儀器分析第三章原子發(fā)射光譜法(AES)原子發(fā)射光譜法課件1儀器分析第三章原子發(fā)射光譜法原子發(fā)射光譜法課件1本章主要內(nèi)容§3-1概述§3-2原子發(fā)射法基本原理§3-3原子發(fā)射光譜儀§3-4光譜定性及半定量分析§3-5光譜定量分析原子發(fā)射光譜法課件2本章主要內(nèi)容§3-1概述原子發(fā)射光譜法課件2原子發(fā)射光譜法：(AES—AtomicEmissionSpectrometry)根據(jù)物質(zhì)的氣態(tài)原子或離子受激發(fā)后所發(fā)射的特征光譜的波長及其強(qiáng)度來測定物質(zhì)中元素組成和含量的分析方法?！?-1概述一、原子發(fā)射光譜定義原子發(fā)射光譜法課件3原子發(fā)射光譜法：§3-1概述一、原子發(fā)射光譜二、原子發(fā)射光譜分析的基本過程

在激發(fā)光源中將被測物質(zhì)蒸發(fā)，解離，激發(fā).由激發(fā)態(tài)返回基態(tài)或低能態(tài)，輻射出不同特征波長的光，將被測定物質(zhì)發(fā)射的復(fù)合光經(jīng)分光裝置色散成光譜。

3.根據(jù)光譜的譜線位置進(jìn)行光譜定性分析，根據(jù)譜線強(qiáng)度進(jìn)行光譜定量分析。

原子發(fā)射光譜法課件4二、原子發(fā)射光譜分析的基本過程在激發(fā)光源中將被測物質(zhì)蒸發(fā)三、原子發(fā)射光譜分類

1.攝譜分析法：試樣→電光源→高能態(tài)→低能態(tài)把光分開2.光電直讀法：電光源激發(fā)，不需經(jīng)過暗室處理3.火焰光度法：火焰為激發(fā)光源（堿金屬及個(gè)別堿土金屬）分光系統(tǒng)導(dǎo)入感光板映譜儀（定性分析）測微光度計(jì)（定量分析）原子發(fā)射光譜法課件5三、原子發(fā)射光譜分類1.攝譜分析法：試樣→電光一、原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生§3-2原子發(fā)射法基本原理在通常情況下，物質(zhì)的原子處于基態(tài)，當(dāng)受到外界能量的作用時(shí)，基態(tài)原子被激發(fā)到激發(fā)態(tài)，同時(shí)還能電離并進(jìn)一步被激發(fā)。激發(fā)態(tài)的原子或離子不穩(wěn)定（壽命約10-8s），按光譜選擇定則，以光（電磁輻射）形式放出能量，躍遷到較低能級(jí)或基態(tài)，就產(chǎn)生原子發(fā)射光譜?；鶓B(tài)E*E激發(fā)態(tài)A基→A*→A+h

A+→A+*→A++h

原子發(fā)射光譜法課件6一、原子發(fā)射光譜的產(chǎn)生§3-2原子發(fā)射法基本原理發(fā)射光譜的波長取決于躍遷前后兩能級(jí)的能量差，即ΔE=E*-E=hc/λ=h

=hc

或λ=hc/ΔE

不同元素原子發(fā)射譜線的波長不同。原子結(jié)構(gòu)不同，原子的能級(jí)狀態(tài)不同，電子在不同能級(jí)間躍遷所放出的能量不同。同一種元素有許多條發(fā)射譜線，最簡單的H已發(fā)現(xiàn)譜線54條，F(xiàn)e元素譜線4~5千條。每種元素都有自己的特征譜線——定性分析的依據(jù)。原子發(fā)射光譜法課件7發(fā)射光譜的波長取決于躍遷前后兩能級(jí)的能量差，原子發(fā)射光譜法課下面介紹幾種常見的譜線1.原子線(Ⅰ)由原子外層電子受到激發(fā)而發(fā)生能級(jí)躍遷所產(chǎn)生的譜線叫原子線。以羅馬字母Ⅰ表示。Ca（Ⅰ）422.67nm為鈣的原子線。原子線有許多條。基態(tài)激發(fā)態(tài)E*E原子發(fā)射光譜法課件8下面介紹幾種常見的譜線1.原子線(Ⅰ)基態(tài)激發(fā)態(tài)E*E原子發(fā)2.離子線(Ⅱ,Ⅲ)由離子外層電子受到激發(fā)而發(fā)生躍遷所產(chǎn)生的譜線。以羅馬字母Ⅱ,Ⅲ表示：失去一個(gè)電子為一級(jí)電離，一級(jí)電離線Ⅱ失去二個(gè)電子為二級(jí)電離，二級(jí)電離線ⅢCa（Ⅱ）396.9nmCa（Ⅲ）376.2nmCa(Ⅱ)比Ca(Ⅰ)波長短，因它們電子構(gòu)型不同。離子線和原子線都是元素的特征光譜—稱原子光譜。原子發(fā)射光譜法課件92.離子線(Ⅱ,Ⅲ)原子發(fā)射光譜法課件93.共振線和主共振線共振線：由各個(gè)激發(fā)態(tài)與基態(tài)之間躍遷產(chǎn)生的譜線。包括發(fā)射共振線和吸收共振線。共振線主共振線主共振線：在共振線中，從第一激發(fā)態(tài)與基態(tài)之間躍遷產(chǎn)生的譜線稱為主共振線，也叫第一共振線。原子發(fā)射光譜法課件103.共振線和主共振線共振線主共振線主共振線：在共振線中，從第（一）譜線強(qiáng)度表達(dá)式

譜線強(qiáng)度是原子發(fā)射光譜定量分析的依據(jù)，必須了解譜線強(qiáng)度與各影響因素之間的關(guān)系。設(shè)i，j兩能級(jí)間躍遷所產(chǎn)生的譜線強(qiáng)度Iij表示Iij=NiAijEij=NiAijh

ij式中：Ni—處于較高激發(fā)態(tài)原子的密度(m-3)

