圖5-17所示連接測試設(shè)備；根據(jù)開關(guān)矩陣的工作頻率范圍設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的掃描頻率范圍；網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行雙端口自校準(zhǔn)；然后配置開關(guān)矩陣，將輸入端口1與輸出端口1連接，輸入端口2與輸出端口2連接，輸入1和輸出2之間沒有連接，輸入2和輸出1之間也沒有連接；輸入端口1連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口1，輸出端口1連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口2。設(shè)定適當(dāng)?shù)墓β孰娖剑|發(fā)網(wǎng)絡(luò)分析儀掃描，測量輸入與輸出端口間的S21傳輸特性，用對數(shù)刻度顯示，此時測量的是輸入端口1與輸出端口1間的插損；記錄測量結(jié)果。接下來，端口輸出端口1的連接，將輸出端口2連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口2，繼續(xù)測量S21傳輸特性，使用同樣的電纜連接，用對數(shù)刻度顯示，此時測量的是輸入端口1與輸出端口2間的隔離度；記錄測量結(jié)果。將輸入端口1和輸入端口2分別連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口1和2，重復(fù)測量S21傳輸特性，此時測量的是兩個輸入端口間的隔離度。開關(guān)矩陣端口回波損耗目的檢查開關(guān)矩陣輸入端口、輸出端口的回波損耗。回波損耗指標(biāo)對精確測量信號功率是非常重要的。性能要求大于20dB。測量儀器微波網(wǎng)絡(luò)分析儀；測量系統(tǒng)組成圖圖5-18開關(guān)矩陣端口回波損耗測試測量方法和步驟反射系數(shù)是指傳輸線上反射波電壓與入射波電壓之比，回波損耗定義為反射系數(shù)的對數(shù)形式，即RL=20log()使用網(wǎng)絡(luò)分析儀的反射參數(shù)S11測量回波損耗。根據(jù)開關(guān)矩陣的工作頻率范圍設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的掃描頻率范圍，網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行自校準(zhǔn)；然后將開關(guān)矩陣的被測端口與網(wǎng)絡(luò)分析儀的端口1連接；選擇S11參數(shù)，測量端口的反射系數(shù)；然后選擇顯示回波損耗格式，網(wǎng)絡(luò)分析儀直接給出回波損耗。時間頻率統(tǒng)一系統(tǒng)測試時間信號測試時間同步誤差時間同步誤差的測量是作為時間統(tǒng)一系統(tǒng)或設(shè)備標(biāo)志的秒信號的時間同步誤差的測試。時間同步誤差通常用時間間隔計數(shù)器來測量，用參考秒信號作開門信號，而用被測秒信號作關(guān)門信號。當(dāng)被測秒信號遲后參考秒信號時，時間間隔計數(shù)器顯示的即時間同步誤差的值；而當(dāng)被測秒信號超前參考秒信號時，時間間隔計數(shù)器顯示的是1-|時間同步誤差|，這一點(diǎn)在測試時要注意。時間同步誤差一般由站間時間同步誤差、站內(nèi)時間同步誤差和時間碼接口終端時間同步誤差等三部分組成。這些誤差的產(chǎn)生原因、測試方法不盡相同。站間時間同步誤差的測試站間時間同步的構(gòu)成如圖6-1所示。