2025年統(tǒng)計(jì)學(xué)專(zhuān)業(yè)期末考試題庫(kù)——統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理質(zhì)量控制案例分析實(shí)驗(yàn)報(bào)告解析考試時(shí)間：______分鐘總分：______分姓名：______一、單項(xiàng)選擇題（本大題共20小題，每小題2分，共40分。在每小題列出的四個(gè)選項(xiàng)中，只有一項(xiàng)是最符合題目要求的，請(qǐng)將正確選項(xiàng)字母填在題后的括號(hào)內(nèi)。）1.統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理中，控制圖的核心作用是（）A.預(yù)測(cè)未來(lái)質(zhì)量趨勢(shì)B.識(shí)別過(guò)程異常波動(dòng)C.直接判定產(chǎn)品合格性D.計(jì)算過(guò)程能力指數(shù)2.當(dāng)樣本量固定時(shí)，提高可接受質(zhì)量水平（AQL）會(huì)導(dǎo)致（）A.生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)顯著增加B.檢驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn)更嚴(yán)格C.檢驗(yàn)效率降低D.檢驗(yàn)成本立即上升3.在SPC實(shí)施過(guò)程中，如果控制圖連續(xù)9點(diǎn)呈中心趨勢(shì)波動(dòng)，這通常意味著（）A.過(guò)程存在系統(tǒng)性偏差B.數(shù)據(jù)采集可能存在誤差C.需要立即調(diào)整控制限D(zhuǎn).操作人員疲勞影響4.控制圖上的點(diǎn)子超出控制限時(shí)，最可能的解釋是（）A.樣本量過(guò)小導(dǎo)致虛警B.隨機(jī)波動(dòng)正常表現(xiàn)C.過(guò)程發(fā)生了異常變化D.測(cè)量系統(tǒng)精度不足5.計(jì)算過(guò)程能力指數(shù)（Cp）時(shí)，必須已知（）A.樣本標(biāo)準(zhǔn)差B.質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)要求C.過(guò)程均值D.檢驗(yàn)批大小6.某電子元件生產(chǎn)線(xiàn)采用單側(cè)規(guī)格限檢驗(yàn)，規(guī)格要求為60±0.5mm，若測(cè)量值61.2mm屬于接收判定，則該批產(chǎn)品（）A.一定合格B.可能合格C.一定不合格D.需要復(fù)檢7.在抽樣檢驗(yàn)中，若將抽樣方案從（10,0.1）改為（20,0.1），會(huì)導(dǎo)致（）A.生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)降低B.檢驗(yàn)效率提高C.檢驗(yàn)成本增加D.抽樣精度提升8.假設(shè)某零件直徑的規(guī)格限為φ20±0.1mm，若過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差σ=0.05mm，其過(guò)程能力指數(shù)（Cpk）最接近（）A.0.5B.1.0C.1.5D.2.09.控制圖中的"振鈴"模式通常表現(xiàn)為（）A.點(diǎn)子連續(xù)上升或下降B.點(diǎn)子圍繞中心線(xiàn)隨機(jī)波動(dòng)C.點(diǎn)子交替上下跳躍D.點(diǎn)子集中在中心線(xiàn)附近10.某公司使用均值-極差控制圖監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程，當(dāng)極差（R）控制圖失控時(shí)，最可能的原因是（）A.測(cè)量系統(tǒng)穩(wěn)定性變差B.樣本均值異常波動(dòng)C.過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差突然變化D.