Aij—i，j兩能級(jí)間的躍遷概率Eij—i，j兩能級(jí)間的能量差(J)

ij—發(fā)射譜線的頻率二、譜線的強(qiáng)度ijIij原子發(fā)射光譜法課件11（一）譜線強(qiáng)度表達(dá)式二、譜線的強(qiáng)度ijIij原子發(fā)射光譜法課當(dāng)體系在一定溫度下達(dá)到平衡時(shí)，原子在不同狀態(tài)的分布也達(dá)到平衡，分配在各激發(fā)態(tài)和基態(tài)的原子密度應(yīng)遵守波爾茲曼分布定律：Ni、N0—分別為處于i能態(tài)和基態(tài)原子密度。gi、g0—分別為i能態(tài)和基態(tài)的統(tǒng)計(jì)權(quán)重。Ei—i能態(tài)和基態(tài)之間的能量差(單位：J)k—波爾茲曼常數(shù)(1.38×10-23J·K-1或8.618×10-5ev·K-1)。T—絕對(duì)溫度（K）

gi↑、Ei↓

、T↑都會(huì)使Ni↑。但gi、Ei為定值，故只受T影響。原子發(fā)射光譜法課件12當(dāng)體系在一定溫度下達(dá)到平衡時(shí)，原子在不同狀態(tài)的分布也達(dá)到平將波耳茲曼方程式代入譜線強(qiáng)度公式中

Iij=NiAijh

ij原子線、離子線都適用統(tǒng)計(jì)權(quán)重gi/g0∝Iij躍遷概率Aij∝Iij

激發(fā)電位Ei∝-lgIij激發(fā)溫度T∝-1/lgIij——此式為譜線強(qiáng)度公式從上式看出，譜線強(qiáng)度與激發(fā)電位、溫度、處于基態(tài)的粒子數(shù)、躍遷概率有關(guān)。原子發(fā)射光譜法課件13將波耳茲曼方程式代入譜線強(qiáng)度公式中原子線、離子線都適用統(tǒng)計(jì)（二）影響譜線強(qiáng)度的因素1.激發(fā)電位Ei譜線強(qiáng)度與原子(或離子）的激發(fā)電位是負(fù)指數(shù)關(guān)系。當(dāng)N0、T一定時(shí)，激發(fā)電位越低，越易激發(fā)，Ni越多，譜線強(qiáng)度越大。元素的主共振線的激發(fā)電位最小，強(qiáng)度最強(qiáng)。每條譜線都對(duì)應(yīng)一個(gè)激發(fā)電位，反映譜線出現(xiàn)所需的能量。原子發(fā)射光譜法課件14（二）影響譜線強(qiáng)度的因素原子發(fā)射光譜法課件142.溫度T—關(guān)系較復(fù)雜T既影響原子的激發(fā)過程，又影響原子的電離過程。在一定范圍內(nèi)，激發(fā)溫度升高譜線強(qiáng)度增大，但超過某一溫度，溫度越高，原子發(fā)生電離的數(shù)目越多，原子譜線強(qiáng)度降低，離子線譜線強(qiáng)度升高。不同元素的不同譜線各有其最佳激發(fā)溫度，激發(fā)溫度與所使用的光源和工作條件有關(guān)。原子發(fā)射光譜法課件152.溫度T—關(guān)系較復(fù)雜T既影響原子的激發(fā)過程，又影響原子譜線強(qiáng)度和溫度的關(guān)系原子發(fā)射光譜法課件16譜線強(qiáng)度和溫度的關(guān)系原子發(fā)射光譜法課件163.躍遷概率Aij躍遷是原子的外層電子從高能態(tài)躍遷到低能態(tài)并發(fā)射光子的過程。躍遷概率：單位時(shí)間內(nèi)自發(fā)發(fā)射的原子數(shù)與激發(fā)態(tài)原子數(shù)之比，或者是單位時(shí)間內(nèi)每個(gè)原子由一個(gè)能級(jí)躍遷至另一能級(jí)的次數(shù)，Aij在106~109s-1之間。從式中看出躍遷概率與譜線強(qiáng)度成正比。原子發(fā)射光譜法課件173.躍遷概率Aij躍遷是原子的外層電子從高能態(tài)躍遷到低能態(tài)4.統(tǒng)計(jì)權(quán)重譜線強(qiáng)度與統(tǒng)計(jì)權(quán)重成正比g=2J+1J為原子的內(nèi)量子數(shù)2J+1為能級(jí)的簡并度5.基態(tài)原子密度譜線強(qiáng)度與基態(tài)原子密度N0成正比I∝N0

一定條件下,N0與試樣中元素含量成正比N0∝C，∴譜線強(qiáng)度也與被測元素含量成正比I∝C。

I∝C——光譜定量分析的基礎(chǔ)原子發(fā)射光譜法課件184.統(tǒng)計(jì)權(quán)重譜線強(qiáng)度與統(tǒng)計(jì)權(quán)重成正比原子發(fā)射光譜法課件18a—與譜線性質(zhì)、實(shí)驗(yàn)條件有關(guān)的常數(shù)原子發(fā)射光譜法定量分析的基本公式該式只在c低時(shí)才成立，濃度較大時(shí)，由于發(fā)生自吸現(xiàn)象，上式修正為：I=acb，（賽伯-羅馬金公式）(b為吸系數(shù)；c低b≈1，c高b﹤1）。取對(duì)數(shù)：lgI=blgc+lga在激發(fā)能、激發(fā)溫度一定時(shí)，上式各項(xiàng)均為常數(shù)，由此得出一定條件下譜線強(qiáng)度I與試樣中待測元素的濃度c成正比，即I=ac原子發(fā)射光譜法課件19a—與譜線性質(zhì)、實(shí)驗(yàn)條件有關(guān)的常數(shù)原子發(fā)射光譜法定量分析的基（三）譜線的自吸與自蝕在發(fā)射光譜中，譜線的輻射是從弧焰中心軸輻射出來的，中心部位溫度高，邊緣處的溫度較低，元素的原子或離子從光源中心部位輻射被光源邊緣基態(tài)或較低能態(tài)同類原子吸收，使發(fā)射譜線減弱——譜線自吸。譜線的自吸不僅影響譜線強(qiáng)度，還影響譜線形狀。原子發(fā)射光譜法課件20（三）譜線的自吸與自蝕在發(fā)射光譜中，譜線的輻射是從弧焰中心軸C小，原子密度低，譜線無自吸現(xiàn)象。C↑，原子密度↑，譜線便產(chǎn)生自吸現(xiàn)象。C大到一定程度，自吸現(xiàn)象嚴(yán)重，譜線從中央一分為二，稱為譜線自蝕。自吸線一般用r表示，自蝕線一般用R表示。譜線的自吸和自蝕1-無自吸2-自吸3-自蝕濃度較大時(shí)，由于自吸現(xiàn)象的存在，最靈敏線不一定是最后線。原子發(fā)射光譜法課件21C小，原子密度低，譜線無自吸現(xiàn)象。譜線的自吸和自蝕濃度較大時(shí)§3-3原子發(fā)射光譜儀常用的原子發(fā)射光譜儀有：攝譜儀；光電直讀儀；火焰分光光度計(jì)攝譜儀火焰分光光度計(jì)原子發(fā)射光譜法課件22§3-3原子發(fā)射光譜儀常用的原子發(fā)射光譜儀有：攝譜光電直讀儀原子發(fā)射光譜法課件23光電直讀儀原子發(fā)射光譜法課件23原子發(fā)射光譜法課件24原子發(fā)射光譜法課件24儀器基本構(gòu)造光源分光系統(tǒng)檢測系統(tǒng)作用試樣蒸發(fā)、原子化、激發(fā)將發(fā)射的特征光譜線分開把發(fā)射光譜記錄或檢測下來①攝譜儀電弧.火花棱鏡.光柵感光板②直讀光譜儀電弧.火花棱鏡.光柵光電倍增管③火焰分光光度計(jì)火焰濾光片棱鏡.光柵光電管或光電倍增管光譜分析儀器主要由三部分組成：光源、分光系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)原子發(fā)射光譜法課件25儀器基本構(gòu)造光源分光系統(tǒng)檢測系統(tǒng)作用試一、光源（激發(fā)源）作用:為試樣的蒸發(fā)、解離、原子化、激發(fā)提供能量對(duì)光源的要求：靈敏度高，穩(wěn)定性好，再現(xiàn)性好，使用范圍寬。光源影響檢出限、精密度和準(zhǔn)確度。光源的類型：（1）直流電弧光源（2）低壓交流電弧光源（3）高壓火花光源（4）電感耦合等離子體光源