圖6-1站間時間同步示意圖站間時間同步誤差由授時誤差、時間同步手段誤差和時統(tǒng)設(shè)備誤差三部分組成。授時誤差只有在時統(tǒng)站分布較廣，時統(tǒng)站接收不同授時臺發(fā)播的時間，并且同步誤差要求很高時才予以考慮。在一般情況下，授時誤差受到授時臺的精度控制，其值很小，可以忽略不計。時間同步手段誤差是站間時間同步誤差的主要誤差源。由于站間距離較遠(yuǎn)，一般均無法直接測量站間時間同步誤差，而需要用間接的測量方法來獲得站間時間同步誤差，這里只介紹兩種常用方法：（1）搬鐘法用搬運(yùn)鐘的秒信號作為參考秒信號來分別測量各站時統(tǒng)設(shè)備秒信號與其時差，然后依此計算站間時間同步誤差。由于采用這種測試方法，搬運(yùn)鐘需要經(jīng)受較為惡劣的運(yùn)輸環(huán)境及較長的運(yùn)行時間，因此對搬運(yùn)鐘有較為嚴(yán)苛的要求，通常都使用較為輕便的原子鐘作為搬運(yùn)鐘。這種方法要求搬運(yùn)鐘的守時誤差遠(yuǎn)小于所測的站間時間同步誤差。（2）環(huán)測法在條件許可的場合，授時中心通過信道向各站發(fā)送定時信號，各站進(jìn)行時間同步。如果有各站至授時中心的反向信道，則可以將各站時統(tǒng)的秒信號經(jīng)過相同的反向信道送回授時中心進(jìn)行環(huán)測，如圖6-2所示。如果正反向信道對時間同步誤差的影響是相同的，例如同一根電纜，則可認(rèn)為被測站的時間同步誤差是中心測量結(jié)果與信道時延采用值之差的1/2。采用環(huán)測法的條件是正反向信道具有良好的一致性。圖6-2時間同步誤差環(huán)測法示意圖站內(nèi)時間同步誤差的測試站內(nèi)時間同步誤差是指時統(tǒng)設(shè)備送到各用戶設(shè)備的時間信號與時統(tǒng)設(shè)備秒信號之間的誤差。以應(yīng)用最為廣泛的B碼信號為例，其時間信號關(guān)系如圖6-3所示。圖6-3站內(nèi)時間信號關(guān)系示意圖站間時間同步誤差測試的參考信號為時統(tǒng)設(shè)備輸出的1pps信號。被測的時間信號原則上應(yīng)在用戶設(shè)備的輸入端口測試。但對配置I、II、III型B碼終端的用戶設(shè)備，因B（DC）碼的傳輸距離應(yīng)小于200m，故對時間同步誤差要求幾十微秒以上的用戶設(shè)備，由電纜引入的時延可忽略不計，不必在設(shè)備輸入端口處測試，而可直接在時統(tǒng)設(shè)備的輸出端口處測試。但對配置IV型B碼終端的用戶設(shè)備，由于AC碼經(jīng)遠(yuǎn)距離的信道傳輸后會有較大時延，因此，必須在用戶設(shè)備的輸入端口處測試。計算站內(nèi)時間同步誤差的時候，要注意傳輸信道的固定時延值是可以在IV型B碼終端里予以修正的，故不應(yīng)計入站內(nèi)時間同步誤差中。傳輸信道的隨機(jī)時延值是無法予以修正的，因此應(yīng)計入站內(nèi)時間同步誤差中。時間碼接口終端時間同步誤差的測試時間碼接口終端時間同步誤差指的是終端輸出的各站時間信號與終端輸入時間碼參考碼元之間的誤差。測試方法見國軍標(biāo)GJB2991-97《B時間碼接口終端》。時間信號一致性時統(tǒng)設(shè)備輸出時間信號一致性的測試時統(tǒng)設(shè)備輸出時間信號一致性的測試是以時統(tǒng)設(shè)備輸出的1pps信號為參考信號，測試其余各路輸出時間信號與其一致的程度。測試方法如圖6-4所示。測試時，時間間隔計數(shù)器應(yīng)接頻率準(zhǔn)確度優(yōu)于110-8的外頻標(biāo)，當(dāng)時間信號的速率低于1pps時（如1ppm時間信號），應(yīng)以此信號作為開門信號，而將1pps作為關(guān)門信號。