微束分析 分析電子顯微術(shù) 核殼顆粒殼壁厚度的測量方法 編制說明_第1頁
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文檔簡介

2國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會文件國標(biāo)委發(fā)[2025]12號文“國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會應(yīng)用領(lǐng)域比較廣泛。在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，核殼材料主要作為醫(yī)藥載體,將藥物包埋在微一種結(jié)合納米材料高表面活性與稀土在催化劑中的催化助劑特點(diǎn)而制備的一種34本標(biāo)準(zhǔn)制定過程中對納米級核殼顆粒殼壁厚度的測定步驟進(jìn)行了充分的實(shí)5個(gè)區(qū)域，在每個(gè)紅色矩形區(qū)內(nèi)設(shè)置測量像素點(diǎn)強(qiáng)度的直線L6差分處理結(jié)果如圖4所示。殼厚度為差分曲線上最高峰和最低峰兩點(diǎn)之間對應(yīng)的x軸讀數(shù)差值，即S1和S2兩點(diǎn)對應(yīng)的x軸差7123該方法為圖像處理分析方法。不確定度只要來源是ROI設(shè)置和圖像成像效當(dāng)圓心角在5-7°范圍內(nèi)，測量單個(gè)球的殼厚度數(shù)值最大變化范圍是0.08nm。89

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