ICS49020

CCSV.25

中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T412703—2025/IEC62396-32013

.:

航空電子過程管理大氣輻射影響

第3部分考慮大氣輻射單粒子效應(yīng)

:

SEE的系統(tǒng)設(shè)計優(yōu)化

()

Processmanagementforavionics—Atmosphericradiationeffects—

Part3Sstemdesinotimizationtoaccommodatethesinle

:ygpg

eventeffectsSEEofatmoshericradiation

()p

IEC62396-32013IDT

(:,)

2025-08-01發(fā)布2026-02-01實(shí)施

國家市場監(jiān)督管理總局發(fā)布

國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

GB/T412703—2025/IEC62396-32013

.:

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語和定義

3………………1

過程指南

4…………………4

大氣輻射與電子系統(tǒng)故障

5………………5

大氣輻射對航空電子設(shè)備的影響

5.1…………………5

硬故障

5.2………………6

軟故障

5.3………………6

飛機(jī)安全性評估

6…………………………6

概述

6.1…………………6

緩解措施

6.2……………7

特定電子系統(tǒng)

6.3………………………7

級系統(tǒng)

6.3.1A………………………7

級系統(tǒng)

6.3.2B………………………10

級系統(tǒng)

6.3.3C………………………10

級和級系統(tǒng)

6.3.4DE………………10

附錄資料性率相關(guān)的設(shè)計過程流程圖

A()SEE………11

附錄資料性的部分緩解方法

B()SEE…………………12

概述

B.1…………………12

存儲器件

B.2……………12

微處理器

B.3……………13

B.4FPGA………………13

系統(tǒng)級技術(shù)

B.5…………………………13

附錄資料性示例系統(tǒng)

C()………………15

級系統(tǒng)

C.1A…………………………15

級系統(tǒng)或級系統(tǒng)

C.2AB……………16

參考文獻(xiàn)

……………………18

Ⅰ

GB/T412703—2025/IEC62396-32013

.:

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

本文件是的第部分已經(jīng)發(fā)布了以下部分

GB/T412703。GB/T41270:

大氣輻射影響航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)防護(hù)設(shè)計指南

———(GB/T34956—2017);

大氣輻射影響航空電子系統(tǒng)單粒子效應(yīng)試驗(yàn)指南

———(GB/T34955—2017);

航空電子過程管理大氣輻射影響第部分考慮大氣輻射單粒子效應(yīng)的系統(tǒng)設(shè)計

———3:(SEE)

優(yōu)化

(GB/T41270.3—2025);

航空電子過程管理大氣輻射影響第部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計中單粒子效應(yīng)分析過程管

———7:

理

(GB/T41270.7—2022);

航空電子過程管理大氣輻射影響第部分航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)故障率計算程序與

———9:

方法

(GB/T41270.9—2022)。

本文件等同采用航空電子過程管理大氣輻射影響第部分考慮大氣輻射

IEC62396-3:2013《3:

單粒子效應(yīng)的系統(tǒng)設(shè)計優(yōu)化

(SEE)》。

請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任

。。

本文件由全國航空電子過程管理標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會提出并歸口

(SAC/TC427)。

本文件起草單位太原航空儀表有限公司中國航空綜合技術(shù)研究所哈爾濱工程大學(xué)中國航空工

:、、、

業(yè)集團(tuán)公司洛陽光電設(shè)備研究所哈爾濱工業(yè)大學(xué)

、。

本文件主要起草人宣曉剛?cè)魏Ｌ杖煌鯇W(xué)花薛睿陳文鋆劉站平杜文杰郭曉俊常悅

:、、、、、、、、、、

周治國趙林慶王帥創(chuàng)鄧克鋒陳啟明王樹棋

、、、、、。

Ⅲ

GB/T412703—2025/IEC62396-32013

.:

引言

航空電子過程管理大氣輻射影響規(guī)定了航空電子過程管理領(lǐng)域大氣輻射對航空

GB/T41270《》

電子產(chǎn)品影響的管理要求與技術(shù)要求擬由九個部分構(gòu)成

,。

第部分航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)防護(hù)設(shè)計指南目的在于為以下飛行的飛機(jī)中

———1:。18.3km

航空電子設(shè)備大氣輻射效應(yīng)防護(hù)設(shè)計提供指導(dǎo)

