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文檔簡介

第三章

表面等離子體共振技術(shù)目錄3-1表面等離子體共振(SPR)的產(chǎn)生

3-1-1SPR簡史 3-1-2金屬內(nèi)部的等離子體振動 3-1-3金屬表面的等離子體振動 3-1-4產(chǎn)生表面等離子體共振的方法3-2SPR傳感器的基本概念

3-2-1傳感器的基本原理 3-2-2傳感器的基本結(jié)構(gòu)3-3典型的SPR傳感器及其應(yīng)用3-1-1SPR簡史1902年,Wood在光學(xué)試驗中發(fā)覺SPR現(xiàn)象1941年,F(xiàn)ano說明白SPR現(xiàn)象1971年,Kretschmann結(jié)構(gòu)為SPR傳感器奠定了基礎(chǔ)1982年,Lundstr?m將SPR用于氣體的傳感(第一次)1983年,liedberg將SPR用于IgG與其抗原的反應(yīng)測定1987年,Knoll等人起先SPR成像探討1990年,BiacoreAB公司開發(fā)出首臺商品化SPR儀器表面等離子體共振(Surfaceplasmonresonance,SPR),又稱表面等離子體子共振,表面等離激元共振,是一種物理光學(xué)現(xiàn)象,有關(guān)儀器和應(yīng)用技術(shù)已經(jīng)成為物理學(xué)、化學(xué)和生物學(xué)探討的重要工具,。在金屬中,價電子為整個晶體所共有,形成所謂費(fèi)米電子氣。價電子可在晶體中移動,而金屬離子則被束縛于晶格位置上,但總的電子密度和離子密度是相同的,從整體來說金屬是電中性的。人們把這種狀況形象地稱為“金屬離子浸沒于電子的海洋中”。這種狀況和氣體放電中的等離子體相像,因此可以把金屬看作是一種電荷密度很高的低溫(室溫)等離子體,而氣體放電中的等離子體是一種高溫等離子體,電荷密度比金屬中的低。金屬板中電子氣的位移(上)金屬離子(+)位于“電子海洋”中(灰色背景),(下)電子集體向右移動 五十年頭,為了解快速電子穿過金屬箔時的能量損失,人們進(jìn)行了大量的試驗和理論工作。Pine和Bohm認(rèn)為,其中能量損失的部分緣由是激發(fā)了金屬箔中電子的等離子體振動(Plasmaoscillation),又稱為等離子體子(plasmon)。Ritchie從理論上探討了無限大純凈金屬箔中由于等離子體振動而導(dǎo)致的電子能量損失,同時也考慮了有限大金屬箔的狀況,指出:不僅等離子體內(nèi)部存在角頻率為ωp的等離子體振動,而且在等離子體和真空的界面,還存在表面等離子體振動(Surfaceplasmaoscillation),其角頻率為。Powell和Swan用高能電子放射法測定了金屬鋁的特征電子能量損失,其試驗結(jié)果可用Ritchie的理論來說明。Stern和Ferrell將表面等離子體振動的量子稱為表面等離子體子(Surfaceplasmon),探討了金屬表面有覆蓋物時的表面等離子體振動,發(fā)覺金屬表面很薄的氧化物層也會引起這種振動的明顯變更。他們還預(yù)言:由于表面等離子體振動對表面涂層的敏感,那么通過選擇合適的涂層,表面特征能量損失的值會在確定范圍內(nèi)發(fā)生變更。 除電子以外,用電磁波,如光波,也能激發(fā)表面等離子體振動。二十世紀(jì)初,Wood首次描述了衍射光柵的反常衍射現(xiàn)象,這事實上就是由于光波激發(fā)了表面等離子體振動所致。