檢具尺寸精度檢測及驗收檢具測量原則及注意事項1、檢具在檢具制造廠家的全尺寸測量不少于三次：裝配調(diào)整的測量、打銷釘后的自檢（自檢報告在驗收前發(fā)給SGMW)、預(yù)驗收的全尺寸測量。2、預(yù)驗收測量評價的尺寸100%符合公差要求。3、檢具制造廠家應(yīng)當(dāng)有嚴(yán)于SGMW標(biāo)準(zhǔn)的精度要求，建議尺寸偏差調(diào)整至公差60%以內(nèi)。有明顯的同側(cè)偏差，無粗大（接近公差邊緣）的異側(cè)偏差。通過這些要求減少由于測量再現(xiàn)性誤差造成的驗收測量超差，提高檢具尺寸精度。4、測量數(shù)據(jù)真實可靠檢具建標(biāo)基準(zhǔn)基準(zhǔn)孔1基準(zhǔn)孔2基準(zhǔn)孔3基準(zhǔn)孔41、檢具不論大小，至少包含四個建標(biāo)基準(zhǔn)，分布在檢具四角2、檢具長度大于1.8米時，在長度方向中間位置增加第三組基準(zhǔn)。圖1坐標(biāo)系建立過程以常用的PC-DMIS為例，其它軟件思路一致（部分軟件不需要步驟3）1、手動建標(biāo)：手動模式下測量一個平面及兩個基準(zhǔn)孔，建立初始坐標(biāo)系；2、自動建標(biāo)：2.1自動測量四個含樣例點的基準(zhǔn)孔；2.2以四個基準(zhǔn)孔的孔中心構(gòu)造基準(zhǔn)平面1；2.3評價平面1的平面度。（平面度要小于0.01/1000mm，比如，長度方向為1500的檢具的平面度要調(diào)整至0.015以下。平面度最大不能大于0.03).平面度不符合要求時則進行調(diào)整。2.4平面度符合要求時用3-2-1法建立坐標(biāo)系A(chǔ)2。（找正平面為基準(zhǔn)平面1、旋轉(zhuǎn)軸為基準(zhǔn)孔1與2、原點為基準(zhǔn)孔1.）3、再次自動測量所有基準(zhǔn)孔（含樣例點）及評價偏差（注：再次測量是在A2下測量，與未測量直接評價基準(zhǔn)孔的偏差有差異，后者不正確。4、銘牌上的坐標(biāo)為上一步驟中測量的實測值。銘牌應(yīng)當(dāng)在驗收完成后再打基準(zhǔn)孔1基準(zhǔn)孔2基準(zhǔn)孔3基準(zhǔn)孔4圖2圖3特征測量-定位基準(zhǔn)面及零件定位孔定位基準(zhǔn)面：測點為4個，方形結(jié)構(gòu)如圖，圓形測點分布呈約90度。命名為A1-1、A1-2、A1-3、A1-4;零件定位孔：1、零件定位孔命名分別為B1、B1-1；C1、C1-1;（圖5）2、測量2層，2層孔的理論值取一致，均為上表面孔中心（如圖6）；3、采用無樣例點的方式測量，2層孔的測量深度不一致，測量深度一般為2mm\7mm，根據(jù)孔的深度及大小可以有所差異。4、無自動測量功能的測量機采用測量投影平面及測量1層圓的方法。注：其它檢測孔或檢測銷的方法與定位孔的測量方法一致。圖4圖5圖6特征測量-3位面及0位面的測量測點分布如圖7示，規(guī)則為：1、保留2端含有測點；2、3位面測量1排點、0位面測量鋸齒點；3、3位面測點及0位面的第一排測點離離邊緣的距離約為3mm;（如圖8）4、0位面的第二排點大致處于中間位置

（如圖9）4、各排測點距離不大于100mm，均勻分布。圖7約3mm圖8圖9中間位置測量報告要求1、測量報告封面：任何檢具必須有測量報告封面，內(nèi)容應(yīng)當(dāng)不少于標(biāo)題、客戶名稱、項目名稱、檢具名稱及圖號、測量機型號及精度、檢測人、檢測日期、審核、單位公章等內(nèi)容。2、測量基準(zhǔn)說明測量報告中必須包含建標(biāo)基準(zhǔn)坐標(biāo)信息、平面度、旋轉(zhuǎn)軸、原點、以及所有基準(zhǔn)孔的坐標(biāo)值。（如圖10）3、測量數(shù)據(jù)：3.1測量數(shù)據(jù)優(yōu)先采用如圖10所示格式，旗標(biāo)與圖片對應(yīng)，至少包含理論值、實測值、公差、偏差、超差等內(nèi)容。允許采用圖11所示的公差單獨在圖下進行說明。3.2測量數(shù)據(jù)應(yīng)當(dāng)有序分類別進行排列（如依次按基準(zhǔn)、定位孔、定位面、檢測孔、3位面等等進行排列）圖10圖11特征精度要求檢具部件名稱制造精度要求（單位:mm）定位孔位置±0.05基準(zhǔn)面±0.10零件外輪廓測量面（齊平面）或線±0.10零件開關(guān)功能測量面（3/