(ICP——InductivelyCoupledPlasma)

原子發(fā)射光譜法課件26一、光源（激發(fā)源）原子發(fā)射光譜法課件261.直流電弧光源兩個(gè)碳電極為陰陽兩極，試樣裝在陽極的孔穴中，直流電弧引燃常采用高頻引燃裝置，或使上下電極接觸短路，隨即拉開，電弧被引燃。陰極產(chǎn)生的電子不斷轟擊陽極，使陽極表面形成熾熱的陽極斑，陽極頭溫度高達(dá)3800K，有利于試樣的蒸發(fā)、解離。氣態(tài)原子、離子與其它粒子碰撞激發(fā)，產(chǎn)生原子、離子的發(fā)射光譜。陽陰原子發(fā)射光譜法課件271.直流電弧光源兩個(gè)碳電極為陰陽兩極，試樣裝在陽極的孔穴中直流電弧光源電極頭溫度高，有利于試樣的蒸發(fā)；適用于難揮發(fā)物質(zhì)的定性分析?；⊙鏈囟雀?，一般達(dá)4000~7000K，激發(fā)能力強(qiáng)。分析絕對(duì)靈敏度高。穩(wěn)定性差，重現(xiàn)性不好；不適于高含量定量分析。適用于礦物、難揮發(fā)試樣的定性、半定量及痕量組分分析。原子發(fā)射光譜法課件28直流電弧光源電極頭溫度高，有利于試樣的蒸發(fā)；適用于難揮發(fā)物2.低壓交流電弧光源交流電弧具有與直流電弧相似的放電性質(zhì)。特點(diǎn)：（1）每交流半周點(diǎn)弧一次，陰極或陽極亮斑位置不固定在某一局部。因此，試樣蒸發(fā)均勻——重現(xiàn)性好。（2）電極頭的溫度比直流電弧陽極低，試樣蒸發(fā)能力差，分析絕對(duì)靈敏度低。（3）弧焰溫度高，可達(dá)4000~8000K，激發(fā)能力強(qiáng)，適用于難激發(fā)元素。（4）光源穩(wěn)定性好、重現(xiàn)性好及精密度高，適用于金屬、合金中低含量元素的定量分析。原子發(fā)射光譜法課件292.低壓交流電弧光源交流電弧具有與直流電弧相似的放電性質(zhì)。原3.高壓火花光源特點(diǎn)：（1）分析間隙電流密度高，弧焰溫度瞬間可達(dá)10000K，適用于難激發(fā)元素的定量分析。由于激發(fā)能力強(qiáng)，產(chǎn)生的譜線主要是離子線（又叫火花線）。（2）電極溫度低，蒸發(fā)能力差，適用于低熔點(diǎn)金屬和合金的定量分析。（3）光源背景大，靈敏度低，不適于分析微量和痕量元素，不宜于痕量組分分析。（4）僅適用于組成均勻的試樣（金屬、合金）。（5）比電弧法自吸小。原子發(fā)射光譜法課件303.高壓火花光源特點(diǎn)：原子發(fā)射光譜法課件30光源蒸發(fā)溫度激發(fā)溫度穩(wěn)定性應(yīng)用范圍直流電弧高(陽極)3000~40004000~7000較差礦物,純物質(zhì),難揮發(fā)元素(定性半定量分析)交流電弧中1000~20004000~8000較好金屬合金、低含量元素的定量分析高壓火花低＜＜1000瞬間可達(dá)~10000好組成均勻、含量高,易蒸發(fā)、難激發(fā)元素火焰光源1000~5000好溶液.堿金屬.堿土金屬各種光源性質(zhì)比較原子發(fā)射光譜法課件31光源蒸發(fā)溫度激發(fā)溫度穩(wěn)定性應(yīng)用范圍直流電弧高(陽極)40004.電感耦合等離子體——ICP利用高頻電感耦合的方法產(chǎn)生等離子體放電的一種裝置。由高頻發(fā)生器、等離子體炬管、感應(yīng)圈、供氣系統(tǒng)和霧化系統(tǒng)組成。高頻發(fā)生器——作用是產(chǎn)生高頻電流ICP炬管—由三層同心石英管組成。