檢驗(yàn)人員操作失誤11.在質(zhì)量改進(jìn)活動(dòng)中，帕累托圖通常用于（）A.分析質(zhì)量成本構(gòu)成B.排序主要質(zhì)量問(wèn)題C.評(píng)估過(guò)程能力水平D.觀察過(guò)程波動(dòng)趨勢(shì)12.計(jì)算樣本均值時(shí)，若原始數(shù)據(jù)呈明顯偏態(tài)分布，更穩(wěn)健的統(tǒng)計(jì)量是（）A.算術(shù)平均值B.中位數(shù)C.標(biāo)準(zhǔn)差D.變異系數(shù)13.對(duì)比全檢和抽樣檢驗(yàn)，下列說(shuō)法正確的是（）A.抽樣檢驗(yàn)始終比全檢經(jīng)濟(jì)B.全檢能發(fā)現(xiàn)抽樣檢驗(yàn)遺漏的錯(cuò)誤C.抽樣檢驗(yàn)僅適用于破壞性檢驗(yàn)D.全檢的抽樣風(fēng)險(xiǎn)為零14.在測(cè)量系統(tǒng)分析中，重復(fù)性測(cè)量變異主要反映（）A.測(cè)量?jī)x器精度不足B.測(cè)量人員操作差異C.被測(cè)件本身變化D.環(huán)境條件波動(dòng)影響15.當(dāng)過(guò)程能力指數(shù)Cpk<1時(shí)，表明（）A.過(guò)程變異程度低于規(guī)格要求B.產(chǎn)品合格率可能低于90%C.過(guò)程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)D.需要立即停線(xiàn)整改16.在設(shè)計(jì)抽樣方案時(shí)，若希望降低生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)，應(yīng)該（）A.減小樣本量B.提高接收質(zhì)量水平C.增加規(guī)格限寬度D.改用全數(shù)檢驗(yàn)17.控制圖上的"鏈"模式是指（）A.9點(diǎn)以上連續(xù)位于中心線(xiàn)一側(cè)B.6點(diǎn)以上連續(xù)遞增或遞減C.5點(diǎn)以上連續(xù)位于中心線(xiàn)同一側(cè)D.3點(diǎn)中有2點(diǎn)超出控制限18.計(jì)算抽樣方案OC曲線(xiàn)時(shí)，若希望提高檢驗(yàn)的判別能力，應(yīng)該（）A.增加接收概率PαB.減小生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)βC.提高規(guī)格限要求D.增大樣本量19.質(zhì)量改進(jìn)項(xiàng)目中，因果圖的核心思想是（）A.識(shí)別數(shù)據(jù)分布特征B.分析問(wèn)題根本原因C.觀察過(guò)程波動(dòng)模式D.評(píng)估過(guò)程能力水平20.在實(shí)施SPC時(shí)，若發(fā)現(xiàn)控制圖持續(xù)處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)，最合理的行動(dòng)是（）A.立即提高控制限寬度B.增加樣本量C.保持現(xiàn)有監(jiān)控方案D.改用均值控制圖二、多項(xiàng)選擇題（本大題共10小題，每小題3分，共30分。在每小題列出的五個(gè)選項(xiàng)中，有兩個(gè)或兩個(gè)以上是符合題目要求的，請(qǐng)將正確選項(xiàng)字母填在題后的括號(hào)內(nèi)。若選項(xiàng)有誤或未全選，該題無(wú)分。）21.下列哪些屬于統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制的基本特征（）A.數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)決策B.預(yù)防性控制C.全員參與D.事后檢驗(yàn)E.持續(xù)改進(jìn)22.計(jì)算過(guò)程能力指數(shù)時(shí)需要考慮的因素包括（）A.規(guī)格限寬度B.樣本標(biāo)準(zhǔn)差C.過(guò)程均值偏移D.樣本量大小E.測(cè)量系統(tǒng)精度23.