軟件評(píng)測(cè)師考試復(fù)習(xí)資料ってれんだ試題及答案姓名：____________________

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.以下哪項(xiàng)不是軟件測(cè)試的四個(gè)基本原則？

A.可重復(fù)性

B.可觀察性

C.可追溯性

D.可修改性

2.在軟件測(cè)試過程中，以下哪個(gè)階段不進(jìn)行測(cè)試用例設(shè)計(jì)？

A.需求分析階段

B.設(shè)計(jì)階段

C.編碼階段

D.測(cè)試階段

3.以下哪項(xiàng)不屬于軟件測(cè)試的類型？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.運(yùn)行時(shí)測(cè)試

4.以下哪個(gè)軟件測(cè)試方法適用于驗(yàn)證軟件的功能？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.混合測(cè)試

D.靜態(tài)測(cè)試

5.以下哪個(gè)不屬于軟件測(cè)試的自動(dòng)化工具？

A.Selenium

B.QTP

C.LoadRunner

D.JMeter

6.在軟件測(cè)試過程中，以下哪個(gè)階段是測(cè)試人員與開發(fā)人員溝通最頻繁的階段？

A.需求分析階段

B.設(shè)計(jì)階段

C.編碼階段

D.測(cè)試階段

7.以下哪個(gè)不是軟件測(cè)試報(bào)告的主要內(nèi)容？

A.測(cè)試結(jié)果

B.缺陷分析

C.測(cè)試計(jì)劃

D.測(cè)試用例

8.在軟件測(cè)試過程中，以下哪個(gè)階段是測(cè)試用例執(zhí)行的關(guān)鍵？

A.需求分析階段

B.設(shè)計(jì)階段

C.編碼階段

D.測(cè)試階段

9.以下哪個(gè)不屬于軟件測(cè)試的缺陷分類？

A.缺陷嚴(yán)重程度

B.缺陷優(yōu)先級(jí)

C.缺陷類型

D.缺陷狀態(tài)

10.在軟件測(cè)試過程中，以下哪個(gè)階段是測(cè)試人員對(duì)軟件進(jìn)行綜合評(píng)估的階段？

A.需求分析階段

B.設(shè)計(jì)階段

C.編碼階段

D.測(cè)試階段

答案：

1.D

2.C

3.D

4.A

5.D

6.D

7.C

8.D

9.D

10.D

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.軟件測(cè)試的目的是什么？

A.驗(yàn)證軟件的功能是否滿足需求

B.發(fā)現(xiàn)并報(bào)告軟件中的缺陷

C.評(píng)估軟件的質(zhì)量

D.提高軟件的可用性

2.以下哪些是軟件測(cè)試的四個(gè)基本原則？

A.可重復(fù)性

B.可觀察性

C.可追溯性

D.可維護(hù)性

3.以下哪些屬于軟件測(cè)試的類型？

A.單元測(cè)試

B.集成測(cè)試

C.系統(tǒng)測(cè)試

D.驗(yàn)收測(cè)試

4.以下哪些是軟件測(cè)試用例設(shè)計(jì)的原則？

A.完整性

B.簡(jiǎn)潔性

C.可讀性

D.可執(zhí)行性

5.以下哪些是軟件測(cè)試用例執(zhí)行的狀態(tài)？

A.未執(zhí)行

B.執(zhí)行中

C.通過

D.未通過

6.以下哪些是軟件測(cè)試的自動(dòng)化工具？

A.Selenium

B.QTP

C.LoadRunner

D.SonarQube

7.以下哪些是軟件測(cè)試報(bào)告的主要內(nèi)容？

A.測(cè)試結(jié)果

B.缺陷分析

C.測(cè)試計(jì)劃

D.測(cè)試用例

8.以下哪些是軟件測(cè)試的缺陷分類依據(jù)？

A.缺陷嚴(yán)重程度

B.缺陷優(yōu)先級(jí)

C.缺陷類型

D.缺陷狀態(tài)

9.以下哪些是軟件測(cè)試的生命周期？

A.需求分析

B.設(shè)計(jì)

C.編碼

D.測(cè)試

10.以下哪些是軟件測(cè)試的常見方法？

A.黑盒測(cè)試

B.白盒測(cè)試

C.混合測(cè)試

D.靜態(tài)測(cè)試

答案：

1.A,B,C,D

2.A,B,C

3.A,B,C,D

4.A,B,C,D

5.A,B,C,D

6.A,B,C

7.A,B,C

8.A,B,C,D

9.A,B,C,D

10.A,B,C,D

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.軟件測(cè)試只關(guān)注軟件的功能，不考慮其性能。（×）