外管：①工作氣；②冷卻氣；

中管：輔助氣（提高火焰、防止積碳、保護(hù)進(jìn)樣管）；

內(nèi)管：（又稱噴管或進(jìn)樣管）載氣。Ar氣原子發(fā)射光譜法課件324.電感耦合等離子體——ICP利用高頻電感耦合的方法產(chǎn)生等石英管外繞高頻感應(yīng)線圈,用高頻火花引燃，Ar氣被電離，相互碰撞，更多的工作氣體電離，形成等離子體，當(dāng)這些帶電離子達(dá)到足夠的導(dǎo)電率時(shí)，會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)大的感應(yīng)電流，瞬間將氣體加熱到10000K高溫。試液被霧化后由載氣帶入等離子體內(nèi)，試液被蒸發(fā)、解離、電離和激發(fā)，產(chǎn)生原子發(fā)射光譜。原子發(fā)射光譜法課件33石英管外繞高頻感應(yīng)線圈,用高頻火花引燃，ArICP工作過程ICP工作過程如下：通入Ar接通電源高頻火花引燃電離蒸發(fā)、解離、電離、激發(fā)原子發(fā)射光譜等離子體粒子加速碰撞導(dǎo)致更多原子電離等離子體形成渦流產(chǎn)生大量熱能876原子發(fā)射光譜法課件34ICP工作過程ICP工作過程如下：通入Ar接通電源高頻火花引ICP-AES特點(diǎn)1.分析靈敏度高。①溫度高(10000K)；②惰性氣氛，原子化條件好，有利于化合物分解和原子激發(fā)；③由于存在潘寧電離激發(fā)（含有大量Arm、Ar*），激發(fā)能力強(qiáng)；④載氣流速低，試樣停留時(shí)間長(1ms)。2.線性范圍寬。由于電流的趨膚效應(yīng)使相應(yīng)溫度外高內(nèi)低，避免了因外部冷原子蒸汽造成的自吸。3.電子密度高，堿金屬電離的干擾小。4.無極放電，無電極污染。5.Ar氣為工作氣體，背景干擾小。6.穩(wěn)定性很好，精密度高。相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差在1%左右。

缺點(diǎn)：儀器價(jià)格昂貴。原子發(fā)射光譜法課件35ICP-AES特點(diǎn)1.分析靈敏度高。①溫度高(10000K)二.分光系統(tǒng)作用：將試樣中待測元素的發(fā)射的特征光色散分開，按波長順序排列成光譜。種類：常用的分光元件為棱鏡和光柵兩類。棱鏡光柵原子發(fā)射光譜法課件36二.分光系統(tǒng)作用：將試樣中待測元素的發(fā)射的特征光色散分開，棱鏡與光柵分光示意圖棱鏡光柵原子發(fā)射光譜法課件37棱鏡與光柵分光示意圖棱鏡光柵原子發(fā)射光譜法課件37（一）棱鏡1.分光原理不同波長的光在同一介質(zhì)中具有不同的折射率n，可由科希公式表示：波長越長，折射率越小，不同波長的復(fù)合光通過棱鏡時(shí)，不同波長的光就會(huì)因折射率不同而分開。n:折射率A、B、C:常數(shù)λ:入射光波長原子發(fā)射光譜法課件38（一）棱鏡1.分光原理波長越長，折射率越小，不同波長的復(fù)合光2.色散能力色散能力可用色散率和分辨率表示：（1）色散率②線色散率：兩條波長相差dλ的光線被分開的距離dl。③倒線色散率：線色散率的倒數(shù)。①角色散率：兩條波長相差dλ的光線被分開的角度dθ。原子發(fā)射光譜法課件392.色散能力色散能力可用色散率和分辨率表示：②線色散率：兩條（2）分辨率分辨率：兩條恰能被分開的譜線的平均波長λ與其波長差?λ的比值。【例】某儀器能清楚地分開鐵三線(310.067，310.030，309.997nm)，求儀器的分辨率最小應(yīng)為多少。故儀器的分辨率應(yīng)為9395。原子發(fā)射光譜法課件40（2）分辨率分辨率：兩條恰能被分開的譜線的平均波長λ與其波長（一）棱鏡棱鏡攝譜儀的理論分辨率：M：棱鏡數(shù)目t：棱鏡底邊長：棱鏡線色散率①增加m可以提高分辨率。但增加m會(huì)使光強(qiáng)度減小，故最多使用3個(gè)棱鏡。②色散率由棱鏡材料和光的波長決定。對(duì)同一種材料的棱鏡，λ越小，色散率越大，分的越開。常用材料：玻璃和石英。玻璃折射率大于石英，400～800nm，選玻璃棱鏡；但200～400nm玻璃強(qiáng)烈吸收紫外光，不能采用，故此范圍波長選石英。原子發(fā)射光譜法課件41（一）棱鏡棱鏡攝譜儀的理論分辨率：M：棱鏡數(shù)目①增加（二）光柵光柵：由玻璃片或金屬片制成，上面準(zhǔn)確刻有大量寬度和距離相等的平行線條，可看做一系列等寬、等距離的透光狹縫。光柵有透射式和反射式兩種。常用的光柵為平面反射光柵，刻痕密度為1200條/mm，1800條/mm、2400條/mm。衍射：光在傳播路徑中，繞過障礙物，產(chǎn)生偏離直線傳播的現(xiàn)象。

原子發(fā)射光譜法課件42（二）光柵光柵：由玻璃片或金屬片制成，上面準(zhǔn)確刻有大量寬度和原子發(fā)射光譜法課件43原子發(fā)射光譜法課件431.光柵的色散原理

原子發(fā)射光譜法課件441.光柵的色散原理原子發(fā)射光譜法課件441.光柵的色散原理光柵色散原理光柵色散原理：當(dāng)一束平行光照在光柵上時(shí)，光線產(chǎn)生衍射，衍射光經(jīng)物鏡聚合并在焦平面上發(fā)生干涉。當(dāng)光程差是波長的整數(shù)倍時(shí)，光波互相加強(qiáng)，得到亮條紋，即譜線。不同波長的光的衍射角不同，故最終產(chǎn)生的譜線位置不同，從而達(dá)到分光的目的。原子發(fā)射光譜法課件451.光柵的色散原理光柵色散原理光柵色散原理：原子發(fā)射光譜法光柵色散公式：d（sin±sin）=KK—光譜級(jí)次，K=0,±1,±2；—衍射光波長；d—刻痕間距離,光柵常數(shù)mm—入射角；—衍射角dsin—相鄰入射光1與2的光程差dsin—相鄰衍射光1’與2’的光程差d(sin±sin)—11’與22’的總光程差衍射光和入射光在光柵法線的同側(cè)取“+”，異側(cè)取“－”原子發(fā)射光譜法課件46光柵色散公式：原子發(fā)射光譜法課件46從d(sin±sin)=K式得出如下結(jié)論(1)當(dāng)復(fù)合光以入射角照到光柵時(shí)，不同波長的光在不同衍射角的方向發(fā)生干涉，形成光譜。(2)k越大，越大，即高光譜級(jí)次具有較大的衍射角。K=0時(shí)，即零級(jí)光譜=﹣，可取任意值，不產(chǎn)生色散。(3)對(duì)給定光柵，可通過旋轉(zhuǎn)光柵獲得需要的波長范圍和光譜級(jí)次的光譜。當(dāng)入射光沿光柵法線入射時(shí)，=0，sin=0光柵公式為dsin

