SOP-03O-11可靠性測(cè)試規(guī)

范(總8頁(yè))-CAL-FENGHAI.-(YICAI)-CompanyOnel-CAL-本頁(yè)僅作為文檔封面，使用請(qǐng)直接刪除T.hL一

SOP文件編號(hào)：S0P-030-11文件名稱：可靠性測(cè)試規(guī)范版本號(hào)：ERevisionSummary（每次創(chuàng)建或修改時(shí)使用空白表格在第一行寫(xiě)入本次變更內(nèi)容）版本號(hào)：文件生成時(shí)間：變更描述：變更原因：變更人：A2011-11-9新增新增鐘鳴B2012-11-91、名為“可靠性測(cè)試規(guī)范”2、于新增“物料認(rèn)可SOP”，調(diào)整相應(yīng)內(nèi)容以保持一致；3、整LTOL條件為PowerON/OFF；4、SL、TS后增加熱測(cè)、AVF等檢視手段；5、于非COB產(chǎn)品，材料焊在FR4板上，再進(jìn)行TS、HTS、TH等試驗(yàn)；6、試申請(qǐng)由email方式，改為以《可靠性測(cè)試申請(qǐng)單》書(shū)面方面；變更袁友行C2013-7-41、?3中新增可靠性試驗(yàn)失敗后的應(yīng)對(duì)措施。變更袁友行D2013.12.251、實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目WHTOL取消ON/OFF，時(shí)間由500HT1000H；2、光誦量失效判定標(biāo)準(zhǔn)0.7T0.9；3、增加色漂判定標(biāo)準(zhǔn)Du'v'>0.004；變更袁友行E2015.3.301、6.2實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目按照不同客戶、不同項(xiàng)目進(jìn)行區(qū)分說(shuō)明；2、6.3增加新產(chǎn)品，衍生產(chǎn)品的定義及其可靠性測(cè)試要求；變更袁友行變更人/變更人/核準(zhǔn)人員變更人/核準(zhǔn)人員變更人：核準(zhǔn)人：會(huì)簽：會(huì)簽部門(mén)：簽字、日期會(huì)簽核準(zhǔn)部門(mén)：簽字、日期#TOL4高溫高濕老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85°C,85%RH,MaxIF,30minON/OFF500h0/205高溫存儲(chǔ)HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000h0/206低溫存儲(chǔ)LTSJEITAED-4701/201Ta=-40C1000h0/207溫度沖擊TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime300cycle無(wú)死燈、缺亮0/206.2.6光引擎產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.測(cè)試項(xiàng)目Testitem參考標(biāo)準(zhǔn)Referencestandard測(cè)試條件Testcondition測(cè)試時(shí)間Testduration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C,120Vac/230Vac驅(qū)動(dòng)1000hdeltaflux三90%deltax/yW00050/32Rapid-CycleStressTest快速循環(huán)壓力測(cè)試ENERGY_STAR_Integral_LED_Lamps_Program_RequirementsV1.4Ts=85C,120Vac/230Vac驅(qū)動(dòng)，2minON/OFF1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/53高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C,120Vac/230Vac驅(qū)動(dòng)1000h供參考0/34高溫高濕老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=60C,90%RH,120Vac/230Vac驅(qū)動(dòng)1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/35溫度沖擊TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle無(wú)死燈、缺亮0/56高溫存儲(chǔ)HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三90%deltax/yW00050/37高溫高濕存儲(chǔ)THJEITAED-4701/103Ta=60C,90%RH1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/38靜電測(cè)試IEC61000-4-2(GBT17626)2KV供參考0/59浪涌測(cè)試供參考0/510抗雷擊測(cè)試供參考0/5(備注：Rapid-CycleStressTest、HT0L2測(cè)試3000h供參考；)627RG高色域產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測(cè)試項(xiàng)目Testitem參考標(biāo)準(zhǔn)Referencestandard測(cè)試條件Testcondition測(cè)試時(shí)間Testduration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C,TypicalIF1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C,TypicalIF1000h供參考0/103高溫高濕老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85C,85%RH,TypicalIF500hdeltaflux三70%deltax/yW0030/104潮氣敏感度MSLIPC/JEDECJ-STD-02085C/85%環(huán)境下吸濕12h以上9貼片9三遍回流焊無(wú)死燈、缺亮0/205溫度沖擊TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle無(wú)死燈、缺亮sequencefromMSL6高溫存儲(chǔ)HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三70%deltax/yW0030/107高溫高濕存儲(chǔ)THJEITAED-4701/103Ta=60C,90%RH1000hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/108靜電放電人體模式ESDHBMJESD22-A114ESDHBMmode2KV@85%fornormalLED,8KV@100%forLEDwithzener供參考0/209硫滲透試驗(yàn)SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個(gè)容器放入75°C烤箱中儲(chǔ)存4h.8h.12h.……供參考0/10

