承壓設(shè)備無損檢測第11部分：射線數(shù)字成像檢測目 次前言 II范圍 1規(guī)范性引用文件 1術(shù)語和定義 1一般要求 4檢測方法 7圖像質(zhì)量及評定 缺陷的識別與測量 16承壓設(shè)備焊接接頭焊縫射線數(shù)字成像檢測質(zhì)量分級 17圖像保存與存儲 17檢測記錄和報告 17附錄A（規(guī)范性附錄）系統(tǒng)分辨率核查方法 19附錄B（資料性附錄）典型透照方式 20附錄C（規(guī)范性附錄）b值計算 24附錄D（資料性附錄）環(huán)縫最小透照次數(shù)計算 26附錄E（規(guī)范性附錄）雙線型像質(zhì)計的識別 29附錄F（規(guī)范性附錄）歸一化信噪比測試方法 30IPAGEPAGE13PAGEPAGE10承壓設(shè)備無損檢測第11部分：射線數(shù)字成像檢測范圍本文件規(guī)定了承壓設(shè)備金屬材料受壓元件的熔化焊焊接接頭的射線數(shù)字成像檢測技術(shù)和質(zhì)量分級要求。本文件適用于承壓設(shè)備受壓元件的制造、安裝、在用檢測中的焊接接頭的射線數(shù)字成像檢測。用于制作焊接接頭的金屬材料包括鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。本文件適用的成像器件為數(shù)字探測器。本文件適用的射線源為XIr192、Se75γX600kV。承壓設(shè)備的有關(guān)支承件和結(jié)構(gòu)件的焊接接頭的射線數(shù)字成像檢測，可參照使用。規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GBZ117 工業(yè)Χ射線探傷放射衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)GBZ132 工業(yè)γ射線探傷放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)GB/T14058 γ射線探傷機(jī)GB18871 電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)GB/T23901.1 無損檢測射線照相底片像質(zhì)第1部分：絲型像質(zhì)計像質(zhì)指數(shù)的測定GB/T23901.5 無損檢測射線照相底片像質(zhì)第5部分：雙絲型像質(zhì)計圖像不清晰度的測定GB/T23903 射線圖像分辨力測試計GB/T26592 無損檢測儀器工業(yè)X射線探傷機(jī)性能測試方GB/T26594 無損檢測儀器工業(yè)用X射線管性能測試方法JB/T7902 無損檢測射線照相檢測用線型像質(zhì)計JB/T11608 無損檢測儀器工業(yè)用X射線探傷裝置NB/T47013.1 承壓設(shè)備無損檢測第1部分：通用要求NB/T47013.2 承壓設(shè)備無損檢測第2部分：射線檢測術(shù)語和定義NB/T47013.1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。3.1像素pixel射線數(shù)字圖像的基本組成單元。射線數(shù)字圖像都是由點(diǎn)組成的，組成圖像的每一個點(diǎn)稱為像素。3.2圖像靈敏度imagesensitivity檢測系統(tǒng)所能發(fā)現(xiàn)的被檢工件圖像中最小細(xì)節(jié)的能力。3.3分辨率resolutionratio單位長度上可分辨兩個相鄰細(xì)節(jié)間最小距離的能力，用lp/mm表示。3.4分辨力resolution兩個相鄰細(xì)節(jié)間最小距離的分辨能力。3.5數(shù)字探測器DDA digitaldetectorarray把射線光子轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號的電子裝置，簡稱探測器。3.6 DR系統(tǒng)DRsystem指由探測器及其處理單元組成，能將射線光子轉(zhuǎn)換成數(shù)字圖像的系統(tǒng)。3.7系統(tǒng)分辨率systemresolutionratioDR系統(tǒng)所能分辨的單位長度上兩個相鄰細(xì)節(jié)間最小距離的能力。反映了DR系統(tǒng)本身的特性，也稱為系統(tǒng)基本空間分辨率。3.8圖像分辨率imageresolutionratio檢測系統(tǒng)所能分辨的被檢工件圖像中單位長度上兩個相鄰細(xì)節(jié)間最小距離的能力，也稱為圖像空間分辨率。單位，lp/mm。3.9圖像分辨力imageresolution檢測系統(tǒng)所能分辨的被檢工件圖像中兩個相鄰細(xì)節(jié)間最小距離的分辨能力，單位，mm。分辨率和分辨力在數(shù)值上互為2倍倒數(shù)。3.10灰度等級graylevel對射線數(shù)字成像系統(tǒng)獲得的黑白圖像明暗程度的定量描述，它由系統(tǒng)A/D轉(zhuǎn)換器（模/數(shù)轉(zhuǎn)換器）的位數(shù)決定。A/D轉(zhuǎn)換器的位數(shù)越高，灰度等級越高。例如，A/D轉(zhuǎn)換器為12bit時，采集的灰度等級為212=4096。3.11暗場圖像darkimage在無射線透照情況下輸出的圖像，也稱為暗電流圖像。3.12動態(tài)范圍dynamicrange射線數(shù)字成像系統(tǒng)最大灰度值與暗場圖像標(biāo)準(zhǔn)差的比值。