=K原子發(fā)射光譜法課件47從d(sin±sin)=K式得出如下結(jié)論(1)當(dāng)復(fù)合光2.光柵光譜儀的光學(xué)特性——常用色散率、分辨率和閃耀波長來表示(1)色散率——表示不同波長的光譜線色散開的能力。線色散率dl/d

:表示單位波長差的兩條譜線在焦平面上被分開的距離單位:mm/nmd光柵常數(shù),K光譜級(jí)次,f物鏡焦距dl/d

越大，儀器色散能力越強(qiáng)。多數(shù)情況下，衍射角較小(＜8°)，因此cos=1。原子發(fā)射光譜法課件482.光柵光譜儀的光學(xué)特性——常用色散率、分辨率和閃耀波長來實(shí)際工作中常用倒線色散率表示線色散率色散率與d、K、f有關(guān)，與波長基本無關(guān)。由于同一級(jí)次光譜中，光柵色散率不隨波長而改變，因此光柵光譜為均勻色散光譜。d↓,K↑,f↑,則線色散率越大，儀器的分辨能力越強(qiáng)。原子發(fā)射光譜法課件49實(shí)際工作中常用倒線色散率表示線色散率色散率與d、K、f有關(guān)，(2)分辨率理論分辨率：—譜線平均波長，△—波長差K—光譜級(jí)次，N—光柵刻痕總數(shù)l

—光柵長度(mm)，b—刻痕密度(mm-1)提高分辨率的方法：①增大K，但增大K會(huì)使光強(qiáng)度減弱，通常采用一級(jí)、二級(jí)光譜級(jí)次。②增大N，即增大l或b。實(shí)際分辨率一般僅為理論分辨率的70%~80%。原子發(fā)射光譜法課件50(2)分辨率理論分辨率：—譜線平均波長，△—波長差提（3）閃耀波長普通光柵色散后大部分能量集中在零級(jí)光譜中（不起分光作用）。為克服這種缺陷近代光譜采用了定向閃耀的辦法。將光柵刻痕刻成一定形狀，使衍射光的能量集中在所需要的光譜級(jí)次和一定波長范圍內(nèi)——閃耀光柵(強(qiáng)度定向光柵)。閃耀角：光柵法線與刻痕法線夾角。閃耀波長：輻射能量最大的波長，由閃耀角來決定。在i附近譜線強(qiáng)度都能得到加強(qiáng)。閃耀角原子發(fā)射光譜法課件51（3）閃耀波長普通光柵色散后大部分能量集中在零級(jí)光譜中（不起光柵適用的光譜范圍

K與光柵的一級(jí)閃耀波長i（1）和光譜級(jí)次K有關(guān)此范圍之外，光強(qiáng)越來越小，需適當(dāng)延長曝光時(shí)間例：WPG-100型平面攝譜儀備有兩塊光柵，一級(jí)閃耀波長

i(1)分別為300nm和570nm。據(jù)上式計(jì)算兩光柵一級(jí)光譜的使用范圍分別是為200~600nm和380~1140nm。原子發(fā)射光譜法課件52光柵適用的光譜范圍K與光柵的一級(jí)閃耀波長i（1）和光譜級(jí)3.光譜重疊及消除（1）重疊的產(chǎn)生。由光柵方程：d(sin±sin)=K，可知：當(dāng)K與的乘積相同時(shí)即出現(xiàn)光譜重疊。如波長為的一級(jí)光譜、與/2的二級(jí)光譜、/3的三級(jí)光譜，發(fā)生重疊，相互干擾。K=1×600nm=2×300nm=3×200nm即600、300、200nm譜線互相重疊，造成干擾。（2）干擾的消除使用濾光片。選用不同感光板。使用分級(jí)器，即在光路中附加一個(gè)棱鏡。原子發(fā)射光譜法課件533.光譜重疊及消除（1）重疊的產(chǎn)生。原子發(fā)射光譜法課件53分光原理不同，棱鏡折射，光柵是衍射和干涉。光譜排列，光柵光譜均勻排列，棱鏡光譜不均勻排列。分辨能力，光柵高，棱鏡低。波長使用范圍，光柵比棱鏡寬。光柵光譜有級(jí)，級(jí)間有重疊干擾，棱鏡沒有這種干擾。價(jià)格，光柵比棱鏡昂貴。（三）棱鏡與光柵的比較原子發(fā)射光譜法課件54分光原理不同，棱鏡折射，光柵是衍射和干涉。（三）棱鏡與光柵的三.檢測系統(tǒng)將原子的發(fā)射光譜記錄或檢測下來常用的檢測方法有：目視法，攝譜法和光電法三種（一）目視法用眼睛來觀察譜線強(qiáng)度的方法稱為看譜法，這種方法僅適用于可見光波段，常用的儀器叫看譜鏡。專用于鋼鐵及有色金屬的半定量分析。原子發(fā)射光譜法課件55三.檢測系統(tǒng)將原子的發(fā)射光譜記錄或檢測下來原子發(fā)射光譜法課（二）攝譜法把經(jīng)過分光系統(tǒng)分光后得到的光照在感光板上，感光板感光、顯影、定影、得到許多距離不等、黑度不同的光譜線在映譜儀上觀察譜線的位置及大致強(qiáng)度，進(jìn)行定性、半定量分析在測微光度計(jì)上測量譜線強(qiáng)（黑）度進(jìn)行定量分析攝譜步驟安裝感光板在攝譜儀的焦面上。激發(fā)試樣，產(chǎn)生光譜而感光。顯影，定影，制成譜板。測量黑度，計(jì)算分析結(jié)果。原子發(fā)射光譜法課件56（二）攝譜法把經(jīng)過分光系統(tǒng)分光后得到的光照在感光板上，感光板（1）感光板與譜線黑度感光板受光變黑程度常用黑度S表示——主要取決于曝光量H，曝光量等于感光時(shí)間t與光的強(qiáng)度I的乘積：H=It受光強(qiáng)度越大，曝光時(shí)間越長，則黑度S越大。原子發(fā)射光譜法課件57（1）感光板與譜線黑度感光板受光變黑程度常用黑度S表示——主

