概述驗(yàn)證的基本概念驗(yàn)證：保證某種形式的轉(zhuǎn)換是符合我們所期望的。它是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程。功能驗(yàn)證：保證設(shè)計(jì)正確的實(shí)現(xiàn)了規(guī)范所定義的功能。形式驗(yàn)證：形式驗(yàn)證采用數(shù)學(xué)的方法來(lái)驗(yàn)證一個(gè)設(shè)計(jì)的不同描述是等價(jià)的。平等性檢測(cè)、模型檢測(cè)。驗(yàn)證平臺(tái)（Testbench)：一段代碼用來(lái)對(duì)一個(gè)設(shè)計(jì)產(chǎn)生預(yù)先決定了的輸入序列，然后選擇性的觀察響應(yīng)，是一個(gè)封閉式的系統(tǒng)。概述驗(yàn)證面臨的挑戰(zhàn)驗(yàn)證的主導(dǎo)地位SOC設(shè)計(jì)的關(guān)鍵是IP復(fù)用，IP復(fù)用的關(guān)鍵是信任，信任的關(guān)鍵是完整正確的驗(yàn)證。在當(dāng)今百萬(wàn)門(mén)級(jí)的ASIC，IP，SoC設(shè)計(jì)中，驗(yàn)證消耗了大約70%的設(shè)計(jì)努力。