3.13響應(yīng)不一致性non-uniformresponsivity探測器固有的特性，在透照均質(zhì)工件或空屏的條件下，由于探測器對射線響應(yīng)的不一致，致使輸出圖像亮度呈現(xiàn)非均勻性的條紋。3.14壞像素badpixel在暗場圖像中出現(xiàn)比相鄰像素灰度值過高或過低的白點(diǎn)或黑點(diǎn)。亦指校正后的圖像，其輸出值遠(yuǎn)離圖像均值的異常點(diǎn)。壞像素的存在形式有：單點(diǎn)、兩個相鄰點(diǎn)和多個相鄰點(diǎn)、成行或成列。3.15信噪比signalnoiseratio圖像感興趣區(qū)域的信號平均值與標(biāo)準(zhǔn)差之比。3.16靜態(tài)成像staticimaging檢測系統(tǒng)與被檢工件無相對連續(xù)運(yùn)動時的射線數(shù)字成像，成像結(jié)果為單幅圖像。3.17數(shù)字圖像處理digitalimageprocessing提高射線數(shù)字圖像的對比度、分辨率和細(xì)節(jié)識別能力的數(shù)字變換方法。3.18非平面工件nonplanarobject本文件中描述的除平面工件外的其他工件。3.19小徑管smalldiametertube外直徑D0小于或等于100mm的管子。3.20射線源-探測器距離F source-to-DDAdistance沿射線束中心線方向上測量的射線源至探測器之間的距離，即焦距。3.21射線源-被檢工件距離f source-to-objectdistance在一次透照區(qū)域內(nèi)測量的射線源至被檢工件表面（射線源側(cè)）之間的最小距離。3.22被檢工件-探測器距離bobject-to-DDAdistance在一次透照區(qū)域內(nèi)測量的被檢工件表面（射線源側(cè)）至探測器之間的最大間距。3.23透照厚度penetratedthickness射線透照方向上材料的公稱厚度。多層透照時，透照厚度為通過各層材料公稱厚度之和。3.24透照厚度比Kratioofmax.andmin.penetratedthickness一次透照長度范圍內(nèi)，射線束穿過母材的最大厚度和你最小厚度之比。3.25灰度值GV greyvalue表征數(shù)字圖像中像素明暗程度的數(shù)值。3.26歸一化信噪比SNRn normalizedsignal-to-noiseratio基于系統(tǒng)的分辨率，經(jīng)歸一化處理后的信噪比。3.27厚度寬容度Thicknesstolerance檢測不等厚工件，獲得的滿足技術(shù)等級要求的透照厚度范圍。3.28采集幀頻fpsframepersecond探測器單位時間內(nèi)采集圖像的幀數(shù)（幅數(shù)1fps11幀圖像；10fps110幀圖像。3.29標(biāo)樣standardsample用于標(biāo)定圖像中特征大小的已知尺寸的試樣。3.30檢測工裝testfixture在檢測過程中，對檢測系統(tǒng)和被檢工件實施支撐、完成相對運(yùn)動的裝置。3.31原始圖像rawimage探測器校正后輸出的圖像。3.32圓形缺陷roundflaw長寬比不大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。3.33條形缺陷stripyflaw長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。一般要求檢測人員從事射線數(shù)字成像檢測的人員（，上崗前應(yīng)進(jìn)行輻射安全知識培訓(xùn)，并按照有關(guān)法規(guī)的要求取得相應(yīng)證書。檢測人員應(yīng)取得特種設(shè)備無損檢測射線數(shù)字成像檢測專項資格。檢測人員應(yīng)了解與射線數(shù)字成像技術(shù)相關(guān)的計算機(jī)知識、數(shù)字圖像處理知識，掌握相應(yīng)的計算機(jī)基本操作方法。檢測系統(tǒng)與器材X應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度、材質(zhì)和焦距大小，選擇射線機(jī)的能量范圍。焦點(diǎn)的選擇應(yīng)與所采用的探測器和透照布置相匹配。采用的X射線機(jī)，其性能指標(biāo)應(yīng)滿足JB/T11608的規(guī)定，使用性能測試條件及測試方法參考GB/T26594和GB/T26592的規(guī)定。X射線管的焦點(diǎn)尺寸和輻射角度的測試報告。γ射線機(jī)應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度、材質(zhì)和焦距大小，選擇γ射線源的種類和活度。源尺寸的選擇應(yīng)與所采用的探測器和透照布置相匹配。采用的γGB/T14058的規(guī)定。探測器系統(tǒng)包含面陣列探測器、線陣列探測器及其配件等。2000：1。A/D12bit。壞像素要求：面陣列探測器3×3像素區(qū)域中，相鄰壞像素不得超過3個；成行（成列）壞像素不得32001%。線陣列探測器中，2個。探測器供應(yīng)商應(yīng)提供出廠壞像素表和壞像素校正方法。應(yīng)按照具體的探測器系統(tǒng)規(guī)定的圖像校正方法，對探測器進(jìn)行校正。