抽樣檢驗(yàn)方案（n,c）中，增加樣本量n會(huì)導(dǎo)致（）A.生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)降低B.檢驗(yàn)成本上升C.抽樣效率提高D.檢驗(yàn)速度加快E.抽樣精度提升24.控制圖出現(xiàn)異常模式時(shí)，可能的原因包括（）A.測(cè)量系統(tǒng)突然變化B.操作人員更換C.設(shè)備維修后重啟D.原材料規(guī)格變更E.樣本量突然改變25.質(zhì)量改進(jìn)的PDCA循環(huán)包括（）A.計(jì)劃（Plan）B.執(zhí)行（Do）C.檢查（Check）D.改進(jìn)（Act）E.分析（Analyze）26.測(cè)量系統(tǒng)分析（MSA）需要評(píng)估的變異來(lái)源包括（）A.儀器重復(fù)性變異B.儀器再現(xiàn)性變異C.測(cè)量方法誤差D.被測(cè)件變差E.環(huán)境因素影響27.下列哪些屬于過(guò)程能力指數(shù)Cpk的計(jì)算公式（）A.(USL-μ)/(3σ)B.(μ-LSL)/(3σ)C.(USL-μ)/(2σ)D.(μ-LSL)/(2σ)E.(USL-LSL)/(6σ)28.統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制與全數(shù)檢驗(yàn)相比，其優(yōu)勢(shì)包括（）A.檢驗(yàn)效率更高B.檢驗(yàn)成本更低C.適用于破壞性檢驗(yàn)D.可持續(xù)追蹤過(guò)程變異E.抽樣風(fēng)險(xiǎn)可控29.在分析質(zhì)量數(shù)據(jù)時(shí)，常用的描述性統(tǒng)計(jì)量包括（）A.算術(shù)平均值B.中位數(shù)C.標(biāo)準(zhǔn)差D.變異系數(shù)E.抽樣比例30.質(zhì)量改進(jìn)項(xiàng)目中，有效的數(shù)據(jù)收集方法包括（）A.現(xiàn)場(chǎng)觀察記錄B.問(wèn)卷調(diào)查C.測(cè)量系統(tǒng)校準(zhǔn)D.歷史數(shù)據(jù)整理E.供應(yīng)商反饋收集三、簡(jiǎn)答題（本大題共5小題，每小題6分，共30分。請(qǐng)根據(jù)題目要求，結(jié)合所學(xué)知識(shí)，簡(jiǎn)明扼要地回答問(wèn)題。）31.簡(jiǎn)述控制圖與休哈特控制圖的主要區(qū)別有哪些？在什么情況下優(yōu)先選擇使用休哈特控制圖？32.在實(shí)施SPC過(guò)程中，若發(fā)現(xiàn)均值控制圖和極差控制圖同時(shí)出現(xiàn)異常模式，這通常暗示著什么潛在問(wèn)題？應(yīng)如何系統(tǒng)性地排查原因？33.帕累托圖在質(zhì)量改進(jìn)項(xiàng)目中具體能解決哪些管理難題？請(qǐng)舉例說(shuō)明如何通過(guò)帕累托圖識(shí)別關(guān)鍵質(zhì)量問(wèn)題。34.已知某零件長(zhǎng)度規(guī)格要求為50±0.2mm，過(guò)程能力指數(shù)Cpk=1.33。若過(guò)程均值μ=50mm，請(qǐng)計(jì)算該過(guò)程的實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)差σ，并評(píng)估其過(guò)程能力是否滿(mǎn)足要求。35.在進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)分析時(shí)，若發(fā)現(xiàn)測(cè)量系統(tǒng)MSA的GageR&R變異占總變異的30%，這通常意味著什么？應(yīng)采取哪些措施改善測(cè)量系統(tǒng)精度？四、論述題（本大題共2小題，每小題10分，共20分。請(qǐng)根據(jù)題目要求，結(jié)合所學(xué)知識(shí)，全面系統(tǒng)地回答問(wèn)題。）36.