用于驗(yàn)證的工程師的人數(shù)是RTL設(shè)計(jì)工程師的兩倍。

當(dāng)一個(gè)設(shè)計(jì)完成的時(shí)候驗(yàn)證代碼的長(zhǎng)度占總代碼長(zhǎng)度的80%。

驗(yàn)證要解決的問(wèn)題如何保證驗(yàn)證是充分的？如何實(shí)現(xiàn)驗(yàn)證的自動(dòng)化？概述設(shè)計(jì)各階段驗(yàn)證的內(nèi)容前段設(shè)計(jì):功能驗(yàn)證：代碼是否符合設(shè)計(jì)規(guī)范等價(jià)性驗(yàn)證：各層次的功能是否滿足原有功能規(guī)范后端設(shè)計(jì)：功能：門(mén)級(jí)仿真（后仿真）性能：靜態(tài)時(shí)序分析物理設(shè)計(jì)：規(guī)則檢查電氣規(guī)則檢查、設(shè)計(jì)規(guī)則檢查、版圖對(duì)電路檢查信號(hào)完整性、干擾、金屬遷移、噪聲……概述功能驗(yàn)證與芯片測(cè)試的差別驗(yàn)證要解決的問(wèn)題這個(gè)設(shè)計(jì)的功能是否正確？測(cè)試要解決的問(wèn)題一個(gè)正確的設(shè)計(jì)，在物理實(shí)現(xiàn)過(guò)程中是否有制造缺陷？二者的相同點(diǎn)施加激勵(lì)---〉觀看響應(yīng)二者的不同點(diǎn)驗(yàn)證施加的激勵(lì)要人來(lái)編寫(xiě)測(cè)試施加的激勵(lì)是工具自動(dòng)產(chǎn)生的，響應(yīng)也是自動(dòng)計(jì)算出來(lái)的。整個(gè)過(guò)程完全的自動(dòng)化。SpecificationNetlistSiliconVerificationHWDesignManufacturingTesting驗(yàn)證與測(cè)試之間的差別功能驗(yàn)證的方法1.黑盒驗(yàn)證（Black-BoxVerification）2.白盒驗(yàn)證（White-BoxVerification）3.灰盒驗(yàn)證（Grey-BoxVerification）黑盒驗(yàn)證黑盒驗(yàn)證是一種不考慮內(nèi)部實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)的功能驗(yàn)證方法，驗(yàn)證人員在RTL級(jí)設(shè)計(jì)輸入端施加激勵(lì)信號(hào)，然后將輸出值與預(yù)期值相比較，一驗(yàn)證設(shè)計(jì)是否正確。黑盒驗(yàn)證優(yōu)點(diǎn)有：第一，簡(jiǎn)單，驗(yàn)證者無(wú)須了解RTL級(jí)設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)，在搭建測(cè)試平臺(tái)（testbench）時(shí)不會(huì)受RTL級(jí)設(shè)計(jì)思路的影響，因此能避免按RTL設(shè)計(jì)的實(shí)現(xiàn)思路驗(yàn)證RTL級(jí)設(shè)計(jì)的情況。黑盒驗(yàn)證的主要缺點(diǎn)是可觀察性差，由于驗(yàn)證人員對(duì)內(nèi)部的實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)不了解，無(wú)法插入內(nèi)部測(cè)試點(diǎn)，很難對(duì)錯(cuò)誤進(jìn)行迅速定位，在大規(guī)模設(shè)計(jì)中難以跟蹤錯(cuò)誤的根源。白盒驗(yàn)證與黑盒驗(yàn)證相反，百盒驗(yàn)證指驗(yàn)證人員對(duì)內(nèi)部的設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)熟悉且在能對(duì)內(nèi)部信號(hào)進(jìn)行完全的控制和觀察的情況下進(jìn)行驗(yàn)證。白盒驗(yàn)證的優(yōu)點(diǎn)：易于觀察和控制驗(yàn)證的進(jìn)展情況，可以通過(guò)事先設(shè)置的觀測(cè)點(diǎn)，在錯(cuò)誤出現(xiàn)后，很快定位問(wèn)題的根源。白盒驗(yàn)證的缺點(diǎn)：一、需要耗費(fèi)更長(zhǎng)的時(shí)間去了解RTL級(jí)的實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)，且難以實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)與驗(yàn)證分離，驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)可能會(huì)受設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)思路的影響，出現(xiàn)沿著設(shè)計(jì)思路去驗(yàn)證的現(xiàn)象；二驗(yàn)證環(huán)境需要很大的維護(hù)工作量，這是因?yàn)轵?yàn)證環(huán)境與設(shè)計(jì)和系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn)方式緊密結(jié)合，有時(shí)，即時(shí)一個(gè)信號(hào)名稱(chēng)發(fā)生變化，白盒檢查器模塊也必須跟著變化，這可能會(huì)變成維護(hù)工作的噩夢(mèng)。因此，這種類(lèi)型的驗(yàn)證通常只在低層次的結(jié)構(gòu)上進(jìn)行。灰盒驗(yàn)證灰盒驗(yàn)證介于黑盒驗(yàn)證和白盒驗(yàn)證之間，驗(yàn)證人員熟悉RTL級(jí)設(shè)計(jì)原理，但并不需要了解具體模塊的實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié),驗(yàn)證工程師以黑盒驗(yàn)證的方式寫(xiě)測(cè)試用例(Testcase),同時(shí)，驗(yàn)證工程師需要監(jiān)測(cè)或觀察某些內(nèi)部信號(hào)以協(xié)助驗(yàn)證黑盒級(jí)別的功能規(guī)范，待驗(yàn)證的設(shè)計(jì)模塊的其余部分仍保持不可見(jiàn)性。灰盒驗(yàn)證是用于大多數(shù)驗(yàn)證環(huán)境的模型，這主要是因?yàn)閷?duì)于某些接口級(jí)別的結(jié)果的預(yù)測(cè)，如果通過(guò)不觀察內(nèi)部信號(hào)就實(shí)現(xiàn)幾乎是不可能。驗(yàn)證人員可以在RTL級(jí)的關(guān)鍵模塊插入測(cè)試點(diǎn)以快速定位問(wèn)題。驗(yàn)證等級(jí)存在很多級(jí)別的驗(yàn)證等級(jí)，下面給出一些典型的驗(yàn)證等級(jí)，在實(shí)際實(shí)現(xiàn)中可能有更多或者更少的級(jí)別，這取決于設(shè)計(jì)的復(fù)雜性。驗(yàn)證等級(jí)從低到高依次為：1.設(shè)計(jì)者級(jí)驗(yàn)證

