標準解讀

GB/T 19421.1-2003是一項中國國家標準，專注于層狀結晶二硅酸鈉的試驗方法，特別針對δ相層狀結晶二硅酸鈉的定性分析，采用的是X射線衍射儀技術。下面是對該標準內容的詳細說明：

標準范圍

本標準規(guī)定了利用X射線衍射儀對δ相層狀結晶二硅酸鈉進行定性分析的方法，適用于該材料的鑒別與確認，確保其結構特性符合特定要求。

術語和定義

雖然具體術語在此未展開，但標準中會包括對層狀結晶二硅酸鈉、特別是δ相以及X射線衍射(XRD)基本概念的明確界定，以便讀者準確理解。

原理

X射線衍射技術基于布拉格定律，通過測量X射線在樣品上產生的衍射圖案，來分析材料的晶體結構。對于δ相層狀結晶二硅酸鈉，其具有獨特的衍射峰位置和強度分布，這些特征可作為定性鑒別的依據。

儀器與設備

標準詳細描述了進行測試所需的X射射線衍射儀的技術要求，包括但不限于X射線源的類型、探測器靈敏度、掃描范圍及步進大小等參數設定，以保證測試結果的準確性和重復性。

樣品制備

提供了樣品預處理和制備的具體步驟，如研磨、壓片或使用特定載體等，確保樣品適合XRD分析，并減少外部因素對測試結果的影響。

測試步驟

詳述了從儀器校準、樣品安裝到數據采集的全過程操作規(guī)程，包括掃描速度、角度范圍的選擇，以及如何識別和記錄衍射圖譜中的特征峰。

數據處理與分析

解釋了如何根據獲得的X射線衍射圖譜，對比標準卡片或數據庫中的數據，識別出δ相層狀結晶二硅酸鈉的特征峰，從而完成定性分析。這一步驟可能還包括背景扣除、峰位匹配和強度比對等內容。

試驗報告

規(guī)定了試驗報告應包含的信息，如樣品描述、測試條件、主要衍射峰的位置和相對強度、分析結論等，確保測試結果的完整性和可追溯性。

精密度和準確度

盡管標準文本未直接展示這部分內容，通常會提及方法的再現性和準確性要求，或是參考其他標準來評估測試結果的可靠性。


如需獲取更多詳盡信息，請直接參考下方經官方授權發(fā)布的權威標準文檔。

....

查看全部

  • 被代替
  • 已被新標準代替，建議下載現行標準GB/T 19421-2008
  • 2003-12-11 頒布
  • 2004-06-01 實施
?正版授權
GB/T 19421.1-2003層狀結晶二硅酸鈉試驗方法δ相層狀結晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法_第1頁
GB/T 19421.1-2003層狀結晶二硅酸鈉試驗方法δ相層狀結晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法_第2頁
GB/T 19421.1-2003層狀結晶二硅酸鈉試驗方法δ相層狀結晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法_第3頁
免費預覽已結束，剩余5頁可下載查看

下載本文檔

GB/T 19421.1-2003層狀結晶二硅酸鈉試驗方法δ相層狀結晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法-免費下載試讀頁

文檔簡介

ICS71.060.50G12中華人民共和國國家標準GB/T：19421.1—2003層狀結晶二硅酸鈉試驗方法相層狀結晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法Testmethodsofcrystallinelayeredsodiumdisilicate-Qualitativeanalysisofdelta-crystaliinelayeredsodiumdisilicate-MethodofX-raydiffractometer2003-12-11發(fā)布2004-06-01實施中華人民共和國發(fā)布國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局

GB/T19421.1-2003前GB/T19421《層狀結晶二硅酸鈉試驗方法》分為12個部分：GB/T19421.16相層狀結品二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法；GGB/T19421.2白度的測定；B/T19421.3pH值的測定；-GB/T19421.4EDTA容量法測定鈣交換能力：GB/T19421.5EDTA容量法測定鎂交換能力;GB/T19421.6重量法測定灼燒失量；-GB/T19421.7重量法測定濕存水量；-GB/T19421.8鄰菲羅味比色法測定三氧化二鐵含量GB/T19421.9容量法測定氧化鈉含量;GB/T19421.10氟硅酸鉀容量法測定二氧化硅含量;GB/T19421.11原子吸收分光光度法測定氧化鈣含量：-GB/T19421.12原子吸收分光光度法測定氧化鎂含量。本部分為GB/T19421的第1部分。本部分的附錄A是資料性附錄。本部分由中國輕工業(yè)聯(lián)合會提出。本部分由全國表面活性劑洗滌用品標準化中心歸口。本部分起草單位：山東鋁業(yè)股份有限公司研究院、中國日用化學工業(yè)研究院本部分主要起草人：王云霞、蘇獻瑞。

GB/T19421.1-2003層狀結晶二硅酸鈉試驗方法8相層狀結晶二硅酸鈉定性分析X射線衍射儀法1范圍GB/T19421的本部分規(guī)定了層狀結品二硅酸鈉中X射線衍射儀法定性分析相層狀結品二硅酸納的方法。本部分適用于層狀結品二硅酸鈉中相層狀結品二硅酸鈉的定性分析。2原理任何一種晶體物質.都具有特定的結構參數，在給定波長的X射線輻射下,呈現出該物質特有的多晶體衍射譜圖。各相的衍射譜圖表明了該相中各元素的化學結合狀態(tài).根據多品體衍射譜圖與品體物質這種獨有的對應關系·便可將待測物質的衍射數據與各種已知物質的衍射數據對比，借以對物相做定性分析3儀器普通實驗室儀器和3.1（射線衍射儀，3.2瑪瑙研缽。3.3制樣裝置4試驗程序4.1試樣制備稱取約2g試樣,于潔凈干燥的瑪瑙研缽中研磨至5Pm以下,以用手鯰搓無顆粒感即可。將研磨好的樣品放入樣品架內，填實后輕壓制片，壓力以樣片豎起不塌落為宜。4.2測定打開設備冷卻系統(tǒng).開啟X射線衍射儀.預熱30min。啟動X射線衍射儀測控系統(tǒng)·對衍射儀進行基準校正。在CuK，輻射下,對試樣(4.1)在20為10～50°的范圍內進行掃描測量4.3數據處理使用數據處理程序，得出樣品的X射線衍射譜圖.在衍射峰位上標明品面間距(d值)。將得到的值與表1中的值對比,凡符合表1中數據的即為。相層狀結晶二硅酸

溫馨提示

  • 1. 本站所提供的標準文本僅供個人學習、研究之用，未經授權，嚴禁復制、發(fā)行、匯編、翻譯或網絡傳播等，侵權必究。
  • 2. 本站所提供的標準均為PDF格式電子版文本（可閱讀打印），因數字商品的特殊性，一經售出，不提供退換貨服務。
  • 3. 標準文檔要求電子版與印刷版保持一致，所以下載的文檔中可能包含空白頁，非文檔質量問題。

評論

0/150

提交評論