在測試時，還需注意設(shè)置時間間隔計數(shù)器開關(guān)門信號的觸發(fā)沿和觸發(fā)電平的設(shè)置，對時統(tǒng)設(shè)備來說，一般都是以上升沿作為觸發(fā)沿。圖6-4時統(tǒng)設(shè)備輸出時間信號一致性的測試時間碼接口終端輸出時間信號一致性的測試時間碼接口終端輸出時間信號一致性的測試是以接口終端輸出的1pps信號作為參考信號，測試其余各路輸出時間信號與其一致的程度。測試方法與上節(jié)相同。時間信號周期抖動的測試時間信號周期抖動的測試方法見圖6-5所示。要求所用的時間間隔計數(shù)器工作在周期測量狀態(tài)，并對被測結(jié)果具有統(tǒng)計計算的功能。時間間隔計數(shù)器應(yīng)接頻率準(zhǔn)確度優(yōu)于110-8的外頻標(biāo)。當(dāng)周期抖動的指標(biāo)要求較高時，要求時間間隔計數(shù)器的單次周期測量的精度優(yōu)于1ns，此時外頻標(biāo)的準(zhǔn)確度應(yīng)優(yōu)于110-9。圖6-5時間信號周期抖動的測試時間信號周期抖動要求連續(xù)測量100個數(shù)據(jù)，然后按標(biāo)準(zhǔn)偏差處理，如下式：σ式中，Ti為第i次測得的周期值，T為平均值。時間信號波形參數(shù)的測試時間信號的波形參數(shù)如同脈沖信號一樣，常用的有幅度、寬度、前沿、后沿、脈沖速率等，這些參數(shù)與脈沖信號參數(shù)一樣，可用示波器和時間間隔計數(shù)器來測試。需要注意的是，脈沖寬度是指脈沖幅度為脈幅50%的寬度，而前沿和后沿是幅度從10%變化到90%和從90%變化到10%所需的時間。頻率信號測試時統(tǒng)設(shè)備配置的頻率源通常是原子頻率標(biāo)準(zhǔn)或高穩(wěn)石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)，它們是精密的設(shè)備，因此，對此輸出頻率信號指標(biāo)的測試如果未加特別說明，應(yīng)在下列環(huán)境條件下進(jìn)行：環(huán)境溫度：可在+15C25范圍內(nèi)任選一個溫度，在測試過程中保持環(huán)境溫度的變化不超過1C；相對濕度：<80%;電源電壓：220（15%）V；電源頻率：50（15%）Hz；負(fù)載：通常為50歐姆，在測試過程中應(yīng)固定不變。頻率準(zhǔn)確度頻率準(zhǔn)確度的測試方法如圖6-6所示。圖6-6準(zhǔn)確度測試方法準(zhǔn)確度測量時所用設(shè)備的要求：參考頻率標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)確度應(yīng)比被測頻率標(biāo)準(zhǔn)高一個數(shù)量級以上；測頻儀器的測量誤差應(yīng)比被測頻率標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)確度小1個數(shù)量級以上。測量準(zhǔn)確度應(yīng)盡可能選用較長的測頻時間（取樣時間），因?yàn)?，測頻時間短，頻率標(biāo)準(zhǔn)的短期穩(wěn)定度相對較差，頻率值的隨機(jī)起伏就會影響準(zhǔn)確度的測量誤差。測量結(jié)果按下式計算準(zhǔn)確度，即：A=式中，A為準(zhǔn)確度，f0為標(biāo)稱頻率值，fx為實(shí)際頻率。如果實(shí)測A值不滿足要求，則需要對被測頻率標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行校準(zhǔn)。準(zhǔn)確度還可以用比相儀來測量，如圖6-7所示。如果有數(shù)字鐘，還可以用比時法來測量，如圖6-8所示。