標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 4956-2003 磁性基體上非磁性覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 磁性法》相較于《GB 4956-1985》,在多個(gè)方面進(jìn)行了更新和完善,以適應(yīng)技術(shù)進(jìn)步和實(shí)際應(yīng)用的需求。首先,在標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍上,《GB/T 4956-2003》明確了該標(biāo)準(zhǔn)適用于通過磁感應(yīng)原理來(lái)測(cè)定鐵磁性基體上的非磁性涂層厚度的方法,并對(duì)不同類型的測(cè)量?jī)x器提出了具體要求。其次,在術(shù)語(yǔ)定義部分,《GB/T 4956-2003》增加了更多專業(yè)術(shù)語(yǔ)及其定義,使得文檔更加清晰易懂,有助于提高行業(yè)內(nèi)的交流效率。
此外,《GB/T 4956-2003》還對(duì)測(cè)試方法進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)定,包括但不限于樣品制備、測(cè)量條件的選擇以及如何正確使用各種類型的磁性測(cè)厚儀等。同時(shí),新版本中也加強(qiáng)了對(duì)于校準(zhǔn)程序的要求,確保測(cè)量結(jié)果的一致性和準(zhǔn)確性。另外,關(guān)于數(shù)據(jù)處理與報(bào)告編寫,《GB/T 4956-2003》給出了更具體的指導(dǎo)原則,比如誤差分析、重復(fù)性試驗(yàn)等方面的內(nèi)容都有所涉及。
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- 2003-10-29 頒布
- 2004-05-01 實(shí)施
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GB/T 4956-2003磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量磁性法-免費(fèi)下載試讀頁(yè)文檔簡(jiǎn)介
ICS25.220.40A29中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956-2003/ISO2178:1982代替GB/T4956—1985磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量磁性法Non-magneticcoatingsonmagneticsubstrates-Measurementofcoatingthickness-Magneticmethod(ISO2178:1982,IDT)2003-10-29發(fā)布2004-05-01實(shí)施中華人民共和國(guó)發(fā)布國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
中華人民共和國(guó)國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量磁性法GB/T4956-2003/1SO2178:1982中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社出版發(fā)行北京西城區(qū)復(fù)興門外三里河北街16號(hào)郵政編碼:100045電話:63787337、637874472004年3月第一版2004年11月電子版制作書號(hào):155066·1-20459如有排版錯(cuò)誤本社負(fù)責(zé)解決版權(quán)專有侵權(quán)必究舉報(bào)電話:010)68533533
GB/T4956-2003/ISO2178:1982前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用ISO2178:1982《磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量磁性法》英文版)本標(biāo)準(zhǔn)代替GB/T4956—1985《磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量磁性方法》。本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)ISO2178:1982作如下編輯性修改:a)用"本標(biāo)準(zhǔn)"代替“本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)”:b)取消了國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的前言;C)為便于使用,引用了采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn);d)增加了規(guī)范性引用文件。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)金屬與非金屬覆蓋層標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口。本標(biāo)準(zhǔn)負(fù)責(zé)起草單位:武漢材料保護(hù)研究所本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位:浙江樂清市新豐企業(yè)有限公司本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:喻暉、鐘立暢、馮永春、賈建新、鄭秀林本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:-GB/T4956-1985。
GB/T4956-2003/IS02178:1982磁性基體上非磁性覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量磁性法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用磁性測(cè)厚儀無(wú)損測(cè)量磁性基體金屬上非磁性覆蓋層(包括釉瓷和塘瓷層)厚度的方法。本方法僅適用于在適當(dāng)平整的試樣上的測(cè)量。。非磁性基體上的鎳覆蓋層厚度測(cè)量?jī)?yōu)先采用GB/T13744規(guī)定的方法。2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件.其隨后所有的修改單(不包括勤誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T12334金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則(idtISO2064)GB/T13744磁性和非磁性基體上鎳電鍍層厚度的測(cè)量(eqvISO2361)原理磁性測(cè)厚儀測(cè)量永久磁鐵和基體金屬之間的磁引力.該磁引力受到覆蓋層存在的影響;或者測(cè)量穿過覆蓋層與基體金屬的磁通路的磁阻。影響測(cè)量準(zhǔn)確度的因素下列因素可能影響覆蓋層厚度測(cè)量的準(zhǔn)確度。覆覆蓋層厚度測(cè)量準(zhǔn)確度隨覆蓋層厚度的變化取決于儀器的設(shè)計(jì)。對(duì)于薄的覆蓋層,其測(cè)量準(zhǔn)確度與覆蓋層的厚度無(wú)關(guān).為一常數(shù);對(duì)于厚的覆蓋層,其測(cè)量準(zhǔn)確度等于某一近似恒定的分?jǐn)?shù)與厚度的乘積。4.2基體金屬的磁性基體金屬磁性的變化能影響磁性法厚度的測(cè)量。為了實(shí)際應(yīng)用的目的,可認(rèn)為低碳鋼的磁性變化是不重要的。為了避免各不相同的或局部的熱處理和冷加工的影響,儀器應(yīng)采用性質(zhì)與試樣基體金屬相同的金屬校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn):可能的話,最好采用待鍍覆的零件作標(biāo)樣進(jìn)行儀器校準(zhǔn)。4.3基體金屬的厚度對(duì)每一臺(tái)儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于此臨界厚度時(shí)·金屬基體厚度增加·測(cè)量將不受基體金屬厚度增加的影響。臨界厚度取決于儀器測(cè)頭和基體金屬的性質(zhì).除非制造商有所規(guī)定,臨界厚度的大小應(yīng)通過試驗(yàn)確定。4.4邊緣效應(yīng)本方法對(duì)試樣表面的不連續(xù)敏感,因此·太靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量將是不可靠的,除非儀器專門為這類
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