標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 31199-2014 計算機直接制版版基(CTP版基)表面粗糙度參數(shù)的測定》這一國家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了計算機直接制版（Computer to Plate, CTP）過程中使用的版基材料表面粗糙度參數(shù)的測量方法。標(biāo)準(zhǔn)適用于各種類型的CTP版基，包括但不限于鋁基、鋅基等。

該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)描述了用于評價CTP版基表面質(zhì)量的關(guān)鍵指標(biāo)——表面粗糙度的具體測試流程與要求。它明確了使用觸針式輪廓儀作為主要檢測工具，并且對儀器的選擇、校準(zhǔn)以及測試條件如環(huán)境溫度和濕度提出了具體的要求。此外，還定義了幾種重要的表面粗糙度參數(shù)，比如Ra（算術(shù)平均偏差）、Rz（最大高度）等，這些參數(shù)對于評估CTP版基的質(zhì)量至關(guān)重要。

在實際操作中，按照本標(biāo)準(zhǔn)進行測量時需要遵循一系列步驟：首先確定合適的采樣區(qū)域；然后根據(jù)選定的參數(shù)設(shè)置好儀器；接著開始采集數(shù)據(jù)；最后分析得到的數(shù)據(jù)并記錄結(jié)果。整個過程強調(diào)了重復(fù)性和再現(xiàn)性的重要性，以確保不同時間或由不同人員執(zhí)行測量時能夠獲得一致的結(jié)果。


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....

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  • 2014-09-03 頒布
  • 2015-05-01 實施
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GB/T 31199-2014計算機直接制版版基(CTP版基)表面粗糙度參數(shù)的測定_第1頁
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文檔簡介

ICS3704020

G80..

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T31199—2014

計算機直接制版版基CTP版基

()

表面粗糙度參數(shù)的測定

SurfaceroughnessparametersmeasurementforCTPplatesubstrate

2014-09-03發(fā)布2015-05-01實施

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局發(fā)布

中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T31199—2014

前言

本標(biāo)準(zhǔn)按照給出的規(guī)則起草

GB/T1.1—2009。

本標(biāo)準(zhǔn)由中國石油和化學(xué)工業(yè)聯(lián)合會提出

。

本標(biāo)準(zhǔn)由全國數(shù)碼影像材料與數(shù)字印刷材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會歸口

(SAC/TC432)。

本標(biāo)準(zhǔn)起草單位樂凱華光印刷科技有限公司

:。

本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人趙虎乾申士軍張偉李合成高峰方磊祁巖燕栗偉郭黃強李承凱潘展

:、、、、、、、、、、。

Ⅰ

GB/T31199—2014

計算機直接制版版基CTP版基

()

表面粗糙度參數(shù)的測定

1范圍

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了經(jīng)砂目化處理后的計算機直接制版版基版基表面粗糙度參數(shù)的測定方法

(CTP)。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于經(jīng)砂目化處理后的計算機直接制版版基版基

(CTP)。

2規(guī)范性引用文件

下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的凡是注日期的引用文件僅注日期的版本適用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于本文件

。,()。

分析實驗室用水規(guī)格和試驗方法

GB/T6682

3術(shù)語和定義

下列術(shù)語和定義適用于本文件

。

31

.

評定長度evaluationlength

ln

用于評定被評定輪廓不規(guī)則特征的長度

。

定義

[GB/T3505—2009,3.1.10]

32

.

評定輪廓的算術(shù)平均偏差arithmeticalmeandeviationoftheassessedprofile

Ra

在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值絕對值的算術(shù)平均值

。

定義

[GB/T3505—2009,4.2.1]

33

.

輪廓單元的平均寬度meanwidthoftheprofileelements

Rsm

在一個取樣長度內(nèi)輪廓單元寬度的平均值

。

定義

[GB/T3505—2009,4.3.1]

34

.

評定輪廓的陡度kurtosisoftheassessedprofile

Rku

在取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值四次方的平均值與輪廓的均方根偏差R的四次方的比值

q。

輪廓的均方根偏差R在一個取樣長度內(nèi)縱坐標(biāo)值的均方根值

q:

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