與用測頻儀器測量時一樣，此時比相儀和數(shù)字鐘及時間間隔計數(shù)器引入的測量誤差應(yīng)比被測頻率標(biāo)準(zhǔn)的準(zhǔn)確度小1個數(shù)量級。圖6-7用比相法測準(zhǔn)確度圖6-8用比時法測準(zhǔn)確度漂移率（老化率）的測量原子頻率標(biāo)準(zhǔn)漂移率和高穩(wěn)石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)老化率的測試設(shè)備及測試方法與測量準(zhǔn)確度相同。測量應(yīng)在頻率標(biāo)準(zhǔn)加電達(dá)到規(guī)定的預(yù)熱時間后開始。高穩(wěn)石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)的日老化率測試一般至少需要7天，每12小時取1個數(shù)，共15個數(shù)據(jù)。原子頻率標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)日漂移率測試一般需要至少15天，每天取1個數(shù)，共15個數(shù)據(jù)。漂移率（或老化率）的測量結(jié)果按下列情況計算。測頻法高穩(wěn)石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)或原子頻率標(biāo)準(zhǔn)用測頻法測量的日老化率按下式計算，即：D式中，Dd為高穩(wěn)石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)日老化率；為取樣時間，=0.5d；fi()為第i次測得的頻率值；ti為取樣序號；f0為標(biāo)稱頻率，yi()為相對頻率值；yfty對測量結(jié)果還需要按下式計算相關(guān)系數(shù)r，即：r=如果所得的相關(guān)系數(shù)大于0.6，表明該頻率標(biāo)準(zhǔn)的頻率老化的線性度較好，則可以給出日老化率的數(shù)值。如果小于0.6，表明該頻率標(biāo)準(zhǔn)的頻率老化的線性度較差，這時計算所得老化率沒有什么意義，可以只給出老化率結(jié)果。比相法和比時法比時法是每12h用時間間隔計數(shù)器測出每個秒脈沖之間的時刻差Ti，連續(xù)測16次，計算出相鄰兩次的時刻差的變化量，Ti=Ti+1-Ti。比相法從比相儀中讀出兩臺頻率標(biāo)準(zhǔn)的相位值，習(xí)慣上往往將其轉(zhuǎn)化為時差值，因此，也可以用比時法的公式來計算老化率，即：D式中，Ti為第i次測得的時差的變化量。?T相關(guān)系數(shù)的計算公式為：r=時域頻率穩(wěn)定度測試測量條件頻率標(biāo)準(zhǔn)的時域頻率穩(wěn)定度，由于定義的不同有多種表征方式，最為常用的是阿倫方差。σf1、f2為取樣時間為的相鄰兩次無間隔取樣測得的頻率值，m為取樣組數(shù)。測量儀器測量儀器引入的誤差以阿倫方差應(yīng)小于被測頻率標(biāo)準(zhǔn)阿倫方差的1/3。參考頻率標(biāo)準(zhǔn)參考頻率標(biāo)準(zhǔn)的阿倫方差應(yīng)小于被測頻率標(biāo)準(zhǔn)阿倫方差的1/3。在實(shí)際測試時，尤其是高穩(wěn)定頻率標(biāo)準(zhǔn)的測試時，這一測試往往不易滿足，這時可采用如下環(huán)比法。如果有三臺或以上相同的被測頻率標(biāo)準(zhǔn)，則可以按照圖6-9連接，用測試儀器分別測量兩臺被測頻率標(biāo)準(zhǔn)的阿倫方差（即將其中一臺作為參考頻率標(biāo)準(zhǔn)，另一臺作為被測頻率標(biāo)準(zhǔn)），得到12、13、23三個數(shù)據(jù)，在測試儀器引入的誤差可以忽略不計的情況下，有：σσσ解方程得：σσσ通過環(huán)比法可得到每一臺的頻率穩(wěn)定度。