六十年頭晚期,Kretschmann和Otto接受棱鏡耦合的全內(nèi)反射方法,實現(xiàn)了用光波激發(fā)表面等離子體振動,為SPR技術(shù)的應(yīng)用起了巨大的推動作用。他們的試驗方法簡潔而奇妙,仍舊是目前SPR裝置上應(yīng)用最為廣泛的技術(shù)。(A)Kretschman(B)OttoPrismgMetalmSamples0kevkspxzPrismgSamplesMetalm0k'evksp3-1-2金屬內(nèi)部的等離子體振動因為金屬中的價電子可以自由移動,入射光可能激起電子氣的縱向振動。假如由于入射電子的作用,金屬中電子向右移動了一段距離,因此在右邊就有了電子積累。設(shè)ne為電子密度,右邊出現(xiàn)的面電荷密度為-nee,左邊的面電荷密度為+nee,則金屬的極化強(qiáng)度p為:由極化產(chǎn)生的電場Ep為:在這個電場的作用下,電子有向左移的傾向,于是產(chǎn)生了振動。假如不考慮振動能量的衰減,單位體積內(nèi)的電子氣的振動方程式為:式中m為電子的質(zhì)量,e為電子的電荷量,p為無衰減時的等離子體振動的角頻率,則或等離子體子(plasmon,又稱等離激元)的量子能量為:對金屬來說,ne≈1023/cm3,將此值代入式(5-6),可得金屬中等離子體子的量子能量約為:假如考慮了金屬內(nèi)電子的衰減,弛豫時間為τ,在外電場的存在下,電子只沿z方向運(yùn)動,則電子的運(yùn)動方程(Drude方程)為:由此可得:代入,則復(fù)數(shù)介電常數(shù)若忽視衰減,即時,有:依據(jù)等離子體理論,產(chǎn)生固體等離子體波應(yīng)滿足3-1-3金屬表面的等離子體振動上節(jié)所述的是金屬內(nèi)部的等離子體振動,即體積等離子體振動(Volumeplasmaoscillation)。而在金屬表面也存在電荷密度振動,稱為表面等離子體振動,其角頻率ωs與體積等離子體的不同,它們之間存在以下關(guān)系:若金屬表面覆蓋有介電常數(shù)為的薄層,則這種特殊表面的等離子體振動的角頻率ms為:3-1-4產(chǎn)生表面等離子體共振的方法表面等離子體振動產(chǎn)生的電荷密度波,沿著金屬和電介質(zhì)的界面?zhèn)鞑?,形成表面等離子體波(Surfaceplasmawave,SPW),其場矢量在界面處達(dá)到最大,并在兩種介質(zhì)中漸漸衰減。表面等離子體波是TM極化波,即橫波,其磁場矢量與傳播方向垂直,與界面平行,而電場矢量則垂直于界面。在半無窮電介質(zhì)和金屬界面處,角頻率為的表面等離子體波的波矢量為:式中c是真空中的光速,εm和εa分別是金屬和電介質(zhì)的介電常數(shù)。表面等離子體波的波矢量是復(fù)數(shù),因為金屬的介電常數(shù)是復(fù)數(shù)(εm=εmr+iεmi)。金屬的εmr/εmi比高,波矢量的實部分可近似為:電磁波在真空中的速度c與在不導(dǎo)電的勻整介質(zhì)中的速度v之比稱為電介質(zhì)的折射率n:在光波的頻率下,電介質(zhì)一般為非磁性的,≈1,有:則:頻率為ω的通過電介質(zhì)傳遞的光的波矢量ka為:要使光波和表面等離子體波之間發(fā)生共振,必需有:但是,電介質(zhì)中光的(ka)總是在(kspw)的左邊,從不交叉,即(kspw)<(ka)。因此,電介質(zhì)中的光不能干脆激發(fā)表面等離子體子共振(SPR),必須要設(shè)法移動(kspw)或(ka)的色散曲線的位置,使兩者相交??衫霉鈱W(xué)耦合器件,如棱鏡、光柵以及光學(xué)波導(dǎo)器件達(dá)到這一目的。棱鏡耦合