通常由設(shè)計(jì)者自己驗(yàn)證，保證自己設(shè)計(jì)模塊的正確性。2.單元級(jí)驗(yàn)證為了使驗(yàn)證更容易進(jìn)行，設(shè)計(jì)應(yīng)該劃分為包含基本獨(dú)立功能的一些單元，例如：直接存儲(chǔ)器訪問(wèn)（DMA）、算術(shù)邏輯單元（ALU）、浮點(diǎn)單元（FPU）等。驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)可以使用隨機(jī)的測(cè)試激勵(lì)和獨(dú)立的檢查機(jī)制來(lái)創(chuàng)建先進(jìn)的驗(yàn)證環(huán)境。3.內(nèi)核級(jí)驗(yàn)證內(nèi)核是特殊的可重用的單元，需要有固定接口的完整功能規(guī)范。內(nèi)核一旦被驗(yàn)證，重用該內(nèi)核不會(huì)再增加驗(yàn)證的負(fù)擔(dān)。驗(yàn)證等級(jí)4.芯片級(jí)驗(yàn)證

芯片是由多個(gè)單元組成的，這一層次擁有定義明確的接口邊界。驗(yàn)證的目的是確保這些組成單元正確連接以及確保設(shè)計(jì)符合所有的單元接口協(xié)議。5.板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證電路板是芯片的集合，板級(jí)和系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證的目的是確認(rèn)芯片互連、集成和電路板設(shè)計(jì)，并不關(guān)注芯片和單元內(nèi)部的具體功能，因?yàn)檫@時(shí)會(huì)假設(shè)前面所有低層次的驗(yàn)證已經(jīng)全面完成。6.硬件/軟件協(xié)同驗(yàn)證硬件/軟件協(xié)同驗(yàn)證是將系統(tǒng)級(jí)硬件和運(yùn)行在硬件上的代碼結(jié)合起來(lái)進(jìn)行驗(yàn)證，目的是找出硬件設(shè)計(jì)者和軟件架構(gòu)工程師以及程序員對(duì)于規(guī)范理解不一致導(dǎo)致的錯(cuò)誤。驗(yàn)證周期：一個(gè)結(jié)構(gòu)化的流程一個(gè)較為完整的驗(yàn)證周期應(yīng)該包括以下8個(gè)步驟：一、功能規(guī)范功能規(guī)范是驗(yàn)證周期的基礎(chǔ)，功能規(guī)范描述了預(yù)期的產(chǎn)品，它包含用于通信接口的規(guī)范，必須實(shí)現(xiàn)的功能以及影響設(shè)計(jì)的條件。二、建立驗(yàn)證計(jì)劃驗(yàn)證計(jì)劃十分關(guān)鍵，因?yàn)樗磉_(dá)了驗(yàn)證工作的詳盡描述，它回答了“在驗(yàn)證什么？”和“打算怎樣進(jìn)行驗(yàn)證？”的問(wèn)題。

驗(yàn)證計(jì)劃包含的內(nèi)容如下：驗(yàn)證周期：一個(gè)結(jié)構(gòu)化的流程1）具體測(cè)試和方法——定義由驗(yàn)證工程師創(chuàng)建的環(huán)境的種類(lèi)。2）所需的工具——支持所描述的驗(yàn)證環(huán)境所必須的軟件列表。3）完成的標(biāo)準(zhǔn)——定義表示驗(yàn)證所完成的度量標(biāo)準(zhǔn)。4）需要的資源（人員、硬件和軟件）和詳細(xì)進(jìn)度表。5）待驗(yàn)證的功能——列出某一層將被驗(yàn)證的功能。6）未被覆蓋的功能——描述必須在分級(jí)的不同層進(jìn)行驗(yàn)證的功能，這些功能的驗(yàn)證必須在驗(yàn)證計(jì)劃的不同部分被具體說(shuō)明。驗(yàn)證周期：一個(gè)結(jié)構(gòu)化的流程三、驗(yàn)證環(huán)境驗(yàn)證環(huán)境是使得驗(yàn)證工程師可以發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷的一系列軟件代碼和工具的組合。驗(yàn)證環(huán)境的主要組成部分是基于模擬驗(yàn)證的測(cè)試激勵(lì)生成和檢查機(jī)制，以及形式驗(yàn)證環(huán)境的規(guī)則生成。

