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文檔簡介

硅材料生產(chǎn)技術(shù)學習通超星課后章節(jié)答案期末考試題庫2023年____也稱為溫度場,指的是熱系統(tǒng)內(nèi)的溫度分布狀態(tài)。

參考答案:

熱場

下面哪種鑄錠方法可以實現(xiàn)連續(xù)化生產(chǎn)?()

參考答案:

電磁鑄錠法

為了使晶體不斷長大,一方面要求液相必須能連續(xù)不斷地向結(jié)晶界面供應(yīng)原子,另一方面結(jié)晶界面不斷地牢靠地接納原子,晶體生長主要由后者控制。

參考答案:

從晶體的外觀可以判斷晶體是否為無位錯,<111>單晶會有()條軸對稱的“棱線”。

參考答案:

3

位錯對多晶硅的影響主要有()。

參考答案:

雜質(zhì)偏聚、沉淀,造成新的電活性中心###產(chǎn)生補償作用###擴散增強

位錯既可以接收電子也可以提供電子。

參考答案:

切割籽晶用的單晶電阻率應(yīng)高一些,這樣無論拉制低阻單晶、高阻單晶,N型的、P型的都可以用。但是已經(jīng)拉制過單晶的舊籽晶不能隨便使用,拉制過不同型號的舊籽晶也不能混用。

參考答案:

判斷收尾的時間很重要,收尾太早,容易斷苞,合格率降低;收尾太晚,造成浪費。

參考答案:

區(qū)熔單晶過程中,多晶硅棒受到____、電磁托力、____和離心力幾個方面的作用力。熔體之所以可以被支撐在單晶與棒料之間,主要是由于硅熔體____的作用。

參考答案:

表面張力###重力###表面張力

區(qū)熔硅單晶的摻雜方法主要有()。

參考答案:

填裝法###中子嬗變摻雜###氣相摻雜法###液體摻雜

單位時間內(nèi),某雜質(zhì)從熔體單位面積上蒸發(fā)出來的原子數(shù)與熔體中雜質(zhì)濃度之比稱為雜質(zhì)的____。蒸發(fā)效應(yīng)常以該常數(shù)和____來描述。

參考答案:

蒸發(fā)速度常數(shù)###時間常數(shù);蒸發(fā)時間常數(shù)

單位距離內(nèi)溫度的變化率為____。

參考答案:

溫度梯度

單晶硅片取自于____部分。

參考答案:

等徑

單晶硅生長時,熱場中溫度梯度有多種,對結(jié)晶狀態(tài)影響最大的是____,它在一定程度上決定著單晶的質(zhì)量。

參考答案:

生長界面處的溫度梯度;(dT/dr)S-L

可以通過(

)粗略判斷鑄錠多晶硅固液界面的形狀。

參考答案:

縱截面電阻率等值線###晶體生長趨勢

在低溫熱處理時,過飽和的氧一般形成____;在相對高溫熱處理或多步熱處理循環(huán)時,過飽和的氧形成____。

參考答案:

氧施主###氧沉淀

在柱狀晶生長過程中,對其形狀應(yīng)先過的主要因素是(

)。

參考答案:

熱量的傳輸;熱流;熱流的情況

在結(jié)晶前沿處,只有很薄的一層熔體是低于熔化溫度的(過冷度為1℃左右),其余部分的熔體都是處于過熱狀態(tài),這樣可以抑制自發(fā)形核,該理論為()。

參考答案:

科塞耳理論

多晶硅鑄錠主要分為噴涂、備料及____三部分工序。

參考答案:

鑄錠

多晶硅鑄錠定向凝固生長技術(shù)包括(

)。

參考答案:

澆鑄法###布里奇曼法###熱交換法###電磁鑄錠法

多晶硅鑄錠爐中保持工藝要求的關(guān)鍵是____系統(tǒng)。

參考答案:

加熱

多晶硅鑄錠爐通常由鋼結(jié)構(gòu)平臺及爐體、真空供氣系統(tǒng)、____與控制系統(tǒng)、____系統(tǒng)、水冷卻系統(tǒng)等組成。

參考答案:

電源供應(yīng)###加熱隔熱

多晶鑄錠爐的控制系統(tǒng)中____完成控制工藝的設(shè)置、控制過程的監(jiān)控及各種反饋信息,記錄整個硅結(jié)晶過程的各種參量的變化情況,生成相應(yīng)的圖表。____以智能控制系統(tǒng)為主體,完成對溫度的控制、真空度及氬氣的壓力控制、隔離籠的提升控制、多晶硅結(jié)晶的速度及冷卻水流量等的檢測。

參考答案:

上位機###下位機

多晶鑄錠爐的爐室為夾層架構(gòu),中間通冷卻水冷卻爐室表面溫度。

參考答案:

如果高溫熱處理后冷卻速率很快,金屬的擴散速率相對較慢,晶體硅中金屬為()。

參考答案:

間隙態(tài)###替位態(tài)

將界面上出現(xiàn)的周期性干擾考慮為正弦干擾,根據(jù)界面穩(wěn)定性理論,界面的穩(wěn)定性取決于正弦波的____。

參考答案:

振幅隨時間的變化率

拉制低電阻率單晶(小于10-2Ω·cm),一般選用____作摻雜劑;拉制較高電阻率的單晶(大于10-1Ω·cm),一般選用____做摻雜劑。

參考答案:

純元素###母合金

拉速曲線一般為勻速下降的線性曲線。

參考答案:

放肩角度必須適當,如果角度太小,則晶體實收率低;角度過大,容易造成熔體過冷,甚至產(chǎn)生位錯和位錯增殖。

參考答案:

晶體生長過程中引入的缺陷稱為____。

參考答案:

原生缺陷

晶核的臨界半徑rC的大小與溶體的過冷度有直接關(guān)系,過冷度越大,臨界半徑就越____。

參考答案:

晶?;ハ嘟佑|后發(fā)生核心互相吞并,吞并機制主要有(

)。

參考答案:

表面擴散機制###熱運動機制###氣相轉(zhuǎn)移機制

有效分凝系數(shù)Keff是和熔體性質(zhì)、結(jié)晶速度、雜質(zhì)的擴散系數(shù)及熔體的攪拌情況有關(guān)的一個物理量,通過()方式可以增大有Keff。

參考答案:

增大熔體粘滯系數(shù)###增大結(jié)晶速度###增加雜質(zhì)富集層或貧乏層厚度###減小擴散系數(shù)

來自熔體的原子進入下圖晶格座位,判斷下列選項中哪些順序是正確的。(

參考答案:

1=2<4=5<3

根據(jù)成分過冷理論和MS理論,固液界面形態(tài)有(a)平面狀、(b)絕對穩(wěn)定性平面、(c)枝狀、(d)胞狀。隨著凝固參數(shù)G/v的減小,固液界面形態(tài)變化順序為()

參考答案:

adcb

根據(jù)界面穩(wěn)定性理論,當溫度梯度超過一臨界值時,其穩(wěn)定化效應(yīng)會完全克服溶質(zhì)擴散的不穩(wěn)定化效應(yīng),這時無論凝固速度如何,界面總是穩(wěn)定的,這種絕對穩(wěn)定性稱為____。

參考答案:

高梯度絕對穩(wěn)定性

母合金晶體使用時切成0.5-1.0mm的薄片,是為了使用時容易碎成小塊,稱重時方便微量調(diào)節(jié)。

參考答案:

氫對于晶體硅中的主要雜質(zhì)氧作用主要表現(xiàn)為()。

參考答案:

增強氧施主生成###促進氧的擴散###增強氧沉淀生成###形成復合體

氧在硅中的分凝系數(shù)為1.25左右,因此氧濃度一般從先凝固的晶錠底部到最后凝固的晶錠上部逐漸____。

參考答案:

降低;減小;減少

氧在硅中的分凝系數(shù)大于1,因此其分布為(

)。

參考答案:

底部低上部高

氧在硅中的分凝系數(shù)大于1,因此其分布為(

)。

參考答案:

底部低上部高

氧沉淀的影響因素很多,其中哪些是氧沉淀的主要影響因素?()

參考答案:

熱處理的時間###熱處理的溫度###初始氧濃度

氮在鑄造多晶硅中的存在形式有()。

參考答案:

氮氧復合體###沉淀態(tài)###氮對

沿界面的(

)效應(yīng)會使界面趨于穩(wěn)定,(

)效應(yīng)造成界面不穩(wěn)定,這兩者時對界面穩(wěn)定性產(chǎn)生影響的互為矛盾的兩個因素。

參考答案:

擴散###界面能

電子器件在不同的溫度下性能有差異,采用一些措施抑制這種差異的影響稱為____。

參考答案:

溫度補償

界面穩(wěn)定性理論認為界面上出現(xiàn)任何周期性的干擾都可以考慮為正弦干擾,界面的穩(wěn)定性取決于正弦波的(

)。

參考答案:

振幅隨時間的變化率

目前大直徑的石英坩堝均采用____法生產(chǎn)。

參考答案:

電弧

直拉單晶硅中摻雜元素一般根據(jù)()等進行選擇。

參考答案:

熔解度###擴散系數(shù)###導電類型###分凝系數(shù)

直拉單晶硅化料過程中,溫度控制不當會造成()。

參考答案:

溫度太低,影響生產(chǎn)效率###溫度過高,影響單晶質(zhì)量,反應(yīng)過于劇烈甚至會發(fā)生噴硅現(xiàn)象###溫度過高,導致坩堝、爐壁、爐底產(chǎn)生變形###溫度過高,硅蒸氣大量聚集容易拉弧造成過流

直拉單晶硅裝料時應(yīng)該首先在底部鋪平板料,然后鋪大塊料,最后用邊角或小塊料填縫。

參考答案:

直拉單晶硅過程中使用的氬氣要進行檢測,檢測項目主要有()。

參考答案:

露點###純度###氧含量

直熔法生產(chǎn)鑄錠多晶硅的優(yōu)點有()。

參考答案:

生長的硅錠質(zhì)量較好###晶體生長過程易控制、易自動化###“原位”熱處理降低硅錠內(nèi)的熱應(yīng)力

硅不同晶面自由能不相同,導致表面自由能____的晶面優(yōu)先生長,特別是晶面吸附雜質(zhì)改變表面自由能,所以多晶硅柱狀晶生長方向不直且伴有分叉。(填高或低)

參考答案:

硅中的金屬雜質(zhì)一般以間隙態(tài)、____、復合體或____的形式存在

參考答案:

替位態(tài)###沉淀

碳在硅中主要處于替位位置,屬于非電活性雜質(zhì),因此多晶硅中的碳不影響其電學性能。

參考答案:

磁控直拉生長技術(shù)產(chǎn)生的磁致()控制了流體的運動,也減少了熔體的溫度波動,可以達到控制()的目的。

參考答案:

粘滯性、氧含量

過冷的溫度于熔點的溫度差稱為____,該值越大,結(jié)晶速度越____。

參考答案:

過冷度###快

進行熱場設(shè)計,使得硅熔體在凝固時自底部開始到上部結(jié)束,其固液界面始終保持與水平面平行,稱為____。

參考答案:

平固液界面凝固技術(shù)

通常晶體生長速度受()過程的限制。

參考答案:

硅原子在結(jié)晶界面上按晶格位置排列的速度###熔硅熱量的傳遞速度###結(jié)晶界面處結(jié)晶潛熱的釋放速度

通常硅錠的晶粒尺寸分布為()。

參考答案:

上大下小、中間大邊緣小

金屬在硅中沉淀的密度和形態(tài)與()有關(guān)。

參考答案:

形核方式###冷卻速率###擴散速率

金屬雜質(zhì)的濃度分別為上部和底部區(qū)域高,在中部的濃度較低。

參考答案:

鐵硼復合體是電活性的,能引入深能級。在200℃以上熱處理或在太陽光長時間照射時,鐵硼復合體會重新分解。

參考答案:

鑄造多晶硅不能使用微電子工業(yè)單晶硅生產(chǎn)的剩余料。

參考答案:

鑄造多晶硅中坩堝涂層的作用為()。

參考答案:

降低多晶硅中的氧、碳雜質(zhì)濃度###坩堝可能重復使用,降低生產(chǎn)成本###解決坩堝和硅料的黏滯問題

鑄造多晶硅中的碳雜質(zhì)對氧雜質(zhì)的影響有()。

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