棱鏡是SPR探討中應(yīng)用最為廣泛的光學(xué)耦合器件。棱鏡由高折射率的非吸取性的光學(xué)材料構(gòu)成,其底部鍍有厚度為50nm左右的高反射率的金屬薄膜(一般為金或銀),膜下面是電介質(zhì)。在SPR傳感器中,該電介質(zhì)即為待測樣品。由光源發(fā)出的p-偏振光以確定的角度θ0入射到棱鏡中,在棱鏡與金屬的界面處將發(fā)生反射和折射。當(dāng)θ0大于臨界角θc時,光線將發(fā)生全內(nèi)反射,即全部返回到棱鏡中,然后,從棱鏡的另一個側(cè)面折射出去。這里入射光應(yīng)當(dāng)用p-偏振光,因為其電場重量與界面垂直,這與表面等離子體波的狀況一樣。在全內(nèi)反射的狀況下,電場在金屬與棱鏡的界面處并不馬上消逝,而是向金屬介質(zhì)中傳輸振幅呈指數(shù)衰減的消逝波。該消逝波沿X軸方向傳播的與表面平行的波矢重量kev為:通過調(diào)整θ0或ωa,可使kev=kspw,消逝波與表面等離子體波共振,即表面等離子體子共振,有:由上式可見,若入射光的波長確定,即ωa確定時,ns變更,則必需變更θ0以滿足共振條件;若θ0確定時,ns變更,則必需變更ωa以滿足共振條件,這可通過變更入射光的波長λ來實現(xiàn)。此時θ0和λ分別稱為共振角和共振波長。典型的SPR光譜目錄3-1表面等離子體共振(SPR)的產(chǎn)生 3-1-1SPR簡史 3-1-2金屬內(nèi)部的等離子體振動 3-1-3金屬表面的等離子體振動 3-1-4產(chǎn)生表面等離子體共振的方法3-2SPR傳感器的基本概念

3-2-1傳感器的基本原理 3-2-2傳感器的基本結(jié)構(gòu)3-3典型的SPR傳感器及其應(yīng)用3-2-1傳感器的基本原理表面等離子體子共振的產(chǎn)生與入射光的角度θ、波長、金屬薄膜的介電常數(shù)s及電介質(zhì)的折射率ns有關(guān),發(fā)生共振時θ和分別稱為共振角度和共振波長。對于同一種金屬薄膜,假如固定θ,則與ns有關(guān);固定,則θ與ns有關(guān)。假如將電介質(zhì)換成待測樣品,測出共振時的θ或,就可以得到樣品的介電常數(shù)s或折射率ns;假如樣品的化學(xué)或生物性質(zhì)發(fā)生變更,引起ns的變更,則θ或也會發(fā)生變更,這樣,檢測這一變更就可獲得樣品性質(zhì)的變更。固定入射光的波長,變更入射角,可得到角度隨反射率變更的SPR光譜;同樣地,固定入射光的角度,變更波長,可得到波長隨反射率變更的SPR光譜。SPR光譜的變更反映了體系性質(zhì)的變更。3-2-2傳感器的基本結(jié)構(gòu)一般來說,一個SPR傳感器的包括:光學(xué)系統(tǒng)、敏感元件、數(shù)據(jù)采集和處理系統(tǒng)。SPR傳感器的光學(xué)部分包含光源、光學(xué)耦合器件、角度(或波長)調(diào)整部件以及光檢測器件,用于產(chǎn)生SPR并檢測SPR光譜的變更。敏感元件主要指金屬薄膜及其表面修飾的敏感物質(zhì),用于將待測對象的化學(xué)或生物信息轉(zhuǎn)換成折射率的變更,是SPR傳感器的關(guān)鍵。從SPR的原理可知,事實上是樣品的折射率的變更引起SPR光譜的變更。假如金屬薄膜未經(jīng)任何修飾,這樣的傳感器是沒有什么選擇性的,只能用于一些簡潔體系的測定,因而一般都要進(jìn)行修飾,以獲得對被測對象的選擇性識別實力。數(shù)據(jù)采集和處理系統(tǒng)用于采集和處理光檢測器產(chǎn)生的電子信號?,F(xiàn)在光檢測器越來越多地接受陣列檢測器,如光電二極管陣列和電荷耦合器件,以便同時檢測多個角度或波特長的信號變更。數(shù)據(jù)采集和處理均由計算機(jī)完成。4種檢測方式角度調(diào)制:固定λin,變更θin波長調(diào)制:固定θin,變更λin強(qiáng)度調(diào)制:固定θin、λin,變更光強(qiáng)相位調(diào)制:固定θin、λin,測相差一個SPR傳感器的主要性能特點,如靈敏度、穩(wěn)定性、辨別率、選擇性和響應(yīng)時間等,取決于其各個組成部分的性能。SPR傳感器運(yùn)用時,一般是先在金屬薄膜表面修飾一層敏感物質(zhì),以便與樣品中的待測組分選擇性地作用。這一相互作用會引起敏感層折射率的變更,導(dǎo)致SPR信號的變更,從而獲得待測樣品的化學(xué)或生物信息。假如不對金屬薄膜進(jìn)行修飾,這樣的傳感器也可用于一些簡潔體系的檢測,如一些濃度隨折射率變更的溶液(乙醇、蔗糖、葡萄糖等的水溶液)。金和銀相對來說比較穩(wěn)定,且反射率高,是比較常用的兩種金屬。在生物體系的測量中,常常有氯離子存在,用銀膜不太合適,一般都用金膜。目錄3-1表面等離子體共振(SPR)的產(chǎn)生 3-1-1SPR簡史 3-1-2金屬內(nèi)部的等離子體振動 3-1-3金屬表面的等離子體振動 3-1-4產(chǎn)生表面等離子體共振的方法3-2SPR傳感器的基本概念