存在多種不同形式的驗(yàn)證環(huán)境，包括確定型的驗(yàn)證環(huán)境、基于隨機(jī)的驗(yàn)證環(huán)境、基于形式化的驗(yàn)證環(huán)境，以及測(cè)試用例生成器。驗(yàn)證周期：一個(gè)結(jié)構(gòu)化的流程四、調(diào)試硬件描述語(yǔ)言和環(huán)境在這個(gè)環(huán)節(jié)，驗(yàn)證的工作為：將驗(yàn)證環(huán)境與HDL設(shè)計(jì)集成起來(lái)，通過(guò)運(yùn)行測(cè)試集來(lái)調(diào)試硬件。在測(cè)試集的運(yùn)行過(guò)程中，可能會(huì)發(fā)現(xiàn)各種異常現(xiàn)象，并對(duì)它們進(jìn)行診斷，這些診斷用于發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤的源頭，它們要么存在于驗(yàn)證的環(huán)境中，要么存在于HDL的設(shè)計(jì)中。如果錯(cuò)誤是發(fā)生在驗(yàn)證環(huán)境中，驗(yàn)證工程師更新軟件來(lái)糾正預(yù)測(cè)的行為。反之，如果HDL設(shè)計(jì)存在錯(cuò)誤，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)必須更正錯(cuò)誤。需要注意的是：一旦錯(cuò)誤被修補(bǔ)好，驗(yàn)證工程師會(huì)重新運(yùn)行與原來(lái)一樣的測(cè)試集，保證這些更新糾正了原有的錯(cuò)誤，并且沒(méi)有引入新的問(wèn)題。驗(yàn)證周期：一個(gè)結(jié)構(gòu)化的流程五、回歸測(cè)試回歸測(cè)試是在驗(yàn)證計(jì)劃中定義的測(cè)試集的連續(xù)運(yùn)行。鑒于兩個(gè)原因，回歸測(cè)試成為驗(yàn)證周期中的必要步驟：第一個(gè)原因是驗(yàn)證環(huán)境常有的隨機(jī)化元素，它們?cè)诿看悟?yàn)證團(tuán)隊(duì)運(yùn)行測(cè)試時(shí)驅(qū)動(dòng)不同的輸入情況；第二個(gè)原因是在設(shè)計(jì)修補(bǔ)和更新后，驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)必須重復(fù)驗(yàn)證原來(lái)所有的測(cè)試集。六、硬件制造

當(dāng)硬件符合所有的流片標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)將硬件交給制造廠。將芯片交給制造工廠，就是大家所熟知的流片。在流片交付到從制造廠中取回部分芯片之間的時(shí)間段，仍需要采用隨機(jī)參數(shù)持續(xù)進(jìn)行回歸測(cè)試進(jìn)一步發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤。驗(yàn)證周期：一個(gè)結(jié)構(gòu)化的流程七、調(diào)試流片后的硬件（系統(tǒng)測(cè)試）

一旦芯片流片完成，且芯片的制造測(cè)試已經(jīng)通過(guò)（它證明沒(méi)有會(huì)影響硬件功能的物理缺陷），硬件就會(huì)被裝配到測(cè)試系統(tǒng)中。這時(shí)，硬件調(diào)試團(tuán)隊(duì)執(zhí)行硬件的啟動(dòng)，在硬件啟動(dòng)過(guò)程中，更進(jìn)一步的問(wèn)題就會(huì)暴露出來(lái)。這時(shí)如果發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤，將會(huì)付出昂貴的代價(jià)，如果一個(gè)問(wèn)題被確認(rèn)為功能錯(cuò)誤，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)就必須對(duì)它進(jìn)行修復(fù)，修復(fù)錯(cuò)誤的方法可以有很多種。包括利用系統(tǒng)微碼來(lái)避免失效的條件。但是，如果錯(cuò)誤的修復(fù)必須在硬件層面進(jìn)行，那就需要重新流片了。驗(yàn)證周期：一個(gè)結(jié)構(gòu)化的流程八、逃逸錯(cuò)誤分析

