ICS31020

L90.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T1129710—2015

代替.

GB/T11297.10—1989

熱釋電材料居里溫度Tc的測(cè)試方法

Testmethodforcurietemperatureofpyroelectricmaterials

2015-12-31發(fā)布2016-07-01實(shí)施

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T1129710—2015

.

前言

本部分按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本部分代替熱釋電材料居里溫度T的測(cè)試方法本部分與

GB/T11297.10—1989《c》。

相比主要技術(shù)變化如下

GB/T11297.10—1989,:

修改了材料的適用范圍見(jiàn)第章

———(1);

修改了電容測(cè)量?jī)x器及測(cè)量最大允許誤差見(jiàn)第章年版

———(6,19893.2.1);

修改了測(cè)溫儀器見(jiàn)第章年版

———(6,19893.2.2);

修改了數(shù)據(jù)記錄方式用每隔不大于記錄代替原標(biāo)準(zhǔn)中的逐點(diǎn)記錄見(jiàn)第章

———,“0.1℃”“”(7,

年版

19893.4);

刪除了C-T曲線(xiàn)自動(dòng)描繪法和傳輸電路測(cè)試方法見(jiàn)年版附錄和附錄

———(1989AB)。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別這些專(zhuān)利的責(zé)任

。。

本部分由中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部提出

。

本部分由工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究院歸口

。

本部分起草單位中國(guó)科學(xué)院上海硅酸鹽研究所

:。

本部分主要起草人曹菲姚春華董顯林王根水王永齡

:、、、、。

本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T11297.10—1989。

Ⅰ

GB/T1129710—2015

.

熱釋電材料居里溫度Tc的測(cè)試方法

1范圍

本部分規(guī)定了熱釋電陶瓷晶體和有機(jī)材料的居里溫度T的測(cè)量方法

、(c)。

本部分適用于測(cè)量鈦酸鉛鋯鈦酸鉛鈦酸鍶鋇鉭鈧酸鉛等熱釋電陶瓷材料和鈮鎂酸鉛鉭酸鋰

、、、、、

三甘氨酸硫酸鹽族等熱釋電晶體材料的居里溫度T也適用于測(cè)量其他類(lèi)似陶瓷晶體及有機(jī)熱釋

(c),、

電材料的居里溫度

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

紅外探測(cè)材料中半導(dǎo)體光電材料和熱釋電材料常用名詞術(shù)語(yǔ)

SJ/T11067

3術(shù)語(yǔ)和定義

界定的術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

SJ/T11067。

4測(cè)量原理

在居里溫度處熱釋電材料的一些物理性能發(fā)生反常的變化其中之一是介電常數(shù)出現(xiàn)峰值因

,,。

此測(cè)定介電常數(shù)峰值對(duì)應(yīng)的溫度即可確定材料的居里溫度T本部分是用精密儀表在頻

,,(c)。LCR,

率一定的情況下測(cè)出熱釋電材料試樣的電容量C隨溫度T升高而變化的C-T曲線(xiàn)曲線(xiàn)峰值對(duì)應(yīng)

,()(),

的溫度就是材料的居里溫度測(cè)試原理如圖所示對(duì)于某些材料隨著溫度的變化出現(xiàn)多個(gè)介電常

。1。,,

數(shù)峰值比較各個(gè)峰值對(duì)應(yīng)的溫度高低其最高溫度為材料的居里溫度

,,。

5樣品

測(cè)試用樣品應(yīng)符合下列要求

:

面積為22厚度為的方形或圓形試樣

a)10mm~50mm,0.1mm~1.0mm;

試樣應(yīng)經(jīng)細(xì)磨或拋光表面應(yīng)平整清潔對(duì)某些具有解理性的材料若解理面平整可不進(jìn)行

b),、,,,

任何加工處理

;

試樣的兩個(gè)表面應(yīng)覆蓋金屬全電極如銀電極

c),;

若試樣是熱釋電晶體試樣應(yīng)垂直于熱釋電晶體軸切割

d),。

6設(shè)備和儀器