結(jié)合實(shí)際生產(chǎn)場(chǎng)景，詳細(xì)闡述實(shí)施SPC（統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制）的全過(guò)程管理步驟，并說(shuō)明每個(gè)環(huán)節(jié)的關(guān)鍵控制要點(diǎn)。37.某電子企業(yè)通過(guò)抽樣檢驗(yàn)方案（200,2）對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行出廠檢驗(yàn)，該方案的生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)Pα=0.05，接收質(zhì)量水平AQL=2.5%。請(qǐng)說(shuō)明該方案的檢驗(yàn)邏輯，并分析在哪些情況下可能存在檢驗(yàn)風(fēng)險(xiǎn)，如何通過(guò)調(diào)整方案降低風(fēng)險(xiǎn)。五、案例分析題（本大題共1小題，共20分。請(qǐng)根據(jù)題目要求，結(jié)合所學(xué)知識(shí)，綜合分析問(wèn)題并給出解決方案。）38.某汽車(chē)制造廠發(fā)現(xiàn)某批次零件尺寸的合格率持續(xù)下降，質(zhì)量部門(mén)收集了連續(xù)30天的生產(chǎn)數(shù)據(jù)，控制圖顯示均值控制圖有5點(diǎn)連續(xù)上升，極差控制圖有3點(diǎn)超出控制限。質(zhì)量工程師小張負(fù)責(zé)分析問(wèn)題，他首先檢查了測(cè)量設(shè)備，確認(rèn)儀器校準(zhǔn)正常；接著發(fā)現(xiàn)該批次使用的原材料供應(yīng)商最近更換了生產(chǎn)線(xiàn)。請(qǐng)結(jié)合統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理知識(shí)，分析小張應(yīng)如何系統(tǒng)性地排查根本原因，并提出具體的質(zhì)量改進(jìn)措施，同時(shí)說(shuō)明如何驗(yàn)證改進(jìn)效果。本次試卷答案如下一、單項(xiàng)選擇題答案及解析1.B解析：控制圖的核心作用是通過(guò)監(jiān)測(cè)過(guò)程參數(shù)的波動(dòng)趨勢(shì)來(lái)識(shí)別異常，點(diǎn)子超出控制限或呈現(xiàn)特定模式表明過(guò)程發(fā)生了系統(tǒng)性的變化，這種變化需要立即關(guān)注。選項(xiàng)A預(yù)測(cè)未來(lái)趨勢(shì)是控制圖的部分功能但不是核心，選項(xiàng)C直接判定合格性是檢驗(yàn)的目的而非控制圖功能，選項(xiàng)D計(jì)算能力指數(shù)是過(guò)程評(píng)估手段而非控制圖本身作用。2.A解析：提高AQL意味著接受更差的質(zhì)量水平，生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)α（拒收好批次的概率）會(huì)隨之增加。檢驗(yàn)判定標(biāo)準(zhǔn)與樣本量、抽樣方案設(shè)計(jì)有關(guān)，與AQL直接關(guān)聯(lián)度不高。檢驗(yàn)效率涉及時(shí)間成本，不是AQL的直接函數(shù)。檢驗(yàn)成本受多種因素影響，AQL是其中之一但不是唯一決定因素。3.B解析：連續(xù)9點(diǎn)中心趨勢(shì)波動(dòng)在休哈特控制圖中屬于異常模式，這通常意味著數(shù)據(jù)采集過(guò)程中可能存在系統(tǒng)性偏移或測(cè)量系統(tǒng)問(wèn)題，如測(cè)量工具突然變化、環(huán)境條件突變等，而不一定是生產(chǎn)過(guò)程本身變化。需要檢查測(cè)量設(shè)備狀態(tài)或采樣方法是否一致。4.C解析：點(diǎn)子超出控制限是統(tǒng)計(jì)上顯著的信號(hào)，表明過(guò)程均值或變異發(fā)生了實(shí)質(zhì)性改變。選項(xiàng)A虛警可能發(fā)生在控制限過(guò)寬時(shí)，但連續(xù)超出通常排除隨機(jī)波動(dòng)。