2023-02-01實(shí)施國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì) I 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語和定義 14型式與基本參數(shù) 4.2基本參數(shù) 25要求 25.1外觀 25.2材料 25.3尺架 35.4相互作用 35.5測(cè)力裝置 35.6測(cè)量面 35.7標(biāo)尺 45.8校對(duì)量桿 45.9最大允許誤差、測(cè)量面的平行度公差、尺架變形量 46檢驗(yàn)條件 46.1檢驗(yàn)溫度及濕度 6.2等溫條件 47檢驗(yàn)方法 7.1尺架 47.2相互作用 47.3測(cè)量面的平面度 47.4測(cè)量面的平行度 7.5測(cè)量面的硬度 57.6最大允許誤差 58標(biāo)志與包裝 5I本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替GB/T1217—2004《公法線千分尺》,與GB/T1217—2004相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動(dòng)外，主要技術(shù)變化如下：a)刪除了分度值0.005mm的公法線千分尺(見2004年版的第1章),將最大測(cè)量范圍擴(kuò)大到了500mm(見第1章);b)刪除了范圍中測(cè)微頭量程要求(見2004年版的第1章);c)更改了公法線千分尺的定義(見3.1);d)刪除了最大允許誤差的定義(見2004年版的3.2);e)型式中增加了鴨嘴型公法線千分尺(見4.1.3);f)增加了公法線千分尺基本參數(shù)的要求(見4.2);g)增加了對(duì)相互作用的要求(見5.4.2);h)刪除了鎖緊裝置的要求(見2004年版的5.6);i)更改了圓盤型公法線千分尺和鴨嘴型公法線千分尺平行度公差的規(guī)定值(見5.9和表1,2004年版的5.7.3和表1);j)增加了相互作用的檢驗(yàn)方法(見7.2);k)增加了測(cè)量面硬度的檢驗(yàn)方法(見7.5);1)更改了最大允許誤差的檢驗(yàn)方法(見7.6,2004年版的6.4)。請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任。本文件由中國機(jī)械工業(yè)聯(lián)合會(huì)提出。本文件由全國量具量儀標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC132)歸口。本文件起草單位：青海量具(常州)有限公司、成都工具研究所有限公司、成都新成量工具有限公司、桂林量具刃具有限責(zé)任公司、青海量具刃具有限責(zé)任公司、哈爾濱量具刃具集團(tuán)有限責(zé)任公司、中國計(jì)量大學(xué)、浙江雙鴻科技有限公司、桂林廣陸數(shù)字測(cè)控有限公司。本文件于1986年首次發(fā)布，2004年第一次修訂，本次為第二次修訂。11范圍本文件規(guī)定了公法線千分尺(不包括電子數(shù)顯公法線千分尺)的型式與參數(shù)、要求、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)本文件適用于分度值為0.01mm、0.001mm、0.002mm,測(cè)量范圍小于或等于500mm的公法線千分尺(不包括電子數(shù)顯公法線千分尺)。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T1216外徑千分尺GB/T1800.2產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)線性尺寸公差I(lǐng)SO代號(hào)體系第2部分：標(biāo)準(zhǔn)公差帶代號(hào)和孔、軸的極限偏差表GB/T17163幾何量測(cè)量器具術(shù)語基本術(shù)語GB/T17164幾何量測(cè)量器具術(shù)語產(chǎn)品術(shù)語3術(shù)語和定義GB/T17163、GB/T17164界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。公法線千分尺micrometerformeasuringroottangentlengthsofgearteeth利用螺旋副原理，對(duì)弧形尺架上兩圓盤形或鴨嘴形測(cè)量面間分隔的距離進(jìn)行讀數(shù)的專用于齒輪公法線的測(cè)量器具。4型式與基本參數(shù)4.1型式4.1.1公法線千分尺的型式見圖1、圖2所示。圖示僅供圖解說明，不表示詳細(xì)結(jié)構(gòu)。