探測器系統(tǒng)質(zhì)量證明文件中至少應(yīng)給出探測器類型、轉(zhuǎn)換屏參數(shù)（如有、像素尺寸、成像面積、探測器極限分辨率、射線能量適用范圍、量子轉(zhuǎn)換效率、填充因子、采集幀頻等技術(shù)參數(shù)。計算機(jī)系統(tǒng)計算機(jī)系統(tǒng)的基本配置依據(jù)采用的探測器系統(tǒng)對性能和速度的要求而確定。宜配備不低于512MB容量的內(nèi)存，不低于40GB的硬盤，高亮度高分辨率顯示器以及刻錄機(jī)、網(wǎng)卡等。顯示器應(yīng)滿足如下最低要求：a）亮度不低于250cd/m2；b）灰度等級不小于8bit；c）圖像顯示分辨率不低于1024×768；d）顯示器像素點(diǎn)距小于0.3mm。系統(tǒng)軟件要求系統(tǒng)軟件是射線數(shù)字成像檢測系統(tǒng)的核心單元，完成圖像采集、圖像處理、缺陷幾何尺寸測量、缺陷標(biāo)注、圖像存儲、輔助評定等功能。應(yīng)包含疊加降噪、改變窗寬窗位和對比度及亮度等基本數(shù)字圖像處理功能。應(yīng)包括信噪比測量、缺陷標(biāo)記、尺寸測量、尺寸標(biāo)定功能。4倍的放大功能。應(yīng)具備采集圖像的相關(guān)信息的瀏覽和查找功能?？勺詣由蓹z測報告。應(yīng)保存原始圖像和處理后的圖像。其他特殊要求應(yīng)由合同雙方協(xié)商確定。檢測工裝應(yīng)根據(jù)被檢工件進(jìn)行設(shè)計，并滿足檢測要求。宜有平移、旋轉(zhuǎn)、速度連續(xù)可調(diào)等功能，并保證較高運(yùn)轉(zhuǎn)精度和穩(wěn)定性。檢測工裝的運(yùn)動應(yīng)與探測器的數(shù)據(jù)采集匹配。對于在用設(shè)備的檢測，應(yīng)根據(jù)現(xiàn)場的環(huán)境和檢測工況，合理固定檢測儀器和設(shè)備。像質(zhì)計本文件采用的像質(zhì)計包括線型像質(zhì)計和雙線型像質(zhì)計。線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.1JB/T7902GB/T23901.5的規(guī)定，并提供相應(yīng)的質(zhì)量證明文件。檢測系統(tǒng)使用性能應(yīng)結(jié)合被檢工件和本文件要求，根據(jù)檢測系統(tǒng)各部分性能指標(biāo)選擇合適的檢測設(shè)備和器材，并提供滿足上述設(shè)備和器材性能指標(biāo)及系統(tǒng)軟件功能的測試證明文件。檢測系統(tǒng)的使用性能應(yīng)滿足本文件規(guī)定的圖像質(zhì)量要求。校準(zhǔn)或運(yùn)行核查每年至少對探測器系統(tǒng)性能中的壞像素、線性范圍、信噪比、厚度寬容度、圖像殘影等進(jìn)行1次校準(zhǔn)并記錄。每年至少應(yīng)對使用中的曝光曲線進(jìn)行1次核查。當(dāng)射線機(jī)重要部件更換或經(jīng)過修理后，應(yīng)重新制作曝光曲線。3個月至少對探測器壞像素進(jìn)行1次核查，并記錄和校正。存在如下情況應(yīng)進(jìn)行系統(tǒng)分辨率核查并記錄，核查方法按附錄A執(zhí)行。檢測系統(tǒng)有改變時；正常使用條件下，每3個月應(yīng)至少核查一次；在系統(tǒng)停止使用一個月后重新使用時。檢測技術(shù)等級本文件規(guī)定的射線數(shù)字成像檢測技術(shù)等級分為三級：A級——低靈敏度技術(shù)；AB級——中靈敏度技術(shù)；B級——高靈敏度技術(shù)。檢測工藝文件檢測工藝文件包括工藝規(guī)程和操作指導(dǎo)書。工藝規(guī)程的內(nèi)容除滿足NB/T47013.1的要求外，還應(yīng)規(guī)定表1中所列相關(guān)因素的具體范圍或要求；如相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時，應(yīng)重新編制或修訂工藝規(guī)程。表1 工藝規(guī)程涉及的相關(guān)因素序號相關(guān)因素1被檢測工件的結(jié)構(gòu)、類型、規(guī)格（形狀、尺寸、壁厚和材質(zhì)）2檢測設(shè)備器材（種類、規(guī)格、主要技術(shù)參數(shù)）3檢測技術(shù)等級4檢測工藝（透照方式、透照參數(shù)、幾何參數(shù)、運(yùn)動參數(shù)等）5圖像質(zhì)量評定6工藝驗證應(yīng)根據(jù)工藝規(guī)程的內(nèi)容以及被檢工件的檢測要求編制操作指導(dǎo)書，其內(nèi)容除滿足NB/T47013.1的要求外，至少還應(yīng)包括：檢測技術(shù)等級；檢測設(shè)備器材（包括：射線源（種類和規(guī)格（規(guī)格；檢測工藝參數(shù)（包括：管電壓、曝光量、透照幾何參數(shù)、被檢工件運(yùn)動形式和速度、透照方式等；檢測標(biāo)識規(guī)定；圖像評定（包括：灰度、歸一化信噪比、圖像分辨率、圖像靈敏度、標(biāo)樣等；驗收標(biāo)準(zhǔn)。工藝驗證操作指導(dǎo)書在首次應(yīng)用前應(yīng)進(jìn)行全部工藝驗證。驗證可通過專門的透照試驗進(jìn)行，或以每一種工藝的第一批圖像作為驗證依據(jù)。在這兩種情況下，作為依據(jù)的驗證圖像均應(yīng)做出標(biāo)識。工藝驗證時應(yīng)擺放線型和雙線型像質(zhì)計，線型像質(zhì)計的放置與實際檢測一致。