圖6-9用比時法測準(zhǔn)確度測試儀器帶寬頻率穩(wěn)定度的測試實(shí)質(zhì)上就是對頻率標(biāo)準(zhǔn)噪聲的測試。為了使測試結(jié)果能反映頻率標(biāo)準(zhǔn)噪聲的實(shí)際情況，必然要求測試儀器的帶寬大于所測噪聲的帶寬。時域頻率穩(wěn)定度測試儀器的帶寬要求與所測阿倫方差的取樣時間有關(guān)，一般應(yīng)滿足如下公式所表述的要求，即：f式中，fh為測試儀器高端截止頻率，為所測試阿倫方差的取樣時間。通常時域頻率穩(wěn)定度的測試儀器都有帶寬選擇裝置，在測試時注意選擇帶寬要求。取樣間隙時間從阿倫方差的定義可知，阿倫方差實(shí)際上是雙取樣鄰頻方差。它要求每組兩次取樣測量頻率時中間不能有間隙，也就是要求連續(xù)取樣。在實(shí)際測量時可以采用兩種方式，一種是每組兩次取樣之間沒有間隙，而組與組之間可以有間隙，如圖6-10a所示；另一種是一次測量中所有的取樣之間都沒有間隙，如圖6-10b所示。圖6-10測量阿倫方差的兩種取樣方式對于取樣時間較短的阿倫方差的測量，由于測量速度快，第2種方式的測量較難實(shí)現(xiàn)，因此大多采用第1種方式；而對于取樣時間很長的阿倫方差的測量，如原子頻率標(biāo)準(zhǔn)=100s以上的阿倫方差，由于大多采用比相法或比時法，很容易滿足第2種方式的測量要求。取樣時間取樣時間通常按下式選取，即=10N（s）對于高穩(wěn)石英晶體頻率標(biāo)準(zhǔn)，N一般取-3+1，即=1ms,10ms,100ms,1s,10s；而原子頻率標(biāo)準(zhǔn)N可取-1+5，即=100ms,1s,10s,100s,1000s,10000s。測量方法和計算公式直接用計數(shù)器測量頻率的方法計算穩(wěn)定度是不可行的，因?yàn)闀r域頻率穩(wěn)定度是短時內(nèi)頻率受噪聲干擾而產(chǎn)生的隨機(jī)起伏，計算出的穩(wěn)定度誤差將非常大。噪聲對頻率標(biāo)準(zhǔn)輸出頻率的干擾常常不是表現(xiàn)在其頻率值的變化上，而是表現(xiàn)在對其輸出信號相位的干擾。因此，常常把這種干擾稱為相位噪聲，而很多頻率穩(wěn)定度的測試方法也是在測量相位噪聲上下功夫，以減小其測量誤差。頻差倍增測頻法頻差倍增測頻法如圖6-11所示，由于被測頻率標(biāo)準(zhǔn)與參考頻率標(biāo)準(zhǔn)的頻差很小，若直接測量則誤差很大，通過頻差倍增器將該頻差倍增若干倍后，再用通用計數(shù)器測量頻率的方法測量擴(kuò)大后的頻差，可大大減小測量誤差。圖6-11頻差倍增測頻法設(shè)被測頻率標(biāo)準(zhǔn)與參考頻率標(biāo)準(zhǔn)的頻差為f，經(jīng)過1級倍增和混頻后其輸出頻率為f0+mf，即頻差f擴(kuò)大了m倍，經(jīng)過n級倍頻和混頻后，頻差擴(kuò)大了M倍，M=mn用計數(shù)器測量頻差倍增器輸出的頻率，即f0+Mf，閘門時間即為取樣時間，其結(jié)果按下列公式計算阿倫方差，即：σ或σ頻差倍增倍數(shù)受到儀器噪聲和抖動的限制，不可能做得太高，一般為1104。。差拍法由于受倍頻器自身噪聲的影響，使頻差倍增法在高穩(wěn)定頻率標(biāo)準(zhǔn)的穩(wěn)定度測試中的應(yīng)用受到限制?；谶@一點(diǎn)，差拍法不使用噪聲較大的倍頻電路，而是利用噪聲非常小的低噪聲混頻電路直接得到差拍信號，然后用周期倍乘的方法來測量頻率穩(wěn)定度，其原理如圖6-12所示。圖6-12差拍法原理圖為了減小測量誤差，必須選用低噪聲、高隔離度、高效率的混頻器。