3-2-1傳感器的基本原理 3-2-2傳感器的基本結(jié)構(gòu)3-3典型的SPR傳感器及其應(yīng)用ComputerPrismLCPDGCCDAuBSample

inSampleoutGlassslideAufilmPrism0.1mmL:鹵鎢燈;C:平行光管;P:偏振片;D:光闌;G:光柵;B:玻片基于波長調(diào)制的SPR傳感器裝置葡萄糖溶液的測定SPR光譜(葡萄糖,銀膜)響應(yīng)曲線(葡萄糖,銀膜)裸金屬膜對其表面溶液的折射率變更特別敏感,可用于一些簡潔樣品的分析,此處用SPR傳感器測定了醫(yī)用葡萄糖注射液的濃度。該法所得結(jié)果與藥典法相符,可用于葡萄糖注射液生產(chǎn)過程的實時在線監(jiān)測。乙肝表面抗原(HBsAg)的測定病毒性肝炎是人群中最常見的傳染性疾病之一,對人體健康危害很大。我國是乙型肝炎的高發(fā)區(qū),人群總感染率高達(dá)60%,乙型肝炎表面抗原(HBsAg)攜帶者至少有1.2億,其中約10%最終轉(zhuǎn)化為各種慢性肝病,包括慢性肝炎、肝硬化甚至肝癌。作為乙型肝炎的早期診斷指標(biāo)之一,HBsAg的測定在臨床上具有重要意義。目前用到的臨床檢驗方法有:血細(xì)胞凝集法(PHA、RPHA)、酶聯(lián)免疫法(EIA、ELISA)、放射免疫法(RIA)、全血凝集法、斑點雜交法、聚合酶鏈反應(yīng)法(PCR)等等,其中放射免疫法較為靈敏,可檢出血清中0.1ng/mL的HBsAg,但存在放射性污染的問題。酶聯(lián)免疫吸附法(ELISA)由于簡潔、便利、快速,目前是臨床診斷中最常用的,其檢出限一般為1ng/mLHBsAg。假如能進(jìn)一步提高靈敏度,對及早發(fā)覺、診斷和治療乙型肝炎無疑具有特別重要的意義。利用胱胺將HBsAg單克隆抗體固定于金膜表面以A蛋白為連接層固定HBsAg單克隆抗體M:金膜,G:玻片,Ag:血清中的HBsAg,Ab:HBsAg單克隆抗體,PA:A蛋白胱胺固定法中HBsAg與抗體結(jié)合前后的SPR光譜圖檢測限為0.01ng/mL固定化DNA單層的電致開關(guān)行為探討固定化DNA探針的取向干脆影響到固液兩相之間的DNA雜交。固定化DNA易于被電場驅(qū)動遠(yuǎn)離或靠近固體表面,構(gòu)成一種納米尺度上的“開關(guān)”。SPR傳感技術(shù)是一種對金屬薄膜表面介質(zhì)層的折射率變更極為敏感的光學(xué)傳感技術(shù),特別適合于探討固定化單分子層的性質(zhì)。然而,假如在SPR傳感器中運(yùn)用經(jīng)典的三電極體系施加電場,對金膜本身的SPR光譜有較大影響。Knolletal.Langmuir2005,21:348-353ComputerPrismLCPDGCCDAuBSample