雙線型像質(zhì)計應(yīng)放置在靠近焊縫的母材上，且在成像中心區(qū)域上下（垂直焊縫）左右（平行焊縫）放置，四個方位的圖像分辨率均應(yīng)滿足要求。對于小徑管檢測，雙線型像質(zhì)計應(yīng)沿小徑管軸向垂直于焊縫，并放置在焊縫兩側(cè)的母材上，二個方位的圖像分辨率均應(yīng)滿足要求。安全要求檢測環(huán)境應(yīng)滿足檢測系統(tǒng)運(yùn)行對環(huán)境（溫度、濕度、接地、電磁輻射、振動等）的要求。射線輻射防護(hù)條件應(yīng)符合GB18871、GBZ117GBZ132的有關(guān)規(guī)定。GBZ117GBZ132的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)，設(shè)置警告標(biāo)志，檢測作業(yè)時，應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平。檢測人員應(yīng)佩戴個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。檢測方法透照方式應(yīng)根據(jù)被檢工件結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式。除小徑管允許選擇雙壁透照或合同各方商定選擇雙壁透照方式的特殊情況外，具備單壁透照條件時，宜選擇單壁透照方式。典型的透照方式參見B。采用連續(xù)成像方式采集圖像時，應(yīng)保證被檢工件的運(yùn)動速度與圖像采集幀頻相匹配，同時應(yīng)保證X射線主射束垂直透照（或γ源準(zhǔn)直后對準(zhǔn)）被件工件并到達(dá)探測器的有效成像區(qū)域。采用靜態(tài)成像方式采集圖像時，圖像采集的重疊區(qū)域長度應(yīng)不小于10mm。小徑管采用雙壁雙影透照布置，當(dāng)同時滿足下列條件時應(yīng)采用傾斜透照方式橢圓成像：a）T（壁厚）≤8mm；b）g（焊縫寬度）≤DO/4。其中，DO——管子外徑。應(yīng)控制圖像的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在1倍焊縫寬度左右。不滿足上述條件或橢圓成像有困難時，可采用垂直透照方式重疊成像。成像幾何參數(shù)的選擇所選用的射線源至被檢工件表面的距離f應(yīng)滿足下述要求：a）A級射線數(shù)字成像檢測技術(shù)：f≥7.5d·bT-1/3b）AB級射線數(shù)字成像檢測技術(shù)：f≥10d·bT-1/3c）B級射線數(shù)字成像檢測技術(shù)：f≥15d·bT-1/3注：當(dāng)b≤1.2T時，以b=T帶入計算。圖1為成像幾何透照示意圖，d為焦點(diǎn)或源尺寸，b為被檢工件表面到探測器的距離，b值的計算參見附錄C。對于非平面工件的偏心透照，f為射線源至被檢工件表面的垂直距離。說明：1——探測器；2——被檢工件。圖1成像幾何透照示意圖采用射線源在內(nèi)中心透照方式，當(dāng)當(dāng)圖像質(zhì)量符合6.2.56.2.6的要求時，f值可以減小，但減小值不50%。采用射線源在內(nèi)單壁透照方式，當(dāng)圖像質(zhì)量符合6.2.56.2.6的要求時，f值可以減小，但減小值不應(yīng)20%。最佳放大倍數(shù)理論上，對于給定的檢測系統(tǒng)，可由式（1）計算最佳放大倍數(shù)M0。3dM1uc20 d

…………（1）式中：d——焦點(diǎn)尺寸；Uc——探測器固有不清晰度（約等于探測器像素大小的2倍透照方向透照時射線束中心通常垂直指向透照區(qū)中心，需要時可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。非平面工件最小透照次數(shù)的確定小徑管環(huán)向焊接接頭100%靜態(tài)成像的透照次數(shù)。采用傾斜透照橢圓成像時：1）當(dāng)T/Do≤0.12，相隔90°透照2次；2）當(dāng)T/Do>0.12，相隔120°或60°透照3次。垂直透照重疊成像時，一般應(yīng)相隔120603次。由于結(jié)構(gòu)原因不能按照5.4.1.15.4.1.2規(guī)定的間隔角度進(jìn)行多次透照時，經(jīng)合同雙方商定，可不再強(qiáng)5.4.1.15.4.1.2規(guī)定的間隔角度，但應(yīng)采取有效措施盡量擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證圖像評定范圍內(nèi)灰度、信噪比、靈敏度和分辨率滿足要求，并在檢測報告中對有關(guān)情況進(jìn)行說明。100%檢測的小徑管環(huán)向焊接接頭的透照次數(shù)由合同雙方商定，并保存相關(guān)記錄。實際檢測時，應(yīng)滿足表2K值的規(guī)定。對于曲面外徑大于100mm2KD，實際檢測時的透照次數(shù)應(yīng)不小于計算值。表2 不同檢測技術(shù)等級允許的透照厚度比K檢測技術(shù)等級縱縫透照厚度比K環(huán)縫透照厚度比KA級≦1.06≦1.2AB級≦1.03≦1.2B級≦1.01≦1.1透照參數(shù)的選擇實際檢測時應(yīng)根據(jù)采用的射線數(shù)字成像系統(tǒng)、被檢工件的特點(diǎn)和圖像質(zhì)量的要求，選擇適當(dāng)?shù)纳渚€能量、曝光量等參數(shù)，以滿足檢測要求。