，如果材料的晶粒粗大，通常會引起（D）A、底波降低或消失B、有較高的“噪聲”顯示C、使聲波穿透力降低D、以上全部6.28鑄鋼件超聲波探傷頻率一般選擇（A）A、0.5-2.5MHZB、1-5MHZC、2.5-5MHZDD、5-10MHZ6.29鍛件探傷時，哪些因素會在熒光屏上產(chǎn)生非缺陷回波（D）A、邊緣效應(yīng)B、工件形狀及外形輪廓C、缺陷形狀和取向D、以上全部6.30鍛件探傷時．如果用試塊比較法對缺陷定量對于表面粗糙的缺陷，缺陷實(shí)際尺寸會（A）A、大于當(dāng)量尺寸B、等于當(dāng)量尺寸C、小于當(dāng)量尺寸D、以上都可能6.31下面有關(guān)鑄鋼件探測條件選擇的敘述中，哪點(diǎn)是正確的’（B）A、探測頻率5MHzB、透聲性好粘度大的耦合劑C、晶片尺寸小的探頭D、以上全部7.1通常要求焊縫探傷在焊后48小時進(jìn)行是因?yàn)椋海–）A、讓工件充分冷卻B、焊縫材料組織穩(wěn)定C冷裂縫有xx產(chǎn)生的特點(diǎn)D、以上都對7.2對接焊縫探傷時，在CSK-IIA試塊上測得數(shù)據(jù)繪制距離-dB曲線，現(xiàn)要計(jì)入表面補(bǔ)償4dB