選項(xiàng)B隨機(jī)波動(dòng)一般表現(xiàn)為點(diǎn)子在控制限內(nèi)隨機(jī)分布。選項(xiàng)D測(cè)量系統(tǒng)精度不足可能導(dǎo)致過(guò)程變異增大，但更明顯的特征是控制圖整體變寬而非個(gè)別點(diǎn)子突破。5.B解析：計(jì)算Cp需要已知規(guī)格限（USL和LSL）和過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差σ，而過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差通常通過(guò)樣本數(shù)據(jù)估計(jì)。選項(xiàng)A樣本標(biāo)準(zhǔn)差是計(jì)算過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。選項(xiàng)C過(guò)程均值μ影響Cpk但不是計(jì)算Cp必需。選項(xiàng)D檢驗(yàn)批大小影響抽樣方案設(shè)計(jì)，與單個(gè)Cp計(jì)算無(wú)關(guān)。6.B解析：?jiǎn)蝹?cè)規(guī)格限檢驗(yàn)時(shí)，測(cè)量值61.2mm超出上限0.2mm，但未超出上限0.5mm，屬于接收判定范圍。由于僅給出單點(diǎn)值，無(wú)法判斷整批產(chǎn)品情況，可能存在合格也可能存在不合格，因此是可能合格。若給出批合格率信息則可進(jìn)一步判定。7.B解析：增加樣本量會(huì)提高檢驗(yàn)效率，因?yàn)楦蟮臉颖玖磕芨_地反映過(guò)程狀態(tài)，減少抽樣風(fēng)險(xiǎn)。選項(xiàng)A生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)與抽樣方案設(shè)計(jì)有關(guān)，增大樣本量通常降低消費(fèi)者風(fēng)險(xiǎn)β，但生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)α未必降低。檢驗(yàn)成本與樣本量成正比，但效率提升是更直接效果。8.C解析：Cpk=min[(USL-μ)/(3σ),(μ-LSL)/(3σ)]，給定μ=50mm，USL=50.1mm，LSL=49.9mm，計(jì)算得(50.1-50)/(3σ)=0.1/(3σ)和(50-49.9)/(3σ)=0.1/(3σ)，均接近0.1/σ。若σ=0.05mm，則Cpk=0.1/(3×0.05)=0.6667；若σ=0.0333mm，則Cpk=0.1/(3×0.0333)=0.9901。最接近1.0的值是1.5（假設(shè)σ=0.0667mm時(shí)Cpk=0.1/(3×0.0667)=0.4762），實(shí)際計(jì)算中需考慮實(shí)際μ值與規(guī)格限的相對(duì)位置，但選項(xiàng)C是典型值。9.C解析："振鈴"模式通常指連續(xù)3點(diǎn)或更多點(diǎn)位于中心線(xiàn)同一側(cè)且接近控制限，表現(xiàn)為點(diǎn)子向上或向下突然跳躍。選項(xiàng)A連續(xù)上升或下降是趨勢(shì)模式。選項(xiàng)B隨機(jī)波動(dòng)點(diǎn)子分布無(wú)固定模式。選項(xiàng)D點(diǎn)子集中在中心線(xiàn)是過(guò)程穩(wěn)定的特征。10.A解析：均值控制圖反映過(guò)程中心位置變化，極差控制圖反映過(guò)程變異穩(wěn)定性。當(dāng)R控制圖失控（變異增大）時(shí)，最可能的原因是測(cè)量系統(tǒng)精度下降或被測(cè)件變異增大，導(dǎo)致重復(fù)測(cè)量間差異變大。選項(xiàng)B均值異常是均值控制圖直接反映的。選項(xiàng)C標(biāo)準(zhǔn)差變化會(huì)導(dǎo)致R控制圖和X?控制圖同時(shí)異常。選項(xiàng)D操作失誤可能引起暫時(shí)性異常但通常不會(huì)持續(xù)影響極差。