射線能量2給出了不同材料、不同透照厚度推薦采用的X射線最高管電壓。說明：1——銅及銅合金、鎳及鎳合金；2——鋼；3——鈦及鈦合金；4——鋁及鋁合金。圖2不同透照厚度允許的X射線最高透照管電壓對于不等厚工件在保證圖像質(zhì)量符合本文件的要求下，管電壓可適當(dāng)提高，宜使用濾波板。γ射線源適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表34的規(guī)定。在保證圖像質(zhì)量滿足要求的前提下，且信噪比應(yīng)高于表9101.4倍，經(jīng)合同雙方商定，射線源透照厚度檢測下限如下：a）A級、AB級Ir192透照厚度可降至10mm；b）Se75透照厚度可低于10mm。表3γ射線源透照厚度范圍（鋼、銅、鎳合金）γ射線源種類透照厚度（w/mm）A級AB級B級Ir192≥20～100≥20～90≥20～80Se75≥10～40≥10～40≥14～40表4γ射線源透照厚度范圍（鋁和鈦合金）γ射線源種類透照厚度（w/mm）A級AB級B級Se75≥35～120≥35～120≥25～55曝光量X曝光量等于單幀圖像曝光時間和管電流的乘積，單位mA·s表示；γ射線檢測的曝光量等于單幀圖像曝光時間射線源當(dāng)前活度的乘積，單位Ci?s。增加曝光量可提高信噪比、提高圖像質(zhì)量。標(biāo)記透照部位的標(biāo)記由識別和定位標(biāo)記組成。識別標(biāo)記一般包括產(chǎn)品編號、焊接接頭編號、部位編號和透照日期。返修后的透照還應(yīng)有返修標(biāo)記，擴(kuò)大檢測比例的透照應(yīng)有擴(kuò)大檢測標(biāo)記。識別標(biāo)記可由計算機(jī)寫入。定位標(biāo)記一般包括中心標(biāo)記“”和搭接標(biāo)記。中心標(biāo)記指示透照部位區(qū)段的中心位置和分段編號的方向。搭接標(biāo)記是透照分段標(biāo)記，一般由適當(dāng)尺寸的鉛制或其他適宜的重金屬制數(shù)字、拼音字母和符號等構(gòu)成。當(dāng)鉛制搭接標(biāo)記用數(shù)字或字母表示時，可省去中心標(biāo)記。對于連續(xù)成像檢測，在檢測的起始位置做定位標(biāo)記“，其中“→”指向檢測方向?？衫脭?shù)字或字母表示分段標(biāo)記。對環(huán)焊縫檢測可按順時針方向用記號筆進(jìn)行標(biāo)識；對直焊縫可按左到右方式進(jìn)行標(biāo)識，同時應(yīng)與圖像標(biāo)記匹配。NB/T47013.25mm以外的部位。所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，且不應(yīng)在有效評定范圍內(nèi)成像。標(biāo)樣標(biāo)樣作為圖像中特征測量時的尺寸標(biāo)定試樣，尺寸標(biāo)定的詳細(xì)步驟見7.2.1條。標(biāo)樣應(yīng)放置在探測器側(cè)，標(biāo)樣的長度方向宜與焊縫方向平行，在有效評定范圍內(nèi)成像，且不干擾有效評定區(qū)范圍內(nèi)的影像。15mm。無用射線和散射線屏蔽應(yīng)采用濾波板、準(zhǔn)直器（光闌、鉛箔、鉛板等適當(dāng)措施，減少散射線和無用射線。圖像質(zhì)量及評定圖像質(zhì)量一般要求應(yīng)同時保證圖像靈敏度和圖像分辨率以及歸一化信噪比的要求。測定圖像質(zhì)量的像質(zhì)計分為線型像質(zhì)計和雙線型像質(zhì)計。圖像靈敏度采用線型像質(zhì)計進(jìn)行測定。圖像分辨率采用雙線型像質(zhì)計進(jìn)行測定。線型像質(zhì)計線型像質(zhì)計的放置原則單壁單影或雙壁雙影透照應(yīng)放置在射線源側(cè)被檢工件表面。雙壁單影透照應(yīng)放置在探測器側(cè)被檢工件表面。當(dāng)線型像質(zhì)計放置在探測器側(cè)時，應(yīng)在適當(dāng)位置放置鉛字“FF”標(biāo)記的圖像應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在圖像上，且應(yīng)在檢測報告中注明。線型像質(zhì)計的使用線型像質(zhì)計的金屬絲材料應(yīng)與被檢工件的材料相同或相近。在滿足圖像靈敏度要求的前提下，低密度線型像質(zhì)計可用于高密度材料的檢測。線型像質(zhì)計的材料、材料代碼和不同材料線型像質(zhì)計適用的范圍應(yīng)符合表5的規(guī)定。表5不同材料線型像質(zhì)計適用范圍線型像質(zhì)計材料代號Fe（鋼）Ni（鎳）Ti（鈦）Al（鋁）Cu（銅）線型像質(zhì)計材料碳素鋼鎳－鉻合金工業(yè)純鈦工業(yè)純鋁3號純銅適用的材料范圍鋼鎳、鎳合金鈦、鈦合金鋁、鋁合金銅、銅合金線型像質(zhì)計一般應(yīng)放置在焊接接頭的一端，在被檢測區(qū)長度的1/4左右位置，金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)絲置于外側(cè)。當(dāng)一張圖像上同時透照同規(guī)格同類型的多條焊接接頭時，線型像質(zhì)計應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。原則上每張圖像上都應(yīng)有線型像質(zhì)計的影像。在透照參數(shù)和被檢工件不變的情況下（如一條焊縫的連續(xù)成像，可只在第一幅圖像中放置線型像質(zhì)計。