JJF1072—20001齒厚卡尺校準規(guī)范1范圍本校準規(guī)范適用于分度值(分辨力)為0.01mm、0.02mm,測量范圍為模數(shù)1~50mm的齒厚卡尺的校準。2引用文獻本規(guī)范引用下列文獻:JJF1001—1998通用計量術(shù)語及定義JJF1002—1998國家計量檢定規(guī)程編寫規(guī)則JJF1059—1999測量不確定度評定與表示GB/T6316—1996齒厚游標(biāo)卡尺JB6080—1992電子數(shù)顯齒厚卡尺使用本規(guī)范時,應(yīng)注意使用上述引用文獻的現(xiàn)行有效版本。3概述齒厚卡尺主要用于測量齒輪的固定弦齒厚和分度圓弦齒厚,其主要結(jié)構(gòu)形式為游標(biāo)式(見圖1)和電子數(shù)顯式(見圖2)。4計量性能要求4.1標(biāo)尺標(biāo)記寬度和標(biāo)記寬度差齒厚卡尺的主標(biāo)尺和游標(biāo)尺標(biāo)記寬度和標(biāo)記寬度差見表1的規(guī)定。表1分度值標(biāo)尺標(biāo)記寬度標(biāo)尺標(biāo)記寬度差0.020.08~0.150.024.2量爪測量面及齒厚量爪端面的表面粗糙度Ra值不大于0.20μm。4.3齒高量爪測量面的平面度無目力可見的光隙。4.4齒高量爪測量面與齒厚量爪端面的平行度不大于0.01mm。2不大于0.01mm游標(biāo)上的“零”標(biāo)記和“尾”標(biāo)記與主標(biāo)尺相應(yīng)標(biāo)記應(yīng)重表2的規(guī)定?！傲恪睒?biāo)記重合度“尾”標(biāo)記重合度31h時間內(nèi)變化不大于0.01mm。齒厚尺與齒高尺均不超過±0.02mm。不超過±0.03mm。5通用技術(shù)要求5.1.1齒厚卡尺表面應(yīng)鍍層均勻、光澤一致、標(biāo)尺標(biāo)記清晰，無銹蝕、碰傷、鍍層脫5.1.3使用中和修理后的齒厚卡尺，允許有不影響使用準確度的外觀缺陷。JJF1072—200045.2各部分相互作用5.2.1尺框沿尺身移動應(yīng)手感平穩(wěn),無阻滯或松動現(xiàn)象,數(shù)字顯示應(yīng)清晰、完整、無黑斑和閃跳現(xiàn)象。各按鈕功能可靠、工作穩(wěn)定。5.2.2制動螺釘?shù)淖饔脩?yīng)可靠,微動裝置的空程,新制造的不超過1/4轉(zhuǎn),使用中和修理后的不超過1/2轉(zhuǎn)。5.3各部分相對位置5.3.1游標(biāo)尺標(biāo)記表面棱邊至主標(biāo)尺標(biāo)記表面的距離不大于0.2mm。5.3.2齒厚量爪合并時,無論尺框緊固或松開,量爪測量面間無目力可見的光隙。5.3.3齒厚量爪合并時,兩量爪端面應(yīng)處在同一平面上,在兩測量棱間無目力可見的光隙。6校準要求6.1環(huán)境條件6.1.1校準齒厚卡尺的室內(nèi)溫度為(20±8)℃。6.1.2校準齒厚卡尺的室內(nèi)濕度不超過80%RH。6.1.3校準前,將被校準齒厚卡尺放在室內(nèi)平衡溫度時間不少于2h。6.2校準項目和校準工具齒厚卡尺的校準項目及相應(yīng)校準工具見表3。表3校準工具1外觀 2各部分相互作用—3各部分相對位置2級塞尺,1級刀口形直尺4標(biāo)尺標(biāo)記寬度和標(biāo)記寬度差工具顯微鏡或讀數(shù)顯微鏡5量爪測量面及齒厚量爪端面的表面粗糙度表面粗糙度比較樣塊6齒高量爪測量面的平面度1級刀口形直尺7齒高量爪測量面與齒厚量爪端面的平行度3級量塊,1級平板或2級平晶8示值變動性3級量塊,1級平板或2級平晶9零值誤差3級量塊,1級平板或2級平晶10數(shù)字顯示器的示值穩(wěn)定度 11示值誤差3級(或6等)量塊1級平板或2級平晶12綜合誤差標(biāo)準圓柱或光面塞規(guī)56.3.3.1目力觀察或用2級塞尺校準。6.3.3.2目力觀察或用1級刀口形直尺以光隙法校準。用工具顯微鏡(或用讀數(shù)顯微鏡)。以主標(biāo)尺和游標(biāo)尺的標(biāo)記應(yīng)至少各抽測3條。用1級刀口形直尺以光隙法校準。