材料研究方法（二）智慧樹(shù)知到期末考試答案+章節(jié)答案2024年武漢科技大學(xué)透射電子顯微鏡中多晶體的電子衍射花樣是規(guī)則排列的衍射斑點(diǎn)。（）

答案:錯(cuò)面心點(diǎn)陣中，當(dāng)h，k，l為同性數(shù)時(shí)，不會(huì)出現(xiàn)結(jié)構(gòu)消光。（）

答案:對(duì)掃描電子顯微鏡中各電磁透鏡都不作成像透鏡用，而是作聚光鏡用。（）

答案:對(duì)每一個(gè)倒易矢量表示正空間中的一個(gè)晶向。（）

答案:錯(cuò)樣品中平均原子序數(shù)大的部分，也就是質(zhì)量大的區(qū)域，在像平面上就形成暗區(qū)。（）

答案:對(duì)當(dāng)孔徑半角與色差系數(shù)一定時(shí)，電子束能量變化率越大，色差就越小。（）

答案:錯(cuò)電磁透鏡的焦距和放大倍數(shù)都是可以變化的。（）

答案:對(duì)高能電子束波長(zhǎng)比較短，不容易被磁場(chǎng)會(huì)聚（）

答案:對(duì)原子對(duì)X射線的散射能力遠(yuǎn)高于對(duì)電子的散射。（）

答案:錯(cuò)透射電子顯微鏡操作的過(guò)程中，將中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是衍射操作。（）

答案:錯(cuò)面心立方中會(huì)被消光的晶面有（）

答案:300;110;221電子背散射衍射主要用于分析材料的（）

答案:晶體取向;晶體結(jié)構(gòu);取向差EBSD技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)包括（）

答案:直接獲得晶體的三維取向信息;分析精度高，檢測(cè)速度快;空間分辨率高面心立方中不會(huì)被消光的晶面有（）

答案:220;111背散射電子可以進(jìn)行定性（）分析。

答案:成分;形貌薄膜試樣的倒易陣點(diǎn)擴(kuò)展為（）

答案:倒易桿掃描電子顯微鏡用于形貌分析的物理信號(hào)是（）

答案:二次電子、背散射電子以下不屬于電子光學(xué)系統(tǒng)的是（）

答案:真空系統(tǒng)掃描電子顯微鏡的景深（）

答案:大，且可變電子背散射衍射的英文縮寫(xiě)是（）

答案:EBSD以下關(guān)于離子減薄說(shuō)法不正確的是()

答案:效率高，節(jié)省時(shí)間一般情況下，高能電子衍射用的波長(zhǎng)遠(yuǎn)比X射線衍射用的波長(zhǎng)（）

答案:短X射線光電子能譜是利用X射線光子激發(fā)原子的內(nèi)層電子發(fā)生電離，產(chǎn)生（），通過(guò)測(cè)定它的結(jié)合能和譜峰強(qiáng)度，進(jìn)行元素定性和定量分析。

答案:光電子體心立方的倒易點(diǎn)陣為（）點(diǎn)陣。

答案:面心立方配有能譜儀的掃描電子顯微鏡不能進(jìn)行的分析是（）

答案:選區(qū)電子衍射透射電鏡的暗場(chǎng)像是通過(guò)（）成像。

答案:衍射電子束薄片狀晶體的倒易點(diǎn)形狀為（）

答案:一定尺寸的桿掃描電鏡中有多種檢測(cè)信號(hào)，其中成像分辨率最高的是()

答案:二次電子和俄歇電子非晶體材料衍射花樣特點(diǎn)（）

答案:漫散中心斑點(diǎn)高分辨電子顯微像襯度為（）

答案:相位襯度多晶體材料衍射花樣特點(diǎn)（）

答案:半徑不同衍射圓環(huán)改變勵(lì)磁電流可以改變電磁透鏡的（）

答案:焦距，正焦距變動(dòng)以下不屬于選區(qū)光闌的作用的是()：

答案:限制照明孔徑角表面污染易造成假象和誤差，一般要求表面分析儀器（）

答案:具有高真空度影響電子顯微鏡分辨率的因素主要是（）

答案:衍射效應(yīng)等厚條紋中每條條紋對(duì)應(yīng)的試樣厚度（）

答案:相同下面關(guān)于菊池帶的描述錯(cuò)誤的是（）

答案:菊池帶之間的夾角即為所對(duì)應(yīng)晶面的夾角關(guān)于雙聚光鏡的特點(diǎn)，以下說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）

