ICS7104050

G04..

中華人民共和國國家標準

GB/T19501—2013

代替

GB/T19501—2004

微束分析電子背散射衍射分析方法通則

Microbeamanalysis—Generalguideforelectronbackscatterdiffractionanalysis

2013-07-19發(fā)布2014-03-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標準化管理委員會

GB/T19501—2013

前言

本標準按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標準代替電子背散射衍射分析方法通則

GB/T19501—2004《》。

本標準與相比主要內(nèi)容變化如下

GB/T19501—2004,:

增加了規(guī)范性引用文件見第章

———(2);

增加或修改了部分術(shù)語刪除晶粒夾角見第章

———,(3);

增加了分析步驟內(nèi)容見第章

———(4);

增加分析結(jié)果發(fā)布補充內(nèi)容見第章

———(5);

增加了附錄資料性附錄

———A();

修改了測量條件見第章

———(4);

刪除了原標準中試樣的制備

———;

刪除了原標準中分析步驟

———;

刪除了原標準中測量誤差

———。

本標準由全國微束分析標準化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC38)。

本標準起草單位寶鋼集團中央研究院

:。

本標準主要起草人姚雷田青超鄭芳顧佳卿陳家光

:、、、、。

本標準所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為

:

———GB/T19501—2004。

Ⅰ

GB/T19501—2013

微束分析電子背散射衍射分析方法通則

1范圍

本標準規(guī)定了電子背散射衍射分析方法

。

本標準適用于安裝了電子背散射衍射附件的掃描電鏡和電子探針進行物相識別晶體取向顯微織

、、

構(gòu)以及晶界特性等方面的分析

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

電子探針定量分析方法通則

GB/T15074

檢測和校準實驗室能力的通用要求

GB/T27025

微束分析電子背散射衍射取向測定方法通則

ISO24173(Microbeamanalysis—Guidelinesfor

orientationmeasurementusingelectronbackscatterdiffraction)

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

電子背散射衍射electronbackscatterdiffractionEBSD

;

當入射電子束照射到高傾斜的晶體樣品時其背散射電子與原子面發(fā)生的衍射

,。

32

.

電子背散射花樣electronbackscatterpatternEBSP

;

由電子背散射衍射產(chǎn)生的具有準線性特征的并被探測器截獲的圖案即菊池帶可將其顯示在熒

、,,

光屏或照相膠片上

。

33

.

花樣中心patterncentrePC

;

熒光屏平面上的一點其垂線過電子束轟擊樣品點

,。

34

.

試樣與熒光屏的距離specimen-to-screendistanceSSD

;

花樣中心與試樣表面電子束轟擊點之間的距離

。

注如果試樣與熒光屏之間的距離變小那么將會向花樣中心方向縮小會觀察到更多的菊池帶

:,EBSP,。

35

.

Hough變換Houghtransform

能自動探測圖像內(nèi)特殊形狀特征的一種圖像處理的數(shù)學(xué)技術(shù)

。

注在中線性變換用于識別菊池帶在中的位置及取向使得花樣指數(shù)可以標定每個菊池帶

:EBSD,HoughEBSP,。

在空間中被轉(zhuǎn)化為最大值而被識別這種變換本質(zhì)上是變換的一種特例一般情況下

Hough