第6頁EL1202+EL2202EL1262+EL2262XFCEL1202+EL2202EL1262+EL2262XFC模塊和超采樣模塊測試摘要：本文測試了EL1202、EL2202、EL1262、EL2262XFC/超采樣模塊在不同周期下的測試結(jié)果。附件：序號(hào)文件名備注歷史版本：免責(zé)聲明：我們已對本文檔描述的內(nèi)容做測試。但是差錯(cuò)在所難免，無法保證絕對正確并完全滿足您的使用需求。本文檔的內(nèi)容可能隨時(shí)更新，如有改動(dòng)，恕不事先通知，也歡迎您提出改進(jìn)建議。參考信息：目錄1. 軟硬件版本 31.1. 倍福Beckhoff 31.1.1. 控制器和IO硬件 31.1.2. 系統(tǒng)和控制軟件 31.2. 數(shù)字示波器 31.2.1. 品牌、型號(hào)及生產(chǎn)廠家 32. EL1202+EL2202XFC模塊測試 32.1. 測試環(huán)境 32.1.1. 測試Basetime設(shè)為200us 32.1.2. 測試Basetime設(shè)為100us 52.1.3. 測試Basetime設(shè)為50us 63. EL1262+EL2262超采樣模塊測試 83.1. 測試環(huán)境一（超采樣細(xì)分設(shè)置為1） 83.1.1. 測試Basetime設(shè)為200us 83.1.2. 測試Basetime設(shè)為100us 103.1.3. 測試Basetime設(shè)為50us 113.2. 測試環(huán)境二（超采樣細(xì)分設(shè)置為50） 133.2.1. 測試Basetime設(shè)為50us 133.3. 測試環(huán)境三（超采樣細(xì)分設(shè)置為100） 153.3.1. 測試Basetime設(shè)為200us 153.3.2. 測試Basetime設(shè)為100us 173.4. 測試環(huán)境三（超采樣細(xì)分設(shè)置為200） 183.4.1. 測試Basetime設(shè)為200us 18

軟硬件版本倍福Beckhoff控制器和IO硬件嵌入式控制器：CX5130-0125一臺(tái)EL1202EL2202EL1262EL2262各一個(gè)系統(tǒng)和控制軟件筆記本編程電腦系統(tǒng)為WIN10企業(yè)版，TwinCAT3版本v3.1.4024.32控制器系統(tǒng)是WES7，TwinCAT3版本v3.1.4024.7數(shù)字示波器品牌、型號(hào)及生產(chǎn)廠家RIGOLDS1052E北京普源精電科技有限公司EL1202+EL2202XFC模塊測試測試環(huán)境模擬客戶的程序，建兩個(gè)PLCTask，一個(gè)掃描周期快，一個(gè)掃描周期慢；一個(gè)NCTask，4個(gè)NC軸；分核處理，I/OIdleTask一個(gè)核，PLCTask和NCTask一個(gè)核；任務(wù)優(yōu)先級，由高到低依次為：掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1202的通道1賦值給EL2202的通道1，目的就是觀察EL1202采集到這個(gè)電信號(hào)到EL2202輸出這個(gè)電信號(hào)的最快響應(yīng)時(shí)間是多久。測試Basetime設(shè)為200us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率8%；2. 超周期計(jì)數(shù)為0，沒有出現(xiàn)超周期的情況；3. EL1202+EL2202響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計(jì)在210-280us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下：圖一圖二圖三測試Basetime設(shè)為100us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率13%；2. 超周期計(jì)數(shù)為0，沒有出現(xiàn)超周期的情況；3. EL1202+EL2202響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計(jì)在108-150us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下：圖一圖二圖三測試Basetime設(shè)為50us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率26%；2. 超周期；3. EL1202+EL2202響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計(jì)在60-90us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下：圖一圖二圖三EL1262+EL2262超采樣模塊測試測試環(huán)境一（超采樣細(xì)分設(shè)置為1）模擬客戶的程序，建兩個(gè)PLCTask，一個(gè)掃描周期快，一個(gè)掃描周期慢；一個(gè)NCTask，4個(gè)NC軸；分核處理，I/OIdleTask一個(gè)核，PLCTask和NCTask一個(gè)核；任務(wù)優(yōu)先級，由高到低依次為：掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1262的通道1賦值給EL2262的通道1，EL1262和EL2262是超采樣模塊，所以細(xì)分設(shè)置為1，目的就是觀察EL1262采集到這個(gè)電信號(hào)到EL2262輸出這個(gè)電信號(hào)的最快響應(yīng)時(shí)間是多久。測試Basetime設(shè)為200us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖：EL1262和EL2262的細(xì)分設(shè)置為1，如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率7%；2. 不超周期；3.EL1262+EL2262響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計(jì)在505-680us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下：圖一圖二圖三

