GB/T31838.9—202X固體絕緣材料介電和電阻特性第9部分：測定介電特性(AC方法)相對介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)絕緣薄膜的接觸電極法1目周期為16個月，由全國電氣絕緣材料與絕緣系統(tǒng)評定標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC在航空電子、汽車工業(yè)、地下油氣勘探等高端領(lǐng)域，高功率、高電流及高溫環(huán)境對電容器的可靠性提出嚴(yán)苛要求。聚合物絕緣薄膜作為電容器的關(guān)鍵絕緣材料，其相對介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)直接影響電容器的電能儲存效率與熱穩(wěn)定性——介電常數(shù)決定電磁波與材料的相互作用特性，而損耗因數(shù)則關(guān)聯(lián)能量轉(zhuǎn)化過程中的熱損耗，兩顯著技術(shù)瓶頸：既缺乏統(tǒng)一的測量標(biāo)準(zhǔn)，也缺乏適配的測量技術(shù)?，F(xiàn)有解決方案存在明顯局限：采用20~50層疊層測量平均值的方法，易因?qū)娱g氣隙導(dǎo)致數(shù)據(jù)偏差，無法反映單層薄膜的本征特性；實驗室常用的表面金屬化電極法雖能獲得可接受結(jié)果，但金屬化處理會破壞薄膜的原始狀態(tài)，且難以模擬實際應(yīng)用中的無附加層工況。這種技術(shù)矛盾在高溫應(yīng)用場景中更為突出。傳統(tǒng)聚合物材料普遍存在"絕緣與導(dǎo)熱"的性能沖突，而新型高導(dǎo)熱聚合物薄膜的研發(fā)（如含氟缺陷雙鏈結(jié)構(gòu)共聚物）進一步凸顯精準(zhǔn)測量本征介電參數(shù)的需求。在此背景下，針對技術(shù)頻率（貼近實際工況的工作頻段）開發(fā)的無附加層、無金屬化測量技術(shù)，成為突破現(xiàn)有局限、支撐高端絕緣材料研發(fā)與厚的無附加層單層聚合物絕緣薄膜介電參數(shù)的接觸電極法，填補了絕緣評定領(lǐng)域的國2準(zhǔn)用戶方對標(biāo)準(zhǔn)使用的要求，如調(diào)研生產(chǎn)企業(yè)、檢測機構(gòu)和科研院所等?？偨Y(jié)和歸納標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)范性引用標(biāo)準(zhǔn)與我國現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的一致性程度以及相關(guān)技術(shù)內(nèi)容的可行性和適向有代表性的絕緣材料制造企業(yè)、檢測、科研、電力運行等相關(guān)的企業(yè)征集并成立了本標(biāo)準(zhǔn)主要起草單位包括：四川東方絕緣材料股份有限公司、同濟大學(xué)、機械工業(yè)北京電工技術(shù)經(jīng)濟研究所、……3本標(biāo)準(zhǔn)描述了在試樣表面無任何附加金屬化的情況下測量厚度為10μm~100μm的單層聚合物絕緣薄膜的相對介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的測量技術(shù)和測試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于50Hz或60Hz工頻和1Hz～本文件主要技術(shù)內(nèi)容包括：測量的方法原理、電極、試樣、測量電壓、測量環(huán)境條件、薄膜厚度測量、測量程序、報告、重復(fù)性再現(xiàn)性和可重復(fù)性、修改粗糙表面試樣介電常數(shù)和介質(zhì)算好因數(shù)測量結(jié)果的方法。同時通過附錄A給出了修正粗糙表面試人，在制定該IEC標(biāo)準(zhǔn)時，充分調(diào)研了我國相關(guān)產(chǎn)業(yè)的技術(shù)現(xiàn)狀、實踐經(jīng)驗和實際需求，充分論證了標(biāo)準(zhǔn)條款的技術(shù)合理性和我國產(chǎn)業(yè)環(huán)境下的適用性，充分考慮并吸納了我國產(chǎn)業(yè)界，學(xué)術(shù)界和檢測機構(gòu)的意見與建議，因此等同采用該IEC標(biāo)準(zhǔn)的本文件的技術(shù)內(nèi)容和實操性均符合我國產(chǎn)業(yè)的實際情況，未進行大范圍試驗驗證，僅由負(fù)責(zé)起草單位和同濟大學(xué)就試驗開展了驗證并改進了試驗用電極。以下是對部分試驗驗證εr=εxtanδ=tanδx4.8x10-43.7x10-4εr=εxtanδ=tanδx3.5x10-44.2x10-42.9x10-44εx2.0x10-43.0x10-4這些結(jié)果表明，對于表面粗化膜，無論是用直接接觸法還是金屬化電極，測量結(jié)54、對于用流延法制備的薄膜，因為其表面容易有微小的尖突起，因此不適于用直難測量準(zhǔn)確測量薄膜的孔隙率α與電極接觸率η,因此不建議采用直接接觸法進行測量。對于其它類似的表面有微小針狀突起的薄膜，同樣不建議用直接接觸法進行測量。本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC62631-2-3:2024ED1.0《固體絕緣材料的介電和電阻特性第a)為與現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)系列相協(xié)調(diào)，將標(biāo)準(zhǔn)名稱改為《固體絕緣材料介電和電阻特性本標(biāo)準(zhǔn)屬于電氣絕緣材料與絕緣系統(tǒng)評定標(biāo)準(zhǔn)體系“介電和電