如果錯(cuò)誤在硬件啟動(dòng)階段被發(fā)現(xiàn)，那么驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)必須進(jìn)行“逃逸”錯(cuò)誤分析。這部分工作常常被忽略，但是它卻是驗(yàn)證周期的關(guān)鍵部分，保證驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)完全了解錯(cuò)誤以及為什么沒(méi)能在驗(yàn)證環(huán)境中發(fā)現(xiàn)。驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)必須在模擬環(huán)境中重新產(chǎn)生這個(gè)錯(cuò)誤，如果可能，評(píng)估分析這個(gè)錯(cuò)誤是如何逃過(guò)驗(yàn)證階段進(jìn)入真實(shí)硬件中的。除非在驗(yàn)證中重新產(chǎn)生原來(lái)的錯(cuò)誤，否則驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)無(wú)法斷言這個(gè)錯(cuò)誤的修改是正確的?；镜尿?yàn)證環(huán)境：測(cè)試平臺(tái)

測(cè)試平臺(tái)是指用來(lái)對(duì)某個(gè)設(shè)計(jì)創(chuàng)建、觀察和檢查預(yù)先確定（確定性）的輸入序列的所有代碼。這些預(yù)先確定的輸入序列可能通過(guò)直接的方式或隨機(jī)的方式產(chǎn)生。測(cè)試平臺(tái)包括：待驗(yàn)證的設(shè)計(jì)/邏輯、激勵(lì)模塊、監(jiān)視器模塊、檢查模塊和記分板模塊（不是必需的）。下圖是一個(gè)測(cè)試平臺(tái)的示意圖?；镜尿?yàn)證環(huán)境：測(cè)試平臺(tái)基本的驗(yàn)證環(huán)境：測(cè)試平臺(tái)激勵(lì)模塊激勵(lì)模塊負(fù)責(zé)操縱DUV的輸入。激勵(lì)模塊不需要完全建模相鄰設(shè)計(jì)模塊的全部行為，只需要模仿到DUV接口的輸入即可。所有激勵(lì)模塊必須了解完整的接口協(xié)議，也就是說(shuō)，它們必須能模仿可能出現(xiàn)的所有不同協(xié)議。這一點(diǎn)必須保證，以便DUV可以通過(guò)各種方式被模擬。沒(méi)有完備的協(xié)議激勵(lì)能力，這個(gè)模型就是不完整的。激勵(lì)模塊的最后工作是記錄自身的行為，提供給可能需要執(zhí)行的測(cè)試用例的后仿分析。激勵(lì)模塊需要將相關(guān)事件記入文件，用于初始的測(cè)試用例調(diào)試。基本的驗(yàn)證環(huán)境：測(cè)試平臺(tái)激勵(lì)模型的兩種類(lèi)型發(fā)起器響應(yīng)器發(fā)起器是一種會(huì)發(fā)起一個(gè)或多個(gè)事務(wù)到DUV的激勵(lì)模型；而響應(yīng)器則會(huì)根據(jù)DUV的輸出做出反應(yīng)，并將激勵(lì)信號(hào)反饋給DUV。發(fā)起器和響應(yīng)器之間的區(qū)別在于響應(yīng)器作為從屬模塊受DUV的支配，它只會(huì)根據(jù)DUV發(fā)出的請(qǐng)求、命令或其他要求的結(jié)果將激勵(lì)反饋給DUV?；镜尿?yàn)證環(huán)境：測(cè)試平臺(tái)監(jiān)視器監(jiān)視器是觀測(cè)驗(yàn)證環(huán)境各方面狀態(tài)的模塊。