11.B解析：帕累托圖通過(guò)柱狀圖展示各因素按大小排序，幫助識(shí)別影響質(zhì)量的主要問(wèn)題（抓住20%原因解決80%問(wèn)題）。選項(xiàng)A質(zhì)量成本構(gòu)成用餅圖更合適。選項(xiàng)C過(guò)程能力用控制圖或能力指數(shù)評(píng)估。選項(xiàng)D過(guò)程波動(dòng)趨勢(shì)用均值控制圖觀察。12.B解析：中位數(shù)不受極端值影響，在數(shù)據(jù)偏態(tài)分布時(shí)能更穩(wěn)健地反映集中趨勢(shì)。選項(xiàng)A算術(shù)平均值易受極端值干擾。選項(xiàng)C標(biāo)準(zhǔn)差衡量變異程度。選項(xiàng)D變異系數(shù)用于比較不同單位數(shù)據(jù)的相對(duì)離散程度。13.B解析：全檢能發(fā)現(xiàn)抽樣檢驗(yàn)可能遺漏的錯(cuò)誤，但成本高且不適用于破壞性檢驗(yàn)。選項(xiàng)A抽樣檢驗(yàn)未必比全檢經(jīng)濟(jì)，取決于批量和檢驗(yàn)成本。選項(xiàng)C抽樣檢驗(yàn)同樣適用于非破壞性檢驗(yàn)。選項(xiàng)D全檢抽樣風(fēng)險(xiǎn)為零是理論假設(shè)，實(shí)際操作中仍存在人為誤差。14.B解析：重復(fù)性測(cè)量變異反映同一操作者使用同一儀器對(duì)同一被測(cè)件多次測(cè)量結(jié)果的變差，主要?dú)w因于測(cè)量人員操作習(xí)慣或反應(yīng)速度差異。選項(xiàng)A儀器精度不足導(dǎo)致再現(xiàn)性變異。選項(xiàng)C被測(cè)件變差是樣本本身差異。選項(xiàng)D環(huán)境因素影響屬于系統(tǒng)誤差。15.B解析：Cpk<1意味著過(guò)程變異范圍超出規(guī)格限（3σ超出規(guī)格限寬度），即使過(guò)程中心穩(wěn)定，合格品率也可能低于99.73%。選項(xiàng)A過(guò)程變異可能低于規(guī)格要求，此時(shí)Cpk>1。選項(xiàng)C過(guò)程穩(wěn)定但未能力滿(mǎn)足要求時(shí)Cpk<1。選項(xiàng)D需要改進(jìn)但不是立即停線(xiàn)，改進(jìn)后可能Cpk仍<1但更接近1。16.B解析：降低生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)α意味著提高接收好批次的概率，這需要增加樣本量或提高接收標(biāo)準(zhǔn)。選項(xiàng)A減小樣本量會(huì)增加生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)。選項(xiàng)C增加規(guī)格限寬度會(huì)降低過(guò)程要求，但不直接影響抽樣方案風(fēng)險(xiǎn)平衡。選項(xiàng)D全數(shù)檢驗(yàn)生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)為零但成本極高。17.C解析："鏈"模式通常指5點(diǎn)以上連續(xù)位于中心線(xiàn)同一側(cè)，表現(xiàn)為點(diǎn)子持續(xù)向上或向下波動(dòng)。選項(xiàng)A9點(diǎn)以上一側(cè)是"趨勢(shì)"模式。選項(xiàng)B6點(diǎn)以上遞增或遞減是"趨勢(shì)"模式。選項(xiàng)D3點(diǎn)中有2點(diǎn)超出控制限是"多點(diǎn)"模式。18.B解析：提高檢驗(yàn)判別能力即降低消費(fèi)者風(fēng)險(xiǎn)β（接收壞批次的概率），需要使OC曲線(xiàn)在可接受質(zhì)量水平（AQL）處有更高接收概率，在批不合格水平（LTPD）處有更低接收概率。選項(xiàng)A提高Pα（生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)）與提高判別能力方向相反。選項(xiàng)C提高規(guī)格限會(huì)降低過(guò)程要求。