628FLASH產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目及判定標(biāo)準(zhǔn):No.測(cè)試項(xiàng)目Testitem參考標(biāo)準(zhǔn)Referencestandard測(cè)試條件Testcondition測(cè)試時(shí)間Testduration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested(non-COB)1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85C,MaxIF1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105C,MaxIF1000h供參考0/103高溫高濕老化WHTOLJEITAED-4701/102Ta=85C,85%RH,MaxIF500hdeltaflux三70%deltax/yW0.030/104PulsedoperatinglifeTa=25C,IF=MaxIFP,TON=400msandToff=3600ms30,000cyclesdeltaflux三90%deltax/yW0.005無(wú)死燈0/205潮氣敏感度MSL1IPC/JEDECJ-STD-02085C/85%環(huán)境下吸濕168h以上9貼片9三遍回流焊無(wú)死燈、缺亮（供參考）0/206潮氣敏感度MSLIPC/JEDECJ-STD-02085C/85%環(huán)境下吸濕12h以上9貼片9三遍回流焊無(wú)死燈、缺亮0/207溫度沖擊TSJESD22-A106B-45Cs125C,15mindwell,lessthan20sectransfertime100cycle無(wú)死燈、缺亮sequencefromMSL8高溫存儲(chǔ)HTSJEITAED-4701/201Ta=100C1000hdeltaflux三90%deltax/yW0.0050/109高溫高濕存儲(chǔ)THJEITAED-4701/103Ta=60C,90%RH1000hdeltaflux三90%deltax/yW00050/1010靜電放電人體模式ESDHBMJESD22-A114ESDHBMmode2KV@85%fornormalLED,8KV@100%forLEDwithzener供參考0/2011硫滲透試驗(yàn)SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個(gè)容器放入75C烤箱中儲(chǔ)存4h.8h.12h.……供參考0/1012熱陽(yáng)測(cè)1試TRJESD51-14供參考0/2629可靠性測(cè)試項(xiàng)目、判定標(biāo)準(zhǔn)不是一成不變的，應(yīng)適應(yīng)項(xiàng)目的實(shí)際情況，以符合客戶要求為第一準(zhǔn)則。研發(fā)工程師、物料工程師、品質(zhì)工程師可以根據(jù)項(xiàng)目的實(shí)際情況（如客戶特殊要求，特殊的加速實(shí)驗(yàn)條件等），設(shè)計(jì)特殊的測(cè)試項(xiàng)目，也可以根據(jù)實(shí)際需要申請(qǐng)延長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間；6.2.10常規(guī)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目的作業(yè)方法參考《環(huán)境實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)規(guī)范》、《老化樣品制樣操作規(guī)范》；6.2.11硫滲透試驗(yàn)（SP,sulfurpenetratetest）:將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個(gè)容器放入75°C烤箱中儲(chǔ)存，每4h測(cè)試一次或按照委托單特殊要求，當(dāng)光通量維持率低于80%時(shí)，實(shí)驗(yàn)停止。應(yīng)采取措施防止硫磺粉末、硫化試驗(yàn)箱污染其它老化烤箱。從容器中取出LED后應(yīng)立即密閉容器。6.3新產(chǎn)品、衍生產(chǎn)品可靠性測(cè)試項(xiàng)目（?代表必做，O代表選做）新產(chǎn)品在設(shè)計(jì)總結(jié)評(píng)審?fù)瓿?，即設(shè)計(jì)完成后，應(yīng)參考6.2或下表進(jìn)行驗(yàn)證；衍生產(chǎn)品是在新產(chǎn)品開(kāi)發(fā)初期有經(jīng)過(guò)全部信賴度驗(yàn)證，且所用物料也經(jīng)過(guò)正式評(píng)估導(dǎo)入的合格物料。如果衍生產(chǎn)品只涉及色溫、亮度、顯指等規(guī)格參數(shù)的變更，無(wú)需重復(fù)進(jìn)行可靠性測(cè)試；如果變更支架廠商，芯片，熒光粉，封裝膠水等物料，應(yīng)參考下表進(jìn)行驗(yàn)證；HT0LLTOLWHT0LMSLTSHTSLTSTHESD(HBM)SPTR新產(chǎn)品?O????OOOOO更換芯片????OO更換支架?O????OOO更換封裝膠?O???OOOO更換固晶膠?O???O更換金線?O??更換熒光粉??OO備注1：?代表必做，O代表選做；備注2：其中更換支架是指不變更整體結(jié)構(gòu)，只是供應(yīng)商的更換，或者支架工藝端的微小變更6.4測(cè)試報(bào)告6.4.1所有可靠性試驗(yàn)的測(cè)試數(shù)據(jù)都需要被保留在服務(wù)器上的相應(yīng)文件夾中?？煽啃怨こ處煈?yīng)該關(guān)注階段性測(cè)試數(shù)據(jù)，如果階段性數(shù)據(jù)有異常，可靠性工程師應(yīng)立即通知FA工程師分析，并及時(shí)將測(cè)試報(bào)告、分析結(jié)果反饋測(cè)試申請(qǐng)者。當(dāng)所有測(cè)試結(jié)束，可靠性工程師負(fù)責(zé)將結(jié)果總結(jié)成《可靠性測(cè)試報(bào)告》，并以郵件分發(fā)相關(guān)人員。644如果新物料、新產(chǎn)品、衍生產(chǎn)品的可靠性測(cè)試NG，可靠性工程師應(yīng)協(xié)同F(xiàn)A工程師、研發(fā)工程師進(jìn)行失效分析；可靠性測(cè)試NG的新物料、新產(chǎn)品、衍生產(chǎn)品不能被正常導(dǎo)入。6.4.5如果量產(chǎn)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試NG,可靠性工程師應(yīng)以“異常通知單”形式通知品質(zhì)工程師，并立即協(xié)同F(xiàn)A工程師、品質(zhì)工程師進(jìn)行失效分析；6.4.6品質(zhì)工程師收到“異常通知單”后應(yīng)按照品質(zhì)事故處理流程，召集品質(zhì)會(huì)議，排查、hold相關(guān)庫(kù)存，排查可能原因，并關(guān)注客戶使用情況等