小徑管可選用通用線型像質(zhì)計或?qū)Ｓ镁€型像質(zhì)計，金屬絲應(yīng)垂直或平行焊縫放置。不等厚或不同種類材料之間對接焊縫如果焊接接頭的幾何形狀允許，厚度不同或材料類型不同的部位應(yīng)分別采用與被檢工件厚度或類型相匹配的線型像質(zhì)計，并分別放置在焊接接頭相對應(yīng)部位。線型像質(zhì)計的識別在圖像灰度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材區(qū)）能夠清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)的像質(zhì)計絲影像時，則該絲認(rèn)為是可識別的。專用線型像質(zhì)計至少應(yīng)能識別兩根金屬絲。對于小徑管檢測，當(dāng)線型像質(zhì)計平行放置時，金屬絲影像可見長度應(yīng)不小于外徑的20%。雙線型像質(zhì)計單壁單影或雙壁雙影透照應(yīng)放置于射線源側(cè)被檢工件表面。雙壁單影透照應(yīng)放置于探測器側(cè)被檢工件表面。雙線型像質(zhì)計的使用4.4.4.44.4.4.5條工藝驗證結(jié)果，放置于圖像分辨率最差的方位，且金屬絲與圖像（或探測器）的行或列成較小的夾角（如2°～5°原則上每張圖像上都應(yīng)有雙線型像質(zhì)計的影像。在透照參數(shù)和檢測對象不變的情況下（如一條焊縫的連續(xù)成像，可只在第一幅圖像中放置雙線型像質(zhì)計。6~8中的最小厚度的對比試件代替被檢工件，但其圖像分辨率不得低于表中的值。表6A級檢測技術(shù)應(yīng)達(dá)到的分辨率（力）公稱厚度（T）或透照厚度（W）范圍/mm絲號分辨率lp/mm分辨力mm≤1.5D127.940.063＞1.5～2D116.250.08＞2～5D105.000.10＞5～10D93.850.13＞10～25D83.1250.16＞25～55D72.500.20＞55～150D62.000.25表7AB級檢測技術(shù)應(yīng)達(dá)到的分辨率（力）公稱厚度（T）或透照厚度（W）范圍/mm絲號分辨率lp/mm分辨力mm≤1.5D1310.000.05≤1.5~2D127.940.063＞2～5D116.250.08＞5～10D105.000.10＞10～25D93.850.13＞25～55D83.1250.16＞55～150D72.500.20表8B級檢測技術(shù)應(yīng)達(dá)到的分辨率（力）公稱厚度（T）或透照厚度（W）范圍/mm絲號分辨率lp/mm分辨力mm≤1.5D1412.50.04＞1.5～4D1310.000.05＞4～8D127.940.063＞8～12D116.250.08＞12～40D105.000.10＞40～120D93.850.13雙線型像質(zhì)計的識別雙線型像質(zhì)計的識別方法見附錄E。圖像評定一般要求圖像質(zhì)量滿足規(guī)定的要求后，方可進(jìn)行被檢工件質(zhì)量的等級評定?？赏ㄟ^正像（片）或負(fù)像（片）的方式顯示。應(yīng)在光線柔和的環(huán)境下觀察圖像，顯示器屏幕應(yīng)清潔、無明顯的光線反射。圖像有效評定區(qū)域內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷圖像識別的偽像。圖像質(zhì)量評定應(yīng)在原始圖像中進(jìn)行，不得采用濾波處理方法。系統(tǒng)軟件要求系統(tǒng)軟件應(yīng)滿足4.2.5的要求。圖像灰度范圍要求圖像有效評定區(qū)域內(nèi)的灰度值應(yīng)控制在滿量程的10%～80%。信噪比要求910對歸一化信噪比的最低要求。歸一化信噪比測試方法見附錄F。表9 歸一化信噪比最低要求（鋼，銅、鎳、鈦及其合金）管電壓范圍/kV透照厚度/mm歸一化信噪比A級AB級B級＜50——140170210≥50～150120140170≥150～250100120140≥250～350≤50100120140＞50100100100≥350～600≤50100120140＞50100100100Ir192，Se75≤50100120140＞50100100100表10歸一化信噪比最低要求（鋁及其合金）管電壓范圍/kV歸一化信噪比A級AB級B級＜150120140170≥150100120140Se75100120140圖像靈敏度要求按照檢測技術(shù)等級的要求及采用的透照方式，圖像靈敏度應(yīng)分別符合表11～13的規(guī)定。22倍公稱厚度。對于帶墊板的焊接接頭，透照厚度應(yīng)包括墊板厚度。圖像分辨率要求按照檢測技術(shù)等級的要求，圖像分辨率分別滿足表6~8的規(guī)定。對于雙壁單影透照方式，透照厚度應(yīng)取公稱厚度；對于小徑管雙壁雙影透照方式，透照厚度應(yīng)取管子直徑。對于帶墊板的焊接接頭，透照厚度應(yīng)包括墊板厚度。補(bǔ)償原則如果圖像分辨率達(dá)不到表6~8的規(guī)定，可通過提高信噪比來提高圖像靈敏度，以補(bǔ)償由于不清晰度達(dá)不到要求而引起對比度靈敏度的降低，信噪比應(yīng)高于6.2.4的要求。例如：對于某一檢測系統(tǒng)，檢測厚度為10mm的工件，要求達(dá)到B級像質(zhì)，如果圖像質(zhì)量不能同時達(dá)到W14D11W15D10可提供等效的檢測靈敏度。補(bǔ)償最大不超過2對絲號。