19.B解析：因果圖通過(guò)魚(yú)骨結(jié)構(gòu)層層分解問(wèn)題原因，核心是識(shí)別導(dǎo)致質(zhì)量問(wèn)題的根本原因而非表面現(xiàn)象。選項(xiàng)A數(shù)據(jù)分布特征用直方圖分析。選項(xiàng)C過(guò)程波動(dòng)觀察用控制圖。選項(xiàng)D過(guò)程能力評(píng)估用能力指數(shù)。20.C解析：持續(xù)處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)表明過(guò)程穩(wěn)定且滿(mǎn)足規(guī)格要求，應(yīng)保持現(xiàn)有監(jiān)控方案。選項(xiàng)A提高控制限無(wú)必要，控制限基于過(guò)程實(shí)際表現(xiàn)設(shè)定。選項(xiàng)B增加樣本量可能無(wú)助于提高監(jiān)控效果。選項(xiàng)D改用均值圖會(huì)丟失極差信息，可能忽略變異變化。二、多項(xiàng)選擇題答案及解析21.ABCE解析：統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制特征包括數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)決策（基于數(shù)據(jù)而非經(jīng)驗(yàn)）、預(yù)防性控制（在問(wèn)題發(fā)生前發(fā)現(xiàn)）、全員參與（質(zhì)量是每個(gè)崗位責(zé)任）和持續(xù)改進(jìn)（PDCA循環(huán)）。選項(xiàng)D事后檢驗(yàn)是傳統(tǒng)質(zhì)量管理特征，現(xiàn)代統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制強(qiáng)調(diào)預(yù)防。22.ABCE解析：計(jì)算Cp需要規(guī)格限（USL-LSL）、樣本標(biāo)準(zhǔn)差s、過(guò)程均值μ和測(cè)量系統(tǒng)精度（影響標(biāo)準(zhǔn)差估計(jì)）。選項(xiàng)B樣本標(biāo)準(zhǔn)差是估計(jì)過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差的基礎(chǔ)。選項(xiàng)C過(guò)程均值偏移影響Cpk計(jì)算。選項(xiàng)E測(cè)量系統(tǒng)精度影響σ估計(jì)準(zhǔn)確性，進(jìn)而影響Cp計(jì)算。23.ABCE解析：增加樣本量n會(huì)導(dǎo)致生產(chǎn)者風(fēng)險(xiǎn)α降低（接收好批次的概率增加），檢驗(yàn)成本上升（時(shí)間、人力增加），抽樣效率提高（更可靠反映過(guò)程狀態(tài)），抽樣精度提升（更穩(wěn)定估計(jì)過(guò)程參數(shù)）。選項(xiàng)D檢驗(yàn)速度與樣本量無(wú)直接關(guān)系，受操作方法影響。24.ABCDE解析：控制圖異常模式可能由測(cè)量系統(tǒng)變化（儀器漂移）、操作人員更換（手法差異）、設(shè)備維修（性能改變）、原材料變更（規(guī)格變化）、樣本量改變（統(tǒng)計(jì)特性變化）等引起。這些因素都可能改變過(guò)程參數(shù)或變異。25.ABCD解析：PDCA循環(huán)包括計(jì)劃（制定改進(jìn)方案）、執(zhí)行（實(shí)施計(jì)劃）、檢查（監(jiān)控效果）、改進(jìn)（標(biāo)準(zhǔn)化成功經(jīng)驗(yàn)或調(diào)整方案）。選項(xiàng)E分析是計(jì)劃階段的一部分但不是獨(dú)立循環(huán)環(huán)節(jié)。26.ABCDE解析：MSA評(píng)估變異來(lái)源包括儀器重復(fù)性（同一人同儀器多次測(cè)量變差）、儀器再現(xiàn)性（不同人不同儀器測(cè)量變差）、測(cè)量方法（操作步驟規(guī)范性）、被測(cè)件變差（樣本本身差異）和環(huán)境因素（溫度、濕度等影響）。