4.1.2圓盤形公法線千分尺的測(cè)量面為旋轉(zhuǎn)式或直進(jìn)式。4.1.3鴨嘴形公法線千分尺的測(cè)量面為直進(jìn)式。2標(biāo)引序號(hào)說明：1——測(cè)砧；2——測(cè)量面；3——測(cè)微螺桿。圖1測(cè)量面為圓盤形公法線千分尺的型式示意圖標(biāo)引序號(hào)說明：1——測(cè)砧；2——測(cè)量面；3——測(cè)微螺桿。圖2測(cè)量面為鴨嘴形公法線千分尺的型式示意圖4.2基本參數(shù)4.2.1公法線千分尺測(cè)微螺桿的螺距宜為0.5mm、1mm。4.2.2公法線千分尺的量程宜為25mm。4.2.3測(cè)微螺桿伸出尺架的光滑圓柱部分的公稱直徑宜選擇6.5mm、7.5mm或8.0mm。4.2.4測(cè)量上限≤100mm的公法線千分尺測(cè)量面的半徑宜為10mm～12.5mm,盤頭邊緣厚度≤0.7mm;測(cè)量上限>100mm的公法線千分尺測(cè)量面的半徑宜為15mm～20mm,盤頭邊緣厚度≤0.9mm;鴨嘴形測(cè)量面的寬度宜為6mm。5要求5.1.1公法線千分尺表面不應(yīng)有影響外觀和使用性能的裂痕、劃傷、碰傷、銹蝕、毛刺等缺陷。5.1.2公法線千分尺表面的鍍、涂層不應(yīng)有脫落和影響外觀的色澤不均等缺陷。35.2材料5.2.1尺架應(yīng)選擇鋼、可鍛鑄鐵或其他性能類似的材料制造。5.2.2測(cè)微螺桿和測(cè)砧應(yīng)選擇合金工具鋼、不銹鋼或其他性能類似的材料制造；測(cè)量面宜鑲硬質(zhì)合金或其他耐磨材料。5.3.1尺架應(yīng)具有足夠的剛性。當(dāng)尺架沿測(cè)微螺桿軸線方向作用10N的力時(shí)，其變形量不應(yīng)大于表1的規(guī)定。單位為毫米測(cè)量范圍最大允許誤差平行度公差尺架變形量圓盤形鴨嘴形0～25、25～500.0040.0040.0030.00250～75、75～1000.0050.0050.0040.003100～125、125～1500.0060.0060.0040.004150～175、175～2000.0070.0060.0050.005200～225、225～2500.0080.0070.0050.006250～275、275～3000.0090.0070.0060.007300～325、325～3500.0100.0090.0080.008350～375、375～4000.0110.0090.0080.009400～425、425～4500.0120.0110.0100.010450～475、475～5000.0130.0110.0100.011注：公法線千分尺的測(cè)量范圍跨越表1分擋時(shí)，按測(cè)量范圍的上限查表。5.3.2尺架上宜安裝隔熱裝置。5.4相互作用5.4.1測(cè)微螺桿和螺母之間在全量程范圍內(nèi)應(yīng)充分嚙合，配合良好，不應(yīng)出現(xiàn)卡滯和明顯竄動(dòng)。5.4.2測(cè)微螺桿伸出尺架的光滑圓柱部分與軸套之間的配合應(yīng)良好，不應(yīng)出現(xiàn)明顯的徑向擺動(dòng)。徑向擺動(dòng)值宜不大于0.01mm。5.5測(cè)力裝置公法線千分尺應(yīng)具有測(cè)力裝置。通過測(cè)力裝置移動(dòng)測(cè)微螺桿，并作用到測(cè)微螺桿測(cè)量面與球面接觸的測(cè)量力應(yīng)在3N～6N之間，測(cè)量力變化不應(yīng)大于2N。5.6測(cè)量面5.6.1測(cè)量面的平面度公差不應(yīng)大于1μm。5.6.2在規(guī)定的測(cè)力范圍內(nèi)，兩測(cè)量面的平行度公差不應(yīng)大于表1的規(guī)定。5.6.3合金工具鋼測(cè)量面的硬度不應(yīng)小于740HV(或61.8HRC);不銹鋼測(cè)量面的硬度不應(yīng)小于4552HV(或52.5HRC)。硬質(zhì)合金或其他耐磨材料測(cè)量面的硬度可不做要求。應(yīng)符合GB/T1216的規(guī)定。5.8校對(duì)量桿5.8.1測(cè)量范圍下限大于0mm的公法線千分尺應(yīng)提供校對(duì)量桿。測(cè)量范圍的下限為0mm的公法線千分尺，允許在非零位置校準(zhǔn)，制造商宜提供對(duì)應(yīng)位置的校對(duì)裝置。5.8.2合金工具鋼校對(duì)量桿的硬度不應(yīng)小于740HV(或61.8HRC);不銹鋼校對(duì)量桿的硬度不應(yīng)小于5.8.3校對(duì)量桿的尺寸偏差按GB/T1800.2應(yīng)為js2。5.8.4校對(duì)量桿宜具有隔熱裝置。5.9最大允許誤差、測(cè)量面的平行度公差、尺架變形量公法線千分尺的示值最大允許誤差、測(cè)量面的平行度公差、尺架變形量應(yīng)符合表1的規(guī)定。