監(jiān)視器是自成一體，主要用于觀測(cè)：1）DUV的輸出是否符合協(xié)議（最基本的功能）。2）DUV的輸入，用于支持功能覆蓋率分析和記分板信息更新。3）DUV內(nèi)部那些驗(yàn)證環(huán)境所關(guān)心的事件。4）提供后仿信息。監(jiān)視器應(yīng)該能夠在一個(gè)運(yùn)行文檔中記錄接口事件，并按一定格式輸出以增加可讀性和幫助調(diào)試?；镜尿?yàn)證環(huán)境：測(cè)試平臺(tái)檢查器檢查器是一種特殊類(lèi)型的監(jiān)控器，它只收集DUV的輸出。另外，它是從功能角度來(lái)驗(yàn)證設(shè)計(jì)是否按照要求來(lái)工作，而不只是從協(xié)議的角度。檢查器可能需要從監(jiān)視器或記分板獲得信息以完成任務(wù)。檢查器需要知道出現(xiàn)了什么樣的激勵(lì)，以獨(dú)立地預(yù)測(cè)功能的結(jié)果。檢查器對(duì)這些預(yù)期結(jié)果和DUV的實(shí)際輸出進(jìn)行比較，如果匹配，則驗(yàn)證繼續(xù)或成功結(jié)束，如果不匹配，記錄一個(gè)失敗信息?；镜尿?yàn)證環(huán)境：測(cè)試平臺(tái)記分板記分板是用來(lái)臨時(shí)保存檢查器所需信息的模塊。是觀測(cè)驗(yàn)證環(huán)境各方面狀態(tài)的模塊。檢查器可以用兩種方法使用記分板。1）參考模型在檢查器模塊中，記分板的作用是檢查事件將出現(xiàn)時(shí)的輸入，捕捉有關(guān)信息，并存儲(chǔ)信息以供后繼使用。2）記分板就是參考模型，并且依據(jù)它觀察到的輸入激勵(lì)進(jìn)行預(yù)期結(jié)果的計(jì)算。當(dāng)檢查器發(fā)現(xiàn)DUV輸出，它就會(huì)在記分板中查找預(yù)期數(shù)據(jù)并執(zhí)行比較工作。驗(yàn)證平臺(tái)的構(gòu)建技巧目標(biāo)如何才能方便的產(chǎn)生所需要的激勵(lì)？如何才能實(shí)現(xiàn)響應(yīng)分析的自動(dòng)化？如何讓驗(yàn)證單元得到最大的復(fù)用？手段采用可以復(fù)用的結(jié)構(gòu)采用抽象的BFM采用self-check的Monitor驗(yàn)證衡量方法—覆蓋率

硬件代碼覆蓋率：可以在仿真過(guò)程中通過(guò)硬件代碼覆蓋率分析工具來(lái)評(píng)定驗(yàn)證測(cè)試序列的覆蓋率指標(biāo)。把特定的測(cè)試驗(yàn)證序列輸入到特定設(shè)計(jì)中，通過(guò)代碼覆蓋率分析就有可能得出功能覆蓋率的某些方面的信息。分析工具可以提供以下信息：每個(gè)被評(píng)估屬性的百分比的覆蓋率值設(shè)計(jì)中沒(méi)有執(zhí)行或者只是部分執(zhí)行的區(qū)域的列表驗(yàn)證衡量方法—覆蓋率

硬件代碼覆蓋率：可以在仿真過(guò)程中通過(guò)硬件代碼覆蓋率分析工具來(lái)評(píng)定驗(yàn)證測(cè)試序列的覆蓋率指標(biāo)。把特定的測(cè)試驗(yàn)證序列輸入到特定設(shè)計(jì)中，通過(guò)代碼覆蓋率分析就有可能得出功能覆蓋率的某些方面的信息。分析工具可以提供以下信息：每個(gè)被評(píng)估屬性的百分比的覆蓋率值設(shè)計(jì)中沒(méi)有執(zhí)行或者只是部分執(zhí)行的區(qū)域的列表驗(yàn)證衡量方法—覆蓋率