2.單元測(cè)試是軟件測(cè)試中最重要的階段。（√）

3.軟件測(cè)試用例必須覆蓋所有可能的輸入值。（×）

4.白盒測(cè)試主要用于發(fā)現(xiàn)軟件中的邏輯錯(cuò)誤。（√）

5.軟件測(cè)試報(bào)告應(yīng)該包含測(cè)試過程中的所有細(xì)節(jié)。（√）

6.缺陷的嚴(yán)重程度越高，優(yōu)先級(jí)就越低。（×）

7.自動(dòng)化測(cè)試可以完全替代手工測(cè)試。（×）

8.軟件測(cè)試的目的是確保軟件符合所有用戶的需求。（×）

9.驗(yàn)收測(cè)試是軟件測(cè)試的最后一個(gè)階段。（√）

10.軟件測(cè)試應(yīng)該在整個(gè)軟件開發(fā)生命周期中進(jìn)行。（√）

四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共6題）

1.簡(jiǎn)述軟件測(cè)試的基本流程。

2.解釋黑盒測(cè)試和白盒測(cè)試的區(qū)別。

3.描述軟件測(cè)試用例設(shè)計(jì)的方法和步驟。

4.說明軟件測(cè)試自動(dòng)化工具的選擇標(biāo)準(zhǔn)。

5.如何評(píng)估軟件測(cè)試報(bào)告的質(zhì)量？

6.在軟件測(cè)試過程中，如何處理和跟蹤缺陷？

試卷答案如下：

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.D

解析：軟件測(cè)試的四個(gè)基本原則包括可重復(fù)性、可觀察性、可追溯性和可維護(hù)性，其中可修改性不是測(cè)試原則之一。

2.C

解析：在軟件開發(fā)生命周期的編碼階段，測(cè)試人員并不進(jìn)行測(cè)試用例設(shè)計(jì)，而是集中在代碼編寫上。

3.D

解析：運(yùn)行時(shí)測(cè)試不是一種軟件測(cè)試類型，而是測(cè)試的一個(gè)階段，用于評(píng)估軟件在運(yùn)行環(huán)境中的性能。

4.A

解析：黑盒測(cè)試關(guān)注軟件的功能，不關(guān)心內(nèi)部實(shí)現(xiàn)，適用于驗(yàn)證軟件的功能是否滿足需求。

5.D

解析：SonarQube是一個(gè)代碼質(zhì)量工具，而不是用于執(zhí)行軟件測(cè)試的工具。

6.D

解析：在測(cè)試階段，測(cè)試人員與開發(fā)人員之間的溝通最為頻繁，因?yàn)檫@是發(fā)現(xiàn)和修復(fù)缺陷的關(guān)鍵時(shí)期。

7.C

解析：測(cè)試計(jì)劃是指導(dǎo)整個(gè)測(cè)試過程的文檔，而不是測(cè)試報(bào)告的內(nèi)容。

8.D

解析：測(cè)試階段是測(cè)試人員執(zhí)行測(cè)試用例、發(fā)現(xiàn)缺陷并進(jìn)行跟蹤的關(guān)鍵階段。

9.D

解析：缺陷狀態(tài)包括未執(zhí)行、執(zhí)行中、通過和未通過等，而缺陷分類通?；趪?yán)重程度、優(yōu)先級(jí)、類型和狀態(tài)。

10.D

解析：測(cè)試階段是對(duì)軟件進(jìn)行綜合評(píng)估的階段，包括測(cè)試執(zhí)行、缺陷分析和測(cè)試報(bào)告撰寫等。

二、多項(xiàng)選擇題（每題3分，共10題）

1.A,B,C,D

解析：軟件測(cè)試的目的包括驗(yàn)證功能、發(fā)現(xiàn)缺陷、評(píng)估質(zhì)量和提高可用性。

2.A,B,C

解析：軟件測(cè)試的四個(gè)基本原則是可重復(fù)性、可觀察性、可追溯性和可維護(hù)性。

3.A,B,C,D

解析：軟件測(cè)試的類型包括單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試和驗(yàn)收測(cè)試。

4.A,B,C,D

解析：測(cè)試用例設(shè)計(jì)的原則包括完整性、簡(jiǎn)潔性、可讀性和可執(zhí)行性。

5.A,B,C,D

解析：測(cè)試用例執(zhí)行的狀態(tài)包括未執(zhí)行、執(zhí)行中、通過和未通過。

6.A,B,C

解析：Selenium、QTP和LoadRunner是常用的自動(dòng)化測(cè)試工具，而SonarQube用于代碼質(zhì)量檢查。

7.A,B,C

解析：軟件測(cè)試報(bào)告應(yīng)包含測(cè)試結(jié)果、缺陷分析和測(cè)試計(jì)劃等內(nèi)容。

8.A,B,C,D

解析：軟件測(cè)試的缺陷分類依據(jù)包括嚴(yán)重程度、優(yōu)先級(jí)、類型和狀態(tài)。

9.A,B,C,D

解析：軟件測(cè)試的生命周期包括需求分析、設(shè)計(jì)、編碼和測(cè)試等階段。

10.A,B,C,D

解析：軟件測(cè)試的常見方法包括黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、混合測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試。

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.×

解析：軟件測(cè)試不僅關(guān)注功能，還關(guān)注性能、安全性和用戶體驗(yàn)等方面。

2.√

解析：?jiǎn)卧獪y(cè)試是測(cè)試過程中最早和最重要的階段，用于驗(yàn)證單個(gè)模塊或組件的功能。

3.×

解析：測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)覆蓋所有關(guān)鍵場(chǎng)景和邊界條件，但并非所有可能的輸入值。

4.√

解析：白盒測(cè)試關(guān)注軟件內(nèi)部結(jié)構(gòu)和邏輯，有助于發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤和代碼缺陷。

5.√

解析：軟件測(cè)試報(bào)告應(yīng)包含詳細(xì)的過程記錄和結(jié)果分析，以便于跟蹤和管理測(cè)試過程。

6.×

解析：缺陷的嚴(yán)重程度越高，通常優(yōu)先級(jí)也越高，因?yàn)樗鼈儗?duì)軟件質(zhì)