inSampleoutITOfilmGlassslideAufilmPrism1.34mm1.48mmEL:鹵鎢燈;C:平行光管;P:偏振片;D:光闌;G:光柵;E:直流電源;B:ITO導(dǎo)電玻璃Auglass++Au++

Au

conductivelayerglassconductivelayer++++glassconductivelayer----(A)金膜不帶電荷;(B)金膜帶負(fù)電荷;(C)金膜帶正電荷.ABC金膜表面固定化DNA探針的取向電場對金膜表面固定化DNA探針的作用

(a)金膜帶正電荷;(b)斷開電路;(c)金膜帶負(fù)電荷;(d)斷開電路.不同強(qiáng)度的電場對DNA探針的作用電場在-1.5V與1.5V間切換(1)金膜帶負(fù)電荷;(2)金膜帶正電荷(1)金膜帶負(fù)電荷;(2)金膜不帶電荷;(3)金膜帶正電荷.不同強(qiáng)度的電場對固定化DNA探針捕獲cDNA的影響電場對不同濃度cDNA雜交的影響E=1.5VCDNA=2.83nM電場對DNA雜交的作用表面覆蓋率的影響

電場(金膜與ITO導(dǎo)電玻璃之間電位差為1.5V)對不同表面覆蓋率的DNA探針的作用5.871012

電場(金膜與ITO導(dǎo)電玻璃之間的電位差為1.5V)對不同表面覆蓋率的DNA雜交的影響,cDNA濃度為5.65nmol/L基于SiO2包被金膜的納米金顆粒催化增長增加SPR傳感器及其DNA檢測應(yīng)用(Biosens.Bioelectron.2007,22,1106-1110)SiO2AuabNADH+HAuCl4dc(a)生物素化的DNA探針;(b)目標(biāo)DNA;(c)巰基DNA修飾的納米金顆粒;(d)納米金顆粒催化增長.SiO2包被金膜的納米金顆粒催化增長增加SPR傳感檢測DNA原理示意圖SiO2層對金沉積的阻擋作用