為了得到拍頻信號，參考頻率標(biāo)準(zhǔn)必須是可以調(diào)偏的。為了減少觸發(fā)誤差，差拍信號應(yīng)該經(jīng)過良好的過零檢測電路并且所用的計數(shù)器應(yīng)具有高精度時間間隔測量功能。阿倫方差的計算公式為：σ或σ式中，F(xiàn)為拍頻頻率，為倍乘后的周期值，即取樣時間。比相法和比時法比相法就是用比相儀記錄被測頻率標(biāo)準(zhǔn)與參考頻率標(biāo)準(zhǔn)的相位變化值，進(jìn)行頻率穩(wěn)定度的測量，如圖6-13所示。比時法是將被測頻率標(biāo)準(zhǔn)和參考頻率標(biāo)準(zhǔn)的輸出信號驅(qū)動兩個數(shù)字鐘，用時間間隔計數(shù)器測量兩個數(shù)字鐘輸出秒信號的時間間隔隨時間積累的變化來測量頻率穩(wěn)定度，如圖6-14所示。圖6-13比相法原理圖圖6-14比時法原理圖比相法需測量兩臺頻率標(biāo)準(zhǔn)相位差的變化值，習(xí)慣上不用相位單位來度量，而是換算成時間單位來度量，因此其頻率穩(wěn)定度的計算公式與比時法時一樣的。設(shè)Ti時刻測得的兩臺數(shù)字鐘的時差為Ti，經(jīng)過Ti+=Ti+1時刻測得的兩臺數(shù)字鐘的時差為Ti+1，則：?σ比相法和比時法主要用于測量取樣時間較長的頻率穩(wěn)定度，取樣時間越長，測量誤差越小。頻域頻率穩(wěn)定度測量頻率標(biāo)準(zhǔn)頻域頻率穩(wěn)定度由于定義的不同有多種表征方式，如相位起伏譜密度、頻率起伏譜密度、相對頻率起伏譜密度和單邊帶相位噪聲等。工程上更趨向于使用單邊帶相位噪聲來描述頻率標(biāo)準(zhǔn)的頻域頻率穩(wěn)定度。單邊帶相位噪聲￡(f)是指在偏離載頻傅氏頻率f處，1Hz帶寬的相位噪聲調(diào)制單邊帶功率與載波功率之比，單位為dBc/Hz。它所表征的是頻率標(biāo)準(zhǔn)輸出的標(biāo)準(zhǔn)頻率信號附近的相位噪聲的分布情況，因而可對頻率標(biāo)準(zhǔn)單邊帶相位噪聲有直觀的了解。測量條件測試儀器頻域頻率穩(wěn)定度測試儀器的單邊帶相位噪聲應(yīng)比被測頻率標(biāo)準(zhǔn)的相應(yīng)指標(biāo)至少低10dB。測試儀器可測量的單邊帶相位噪聲的傅氏頻率f應(yīng)比被測的傅氏頻率低。參考頻率標(biāo)準(zhǔn)參考頻率標(biāo)準(zhǔn)的單邊帶相位噪聲應(yīng)比被測頻率標(biāo)準(zhǔn)的相應(yīng)指標(biāo)至少低10dB。輸出頻率可調(diào)，并具有外部壓控能力（或被測頻率標(biāo)準(zhǔn)有外部壓控能力）。在實(shí)際測試時，尤其是高穩(wěn)定頻率標(biāo)準(zhǔn)的測試時，這一測試條件往往不易滿足，這時可以采用如下兩種變通的方法。如果有3臺或3臺以上相同的頻率標(biāo)準(zhǔn)，則可以采用圖6-15環(huán)比的方法，即用測試儀器分別測量兩臺被測頻率標(biāo)準(zhǔn)的單邊帶相位噪聲（即將其中一臺作為參考頻率標(biāo)準(zhǔn)，另一臺作為被測頻率標(biāo)準(zhǔn)），得到￡12(f)、￡13(f)、￡23(f)三組數(shù)據(jù)，在測試儀器引入的誤差可以忽略不計的情況下，可將各對應(yīng)傅氏頻率f的單邊帶相位噪聲值代入如下公式，求得每一臺頻率標(biāo)準(zhǔn)的單邊帶相位噪聲。圖6-15環(huán)比法測頻域頻率穩(wěn)定度LLL環(huán)比法要求參加環(huán)比的頻率標(biāo)準(zhǔn)的單邊帶相位噪聲比較接近，任意兩臺頻率標(biāo)準(zhǔn)的單邊帶相位噪聲之差在6dB之內(nèi)。