譜線黑度S一般用測微光度計(jì)進(jìn)行測量未感光部分的透光強(qiáng)度受光變黑部分的透光強(qiáng)度II0譜線的黑度S與照射在感光板上的曝光量H有關(guān)，關(guān)系復(fù)雜，用乳劑特性曲線描述.I0I0原子發(fā)射光譜法課件58譜線黑度S一般用測微光度計(jì)進(jìn)行測量未感光部分的透光強(qiáng)度受乳劑特性曲線BC為直線部分，S與lgH成正比，可進(jìn)行定量分析。用直線方程表示：

S=

（lgH-lgHi）

—線性部分斜率，稱為乳劑的反襯度，表示乳劑在曝光量改變時(shí)黑度變化的快慢。lgHi—線性部分在橫軸上的截矩,Hi稱惰延量,表示感光板的靈敏度。（2）乳劑特性曲線曝光過量曝光正常曝光不足lgHi

lgHSBACD0原子發(fā)射光譜法課件59乳劑特性曲線BC為直線部分，S與lgH成正比，可進(jìn)行定

，Hi是感光板的重要特性對(duì)一定乳劑，

lgHi為常數(shù)，用i表示S=

(lgH-lgHi）=

lgH-i

S=

lgIt-i譜線黑度S與譜線強(qiáng)度的關(guān)系式曝光量H=It定量分析時(shí)，宜選用反襯度高的紫外Ⅰ型感光板定性分析時(shí)，宜選用靈敏度較高的紫外Ⅱ型感光板原子發(fā)射光譜法課件60，Hi是感光板的重要特性對(duì)一定乳劑，lgHi為常數(shù)，攝譜法的優(yōu)缺點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn)：①可同時(shí)記錄整個(gè)波長范圍的譜線。②分辨能力強(qiáng)。③可用增加曝光時(shí)間的方法來增加譜線的黑度。缺點(diǎn)：操作繁瑣，檢測速度慢。原子發(fā)射光譜法課件61攝譜法的優(yōu)缺點(diǎn)：優(yōu)點(diǎn)：缺點(diǎn)：原子發(fā)射光譜法課件61（三）光電法——利用光電倍增管作光電轉(zhuǎn)換元件，把代表譜線強(qiáng)度的光信號(hào)轉(zhuǎn)化成電信號(hào)，把電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字顯示出來?！怆姳对龉苁悄壳肮庾V儀器中應(yīng)用最多的。

優(yōu)點(diǎn)：準(zhǔn)確度較高（相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差為1%）；檢測速度快，線性響應(yīng)范圍寬

缺點(diǎn)：價(jià)格昂貴，維護(hù)費(fèi)用高；定性能力差，固定通道的儀器只能測定有限的固定元素。

原子發(fā)射光譜法課件62（三）光電法——利用光電倍增管作光電轉(zhuǎn)換元件，把代表譜線強(qiáng)度四、儀器類型（一）攝譜儀原子發(fā)射光譜法課件63四、儀器類型（一）攝譜儀原子發(fā)射光譜法課件63（二）光電直讀光譜儀原子發(fā)射光譜法課件64（二）光電直讀光譜儀原子發(fā)射光譜法課件64（三）火焰分光光度計(jì)利用火焰做激發(fā)光源，應(yīng)用光電檢測系統(tǒng)測量被激發(fā)元素發(fā)射的輻射強(qiáng)度。常用于堿金屬、鈣等幾種譜線簡單元素的測定。原子發(fā)射光譜法課件65（三）火焰分光光度計(jì)利用火焰做激發(fā)光源，應(yīng)用光電檢測系統(tǒng)儀器裝置①光源：包括噴霧器、霧化室和噴燈。試液經(jīng)噴霧器分散在壓縮空氣中成為霧，然后與可燃?xì)怏w混合，在噴燈上燃燒，待測組分被激發(fā)發(fā)射譜線。②光學(xué)系統(tǒng)：包括濾光片、光柵等，目的在于分離不需要的譜線，讓被測元素靈敏線通過。③光電檢測系統(tǒng)。

火焰光度法分析示意圖1.光源系統(tǒng)2.光學(xué)系統(tǒng)3.檢測系統(tǒng)123原子發(fā)射光譜法課件66儀器裝置①光源：包括噴霧器、霧化室和噴燈。試液經(jīng)噴霧器分火焰光度法中的干擾堿金屬之間相互增強(qiáng)激發(fā)。酸特別是硫酸、磷酸能使堿金屬和堿土金屬輻射減弱。鋁的存在會(huì)使鈣的輻射降低。有機(jī)溶劑（如甲醇、丙酮等）能增強(qiáng)堿金屬的輻射以及影響試液的霧化和激發(fā)。

因此，分析時(shí)應(yīng)使被測試液與標(biāo)準(zhǔn)溶液的組成盡量一致。原子發(fā)射光譜法課件67火焰光度法中的干擾堿金屬之間相互增強(qiáng)激發(fā)。原子發(fā)射光譜法課件§3-4光譜定性及半定量分析一．光譜定性分析原子發(fā)射光譜法是理想的、快速的定性方法，可測70多種元素。（一）光譜定性分析原理各種元素的原子結(jié)構(gòu)不同，在激發(fā)光源的作用下，得到的特征光譜不同。確定存在某元素的條件：只要在光譜中找出某元素的2-3條靈敏線，一般就可以確定該元素存在。①不要求對(duì)元素的每條譜線都進(jìn)行鑒別；②只根據(jù)一條靈敏線不能確定元素的存在。原子發(fā)射光譜法課件68§3-4光譜定性及半定量分析一．光譜定性分析原子發(fā)射靈敏線靈敏線——元素譜線中最容易激發(fā)或激發(fā)電位較低的譜線。即有一定強(qiáng)度,能標(biāo)記某元素存在的特征譜線。（最易激發(fā)或激發(fā)能較低的譜線—主共振線）主共振線的激發(fā)能越低，產(chǎn)生的譜線波長越長，靈敏線大都在長波區(qū)—可見、近紅外區(qū)，如：堿金屬主共振線的激發(fā)能越高，產(chǎn)生的譜線波長越短，靈敏線大都在遠(yuǎn)紫外區(qū)，如：非金屬及惰性金屬主共振線的激發(fā)能中等，產(chǎn)生的譜線在中波區(qū)—近紫外、可見區(qū)大部分金屬及部分非金屬。原子發(fā)射光譜法課件69靈敏線靈敏線——元素譜線中最容易激發(fā)或激發(fā)電位較低的譜線。即最后線當(dāng)元素濃度稀釋到一定程度時(shí)，堅(jiān)持到最后的譜線。譜線強(qiáng)度與試樣中元素的含量有關(guān)，當(dāng)元素的含量減少時(shí)，其譜線數(shù)目亦相應(yīng)減少，隨著元素含量減少而最后消失的譜線稱為該元素的最后線。最后線往往就是元素的最靈敏線，即元素的主共振線。但是，當(dāng)試樣中元素含量較高時(shí)，由于產(chǎn)生譜線自吸現(xiàn)象，元素的最后線有時(shí)不是最靈敏線。

