專用于提升SRAM成品率的測試芯片的設(shè)計的開題報告一、選題背景SRAM芯片是一種存儲器件，廣泛應(yīng)用于計算機(jī)、通信等高科技領(lǐng)域，占據(jù)了市場很大份額。由于SRAM芯片結(jié)構(gòu)復(fù)雜，制造過程繁瑣，因此成品率也難以保證。提升SRAM成品率對于企業(yè)生產(chǎn)效益及產(chǎn)品質(zhì)量有著重要的意義。本項(xiàng)目旨在設(shè)計一款用于提升SRAM成品率的測試芯片，以保證產(chǎn)品的質(zhì)量與穩(wěn)定性，降低生產(chǎn)成本。二、選題意義眾所周知，SRAM存儲器是一種在現(xiàn)代數(shù)字電路中廣泛使用的元器件，因其高速、低功耗、易于集成和操作而受到了廣泛的青睞。尤其在高速、低功耗計算機(jī)、通信、媒體處理、移動設(shè)備等應(yīng)用中，SRAM成為了必不可少的組成部分。但是，SRAM芯片的制造過程十分復(fù)雜，由于各種原因而導(dǎo)致的制造缺陷難以避免，即使是高質(zhì)量的生產(chǎn)線也難以做到百分之百的成品率。因此，提升SRAM芯片的成品率對于企業(yè)生產(chǎn)效益、產(chǎn)品質(zhì)量和市場競爭力具有非常重要的意義。現(xiàn)階段國內(nèi)外對于提升SRAM成品率的研究較為充分，但是SRAM芯片制造過程中的諸多限制和無法控制的因素使得SRAM成品率的提升始終成為其生產(chǎn)制造中所面臨的一個難題。本項(xiàng)目的目標(biāo)是設(shè)計并實(shí)現(xiàn)一種高效可靠的測試芯片，通過針對SRAM芯片制造過程的特點(diǎn)和各種影響成品率的因素的處理和控制，從而提高SRAM芯片的成品率。三、文獻(xiàn)綜述（1）周艷，楊靜.基于測試結(jié)構(gòu)的0.18μmSRAM成品率提高方案[J].軟件,2017.該文研究的主要內(nèi)容是提高SRAM成品率的測試結(jié)構(gòu)設(shè)計。文章提出了一種基于多組合引腳的測試結(jié)構(gòu)，在保證測試速度的同時可以有效地提高SRAM成品率。（2）L.Sunita,G.S.Visokona.基于后驗(yàn)證調(diào)節(jié)的2TSRAM存儲器穩(wěn)定性優(yōu)化[J].模擬和數(shù)字信號處理,2018.該文研究的主要內(nèi)容是通過后驗(yàn)證調(diào)節(jié)對2TSRAM存儲器進(jìn)行穩(wěn)定性優(yōu)化，以提高SRAM存儲器的質(zhì)量和穩(wěn)定性。文章研究了調(diào)節(jié)SRAM存儲器的偏置電流和引腳等關(guān)鍵參數(shù)，提高其產(chǎn)品質(zhì)量和穩(wěn)定性。（3）趙科軍,李玉明.基于自適應(yīng)比較的SRAM成品率提高技術(shù)研究[J].計算機(jī)工程,2021.該文研究了一種基于自適應(yīng)比較的SRAM成品率提高技術(shù)。文中提出一個基于比較器自適應(yīng)初始電壓和共模電壓的檢測技術(shù)，使得多個單元可以被測試，從而有效地提高SRAM芯片的成品率。四、選題目標(biāo)本項(xiàng)目的目標(biāo)是設(shè)計一種高效、可靠的測試芯片，通過針對SRAM芯片制造過程的特點(diǎn)和各種影響成品率的因素的處理和控制，在保證測試速度的同時有效地提高SRAM芯片的成品率，以成本最小化的方式增加生產(chǎn)效益，同時也提高SRAM芯片產(chǎn)品的質(zhì)量和穩(wěn)定性。五、項(xiàng)目計劃該項(xiàng)目計劃分為以下幾個階段：1、文獻(xiàn)調(diào)研階段（1個月）：對相關(guān)的文獻(xiàn)進(jìn)行閱讀和整理，了解當(dāng)前國內(nèi)外SRAM成品率的提高研究狀況。2、設(shè)計階段（2個月）：在了解文獻(xiàn)和需求后，進(jìn)行設(shè)計方案的討論和制定，并進(jìn)行相關(guān)算法的設(shè)計和實(shí)現(xiàn)。3、測試階段（2個月）：建立測試芯片并進(jìn)行系統(tǒng)測試，得到測試數(shù)據(jù)并進(jìn)行相關(guān)分析。4、報告編寫階段（1個月）：對項(xiàng)目整體工作進(jìn)行總結(jié)和歸納，撰寫項(xiàng)目報告，同時撰寫SCI論文。六、預(yù)期成果本項(xiàng)目預(yù)期的成果如下：1、設(shè)計實(shí)現(xiàn)一款可提高SRAM芯片成品率的測試芯片。2、通過測試芯片有效提高SRAM成品率，從而對企業(yè)