標準解讀

《GB/T 12636-1990 微波介質基片復介電常數(shù)帶狀線測試方法》作為一項國家標準，規(guī)定了使用帶狀線結構測量微波介質基片復介電常數(shù)的具體操作流程和要求。然而，您提供的對比信息不完整，沒有明確指出要與哪個具體的標準或版本進行比較。因此，直接對比其與某個特定標準的變更點無法實現(xiàn)。但可以一般性地說明此類標準更新時可能包含的變動方向：

  1. 測量技術的更新：新版本的標準可能會引入更先進的測量技術和設備要求，以提高測試精度和效率，如采用更精密的網(wǎng)絡分析儀或改進的校準方法。

  2. 參數(shù)定義和計算方法的修訂：隨著理論研究的深入，對復介電常數(shù)的物理理解可能會有所發(fā)展，導致參數(shù)定義更加準確或計算模型的優(yōu)化，以更好地反映實際材料特性。

  3. 樣品制備和處理流程的調整：為了確保測試結果的可重復性和可靠性，新標準可能會對樣品的尺寸、邊緣處理、表面光潔度等方面提出更嚴格的要求，或者引入新的樣品制備技術。

  4. 測試環(huán)境和條件的規(guī)范：考慮到環(huán)境因素（如溫度、濕度）對測試結果的影響，新標準可能會細化測試環(huán)境的控制要求，確保測試條件的一致性。

  5. 數(shù)據(jù)處理和誤差分析的改進：更新的標準可能會引入更先進的數(shù)據(jù)分析方法和統(tǒng)計處理手段，以及更詳細的誤差來源分析和修正策略，幫助用戶更準確地評估測試結果的不確定性。

  6. 適用范圍的擴展或限定：根據(jù)技術進步和應用需求的變化，新標準可能會擴大測試頻率范圍、增加不同類型介質基片的適用性，或是對特定材料或應用場合做出更具體的限定。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1990-12-28 頒布
  • 1991-10-01 實施
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文檔簡介

UDC621.315.2621.37L04中華人民共和國國家標準GB/T12636一90微波介質基片復介電常數(shù)帶狀線測試方法Striplinetestmethodforcomplexpermittivityofmicrowavedielectricsubstrates1990-12-28發(fā)布1991-10-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準微波介質基片復介電常數(shù)帶狀線剝試方法GB/T12636-90中國標準出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復興門外三里河北街16號郵郵政編碼：100045電話：63787337、637874471991年7月第一版2004年12月電子版制作書號：155066·1-8162版權專有侵權必究舉報電話：（010）68533533

中華人民共和國國家標準微波介質基片復介電常數(shù)帶狀線GB/T1.2636—90試方法Striplinetestmethodforcomplexpermittivitgofmicrowavedielectricsubstrates主題內容與適用范圍1.1本標準規(guī)定了微波介質基片復介電常數(shù)的帶狀線測試方法。1.2本標準適用于測試各種基片(如塑料、復合材料、陶瓷、硅酸鹽和其他單品體材料等)在微波頻率下的復介電常數(shù)，試頻率范圍：1=1～20GHz測試介電常數(shù)范圍：-2~25測試損耗角正切范圍：tand.=5×10-1～1×10-2引用標準GB8170數(shù)值修約規(guī)則3測試原理以被測介質基片與良導金屬片和薄帶可構成典型的帶狀傳輸線。一段兩端開路的帶狀傳輸線具有譜振電路的特性，如圖1和圖2所示,它的諧振頻率子。與基片材料的介電常數(shù)。相關，其固有品質因數(shù)Q.與基片材料的介質損耗角正切tand,相聯(lián)系。因此，應用帶狀線諧振器法測試介質基片的復介電常數(shù)可歸結為對帶狀線諧振器諧振頻率和固有品質因數(shù)的測量。圖1所示的帶狀線諧振電路的中間寬的金屬導帶為諧振段，兩邊窄的金屬導帶為500的傳輸線。圖2所示的帶狀線譜振電路是由一對被測介質基片，在其正中放置一根厚度為不大于0.018mm的良導金屬帶、在兩介質基片外側各置一接地板而組成。4樣品尺寸及要求4.1若被測樣品為柔性介質基片、介電常數(shù)。在2～3的范圍內時，可采用如圖1所示的帶狀線諧振電路進行測試，其測試頻率在9.5GHz附近，基片總厚度為3.0～3.2mm，諧振段長度如表1所示，

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