因?yàn)槿绻渲杏幸慌_的單邊帶相位噪聲明顯比另兩臺大時，由上式無法解出每一臺的單邊帶相位噪聲。這是因?yàn)橛捎跍y試誤差的存在，無法從有較差頻率標(biāo)準(zhǔn)參與環(huán)比的測試結(jié)果中解出好的頻率標(biāo)準(zhǔn)的單邊帶相位噪聲。另外，由于測試方法的要求，3臺被測頻率標(biāo)準(zhǔn)中至少有兩臺應(yīng)具有外部壓控能力。如果僅有2臺相同的頻率標(biāo)準(zhǔn)要測試，此時可采用圖6-16互比的方法，即將一臺被測頻率標(biāo)準(zhǔn)代替參考頻率標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測試，得￡12(f)一組數(shù)據(jù)，在測試儀器引入的誤差可以忽略不計的情況下，有：￡1(f)=￡2(f)=￡12(f)–3dB圖6-16互比法測頻域頻率穩(wěn)定度在采用互比法的測試中要求兩臺頻率標(biāo)準(zhǔn)至少有一臺具有外部壓控能力?；ケ确m然可以用來測量頻域頻率穩(wěn)定度，但有較大的局限性，因?yàn)樗髢膳_被測頻率標(biāo)準(zhǔn)的單邊帶相位噪聲十分接近。從計算公式上也可以看出，因?yàn)樗鼰o法分辨兩臺被測頻率標(biāo)準(zhǔn)單邊帶相位噪聲的差別。當(dāng)兩臺被測頻率標(biāo)準(zhǔn)的單邊帶相位噪聲相差較大時，顯然互比法會帶來較大的測量誤差。測量方法和計算公式頻率標(biāo)準(zhǔn)單邊帶相位噪聲的測試通常用正交鑒相法，如圖6-17所示。圖6-17正交鑒相法測單邊帶相位噪聲參考頻率標(biāo)準(zhǔn)和被測頻率標(biāo)準(zhǔn)的信號送至鑒相器，在鑒相器實(shí)現(xiàn)正交鑒相。參考頻率標(biāo)準(zhǔn)的信號應(yīng)為高電平，以保證鑒相的高靈敏度（低相位噪聲），而被測頻率的信號應(yīng)保證鑒相器工作在線性工作區(qū)域。采用平衡混頻器作為鑒相器，其頻率范圍應(yīng)能覆蓋待測的標(biāo)準(zhǔn)頻率信號，且具有平坦的頻率響應(yīng)。鑒相器的輸出送低通濾波器，該濾波器的截止頻率應(yīng)大于被測試的最高傅氏頻率。低通濾波器的輸出信號經(jīng)直流放大后送到參考頻率標(biāo)準(zhǔn)的壓控信號輸入端，構(gòu)成鎖相環(huán)路，以保證鑒相器始終工作在正交鑒相的狀態(tài)。鎖相環(huán)路帶寬的低端要低于被測試的最低傅氏頻率，以避免該帶寬對測試結(jié)果的影響。低通濾波器的另一路輸出信號經(jīng)低噪聲放大器后再送頻譜儀，這樣可以提高測試系統(tǒng)的靈敏度，因而要求該低噪聲放大器有足夠的增益及平坦的頻率響應(yīng)。需要注意的是應(yīng)保證上述整個測試系統(tǒng)有足夠低的內(nèi)部噪聲，滿足對測試儀器相位噪聲的要求。頻譜儀的頻率范圍應(yīng)能滿足所需測試傅氏頻率范圍的要求。單邊帶相位噪聲的計算公式為：Lf=式中，Kd為鑒相器靈敏度，KA為放大器增益，rms為頻譜儀測得的1Hz帶寬內(nèi)的均方根電壓值。傅氏頻率的測試點(diǎn)通常在0.1Hz，1Hz，10Hz，100Hz，1kHz，10kHz中根據(jù)需要選取。為了減小Lf衛(wèi)星地面站電磁環(huán)境測試測試目的對衛(wèi)星地面站周圍電磁環(huán)境進(jìn)行干擾測量，檢查對衛(wèi)星地面站是否造成干擾，必要情況下進(jìn)行站址和使用頻率協(xié)調(diào)。衛(wèi)星地球站建站允許干擾條件及有關(guān)參數(shù)根據(jù)CCIR建議中的有關(guān)干擾參數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)，以及建站實(shí)際情況，允許的微波干擾電平如下：（1）來自地面微波在C波段（3.7~4.2GHz頻帶）的干擾信號，到達(dá)地球站低噪聲放大器LNA輸入端的干擾信號功率Pr一般不得超過地球站接收系統(tǒng)本身產(chǎn)生的熱噪聲功率電平。