注：對于使用裂紋敏感性材料或標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下限值Rｍ≥540MPa高強(qiáng)度材料進(jìn)行檢測時，不得采取補(bǔ)償。對于某一檢測系統(tǒng)，若給定幾何條件和管電壓，可通過增加曝光量、增加采集幀數(shù)進(jìn)行多幀圖像疊加平均提高信噪比。表圖像靈敏度值——單壁透照、像質(zhì)計置于射線源側(cè)應(yīng)識別絲號（絲徑/mm）公稱厚度T/mmA級AB級B級W19（0.050）——≤1.5W18（0.063）—≤1.2＞1.5～2.5W17（0.080）≤1.2＞1.2～2.0＞2.5～4.0W16（0.100）＞1.2～2.0＞2.0～3.5＞4.0～6.0W15（0.125）＞2.0～3.5＞3.5～5.0＞6.0～8.0W14（0.160）＞3.5～5.0＞5.0～7.0＞8.0～12W13（0.20）＞5.0～7.0＞7.0～10＞12～20W12（0.25）＞7.0～10＞10～15＞20～30W11（0.32）＞10～15＞15～25＞30～35W10（0.40）＞15～25＞25～32＞35～45W9（0.50）＞25～32＞32～40＞45～65W8（0.63）＞32～40＞40～55＞65～120W7（0.80）＞40～55＞55～85＞120～150W6（1.00）＞55～85＞85～150—W5（1.25）＞85～150——表12 圖像靈敏度值——雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于射線源側(cè)應(yīng)識別絲號（絲徑/mm）透照厚度W/mmA級AB級B級W19（0.050）——≤1.5W18（0.063）—≤1.2＞1.5～2.5W17（0.080）≤1.2≤1.2～2.0＞2.5～4.0W16（0.100）≤1.2～2.0＞2.0～3.5＞4.0～6.0W15（0.125）＞2.0～3.5＞3.5～5.0＞6.0～8.0W14（0.160）＞3.5～5.0＞5.0～7.0＞8.0～15W13（0.20）＞5.0～7.0＞7.0～12＞15～25W12（0.25）＞7.0～12＞12～18＞25～38W11（0.32）＞12～18＞18～30＞38～45W10（0.40）＞18～30＞30～40＞45～55W9（0.50）＞30～40＞40～50＞55～70W8（0.63）＞40～50＞50～69＞70～100W7（0.80）＞50～60＞60～85—W6（1.00）＞60～85＞85～120—W5（1.25）＞85～120——表13 圖像靈敏度值——雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于探測器側(cè)應(yīng)識別絲號（絲徑/mm）透照厚度W/mmA級AB級B級W19（0.050）—≤1.5W18（0.063）≤1.2＞1.5～2.5W17（0.080）≤1.2＞1.2～2.0＞2.5～4.0W16（0.100）＞1.2～2.0＞2.0～3.5＞4.0～6.0W15（0.125）＞2.0～3.5＞3.5～5.0＞6.0～12W14（0.160）＞3.5～5.0＞5.0～10＞12～18W13（0.20）＞5.0～10＞10～15＞18～30W12（0.25）＞10～15＞15～22＞30～45W11（0.32）＞15～22＞22～38＞45～55W10（0.40）＞22～38＞38～48＞55～70W9（0.50）＞38～48＞48～60＞70～100W8（0.63）＞48～60＞60～85—W7（0.80）＞60～85＞85～125—W6（1.00）＞85～125——缺陷的識別與測量缺陷的識別缺陷的識別可采用人工識別或計算機(jī)輔助識別方法。缺陷的評定可采用人工評定或計算機(jī)輔助評定方法。缺陷人工識別要求圖像不低于100%顯示。人工識別可通過系統(tǒng)軟件工具對圖像進(jìn)行線性拉伸來改變圖像顯示的灰度范圍，達(dá)到人眼識別的最佳效果。在缺陷評定時，若對原始圖像采用濾波等圖像處理，應(yīng)經(jīng)合同雙方協(xié)商同意，并有相關(guān)文檔記錄。缺陷的測量缺陷幾何尺寸的測量應(yīng)通過系統(tǒng)軟件對檢測缺陷的幾何尺寸進(jìn)行測量，測量公式可參考式（2：S＝k×NS （2）式中：S——幾何尺寸；k——標(biāo)定因子（mm/pixel；NS——由計算機(jī)測量得到的缺陷所占的像素個數(shù)。在缺陷測量前，按照實際檢測工藝，采集含標(biāo)樣的檢測圖像，并進(jìn)行幾何尺寸標(biāo)定，標(biāo)定因子k的計算參見式（3k＝L/Ni （3）式中：L——標(biāo)樣的實際尺寸（mmNi——由計算機(jī)測量得到的標(biāo)樣尺寸所占的像素個數(shù)。缺陷深度的測量缺陷深度的測量可采用模擬試件，得到不同深度(厚度)與圖像灰度的變化規(guī)律，由系統(tǒng)軟件計算實現(xiàn)。承壓設(shè)備焊接接頭焊縫射線數(shù)字成像檢測質(zhì)量分級承壓設(shè)備焊接接頭焊縫射線數(shù)字成像檢測的質(zhì)量分級按照NB/T47013.2的規(guī)定執(zhí)行。圖像保存與存儲圖像存儲DICONDETIF格式執(zhí)行。單位代碼、工件編號、焊縫編號、透照參數(shù)、檢測人員代碼、識別標(biāo)記等信息應(yīng)寫入圖像文件的描述字段中，這些信息應(yīng)具備不可更改性。焊縫編號應(yīng)與圖像編號相對應(yīng)。圖像保存圖像應(yīng)存儲在數(shù)字存儲介質(zhì)中并存檔。