6.3.7齒高量爪測量面與齒厚量爪端面的平行度在齒高量爪的測量面與1級平板(或2級平晶)之間墊一塊2～3mm的3級量塊(量塊長邊與齒厚卡尺尺身平行放置),將兩齒厚量爪的端面和平板(或平晶)工作面接觸，用微動裝置使齒高量爪測量面和量塊工作面接觸(見圖3),觀察齒高量爪測量面在相同條件下移動尺框在任意位置上，使量爪測量面與量塊或平板(平晶)重復(fù)接觸10次并讀數(shù)。示值變動性以最大最小讀數(shù)差值確定。6.3.9.1移動齒厚尺尺框，用微動裝置使兩量爪測量面接觸，借助放大鏡檢查游標(biāo)66.3.9.2在齒高量爪測量面與1級平板(或2級平晶)工作面之間墊一塊尺寸等于測量下限的3級量塊(量塊長邊與齒厚卡尺尺身垂直放置)。將兩齒厚量爪端面與平板(或平晶)工作面接觸，再用微動裝置使齒高量爪測量面與量塊工作面接觸，借助放大鏡檢查游標(biāo)“零”標(biāo)記和“尾”標(biāo)記與齒高尺主標(biāo)尺相應(yīng)標(biāo)記的重合度。該項校準，應(yīng)在尺框緊固與松開的兩種狀態(tài)下進行，校準齒高尺時，無論尺框緊固與否，量爪測量面與量塊工作面接觸應(yīng)能正?；瑒?。6.3.10數(shù)字顯示器的示值穩(wěn)定性目力觀察。在測量范圍內(nèi)的任意位置緊固尺框。在1h時間內(nèi)顯示值的變化不大于規(guī)定值。6.3.11示值誤差用3級(或6等)量塊校準，校準點應(yīng)均勻分布在主標(biāo)尺和游標(biāo)尺的3個位置上。例如，校準模數(shù)1～18mm齒厚卡尺，齒厚尺與齒高尺的校準點分別為7.2mm,14.5mm,21.8mm3點和4.2mm,8.5mm,13.8mm3點。齒厚尺用量塊直接校準，齒高尺借助1級平板(或2級平晶)用量塊校準。校準時，量塊工作面長邊和量爪測量面長邊應(yīng)垂直(見圖4、圖5)。校準應(yīng)在尺框緊固與松開兩種狀態(tài)下進行，無論尺框緊固與否，量爪測量面與量塊工作面接觸應(yīng)能正常滑動。接觸時，應(yīng)使用微動裝置。各點示值誤差以該點讀數(shù)值與量塊尺寸之差確定。6.3.12綜合誤差用直徑偏差不超過±0.002mm、圓度不超過0.001mm的兩個標(biāo)準圓柱或光面塞規(guī)校準(見圖6),圓柱直徑按表4選用。校準前，先計算弦高h值和相應(yīng)的弦長S值，并均取至小數(shù)后第二位。弦高h按下式計算：d——標(biāo)準圓柱(或光面塞規(guī))的直徑(mm);7α?——基本齒形角(),為了讀數(shù)方便，可將h值的小數(shù)第二位變?yōu)榕紨?shù)，然后代入下式求其相對應(yīng)的弦表4S=2√dh—h2如模數(shù)1～18mm的齒厚卡尺用φ5mm標(biāo)準圓柱進行校準，基本齒形角為20°時，由公式(1)計算h為1.645mm,將小數(shù)第二位變?yōu)榕紨?shù)1.64mm,代入公式(2)得S值為4.69mm.JJF1072—20008校準時,按(1)式求得的值定好齒高量爪的位置,緊固尺框,使齒高量爪測量面長邊垂直靠在標(biāo)準圓柱上,移動齒厚尺尺框,用微動裝置使齒厚量爪與標(biāo)準圓柱可靠接觸,在齒厚尺上讀出弦長S1值。S1與S之差即為綜合誤差。6.4校準結(jié)果的處理和復(fù)校時間間隔6.4.1校準后的齒厚卡尺,填發(fā)校準證書。6.4.2復(fù)校時間間隔可根據(jù)使用的具體情況由送校單位自行確定,建議一般不超過1年。建議采取定期比對以考察量值溯源的可靠性。附錄A校準證書封面格式(實驗室名稱)(校準證書編號)被校準設(shè)備型號規(guī)格出廠編號/系列編號生產(chǎn)廠委托方名稱及地址校準地點校準日期(實驗室簽章)校準人簽發(fā)人(簽發(fā)日期)本校準證書無校準人員簽名及實驗室簽章無效。復(fù)制本校準證書必須保持其完整性,否則須經(jīng)簽發(fā)實驗室的書面許可。JJF1072—2000附錄B校準證書內(nèi)容校準證書的內(nèi)容應(yīng)排列有序,清晰,并包括下列內(nèi)容:1)標(biāo)題:校準證書;2)實驗室名稱及地址;進行校準的地點;3)證書編號,頁碼及總頁數(shù);4)委托方的名稱及地址;5)