代碼覆蓋率分析通常是在設(shè)計(jì)流程的RTL級(jí)上進(jìn)行的，評(píng)估的是以下類(lèi)型的覆蓋率：

語(yǔ)句覆蓋率：表明每條語(yǔ)句被執(zhí)行的次數(shù)；信號(hào)觸發(fā)覆蓋率：表明設(shè)計(jì)信號(hào)中的哪一位被觸發(fā)；有限狀態(tài)機(jī)覆蓋率：表明進(jìn)行了多少個(gè)有限狀態(tài)機(jī)的轉(zhuǎn)變過(guò)程，可以視為路徑覆蓋率的一部分；被訪問(wèn)狀態(tài)覆蓋率：表明有限狀態(tài)機(jī)有多少個(gè)的狀態(tài)參與了仿真；觸發(fā)覆蓋率：表明每個(gè)進(jìn)程是否被敏感度列表中的每個(gè)信號(hào)唯一觸發(fā)到；分支覆蓋率：表明哪一條“case”或者“if…else”語(yǔ)句被執(zhí)行；表達(dá)式覆蓋率：表明“if”條件布爾表達(dá)式或賦值布爾表達(dá)式的執(zhí)行的好壞程度；路徑覆蓋率：表明通過(guò)“if…else”和“case”順序結(jié)構(gòu)的哪條路徑被執(zhí)行；信號(hào)覆蓋率：表明狀態(tài)信號(hào)或ROM尋址的執(zhí)行的好壞程度。測(cè)試激勵(lì)生成策略

測(cè)試激勵(lì)生成的類(lèi)型：驗(yàn)證計(jì)劃明確描述了每一層假定的驗(yàn)證環(huán)境。在計(jì)劃階段，驗(yàn)證人員就激勵(lì)生成做一些基本的選擇。兩個(gè)最基本的決策是：1）確定性激勵(lì)生成與隨機(jī)性激勵(lì)生成2）預(yù)生成測(cè)試用例與實(shí)時(shí)生成測(cè)試用例測(cè)試激勵(lì)生成策略

確定性和隨機(jī)激勵(lì)生成確定性激勵(lì)是指：在運(yùn)行之前，所有的測(cè)試激勵(lì)都是完全確定的。隨機(jī)激勵(lì)是指：激勵(lì)生成部件，使用偽隨機(jī)數(shù)發(fā)生器和概率表決定輸入激勵(lì)。驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)把DUV協(xié)議的信息編碼到激勵(lì)部件，限制輸入必須是合法的。在運(yùn)行前驗(yàn)證工程師可能會(huì)調(diào)整概率表，而概率表則會(huì)影響部件發(fā)送什么輸入以及間隔多長(zhǎng)時(shí)間發(fā)送一次。大多數(shù)驗(yàn)證環(huán)境避免使用完全隨機(jī)的激勵(lì)生成。一般情況下，完全隨機(jī)激勵(lì)沒(méi)有遵循DUV的輸入?yún)f(xié)議會(huì)產(chǎn)生不合法的情況。因此，隨機(jī)環(huán)境通常使用約束限制輸入為輸入空間的合法子集。測(cè)試激勵(lì)生成策略

大多數(shù)驗(yàn)證計(jì)劃初期時(shí)都需要確定性測(cè)試用例。當(dāng)基本的場(chǎng)景測(cè)試用例在復(fù)雜的DUV上通過(guò)之后，驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)將使用隨機(jī)生成測(cè)試用例以覆蓋更多的狀態(tài)空間。因此測(cè)試將沿著如圖所示的軸從左到右的趨勢(shì)測(cè)試激勵(lì)生成策略

