中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

JJF1179—2007

集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范

CalibrationSpecificationofHighTemperature

DynamicICBurn-inSystem

2007-06-14發(fā)布2007-09-14實(shí)施

國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

中華人民共和國(guó)

國(guó)家計(jì)量技術(shù)規(guī)范

集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范

JJF1179—2007

國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布

*

中國(guó)質(zhì)檢出版社出版發(fā)行

北京市朝陽(yáng)區(qū)和平里西街甲號(hào)

2(100013)

北京市西城區(qū)復(fù)外三里河北街號(hào)

16(100045)

網(wǎng)址

:

服務(wù)熱線

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年月第版

200781

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書號(hào)

:155026·J-2262

版權(quán)專有侵權(quán)必究

JJF1179—2007

集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)

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校準(zhǔn)規(guī)范?JJF11792007?

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CalibrationSpecificationofHigh

TemperatureDynamicICBurn-inSystem

本規(guī)范經(jīng)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局年月日批準(zhǔn)并自

2007614,

年月日起實(shí)施

2007914。

歸口單位:全國(guó)無線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)

起草單位:信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

本規(guī)范由全國(guó)無線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋

JJF1179—2007

本規(guī)范主要起草人:

王酣信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

吳京燕信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

陳大為信息產(chǎn)業(yè)部電子工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化研究所

()

參加起草人:

郭守君桂林電子科技大學(xué)

()

JJF1179—2007

目錄

范圍……………………

1(1)

引用文獻(xiàn)………………

2(1)

概述……………………

3(1)

計(jì)量特性………………

4(1)

溫度性能……………

4.1(1)

數(shù)字驅(qū)動(dòng)信號(hào)特性參數(shù)……………

4.2(2)

模擬驅(qū)動(dòng)信號(hào)特性參數(shù)……………

4.3(2)

老化板器件電源參數(shù)………………

4.4(2)

校準(zhǔn)條件………………

5(2)

環(huán)境條件……………

5.1(2)

校準(zhǔn)用計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)儀表設(shè)備………

5.2、(2)

校準(zhǔn)項(xiàng)目及校準(zhǔn)方法…………………

6(2)

設(shè)備工作正常性檢查………………

6.1(2)

高溫試驗(yàn)箱校準(zhǔn)……………………

6.2(3)

數(shù)字驅(qū)動(dòng)信號(hào)單元特性參數(shù)校準(zhǔn)…………………

6.3(4)

模擬驅(qū)動(dòng)信號(hào)單元特性參數(shù)校準(zhǔn)…………………

6.4(5)

老化區(qū)器件電源單元電壓設(shè)置校準(zhǔn)………………

6.5(6)

校準(zhǔn)結(jié)果的表述………………………

7(7)

復(fù)校時(shí)間間隔…………

8(7)

附錄集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)證書格式…………………

A(8)

JJF1179—2007

集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)校準(zhǔn)規(guī)范

1范圍

本規(guī)范適用于集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)的校準(zhǔn)

。

2引用文獻(xiàn)

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則

GB/T5170.1—1995

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.2—1996

注:使用本規(guī)范時(shí),應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本。

3概述

集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)用于對(duì)集成電路進(jìn)行高溫動(dòng)態(tài)老化試驗(yàn)主要由控制

,

機(jī)高溫試驗(yàn)箱器件電源單元信號(hào)驅(qū)動(dòng)單元等部分組成系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖見圖所

、、、,1

示

。

圖集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖

1

老化系統(tǒng)中的高溫試驗(yàn)箱用于提供集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化的高溫環(huán)境電源單元即

。

老化電源采用二級(jí)電源方式其中一級(jí)老化電源用于提供足夠功率的正負(fù)一次電壓

,,,