時間窗口設(shè)置方法最上分區(qū)的時間窗口的起始位置應(yīng)設(shè)置為直通波到達接收探頭前05us以上。時間窗口的終正位置應(yīng)設(shè)置為所檢測深度范圍的最大值。最下分區(qū)的時間窗口的起始位置應(yīng)向上覆蓋相鄰檢測分區(qū)深度范圍的l/4o最下分區(qū)的時間窗口的終止位置應(yīng)設(shè)置為底面反射波到達接收探頭后0.5us以上。掃查方式一般采用非平行掃查作為基本掃查方式，用于缺陷的快速探測以及缺陷長度、缺陷自身高度的測定，可大致測定缺路深度。當非平行掃查的初始底面育區(qū)高度較大或探頭聲束不能有效覆蓋檢測區(qū)域時，可對相應(yīng)檢測區(qū)域增加偏置非平行掃查。靈敏度設(shè)置方法最上分區(qū)也可將直通波的波幅設(shè)定到滿屏高的40%~80%將最下通道時間窗口內(nèi)各反射體產(chǎn)生的最弱的衍射信號波幅設(shè)置為滿屏高度的40%-80%作為靈敏度深度校準找到8,12,25側(cè)孔將標準反射體校準為已知深度找到40,60,80側(cè)孔將標準反射體校準為已知深度初始表面盲區(qū)測定初始掃查面育區(qū)高度的確定應(yīng)采用實測法。應(yīng)采用掃查面盲區(qū)高度試塊進行測量。將設(shè)置好的掃查裝置分別對不同深度側(cè)孔進行掃查，能發(fā)現(xiàn)的最小深度橫孔上沿所對應(yīng)的深度即為初始掃查面旨區(qū)局度。底面盲區(qū)計算t 工件厚度；X——偏離焊縫中心線的距離（此處為底面檢測區(qū)域?qū)挾鹊囊话耄㏒ 探頭中心間距的一半表面盲區(qū)補充檢查當初始掃查面盲區(qū)高度大于1mm時宜米用脈沖反射法超聲波檢測（詳見超聲波檢查操作指導書）底面盲區(qū)補充檢查當初始底面盲區(qū)圖度大于1mm時宜米用偏置非平行掃查偏置量為檢測區(qū)域?qū)挾鹊膌/4o橫向缺陷測定檢測評定橫向缺陷時應(yīng)將各線靈敏度提高6dB。可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使斜探頭與焊縫中心線成不大于10。角度，做兩個方向的斜平行掃查。工藝驗證操作指導書在首次應(yīng)用時應(yīng)進行工藝驗證驗證在對比試塊上進行，TOFD圖像應(yīng)能清晰顯示試塊上的人工缺陷測量尺寸應(yīng)盡量接近實際尺寸。掃查步進工件厚度12-150mm時掃查步進不大于1.0mm掃查速度位置傳感器校準至少應(yīng)移動500nlm將所顯示的位移與實際位移進行比較其誤差應(yīng)不大于1%掃查要求1..掃查時實際掃查路徑偏差不超過探頭中心距10%2.每次掃查長度不超過2000mm.若直通波、地面反射波降低12dB或耦合不好時應(yīng)重新掃查整個區(qū)域。.若直通波滿屏或噪聲超過滿屏的20%應(yīng)降低增益重新掃查。檢測操

作程序

和掃查

次序檢測操作程序檢測操

作程序

和掃查

次序1、TOFD檢測前，應(yīng)先采用磁粉檢測方法對內(nèi)表面和外表面進行表面檢測。2、磁粉檢測合格后，進行TOFD相關(guān)掃查。3、對掃查的TOFD圖譜進行初步評判。4、對表面盲區(qū)及TOFD圖譜可疑部位進行脈沖反射法超聲檢測，并做相關(guān)記錄。TOFD掃查次序：檢測標識說明及檢測不意圖檢測標識說明：檢測標識說明及檢測不意圖. 檢測前應(yīng)在被檢焊縫附近進行檢測位置標識，標證內(nèi)容至少包括掃查起好點、分段掃查長度一般為不大于2m。掃查方向、分段掃查標識，起始點用“0”表示，掃查方向用箭頭“一”表示。檢測示意圖：工作性能檢查要求1、每次檢測前應(yīng)對位置傳感器進行檢查，檢查方式是使帶位置傳感器的掃查裝置移動500nnn.將檢測設(shè)備所顯示的移與實際位移進行比較，其誤差應(yīng)小于5mm.2、在實際掃查前，應(yīng)檢查檢測靈教度及深度顯示具體要求，詳見NB/T47013.10-2015標準的規(guī)定。檢測記錄要求:1、應(yīng)按照現(xiàn)場操作的實際情況詳細記錄檢測過程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)應(yīng)記錄內(nèi)容詳見公司TOFD工藝規(guī)程附件。2、繪制出檢測示意圖，以實現(xiàn)可追溯性。其他要求數(shù)據(jù)評定要求其他要求1、應(yīng)對每個TOFD掃查圖像進行評定，并填寫評定記錄。2、TOFD圖像分析結(jié)果中，可記錄缺陷應(yīng)記錄和測定缺陷位置與尺寸，并按照標準委求進行質(zhì)量分級。3、應(yīng)重點關(guān)注TOFD直通波變化情況，防止近表面缺陷漏評，誤評。工藝驗證要求:1、采用TOFD-C試塊進行工藝驗證。2、在合適靈敏度條件下，TOFD圖像應(yīng)能清晰顯示對比試塊中對應(yīng)分區(qū)內(nèi)的標準反射體。輔助檢測要求:對于發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部可疑部位按照NB/T47013.3-2015標準進行超聲檢