。

第部分航空電子系統(tǒng)單粒子效應(yīng)試驗(yàn)指南目的在于給出微電子器件測量大氣中子單粒

———2:。

子效應(yīng)敏感特性的試驗(yàn)方法指南

。

第部分考慮大氣輻射單粒子效應(yīng)的系統(tǒng)設(shè)計優(yōu)化目的在于規(guī)定航空電子產(chǎn)品在

———3:(SEE)。

大氣輻射誘發(fā)單粒子效應(yīng)影響下的技術(shù)要求用于指導(dǎo)航空電子產(chǎn)品的設(shè)計

(SEE),。

第部分高壓飛機(jī)電子設(shè)備的設(shè)計管理潛在的單粒子效應(yīng)目的在于規(guī)定高電壓標(biāo)稱高于

———4:。(

航空電子設(shè)備的大氣輻射影響及其管理的指南

200V)。

第部分航空電子系統(tǒng)中熱中子通量和單粒子效應(yīng)的評估目的在于描述熱中子對航空電

———5:。

子產(chǎn)品構(gòu)成的影響

。

第部分極端空間天氣對航空電子環(huán)境和電子設(shè)備的潛在影響目的在于給出對極端空間

———6:。

天氣事件理解的信息描述由于太陽表面活動的大量增加而產(chǎn)生極端空間天氣的機(jī)制和條

,“”

件并根據(jù)極端空間天氣的記錄討論其潛在的輻射環(huán)境

,。

第部分航空電子產(chǎn)品設(shè)計中單粒子效應(yīng)分析過程管理目的在于規(guī)定航空電子產(chǎn)品設(shè)計

———7:。

中電子元器件單粒子效應(yīng)分析的方法和程序

。

第部分對航空電子產(chǎn)品中的質(zhì)子電子介子射線和單粒子效應(yīng)的考慮目的在于規(guī)定

———8:、、、α。

小粒子質(zhì)子電子和子通量和單粒子效應(yīng)對在英尺高度飛行的飛機(jī)

(、、πμ)60000(18300m)

上使用的航空電子設(shè)備的影響的認(rèn)識和指導(dǎo)

。

第部分航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)故障率計算程序與方法目的在于規(guī)定航空電子設(shè)備單

———9:。

粒子效應(yīng)故障率通用計算方法總故障率計算方法軟故障率計算方法硬故障率計算方法與

、、、

計算程序

。

本文件為航空電子系統(tǒng)設(shè)計師電子設(shè)備元器件制造商及其客戶提供了額外的指導(dǎo)采用標(biāo)準(zhǔn)方

、、,

法優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)計以適應(yīng)大氣輻射單粒子效應(yīng)以中關(guān)于單粒子效應(yīng)的系

,(SEE)。GB/T34956—2017

統(tǒng)級方法的信息和指導(dǎo)為基礎(chǔ)考慮了一些航空電子系統(tǒng)并提供了適應(yīng)單粒子效應(yīng)的基本方

,,(SEE)

法以滿足系統(tǒng)硬件保證水平

,。

大氣輻射效應(yīng)是可能導(dǎo)致設(shè)備硬故障率和軟故障率的一個因素從系統(tǒng)安全的角度來看使用導(dǎo)

。,

出的故障率值中描述的方法通常適應(yīng)硬故障率和軟故障率也將適應(yīng)大氣輻射影響

,ARP4754()。

Ⅳ

GB/T412703—2025/IEC62396-32013

.:

航空電子過程管理大氣輻射影響

第3部分考慮大氣輻射單粒子效應(yīng)

:

SEE的系統(tǒng)設(shè)計優(yōu)化

()

1范圍

本文件規(guī)定了航空電子產(chǎn)品在大氣輻射誘發(fā)單粒子效應(yīng)影響下的技術(shù)要求用于指導(dǎo)航空

(SEE),

電子產(chǎn)品的設(shè)計本文件描述的活動和內(nèi)容是航空電子產(chǎn)品審查審定和符合性證據(jù)的輸入本文件

。/。

以中系統(tǒng)級單粒子效應(yīng)為基礎(chǔ)為航空電子產(chǎn)品提供防護(hù)的基本方法以滿

GB/T34956—2017,SEE,

足研制保證等級要求

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

大氣輻射影響航空電子設(shè)備單粒子效應(yīng)防護(hù)設(shè)計指南

GB/T34956—2017(IEC62396-1:

2016,IDT)

注被引用的內(nèi)容與被引用的內(nèi)容沒有技術(shù)上的差異

:GB/T34956—2017IEC62396-1:2012。

航空電子設(shè)備過程管理管理計劃第部分元器件管理計劃的編制和維護(hù)