檢測圖像應(yīng)備份不少于兩份，相應(yīng)的原始記錄和檢測報告也應(yīng)同期保存。圖像應(yīng)長期保存，在有效保存期內(nèi)，圖像數(shù)據(jù)不得丟失和更改。檢測記錄和報告應(yīng)按照現(xiàn)場操作的實際情況詳細(xì)記錄檢測過程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)。射線數(shù)字成像檢測記錄除符合NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：a）制造單位、檢測單位或委托單位；b）被檢工件：坡口型式、焊接方法；c）使用的檢測工藝文件編號；檢測設(shè)備：射線源種類、焦點(diǎn)（或源）尺寸、探測器像素尺寸；檢測工藝參數(shù)：檢測技術(shù)等級、透照方式、透照幾何參數(shù)、像質(zhì)計（類型和規(guī)格（類型、數(shù)量和厚度、射線能量、曝光量、采集幀數(shù)、軟件處理方式和條件等；圖像評定：灰度值范圍、歸一化信噪比、圖像靈敏度、圖像分辨率；缺陷位置、缺陷性質(zhì)和大??；檢測工藝文件驗證情況；其他需要說明或記錄的事項。應(yīng)依據(jù)檢測記錄出具檢測報告。檢測報告除符合NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：a）制造單位、檢測單位或委托單位；b）被檢工件：坡口型式、焊接方法；c）使用的檢測工藝文件編號；檢測設(shè)備：射線源種類、焦點(diǎn)（或源）尺寸、探測器型號；檢測工藝參數(shù)：檢測技術(shù)等級、透照方式、透照幾何參數(shù)、濾波板、像質(zhì)計、射線能量、曝光量、采集幀數(shù)、軟件處理方式和條件等；圖像評定：灰度范圍、歸一化信噪比、圖像靈敏度、圖像分辨率；缺陷位置性質(zhì)和等級。工藝驗證報告。附錄A（規(guī)范性附錄）系統(tǒng)分辨率核查方法系統(tǒng)分辨率核查用檢測系統(tǒng)雙線型像質(zhì)計進(jìn)行測試。雙線型像質(zhì)計樣式見GB/T23901.5。核查方法2°~5射線源至探測器輸入屏表面的距離不小于1000mm，但應(yīng)保證檢測系統(tǒng)的幾何不清晰度不大于探測器像素尺寸的5%。X射線源時，不同材料的曝光參數(shù)：對于輕合金材料：管電壓90kV，1mm鋁濾波板；對于鋼、銅、鎳及其合金材料：厚度≤20mm時，管電壓160kV，1mm銅濾波板；對于鋼、銅、鎳及其合金材料：厚度＞20mm時，管電壓220kV，2mm銅濾波板。使用γ射線源時，采用不同濾波板：1）Se75：2mm4mm鋼濾波板；2）Ir192：4mm8mm鋼濾波板?；叶戎挡恍∮谧畲蠡叶戎档?0%。測量信噪比：像素值≥80μm時，SNRm≥100；像素值＜80μm時，SNRm≥70系統(tǒng)分辨率的識別方法參見附錄E。系統(tǒng)分辨率的評定最低系統(tǒng)分辨率要求見表6~當(dāng)成像系統(tǒng)用于檢測小徑管時，表6~8對應(yīng)的透照厚度應(yīng)取2倍管子壁厚。附錄B（資料性附錄）典型透照方式對接焊縫典型透照方式B.1～B.6d表示射線源，表示射線源到探測器的距離，b表示被檢工件源側(cè)表面至探測器的最大距離，f表示射線源至被檢工件的垂直距離，T表示公稱厚度，Do表示管子外徑。1表示探測器，2表示被撿工件。圖B.1環(huán)焊縫射線源在外雙壁單影透照方式（1）圖B.2環(huán)焊縫射線源在外雙壁單影透照方式（2）圖B.3小徑管環(huán)焊縫傾斜透照方式(橢圓成像)圖B.4小徑管環(huán)焊縫垂直透照方式圖B.5縱、環(huán)縫射線源在外單壁透照方式圖B.6縱、環(huán)縫射線源在內(nèi)單壁透照方式管座角焊縫典型透照方式圖B.7～B.9給出了常用的管座角焊縫典型透照方式示意圖，可供透照布置時參考。圖B.7插入式接管角焊縫單壁射線源在內(nèi)中心透照方式B.8插入式接管角焊縫射線源在外單壁透照方式ddB.9安放式接管角焊縫射線源在外單壁透照方式附錄C（規(guī)范性附錄）b值計算縱縫（直縫）b值的計算圖C.1為縱縫的透照布置示意圖。圖中T表示公稱厚度，bg表示探測器與工件之間的最大距離。b值按式（C.1）計算：b=T+bg (C.1)圖C.1縱縫透照示意圖 圖C.2環(huán)縫源在外單壁透照示意圖環(huán)縫源在外單壁透照b值的計算圖C.2為環(huán)縫源在外單壁透照布置示意圖。b值按式（C.1）計算。環(huán)縫源在內(nèi)單壁透照方式（F≤T+bg）b值的計算圖C.3為環(huán)縫源在內(nèi)單壁透照方式（F≤T+bg）的透照布置示意圖，F(xiàn)表示焦距，be表示環(huán)縫內(nèi)表面上的一次透照長度兩端到被檢區(qū)中心點(diǎn)垂直方向的投影距離。b值按式（C.2）計算。圖C.3環(huán)縫源在內(nèi)單壁透照（F≤T+bg）示意圖????=T+????????+(C.2)其中， =r(1?cos????) (C.3)式中，α—一次透照長度對應(yīng)的半圓心角；R—外半徑；r—內(nèi)半徑，r=R-T。環(huán)縫源在內(nèi)單壁透照（F>T+bg）和雙壁單影透照b值的計算C.4為環(huán)縫源在內(nèi)單壁透照（F>T+bg）和雙壁單影透照布置示意圖，be表示環(huán)縫外表面上的一次透照長度兩端到被檢區(qū)中心點(diǎn)垂直方向的投影距離。b值按式（C.4）計算。圖C.4