6檢驗(yàn)條件6.1檢驗(yàn)溫度及濕度檢驗(yàn)時(shí)的溫度為(20±5)℃,濕度不超過85%RH。6.2等溫條件檢驗(yàn)前，受檢杠桿千分尺和檢驗(yàn)用器具在檢定溫度條件下的平衡溫度時(shí)間應(yīng)不小于2h。7檢驗(yàn)方法先校對(duì)好公法線千分尺零位，將尺架測(cè)砧一端固定，在尺架測(cè)微螺桿一端作用100N的力，然后按相同方式重新校對(duì)零位，讀取零位誤差，將兩次零位之差按10N力的比例換算，求出尺架變形量。7.2相互作用一般情況下用手感檢驗(yàn)相互作用，手感不得有明顯的軸向竄動(dòng)和徑向擺動(dòng)。有異議時(shí)，檢驗(yàn)方法按照GB/T1216的規(guī)定。7.3測(cè)量面的平面度測(cè)量面的平面度誤差可用二級(jí)光學(xué)平晶檢驗(yàn)。平晶應(yīng)調(diào)整到使其干涉帶的數(shù)量盡可能少或使其產(chǎn)生干涉環(huán)，一條干涉帶等于0.3μm。在距測(cè)量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平面度忽略不計(jì)。7.4測(cè)量面的平行度7.4.1測(cè)量上限不大于100mm的圓盤形公法線千分尺的測(cè)量面的平行度誤差用四塊(測(cè)量面為直進(jìn)式時(shí)可只用一塊量塊)尺寸大于測(cè)量下限的2級(jí)量塊檢驗(yàn)，量塊之間的尺寸差近似于測(cè)微螺桿螺距的1/4。檢測(cè)時(shí)，將公法線千分尺緊固在夾具上，在距測(cè)量面邊緣2mm～3mm范圍內(nèi)的兩測(cè)量面之間相5互垂直的四個(gè)位置，分別放入量塊進(jìn)行測(cè)量，得到每組4次讀數(shù)中的最大值與最小值之差，取4個(gè)差值中的最大值作為測(cè)量面的平行度誤差。7.4.2測(cè)量上限大于100mm的圓盤形公法線千分尺的測(cè)量面的平行度誤差使用4根(測(cè)量面為直進(jìn)式時(shí)可只用1根)尺寸大于測(cè)量下限的專用檢棒檢驗(yàn)，檢棒之間的尺寸差近似于測(cè)微螺桿螺距的1/4。檢測(cè)時(shí)，將公法線千分尺緊固在夾具上，在距測(cè)量面邊緣2mm～3mm范圍內(nèi)的兩測(cè)量面之間相互垂直的四個(gè)位置，分別放入檢棒進(jìn)行測(cè)量，得到每組4次讀數(shù)中的最大值與最小值之差，取4個(gè)差值中的最大值作為測(cè)量面的平行度誤差。7.4.3圓盤形公法線千分尺量塊過中心檢測(cè)值與在距測(cè)量面邊緣2mm～3mm范圍檢測(cè)值誤差不得7.4.4鴨嘴形公法線千分尺測(cè)量面的平行度誤差，測(cè)量上限不大于25mm的千分尺可用針規(guī)分別在距測(cè)量面邊緣2mm～3mm上下兩點(diǎn)測(cè)量，兩次測(cè)量的差值作為測(cè)量面的平行度誤差。測(cè)量上限大于25mm的千分尺可用尺寸大于測(cè)量下限的2級(jí)量塊分別在距測(cè)量面邊緣2mm～3mm上下兩位置測(cè)量，兩次測(cè)量的差值作為測(cè)量面的平行度誤差。注：在距測(cè)量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平行度忽略不計(jì)。7.5測(cè)量面的硬度測(cè)量面硬度可在測(cè)頭的非測(cè)量面處檢驗(yàn)。7.6最大允許誤差7.6.1將公法線千分尺緊固在夾具上，首先使用在量限范圍內(nèi)的量塊在距測(cè)量面邊緣2mm～3mm范圍內(nèi)的兩測(cè)量面之間校準(zhǔn)公法線千分尺，然后在兩測(cè)量面間與校準(zhǔn)時(shí)量塊位置相同處先后放入一組精度為2級(jí)精度的量塊(尺寸系列見表2)進(jìn)行檢驗(yàn)，得出公法線千分尺顯示值與量塊尺寸的偏差值，連接各點(diǎn)偏差繪制成曲線，其最高點(diǎn)與最低點(diǎn)在縱坐標(biāo)上的坐標(biāo)之差的絕對(duì)值，即為公法線千分尺的最大允許誤差。注：測(cè)量范圍的下限為0mm的公法線千分尺，檢驗(yàn)最大允許誤差時(shí)允許在非零位置校準(zhǔn)。單位為毫米量塊尺寸系列(A為測(cè)量范圍下限)A+5.12;A+10.24;A+15.36;A+21.5;A+257.6.2對(duì)于測(cè)量范圍大于100mm的公法線千分尺，安裝輔助測(cè)砧，使兩個(gè)測(cè)量面一個(gè)是平面，一個(gè)是球面。從0mm點(diǎn)開始檢驗(yàn)，得出公法線千分尺顯示值與量塊尺寸的偏差值，連接各點(diǎn)偏差繪制成曲線，其最高點(diǎn)與最低點(diǎn)在縱坐標(biāo)上的坐標(biāo)之差的絕對(duì)值，即為公法線千分尺的最大允