ICS.19.080K04中華人民共和國國家標準CB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備InspectionnmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsTemperaturetestingequipments1996-06-17發(fā)布1997-07-01實施國家技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布

GB/T5170.2-1996前本標準是GB/T5170(電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法》系列標準之一本標準是由GB5170.2—85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法低溫試驗設備》GB5170.3—85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法高溫試驗設備》和GB5170.4—85《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度變化試驗設備》合并、修訂而成。本標準與1985年發(fā)布的標準相比，技術(shù)內(nèi)容主要有以下變化：-明確本標準主要適用于環(huán)境試驗設備在使用期間的周期檢定，以區(qū)別產(chǎn)品的型式試驗！增加了"引用標準”一章；在檢定項目中，刪除了“工作室內(nèi)壁與工作空間溫差”和“工作室內(nèi)壁輻射系數(shù)”兩個項目；-在“檢定用主要儀器”一章中，給出了儀器的精確度要求；-增加了“檢定條件”一章；-對于溫度測量點數(shù)量.設備工作空間容積由"以1m2分界"改為"以2m2分界",對于"大于2m的設備”.溫度和風速測址點由21點減少為15點-周期檢定試驗設備時,"溫度偏差”的測量時間縮短為30min;在"數(shù)據(jù)處理”中給出了“溫度偏差”的計算公式；在“檢定結(jié)果處理”中，增加了“溫度場調(diào)整值和設備儀表修正值的計算方法”,并且對合格（限用）的范圍給予了必要的說明；-標準的附錄中給出溫度波動度和溫度均勾度的檢定方法和計算公式；-刪除了部分測量記錄表格。GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法》系列標準包括以下幾部分：-GB/T5170.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法總則;-GB/T5170.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設備；-GB/T5170.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設備：-GB/T5170.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設備;-GB/T5170.9電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設備；-GB/T5170.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設備：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.11腐蝕氣體試驗設備。本標準從生效之日起，同時代替GB5170.2-85、GB5170.3—85和GB5170.4一85.本標準的附錄A和附錄B都是提示的附錄，本標準由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標準由電子工業(yè)部標準化研究所歸口。本標準主要起草單位：電子工業(yè)部第五研究所，本標準主要起草人：付文茹、謝建華、陳學進、王則燕、薛振夷，

中華人民共和國國家標準電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法GB/T5170.2-1996溫度試驗設備代替GB5170.2～GB5170.4-85InspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproductsTemperaturetestingequipments1范圍1.1本標準規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化)試驗設備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步驃、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本標準適用于對GB2423.1—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法》GB2423.2—89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法》和GB2423.22一87《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N：溫度變化試驗方法》所用試驗設備的周期檢定。本標準也適用于類似試驗設備的周期檢定。2引用標準下列標準包含的條文，通過在本標準中引用而構(gòu)成為本標準的條文。在標準出版時，所示版本均為有效。所有標準都會被修訂，使用本標準的各方應探討、使用下列標準最新版本的可能性。GB/T5170.1一1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數(shù)檢定方法總則GB2423.1—89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程、試驗A:低溫試驗方法GB2423.2—89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程武驗B：高溫試驗方法GB2423.22-87電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法3檢定項目本標準規(guī)定的檢定項目如下：-溫度偏差；溫度平均變化速率(適用于有溫度變化速率要求的試驗設備)風速：相對濕度(適用于高溫試驗設備)；溫度恢復時間(適用于有規(guī)定轉(zhuǎn)換時間