測試Basetime設(shè)為100us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖：EL1262和EL2262的細(xì)分設(shè)置為1，如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率16%；2. 不超周期；3.EL1262+EL2262響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計(jì)在260-360us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下：圖一圖二圖三測試Basetime設(shè)為50us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖：EL1262和EL2262的細(xì)分設(shè)置為1，如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率28%；2. 超周期；3.EL1262+EL2262響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下統(tǒng)計(jì)在150-180us范圍內(nèi)。數(shù)字示波器采集圖樣如下：圖一圖二圖三測試環(huán)境二（超采樣細(xì)分設(shè)置為50）模擬客戶的程序，建兩個(gè)PLCTask，一個(gè)掃描周期快，一個(gè)掃描周期慢；一個(gè)NCTask，4個(gè)NC軸；分核處理，I/OIdleTask一個(gè)核，PLCTask和NCTask一個(gè)核；任務(wù)優(yōu)先級，由高到低依次為：掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1262的通道1賦值給EL2262的通道1，細(xì)分設(shè)置為50，目的就是觀察EL1262采集到這個(gè)電信號(hào)到EL2262輸出這個(gè)電信號(hào)的最快響應(yīng)時(shí)間是多久，響應(yīng)時(shí)間是否穩(wěn)定測試Basetime設(shè)為50us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖：EL1262和EL2262的細(xì)分設(shè)置為50，如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率31%；2. 超周期；3.EL1262+EL2262響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下響應(yīng)時(shí)間穩(wěn)定在230us左右。圖一圖二圖三測試環(huán)境三（超采樣細(xì)分設(shè)置為100）模擬客戶的程序，建兩個(gè)PLCTask，一個(gè)掃描周期快，一個(gè)掃描周期慢；一個(gè)NCTask，4個(gè)NC軸；分核處理，I/OIdleTask一個(gè)核，PLCTask和NCTask一個(gè)核；任務(wù)優(yōu)先級，由高到低依次為：掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1262的通道1賦值給EL2262的通道1，細(xì)分設(shè)置為100，目的就是觀察EL1262采集到這個(gè)電信號(hào)到EL2262輸出這個(gè)電信號(hào)的最快響應(yīng)時(shí)間是多久，響應(yīng)時(shí)間是否穩(wěn)定。測試Basetime設(shè)為200us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖：EL1262和EL2262的細(xì)分設(shè)置為100，如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率8%；2. 不超周期；3.EL1262+EL2262響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下響應(yīng)時(shí)間穩(wěn)定在505us左右。圖一圖二圖三

測試Basetime設(shè)為100us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖：EL1262和EL2262的細(xì)分設(shè)置為100，如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率17%；2. 超周期計(jì)算測得有1次超周期；3.EL1262+EL2262響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下響應(yīng)時(shí)間穩(wěn)定在265us左右。圖一圖二圖三測試環(huán)境三（超采樣細(xì)分設(shè)置為200）模擬客戶的程序，建兩個(gè)PLCTask，一個(gè)掃描周期快，一個(gè)掃描周期慢；一個(gè)NCTask，4個(gè)NC軸；分核處理，I/OIdleTask一個(gè)核，PLCTask和NCTask一個(gè)核；任務(wù)優(yōu)先級，由高到低依次為：掃描周期快的PLCTask>NCTask>I/OIdleTask>掃描周期慢的PLCTask。在程序中把EL1262的通道1賦值給EL2262的通道1，細(xì)分設(shè)置為200，目的就是觀察EL1262采集到這個(gè)電信號(hào)到EL2262輸出這個(gè)電信號(hào)的最快響應(yīng)時(shí)間是多久，響應(yīng)時(shí)間是否穩(wěn)定。測試Basetime設(shè)為200us任務(wù)循環(huán)周期和優(yōu)先級設(shè)置如下圖：EL1262和EL2262的細(xì)分設(shè)置為200，如下圖： 測試結(jié)果：1. 4個(gè)NC軸通過程序控制，分別以不同的速度獨(dú)立運(yùn)行，CPU占用率7%；2. 不超周期；3.EL1262+EL2262響應(yīng)時(shí)間，在有限的測試次數(shù)下響應(yīng)時(shí)間穩(wěn)定在505us左右。圖一圖二圖三

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