金膜SiO2包被的金膜(1)與催化增長試劑反應(yīng)前;(2)與催化增長試劑反應(yīng)后SPR傳感器:(a)cDNA,(a’)單堿基錯配DNA,(a’’)隨機(jī)DNA;納米金顆粒增加SPR傳感器:(b)cDNA,(b’)單堿基錯配DNA,(b’’)隨機(jī)DNA;納米金顆粒催化增長增加SPR傳感器:(c)cDNA,(c’)單堿基錯配DNA,(c’’)隨機(jī)DNA.不同方法檢測DNA的比較(a)cDNA;(b)單堿基錯配DNA;(c)隨機(jī)DNA;三種傳感器分別為(I)納米金顆粒催化增長增加SPR傳感器;(II)納米金顆粒增加SPR傳感器;(III)SPR傳感器.CDNA=3.3nMSensors&Actuators2007,123,227-232.(a)金膜;(b)聚電解質(zhì)自組裝多層膜(PAH/PSS)3;(c)親和素;(d)生物素化的DNA探針;(e)目標(biāo)DNA;(f)巰基DNA修飾的納米金顆粒;(g)納米金顆粒催化增長.NADH+HAuCl4gdcbafe基于聚電解質(zhì)自組裝多層膜修飾金膜的納米金顆粒催化增長增加SPR傳感器及其DNA檢測應(yīng)用聚電解質(zhì)自組裝薄膜對金屬沉積的阻擋作用不同層數(shù)的(PAH/PSS)修飾的金膜對金屬沉積的阻擋作用SPR傳感器:(a)cDNA,(a’)單堿基錯配DNA,(a’’)隨機(jī)DNA;納米金顆粒增加SPR傳感器:(b)cDNA,(b’)單堿基錯配DNA,(b’’)隨機(jī)DNA;納米金顆粒催化增長增加SPR傳感器:(c)cDNA,(c’)單堿基錯配DNA,(c’’)隨機(jī)DNA.(a)cDNA;(b)單堿基錯配DNA;(c)隨機(jī)DNA;三種傳感器分別為(I)納米金顆粒催化增長增加SPR傳感器;(II)納米金顆粒增加SPR傳感器;(III)SPR傳感器.CDNA=3.3nM不同方法檢測DNA的比較(1)氨基修飾的DNA探針固定在金膜表面后的SPR光譜;(2)與33nmol/LcDNA雜交之后的SPR光譜;(3)再與納米金顆粒標(biāo)記的巰基DNA反應(yīng)之后的SPR光譜;(4)在Au膜(vsITO導(dǎo)電玻璃)電位為-10V時用6×SSC緩沖溶液反復(fù)沖洗后的SPR光譜;(5)再生處理后的SPR光譜金膜在金膜帶負(fù)電的情況下反復(fù)沖洗DNA探針納米金顆粒標(biāo)記的巰基DNAacDNAa’b’a’b’baa’abbb’aa’再生cDNA:5-GGTTGTGAGGCGCTGCCCAAGCGA-3

Analyst2008,133(9):1274-1279基于納米金顆粒協(xié)助的電洗脫識別單堿基錯配DNA(1)氨基修飾的DNA探針固定在金膜表面后的SPR光譜;(2)與33nMsmDNA1雜交之后的SPR光譜;(3)再與納米金顆粒標(biāo)記的巰基DNA反應(yīng)之后的SPR光譜;(4)在Au膜(vsITO導(dǎo)電玻璃)電位為-8V時用6×SSC緩沖溶液反復(fù)沖洗后的SPR光譜;(5)再生處理后的SPR光譜金膜在金膜帶負(fù)電的情況下反復(fù)沖洗DNA探針納米金顆粒標(biāo)記的巰基DNAab再生smDNAa’b’’a’b’’aa’b’’bab’’a’asmDNA1:5-GGTTGTGAGGCGGTGCCCAAGCGA-3

錯配位點在與納米金顆粒標(biāo)記的巰基DNA相對應(yīng)部分smDNAa’’b’a’’b’baa’’b’aa金膜在金膜帶負(fù)電的情況下反復(fù)沖洗DNA探針納米金顆粒標(biāo)記的巰基DNAab再生smDNA6:5-GGTTGTGAGGCCCTGCCCAAGCGA-3

(1)氨基修飾的DNA探針固定在金膜表面后的SPR光譜;(2)與33nMsmDNA1雜交之后的SPR光譜;(3)再與納米金顆粒標(biāo)記的巰基DNA反應(yīng)之后的SPR光譜;(4)在Au膜(vsITO導(dǎo)電玻璃)電位為-10V時用6×SSC緩沖溶液反復(fù)沖洗后的SPR光譜;(5)再生處理后的SPR光譜錯配堿基在與金膜表面固定化DNA探針相對應(yīng)的部分(1)與33n

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