2011年集成電路測試技術(shù)新進展上海華嶺集成電路技術(shù)股份有限公司AllRightsReserved–SinoICTechnologyCo.,Ltd.目錄集成電路趨勢與測試測試成本與經(jīng)濟性本土化測試解決方案目錄集成電路趨勢與測試測試成本與經(jīng)濟性本土化測試解決方案IC趨勢對測試的挑戰(zhàn)---高速接口1高速接口趨勢（來源：ITRS）計算、網(wǎng)絡、消費電子中接口帶寬不斷提高作為SOC集成的一個IP，GBps/GHz高速接口得到大量的應用PCIehyper-transportQPIGDDRDisplayPortDDRUSBInfinibandSATASASFiberchannelGigabitEthernetXAUISONETOUTOIF/CEI……IC趨勢對測試的挑戰(zhàn)---高速接口2測試板上的Golden器件GoldenDeviceonTestBoard高速接口測試測試模塊TestModules外部接線的回環(huán)ExternalWiredLoopback輔以DFT的數(shù)字回環(huán)DFTassistDigitalLoopback外部儀表ExternalInstrumentation外部有源回環(huán)ExternalActiveLoopback高端ATE的選件HighendATEpincards內(nèi)部數(shù)字回環(huán)InternalDigitalLoopbackIC趨勢對測試的挑戰(zhàn)---高集成度1MCP多芯片封裝3D封裝TSVSoC系統(tǒng)級芯片SiP系統(tǒng)級封裝IC趨勢對測試的挑戰(zhàn)---高集成度2新興技術(shù)集成（MEMS、光）多管芯/多層三維硅技術(shù)

TSV(直通矽晶穿孔封裝技術(shù))容錯體系和協(xié)議多個核心多種類型I/O和電源DFT，尤其是Analog/Mixed-Signal/RFDFT并發(fā)測試自適應測試，動態(tài)測試流程

AdaptiveTestWhitePaper測試數(shù)據(jù)產(chǎn)業(yè)鏈反饋整合測試流程中IC定制/冗余修復晶圓級RF測試，全特性測試可能增加的測試環(huán)節(jié)pre-bondtestmid-bondtestpost-bondtestfinaltest目錄集成電路趨勢與測試測試成本與經(jīng)濟性本土化測試解決方案測試成本經(jīng)濟性---影響因素及對策數(shù)據(jù)量，診斷，良率學習和可追溯性接口方面的開支新封裝技術(shù)的測試需求新缺陷類型和可靠性問題測試時間和故障覆蓋率測試程序開發(fā)費用ATE利用率ATE費用和接口部件支出更先進的嵌入式儀器新連接技術(shù)系統(tǒng)級測試，以檢測潛在的缺陷及修復內(nèi)置容錯設計單臺ATE測試多晶圓服務器數(shù)據(jù)集中處理并行測試和減少引腳數(shù)量結(jié)構(gòu)測試和掃描測試壓縮BIST和DFT良率學習與自適應測試并發(fā)測試晶圓級全速測試測試成本經(jīng)濟性---并行測試多管芯并行測試并行數(shù)

2011201220132014高性能MPU,ASIC(MPU的I/O數(shù)目250個，ASIC的I/O數(shù)目在100個)晶圓測試4444成品測試4488SoC(I/O數(shù)目500個)晶圓測試4448成品測試4448低性能MCU,MPU,ASIC(I/O數(shù)目100個)晶圓測試32646464成品測試16323232混合信號&通信芯片晶圓測試4888成品測試8161616DRAM存儲器晶圓測試1152115215361536成品測試1024102420482048Flash存儲器晶圓測試1024102415361536成品測試1024204820482048射頻晶圓測試48816成品測試8161616昂貴的接口成本昂貴的測試通道或電源開銷低的并行效率并行測試效率在規(guī)模生產(chǎn)中的作用（來源：ITRS）測試成本經(jīng)濟性---并發(fā)測試支持并發(fā)測試的測試儀器支持并發(fā)測試的軟件復雜的信號接入機制信號串擾電源管理……測試成本經(jīng)濟性---自適應測試自適應測試架構(gòu)和流程（來源：ITRS）實時監(jiān)測測試結(jié)果，動態(tài)改變測試流程-添加或刪除測試，并有選擇地執(zhí)行更多的良率學習的表征和診斷數(shù)據(jù)收集；測試后的測試結(jié)果的統(tǒng)計分析（例如，整個晶圓或批次），以更好地識別離群或特立獨行的事件，可能會導致DPM或可靠性故障；從一個步驟到另一個反饋測試結(jié)果以優(yōu)化測試或重點篩查；離線數(shù)據(jù)分析，用于驅(qū)動未來的測試變化；量產(chǎn)測試監(jiān)測包括所有可用的數(shù)據(jù)實時統(tǒng)計分析，執(zhí)行更復雜的量產(chǎn)測試的報警；……目錄集成電路趨勢與測試測試成本與經(jīng)濟性本土化測試解決方案上海華嶺簡介專門從事集成電路測試技術(shù)研發(fā)、芯片驗證分析和生產(chǎn)測試。上海華嶺成立于2001年，是第一批國家鼓勵的集成電路企業(yè)。以質(zhì)為本，以用戶滿意為準，優(yōu)質(zhì)高效，提供業(yè)界快捷服務。創(chuàng)立業(yè)務宗旨公司位置位于中國集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)達的上海張江高科技園區(qū)。我們投入了大量的資源致力于新技術(shù)的開發(fā)和品質(zhì)的持續(xù)提升；我們不斷地擴大產(chǎn)能和服務范圍用以滿足客戶的需求；我們長期實踐著與客戶、供應商相互間的合作與共贏；我們每一天的工作中都履行著一個富有責任感的企業(yè)、公民對社會的承諾。承擔國家/地方科研項目“十一五”承擔或完成10多項國家重大項目國家科技重大專項-2009ZX02028極大規(guī)模集成電路生產(chǎn)測試技術(shù)及產(chǎn)業(yè)化應用國家科技重大專項-2009ZX01025-001核心電子器件評測技術(shù)國家科技重大專項-2011ZX02607-003集成電路測試公共服務平臺“十二五”科技預研-5130802050XXX測試技術(shù)研究“十一五”科技預研-51308010503XXX測試技術(shù)研究“十一五”科技預研-51308020103XXX測試技術(shù)研究國家火炬計劃項目-2010GH010262集成電路驗證測試及產(chǎn)業(yè)化服務國家重點技術(shù)改造項目-發(fā)改投資[2010]2270號12英寸極大規(guī)模集成電路生產(chǎn)線建設工信部電子發(fā)展基金專項-集成電路測試公共技術(shù)平臺工信部集成電路研發(fā)專項-數(shù)字音視頻芯片高速測試技術(shù)研究核心器件評測-XXX第三方比測-XXX第三方比測先進的技術(shù)能力國內(nèi)先進的技術(shù)能力100多人的優(yōu)秀人才隊伍承擔國家重大科技項目研發(fā)創(chuàng)新性的產(chǎn)學研用工作模式先進的45-90nm集成電路測試技術(shù)平臺本土第一條12〞芯片測試服務外包線芯片級高低溫強應力測試技術(shù)快速優(yōu)質(zhì)高效的測試服務體系遠程測試平臺研發(fā)成果載波頻率12Ghz以內(nèi)RFSoC芯片的測試SoC芯片測試：信息安全、數(shù)字音視頻、通信等串行數(shù)據(jù)速率6Gbps高速接口芯片的測試大容量存儲器測試1GSPS高速ADC芯片的測試24bits高精度ADC芯片的