最容易辨認(rèn)的元素的多重線組稱為該元素的特征線組，如鐵元素的四重線組（301.62nm、301.76nm、301.90nm、302.06nm）。

原子發(fā)射光譜法課件70最后線當(dāng)元素濃度稀釋到一定程度時(shí)，堅(jiān)持到最后的譜線。最容易用來進(jìn)行定性分析或定量分析的特征譜線稱為分析線。元素的分析線應(yīng)該具備以下基本條件:它是元素的靈敏線，具有足夠的強(qiáng)度和靈敏度;是元素的特征線組；是無自吸的共振線；不應(yīng)與其它干擾譜線重疊。

分析線原子發(fā)射光譜法課件71用來進(jìn)行定性分析或定量分析的特征譜線稱為分析線。元素的分析線（二）光譜定性分析的方法原子發(fā)射光譜定性分析一般采用攝譜法。按照分析目的和要求不同，可分為指定元素分析和全部組分元素分析兩種。目前確認(rèn)譜線最常用的方法有標(biāo)準(zhǔn)光譜圖比較法和標(biāo)準(zhǔn)試樣光譜比較法。原子發(fā)射光譜法課件72（二）光譜定性分析的方法原子發(fā)射光譜定性分析一般采用攝譜法。1．標(biāo)準(zhǔn)試樣光譜比較法如果只分析少數(shù)幾種指定元素，同時(shí)這幾種元素的純物質(zhì)又比較容易得到時(shí)，采用該方法比較方便。樣品純物質(zhì)(指定元素)并列攝譜只適合于少數(shù)指定元素的定性分析,即判斷樣品中是否含有某種或某幾種指定元素時(shí),可用此種方法。在映譜儀上對(duì)譜線進(jìn)行比較，如果試樣光譜中有譜線與純物質(zhì)光譜波長在相同位置，則說明試樣中存在這些元素原子發(fā)射光譜法課件731．標(biāo)準(zhǔn)試樣光譜比較法如果只分析少數(shù)幾種指定元素，同2.標(biāo)準(zhǔn)光譜圖比較法—鐵光譜比較法鐵的光譜線較多，大約有4600條，波長分布范圍較寬210—660nm之間，每條譜線的波長都已精確測定，通過把鐵光譜當(dāng)作一把標(biāo)尺，在放大20倍的純鐵光譜圖上方準(zhǔn)確標(biāo)示出68種元素的靈敏線——按波長的位置、相對(duì)強(qiáng)度原子線、離子線。制成“元素標(biāo)準(zhǔn)光譜圖”—鐵光譜圖。原子發(fā)射光譜法課件742.標(biāo)準(zhǔn)光譜圖比較法—鐵光譜比較法鐵的光譜線較多元素標(biāo)準(zhǔn)光譜圖原子發(fā)射光譜法課件75元素標(biāo)準(zhǔn)光譜圖原子發(fā)射光譜法課件75樣品純鐵樣并列攝譜定性分析時(shí)：把攝得的譜板在映譜儀上放大20倍，使純鐵光譜與標(biāo)準(zhǔn)鐵光譜圖對(duì)齊，看樣品光譜上的譜線與哪個(gè)元素的譜線重合，則可認(rèn)為可能存在該元素。此法可同時(shí)進(jìn)行多種元素的定性分析。對(duì)于光譜定性分析，除了可給出試樣中存在哪些元素外，還可據(jù)譜線的強(qiáng)弱來判斷哪些元素是主要成分，哪些元素為微量成分。樣品光譜鐵光譜原子發(fā)射光譜法課件76樣品并列攝譜定性分析時(shí)：把攝得的譜板在映譜儀（三）光譜定性分析工作條件的選擇1．光譜儀

一般選用色散率較大的中型攝譜儀。對(duì)光譜線復(fù)雜、譜線干擾嚴(yán)重，如稀土元素等，可采用色散率大的大型攝譜儀。2．激發(fā)光源

根據(jù)試樣和分析目的進(jìn)行選擇。定性分析——直流電弧電極頭溫度高，有利于試樣蒸發(fā)，絕對(duì)靈敏度高，常用作定性分析激發(fā)光源。電流強(qiáng)度，一般在5~20A。3．感光板及曝光時(shí)間的選擇定性分析——一般采用靈敏度高的紫外Ⅱ型感光板。曝光時(shí)間適當(dāng)：既要有足夠的曝光時(shí)間，又要防止過度曝光使背景增大。4.狹縫為了減少譜線的重疊干擾和提高分辨率，攝譜時(shí)狹縫應(yīng)小一些，5~7

m為宜。原子發(fā)射光譜法課件77（三）光譜定性分析工作條件的選擇1．光譜儀原子發(fā)射光譜法課二、光譜半定量分析實(shí)際工作中常常需對(duì)試樣中組成元素的含量作粗略估計(jì)。在鋼材、合金的分類，礦石品級(jí)的評(píng)定以及在光譜定性分析中，除需要給出試樣中存在那些元素外，還需要給出元素的大致含量。這時(shí)可用半定量分析法快速、簡便的解決問題。半定量分析法的準(zhǔn)確度較差。光譜半定量分析的依據(jù)是：譜線的強(qiáng)度和譜線的出現(xiàn)情況與元素含量有關(guān)。常用的半定量分析法有譜線黑度比較法和譜線呈現(xiàn)法。