對C波段，取Ts=120K，B=30kHz，則Pr=10lg（KTsB）=-133dBm。其中，Ts是地球站LNA輸入端接收系統(tǒng)噪聲溫度。（2）等效到地球站LNA輸入端的大于Pr電平的干擾信號的平均數(shù)目一般不得多于1個/100MHz，所有干擾信號的有效帶寬之和一般不得超過500MHz帶寬的5%。（3）允許的中頻干擾電平Pr可用下式計算： Pr=P–C/I+F其中，P為中頻接口電平，F(xiàn)是機(jī)殼屏蔽，取40dB，C/I為信號干擾比，取30dB。計算得到，允許的中頻干擾信號電平為-51.5dBm。測試系統(tǒng)組成根據(jù)附件1中有關(guān)地面站建站允許干擾條件，組成如圖7-1所示的測量干擾信號的方框圖。圖7-1電磁環(huán)境測量系統(tǒng)方框圖圖中，(a)是射頻波段的微波干擾測量；(b)是中頻信號干擾測量。射頻波段采用喇叭天線接收干擾信號，并經(jīng)過低噪聲放大器進(jìn)行放大，再送到頻譜分析儀進(jìn)行頻譜分段或全景顯示、以及實(shí)時繪圖打印。中頻信號由拉桿天線接收，直接送到頻譜分析儀進(jìn)行顯示、繪圖打印。測量步驟干擾信號主要是指來自地面各個方面上的微波頻段信號，有水平線極化和垂直線極化信號兩部分。具體測量步驟如下：(1)調(diào)整天線接收極化方向，并置天線俯仰角EL=0，在方位角AZ從0~360范圍內(nèi)測量并記錄干擾信號及電平。(2)在EL=20重復(fù)步驟(1)并記錄干擾信號及電平。(3)變換天線接收極化方向，重復(fù)步驟(1)、(2)。(4)在安排的時間段上，重復(fù)步驟(1)、(2)、(3)。附錄A測試結(jié)果記錄表格表A－1開通測試通用信息記錄開通測試記錄發(fā)射地球站（注明地理位置）接收地球站聯(lián)系方式電話傳真EMAIL地址聯(lián)系人測試起始日期測試結(jié)束日期衛(wèi)星轉(zhuǎn)發(fā)器發(fā)射頻率接收頻率載波速率業(yè)務(wù)類型表A－2設(shè)備基本參數(shù)設(shè)置記錄XX站設(shè)備基本參數(shù)設(shè)置設(shè)備名稱參數(shù)數(shù)值單位備注調(diào)解器載波頻率例：70MHz信息速率2.048Mbit/s輸出電平-20dBm調(diào)制方式QPSK編碼率3/4卷積碼擾碼激活激活或禁止發(fā)時鐘接收時鐘緩沖器容量上變頻器（U/C）衰減dB增益dB在當(dāng)前衰減檔設(shè)置條件下的增益本振頻率記錄廠商提供的標(biāo)稱值，一般不可調(diào)工作頻段頻率步階輸出功率記錄1dB壓縮點(diǎn)的飽和值下變頻器（D/C）衰減本振頻率工作頻段頻率步階輸出功率高功放（HPA）衰減輸出功率低噪放（LNA）增益說明：表A－3電平調(diào)整記錄XX站電平調(diào)整參考點(diǎn)電平（dBm）備注A該點(diǎn)為調(diào)制器輸出電平B該點(diǎn)基本對應(yīng)上變頻器（U/C）的輸入電平C該點(diǎn)基本對應(yīng)上變頻器（U/C）的輸出電平D該點(diǎn)基本對應(yīng)高功放（HPA）的輸入電平E該點(diǎn)基本對應(yīng)高功放（HPA）的輸出電平F該點(diǎn)對應(yīng)天線饋源的輸入電平G低噪放（LNA）的輸出電平H下變頻器（D/C）的輸入電平I下變頻器（D/C）的輸出電平J解調(diào)器的輸入電平說明：下行接收支路各點(diǎn)記錄相應(yīng)于衛(wèi)星信標(biāo)或注入信號源的