答案:第二聚光鏡的放大倍數(shù)是10-50倍掃描電鏡中的電磁透鏡（）

答案:均不是成像用的，只是將電子束斑聚焦縮小波譜儀是通過(guò)（）對(duì)不同能量的特征X射線進(jìn)行展譜的。

答案:分光晶體對(duì)第二相的形狀、大小以及成分進(jìn)行分析的復(fù)型方法是（）

答案:萃取復(fù)型樣品中平均原子序數(shù)大的部分，也就是質(zhì)量大的區(qū)域，在像平面一般就形成亮區(qū)。（）

答案:錯(cuò)制作復(fù)型樣品的材料不需要是非晶態(tài)材料。（）

答案:錯(cuò)碳支撐膜法、離子減薄法，電解雙噴法和超薄切片法是透射樣品制備樣品的幾種常見(jiàn)方法。（）

答案:對(duì)支持膜或復(fù)型薄膜不應(yīng)該顯示出（）

答案:自身組織結(jié)構(gòu)不能用X射線光電子能譜進(jìn)行分析的是（）

答案:微區(qū)元素定性分析俄歇電子的產(chǎn)生通常有三種形式：KLL、LMM、MNN，它涉及到（）

答案:三個(gè)能級(jí)下面氣體中，不吸收紅外光的是（）

答案:N2與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。（）

答案:錯(cuò)與掃描隧道顯微鏡不同，原子力顯微鏡不受樣品導(dǎo)電性質(zhì)的限制。（）

答案:對(duì)電子探針中能譜儀和波譜儀均需長(zhǎng)期置于低溫狀態(tài)。（）

答案:錯(cuò)電子探針中能譜儀的分辨率比波譜儀低。（）

答案:對(duì).電子探針的主要作用是用來(lái)進(jìn)行()分析

答案:微區(qū)成分電子探針只能用于定性分析，不能用于定量分析。（）

答案:錯(cuò)電子探針做定量分析時(shí)一般不需要進(jìn)行修正。（）

答案:錯(cuò)掃描電子顯微鏡隨放大倍數(shù)的增大，電子束直徑（）

答案:變細(xì)、強(qiáng)度增強(qiáng)掃描電子顯微鏡中電磁透鏡的作用是放大成像。（）

答案:錯(cuò)電子背散射衍射系統(tǒng)的核心是（）

答案:衍射譜采集設(shè)備電子束作用物質(zhì)的區(qū)域是（）

答案:輕元素是“梨形”，重元素是“半球形”與背散射電子作為調(diào)制信號(hào)成像的分辨率相比，二次電子成像的分辨率更高。（）

答案:對(duì)高分辨成像含兩個(gè)基本過(guò)程，分別對(duì)應(yīng)著數(shù)學(xué)上的傅里葉變換和反傅里葉變換。（）

答案:對(duì)高分辨電子顯微術(shù)是一種基于（）的成像技術(shù)

答案:相位襯度高分辨成像分析試樣的厚度比一般透射電鏡試樣更厚。（）

答案:錯(cuò)高分辨成像的電子束是（）

答案:透射束+1支或多支衍射束影響高分辨像襯度的主要因素是（）

答案:物鏡的球差和欠焦量不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體，稱(chēng)為理想晶體或者是完整晶體。（）

答案:對(duì)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)理論忽略動(dòng)力學(xué)效應(yīng)，沒(méi)有考慮入射波與衍射波的相互作用。（）

答案:對(duì)在三個(gè)假設(shè)的前提下，運(yùn)動(dòng)學(xué)理論在處理衍射強(qiáng)度時(shí)，采用了兩個(gè)基本近似（）

答案:柱體近似;雙光束近似質(zhì)厚襯度與散射物體不同部位的密度和厚度的差異無(wú)關(guān)。（）

答案:錯(cuò)對(duì)于完整晶體，當(dāng)偏離矢量恒定時(shí)，厚度改變，會(huì)產(chǎn)生等厚條紋襯度。（）

答案:對(duì)電子衍射花樣的標(biāo)定結(jié)果是唯一的。()

答案:錯(cuò)共帶軸的晶面在倒空間中的陣點(diǎn)是（）

答案:共面一個(gè)體心立方晶體，下面哪個(gè)衍射斑點(diǎn)()不消光。

答案:（110）每一個(gè)倒易矢量表示正空間中的一個(gè)晶面。（）

答案:錯(cuò)正空間中孿晶點(diǎn)陣與基體點(diǎn)陣存在對(duì)稱(chēng)關(guān)系，其倒空間點(diǎn)陣（）

答案:存在同樣的鏡面對(duì)稱(chēng)關(guān)系只有不發(fā)生系統(tǒng)消光的晶面才能出現(xiàn)衍射斑點(diǎn)。（）

答案:對(duì)如果要獲得單晶衍射花樣，首先要有單晶樣品。（）

答案:錯(cuò)多晶體樣品的衍射花樣特點(diǎn)是（）

答案:同心的衍射圓環(huán)體心點(diǎn)陣中，當(dāng)h+k+l=偶數(shù)的晶面會(huì)產(chǎn)生消光。（）

答案:錯(cuò)單晶體的電子衍射花樣本質(zhì)上是（）

答案:垂直于電子束入射方向的零層倒易陣點(diǎn)上的陣點(diǎn)在熒光屏上的投影透射電子顯微鏡不需要在高真空下工作。（）

答案:錯(cuò)透射電子顯微鏡中的光闌有（）

答案:物鏡光闌、聚光鏡光闌、選區(qū)光闌透射電鏡的分辨率主要取決于（）。

答案:物鏡透射電子顯微鏡操作的過(guò)程中，將中間鏡的物平面和物鏡的像平面重合，就是成像操作。（）

答案:對(duì)透射電子顯微鏡的成像系統(tǒng)中有（）

答案:物鏡、中間鏡、投影