原子發(fā)射光譜法課件78二、光譜半定量分析實(shí)際工作中常常需對(duì)試樣中組成元素的含量作粗（一）譜線黑度比較法在映譜儀上用目視法直接比較試樣和標(biāo)樣光譜中元素分析線的黑度，從而估計(jì)試樣中待測元素的含量。若試樣與某標(biāo)樣黑度相等，表明待測元素與此標(biāo)樣的含量近似。該法的準(zhǔn)確度取決于被測試樣與標(biāo)樣基體組成的相似程度。試樣標(biāo)準(zhǔn)系列或標(biāo)樣并列攝譜原子發(fā)射光譜法課件79（一）譜線黑度比較法在映譜儀上用目視法直接比較試樣和標(biāo)樣光譜(二)譜線呈現(xiàn)法(又稱顯線法)譜線的數(shù)目隨著元素含量的增加，靈敏線、次靈敏線和其它較弱的譜線也會(huì)依次出現(xiàn)，預(yù)先配制一系列濃度不同的標(biāo)樣，在一定條件下攝譜。據(jù)不同濃度下出現(xiàn)譜線及強(qiáng)度情況繪成關(guān)系表——譜線與含量關(guān)系表——譜線呈現(xiàn)表。以后根據(jù)某一譜線是否出現(xiàn)來估計(jì)試樣中該元素的大致含量。若試樣光譜中鉛的分析線僅283.31nm、261.42nm、280.20nm三條譜線清晰可見，根據(jù)譜線呈現(xiàn)表可判斷試樣中Pb的質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0.003%。優(yōu)點(diǎn)：不需要每次配制標(biāo)樣，方法簡便快速。原子發(fā)射光譜法課件80(二)譜線呈現(xiàn)法(又稱顯線法)譜線的數(shù)目隨著元素含量的增加，鉛的譜線呈現(xiàn)表wPb/%譜線波長及其特征0.001283.31nm清晰，261.42nm和280.20nm譜線很弱0.003283.31nm和261.42nm譜線增強(qiáng)，280.20nm譜線清晰0.01上述各線均增強(qiáng)，266.32nm和287.33nm譜線很弱0.03上述各線均增強(qiáng)，266.32nm和287.33nm譜線清晰0.1上述各線均增強(qiáng)，不出現(xiàn)新譜線0.3上述各線均增強(qiáng)，239.38nm和257.73nm譜線很弱1.0上述各線均增強(qiáng)，240.20nm、241.17nm、244.38nm和244.62nm譜線很弱原子發(fā)射光譜法課件81鉛的譜線呈現(xiàn)表wPb/%譜線波長及其特征0.001283.3§3-5光譜定量分析一、光譜定量分析的基本原理（一）光譜定量分析的基本關(guān)系式

原子發(fā)射譜線強(qiáng)度I與濃度成正比—定量分析依據(jù)I=acbc低b≈1，c高b﹤1

a與光源、蒸發(fā)、激發(fā)等條件及試樣組成有關(guān)。b為自吸系數(shù)，與譜線性質(zhì)有關(guān)b≤1。lgI=blgc+lga光譜定量分析的基本關(guān)系式0lgclgI光譜定量分析工作曲線原子發(fā)射光譜法課件82§3-5光譜定量分析一、光譜定量分析的基本原理a以lgI對(duì)lgc作圖，所得曲線在一定范圍內(nèi)為一直線。當(dāng)元素含量較高時(shí)，譜線產(chǎn)生自吸，b<1，曲線發(fā)生彎曲。lgI-lgc關(guān)系曲線的直線部分可作為元素定量分析的標(biāo)準(zhǔn)曲線。這種測定方法稱為絕對(duì)強(qiáng)度法。要求實(shí)驗(yàn)條件恒定，無自吸現(xiàn)象，實(shí)際上很難做到，通常采用相對(duì)強(qiáng)度法——內(nèi)標(biāo)法，可消除實(shí)驗(yàn)條件對(duì)測定結(jié)果的影響。0lgclgI光譜定量分析工作曲線（1）絕對(duì)強(qiáng)度法原子發(fā)射光譜法課件83以lgI對(duì)lgc作圖，所得曲線在一定范圍內(nèi)為一直線（2）相對(duì)強(qiáng)度法（內(nèi)標(biāo)法）待測元素的譜線中選一條譜線——分析線內(nèi)標(biāo)元素的譜線中選一條譜線——內(nèi)標(biāo)線設(shè)分析線和內(nèi)標(biāo)線的強(qiáng)度分別為I和Ii，則

分析線I=a

c

b內(nèi)標(biāo)線Ii=aicibi分析線對(duì)原子發(fā)射光譜法課件84（2）相對(duì)強(qiáng)度法（內(nèi)標(biāo)法）待測元素的譜線中選一條譜線——分析（二）內(nèi)標(biāo)法光譜定量分析原理內(nèi)標(biāo)法是通過測量譜線相對(duì)強(qiáng)度進(jìn)行定量分析的方法，又稱相對(duì)強(qiáng)度法。在被測元素的譜線中選一條靈敏線——分析線在基體元素（或定量加入的其他元素）的譜線中選一條譜線——內(nèi)標(biāo)線。發(fā)射內(nèi)標(biāo)線的元素稱為內(nèi)標(biāo)元素。分析線I1=a1c1b1

內(nèi)標(biāo)線I2=a2c2b2分析線對(duì)原子發(fā)射光譜法課件85（二）內(nèi)標(biāo)法光譜定量分析原理內(nèi)標(biāo)法是通過測量譜線相對(duì)強(qiáng)度進(jìn)行分析線與內(nèi)標(biāo)線的絕對(duì)強(qiáng)度的比值稱為分析線對(duì)的相對(duì)強(qiáng)度。根據(jù)分析線對(duì)的相對(duì)強(qiáng)度與待測元素含量的關(guān)系來進(jìn)行定量分析?？上庠捶烹姴环€(wěn)等因素帶來的影響。分析線對(duì)的相對(duì)強(qiáng)度R可表示為：令a1/I2=A；c1—c；b1—b則上式改寫為：R=Acb取對(duì)數(shù)：lgR=lgI1/I2=blgc+lgA內(nèi)標(biāo)法光譜定量分析的基本公式。（1）濃度與譜線相對(duì)強(qiáng)度的關(guān)系原子發(fā)射光譜法課件86分析線與內(nèi)標(biāo)線的絕對(duì)強(qiáng)度的比值稱為分析線對(duì)的相對(duì)強(qiáng)度。分析線（2）濃度與黑度的關(guān)系當(dāng)分析線對(duì)的譜線所產(chǎn)生的黑度均落在乳劑特性曲線的直線部分時(shí)，對(duì)于分析線和內(nèi)標(biāo)線分別得到:分析線S1=

1lgI1t1-i1內(nèi)標(biāo)線S2=

2lgI2t2-i2在同一塊感光板上，乳劑特性、曝光時(shí)間、顯影條件相同，則γ1=γ2=γ，i1=i2=i。所以分析線對(duì)的黑度差：ΔS=S1-S2=γlgI1/I2

或ΔS=γlgR，lgR=blgc+lgA

∴ΔS=γblgc+γlgA攝譜法光譜定量分析公式原子發(fā)射光譜法課件87（2