選項(xiàng)E環(huán)境因素是典型變異來(lái)源。27.ABD解析：Cpk計(jì)算公式為min[(USL-μ)/(3σ),(μ-LSL)/(3σ)]。選項(xiàng)A(USL-μ)/(3σ)是上限一側(cè)公式。選項(xiàng)B(μ-LSL)/(3σ)是下限一側(cè)公式。選項(xiàng)C(USL-μ)/(2σ)是Cpm計(jì)算公式。選項(xiàng)D(μ-LSL)/(2σ)是Cpm計(jì)算公式。選項(xiàng)E(USL-LSL)/(6σ)是Cp計(jì)算公式。28.ABD解析：統(tǒng)計(jì)質(zhì)量控制優(yōu)勢(shì)在于檢驗(yàn)效率更高（抽樣而非全檢）、檢驗(yàn)成本更低（尤其大批量時(shí)）、可持續(xù)追蹤過(guò)程變異（控制圖動(dòng)態(tài)監(jiān)控）、抽樣風(fēng)險(xiǎn)可控（通過(guò)抽樣方案設(shè)計(jì)平衡風(fēng)險(xiǎn)）。選項(xiàng)C破壞性檢驗(yàn)不能全檢，抽樣是唯一方法。選項(xiàng)E抽樣風(fēng)險(xiǎn)可控是統(tǒng)計(jì)抽樣的核心特點(diǎn)。29.ABCE解析：描述性統(tǒng)計(jì)量包括算術(shù)平均值（集中趨勢(shì)）、中位數(shù)（穩(wěn)健集中趨勢(shì)）、標(biāo)準(zhǔn)差（變異程度）、變異系數(shù)（相對(duì)離散度）、抽樣比例（合格率等分類(lèi)數(shù)據(jù)）。選項(xiàng)D是相對(duì)離散度度量而非原始統(tǒng)計(jì)量。30.ABDE解析：有效數(shù)據(jù)收集方法包括現(xiàn)場(chǎng)觀察記錄（直接獲取一手?jǐn)?shù)據(jù)）、問(wèn)卷調(diào)查（收集主觀意見(jiàn)）、歷史數(shù)據(jù)整理（利用已有信息）、供應(yīng)商反饋收集（了解外部影響）。選項(xiàng)C測(cè)量系統(tǒng)校準(zhǔn)是確保測(cè)量精度手段而非數(shù)據(jù)收集方法。三、簡(jiǎn)答題答案及解析31.控制圖與休哈特控制圖的主要區(qū)別在于：控制圖是廣義概念，包括休哈特控制圖、通用控制圖（CUSUM、EWMA）等；休哈特控制圖是最早提出的均值-極差控制圖，原理簡(jiǎn)單但僅適用于正態(tài)分布過(guò)程。優(yōu)先選擇休哈特控制圖的情況是過(guò)程數(shù)據(jù)服從正態(tài)分布、樣本量固定、關(guān)注過(guò)程整體穩(wěn)定性時(shí)。解析思路：先區(qū)分控制圖類(lèi)型層次，再對(duì)比休哈特特點(diǎn)，最后說(shuō)明適用場(chǎng)景。32.兩者同時(shí)異常通常暗示測(cè)量系統(tǒng)穩(wěn)定性嚴(yán)重下降或被測(cè)件變異突然增大。系統(tǒng)排查步驟：①檢查測(cè)量設(shè)備是否超差或損壞；②驗(yàn)證測(cè)量方法是否改變；③確認(rèn)被測(cè)件批號(hào)是否更換；④分析過(guò)程輸入?yún)?shù)（溫度、壓力等）是否異常；⑤復(fù)核控制圖計(jì)算參數(shù)是否準(zhǔn)確。解析思路：從異常模式出發(fā)，聯(lián)想可能原因，提出系統(tǒng)性排查順序。33.帕累托圖解決管理難題：①識(shí)別關(guān)鍵少數(shù)原因（抓住主要矛盾）；②幫助管理者聚焦資源解決重點(diǎn)問(wèn)題；③避免資源分散在次要問(wèn)題上。舉例：某工廠生產(chǎn)次品率上升，帕累托圖顯示80%次品來(lái)自3條生產(chǎn)線(xiàn)，管理者集中資源改進(jìn)這3條線(xiàn)，次品率下降60%。解析思路：說(shuō)明帕累托圖核心功能，通過(guò)具體例子展示其實(shí)際應(yīng)用效果。34.已知Cpk=1.33，μ=50mm，USL=50.1mm，LSL=49.9mm。Cpk=(μ-LSL)/(3σ)=1.33，代入得(50-49.9)/(3σ)=1.33，解得σ=0.06415mm。實(shí)際標(biāo)準(zhǔn)