預(yù)生成測(cè)試用例和實(shí)時(shí)測(cè)試用例生成：預(yù)生成測(cè)試用例是指在運(yùn)行模擬之前輸入激勵(lì)和輸出檢查已經(jīng)存在的用例。這些測(cè)試驅(qū)動(dòng)非常特定的場(chǎng)景。實(shí)時(shí)生成測(cè)試用例是實(shí)時(shí)創(chuàng)建的用例，或者說(shuō)是模擬運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的用例。實(shí)時(shí)測(cè)試用例使用輸入約束指令來(lái)創(chuàng)建激勵(lì)，逐個(gè)周期進(jìn)行決策。這些環(huán)境要求激勵(lì)部件有大量的編程信息。在每個(gè)周期，激勵(lì)部件決定要為該周期發(fā)送的激勵(lì)。激勵(lì)生成程序通用決策算法如下圖所示。測(cè)試激勵(lì)生成策略

驗(yàn)證中的結(jié)果檢查策略

測(cè)試平臺(tái)包含著豐富的內(nèi)容，所有在檢查中需要的知識(shí)都存在于其中。驗(yàn)證工程師在檢查器和記分板編碼中加入這些知識(shí)和信息以使驗(yàn)證環(huán)境可以自檢測(cè)。自檢測(cè)的測(cè)試平臺(tái)有各種不同的類(lèi)型。1）黃金向量2）參考模型3）基于事務(wù)的驗(yàn)證驗(yàn)證中的結(jié)果檢查策略

黃金向量：黃金向量驗(yàn)證環(huán)境是一個(gè)簡(jiǎn)單的驗(yàn)證環(huán)境，在這個(gè)環(huán)境中，一些有效輸出向量的知識(shí)庫(kù)被存儲(chǔ)在記分板中。檢查模塊通過(guò)訪問(wèn)記分板并且請(qǐng)求預(yù)期的向量，把DUV的結(jié)果與知識(shí)庫(kù)相比較。這些操作可以在每一個(gè)周期或每一次事務(wù)處理中完成。在大多數(shù)情況下，記分板會(huì)在測(cè)試的一開(kāi)始就加載一些已知有效的預(yù)期的軌跡，這些軌跡與即將生成的測(cè)試激勵(lì)相對(duì)應(yīng)。輸出檢查器將實(shí)際的DUV結(jié)果和黃金向量預(yù)測(cè)得到的結(jié)果進(jìn)行比較。黃金向量的驗(yàn)證環(huán)境如下所示。黃金向量驗(yàn)證環(huán)境驗(yàn)證中的結(jié)果檢查策略

驗(yàn)證中的結(jié)果檢查策略

黃金向量機(jī)制優(yōu)點(diǎn)：一、驗(yàn)證工程師可以在運(yùn)行模擬之前檢查所有的預(yù)期結(jié)果軌跡；二、當(dāng)進(jìn)行回歸測(cè)試時(shí)，所有需要驗(yàn)證的向量都已經(jīng)存在。黃金向量機(jī)制缺點(diǎn)：一、手動(dòng)建立黃金向量很繁瑣，而如果使用某個(gè)程序建立黃金向量，那么改程序?qū)⑿枰狣UV的相關(guān)信息。二、維護(hù)方面的挑戰(zhàn)是如何保持黃金向量和激勵(lì)生成的同步。如果DUV的規(guī)則產(chǎn)生了變化，驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)必須更新所有的測(cè)試用例和黃金向量以反映這些變化。驗(yàn)證中的結(jié)果檢查策略

參考模型：參考模型根據(jù)輸入激勵(lì)計(jì)算出所有預(yù)期的輸出，參考模型通常用高級(jí)編程語(yǔ)言或HVL來(lái)重新實(shí)現(xiàn)DUV的功能。由于參考模型在每一個(gè)模擬周期計(jì)算預(yù)期結(jié)果，因此也被稱(chēng)為一個(gè)周期精確的模型。參考模型會(huì)根據(jù)程序的