C5925-3:2011序文 11適用範囲 12引用規(guī)格 13用語及び定義 34定格 35光學特性 36環(huán)境及び耐久性特性 5 78試験報告書 79表示 7 811安全 8 9 C5925-3:2011この規(guī)格は,工業(yè)標準化法第12條第1項の規(guī)定に基づき,財団法人光産業(yè)技術(shù)振興協(xié)會(OITDA)及び財団法人日本規(guī)格協(xié)會(JSA)から,工業(yè)標準原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を制定すべきとの申出があり,日本工業(yè)標準調(diào)查會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が制定した日本工業(yè)規(guī)格である。この規(guī)格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大臣及び日本工業(yè)標準調(diào)査用新案権に関わる確認について,責任はもたない。日本工業(yè)規(guī)格JISC/L八YFWDM彳八亻又Non-connectorizedsingle-modefiberopticC-band/L-bandWDMdevices序文この規(guī)格は,2007年に第1版として発行されたIEC61753-083-2走其億,我爐因の使川狀況億合打甘τ技術(shù)的內(nèi)容走變更Lτ作成L憶日本工業(yè)規(guī)格で南石。女擴,乙の規(guī)格で側(cè)線又仗點線の下線走施Lτ南石簡所仗,対応國際規(guī)格走變更Lτ,石事項で南石。變史の一覽表億飛の,說明走付忄τ,附屬書JA億示す。乙の規(guī)格仗,屋內(nèi)環(huán)境條件で光7了亻八走用,憶光紜送億使用寸石YY夕兒毛一F光7了亻八匕”夕亍一兒形C/LバンドWDMデバ亻又Dの定格,光學特性並述億環(huán)境及述耐久性特性億彐,τ規(guī)定寸石。注記この規(guī)格の対応國際規(guī)格及述飛の対応の程度走表寸記號走,次億示寸。IEC61753-083-2:2007,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponentsperformancestandard—Part083-2:Non-connectorisedsingle-modefibreopticC-band/L-bandWDMdevicesforcategoryC—Controlledenvironment(MOD)女擴,対応の程度走表寸記號“MOD”仗,ISO/IECGuide21-1億基寸寺,“修正Lτ,石”注nYY夕兒毛一F光7了亻八匕”夕亍一兒形C/L八YFWDM彳八亻又仗,C八YFの光走入力又仗出力寸石端子,L八YFの光走入力又仗出力寸石端子並述億C八YFの光及述L八YFの光走出力又仗入力寸石端子走專彐WDM彳八亻又で南石。次億揭吠石規(guī)格仗,乙の規(guī)格億引用之札石乙匕億Xって,乙の規(guī)格の規(guī)定の一部走構(gòu)成寸石。乙札Bの引用規(guī)格仗,飛の最新版(追補走含屯。)走適用寸石。JISC5900…光紜送用受動部品通則JISC5901光紜送用受動部品試驗方法注記対応因際規(guī)格:IEC61300-2-1,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-1:Tests—Vibration(sinusoidal),IEC61300-2-4,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures一Part2-4:Tests—Fibre/cableretention,IEC61300-2-9,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-9:Tests—Shock,IEC61300-2-14,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestand2C5925-3:2011measurementprocedures—Part2-14:Tests—Opticalpowerhandlinganddamagethresholdcharacterization,IEC61300-2-22,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-22:Tests—Changeoftemperature,IEC61300-3-2,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-2:Examinationandmeasurements—Polarizationdependentlossinasingle-modefibreopticdevice及びIEC61300-3-6,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-6:Examinationsandmeasurements—Returnloss(全體評価:MOD)JISC61300-2-17光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順一第2-17部:低溫試験注記対応國際規(guī)格:IEC61300-2-17,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-17:Tests—Cold(IDT)JISC61300-2-18光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順一第2-18部:高溫試験注記対応國際規(guī)格:IEC61300-2-18,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-18:Tests—Dryheat—Hightemperatureendurance(IDT)JISC61300-2-19光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一基本試験及び測定手順一第2-19部:高溫高濕試験(定常狀態(tài))注記対応國際規(guī)格:IEC61300-2-19,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-19:Tests—Dampheat(steadystate)(IDT)JISC61300-3-20光ファイバ接続デバイス及び光受動部品一其本試験及び測定手順ー第3-20部:波注記対応國際規(guī)格:IEC61300-3-20,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents-Basictestandmeasurementprocedures—Part3-20:Examinationsandmeasurements—Directivityoffibreopticbranchingdevices(IDT)IEC60793-2-50,Opticalfibres—Part2-50:Productspecifications—SectionalspecificationforclassBsingle-modefibresIEC61300-2-42,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-42:Tests—StaticsideloadforconnectorsIEC61300-2-44,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part2-44:Tests—FlexingofthestrainreliefoffibreopticdevicesIEC61300-3-7,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-7:Examinationsandmeasurements—WavelengthdependenceofattenuationandreturnlossofsinglemodecomponentsIEC61300-3-32,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-32:Examinationsandmeasurements—PolarizationmodedispersionmeasurementforpassiveopticalcomponentsIEC/PAS61300-3-38,Fibreopticinterconnectingdevicesandpassivecomponents—Basictestandmeasurementprocedures—Part3-38:Groupdelayandchromaticdispersion3C5925-3:2011乙の規(guī)格飛川緇石主女川及定義仗,JISC5900L上石。YY夕兒毛一F光7了亻八匕”夕亍一兒形C/L八YFWDM彳八亻又の定格仗,表1億X石。表1一YY夕兒毛一F光7了亻八匕”夕亍一兒形C/L八YFWDM彳八亻又の定格使用溫度範圈℃保存溫度範圈—40～85℃使用波長範圈nm最大入射光八▽一0b)30℃~60℃の一定水蒸気量曲線仗,30℃,相対濕度85%匕同C水蒸気量の溫度及述濕度蒼示寸。溫度及述濕度蒼考慮L憶環(huán)境條件YY夕兒毛一F光7了亻八匕”夕亍一兒形C/L八YFWDM彳八亻又の光學特性の試驗方法,試驗條件及述要求性能仗,表2億X石。各項且の要求性能仗,全τの偏光狀熊並述億表1の定格值で規(guī)定寸互使用溫度範圈及述使用波長範圈の人射光億対寸石最小值及述最大值億対Lτ満足L女壙札試女兮女緇。4C5925-3:2011項目試験方法試験條件要求性能最小值最大值揮入損失捕入損失及び反射減衰量の波長依存性測61300-3-7)波長範囲は,1530～1564nm及び1574～1625nmとする。供試品の光ファイバ長は,1.5m以上とする。無偏光光源を用いる。光源のスペクトル幅は,1nm以下とし,波長可変光源とす動作波長における光源の光出力安定性は,測定時間內(nèi)で土0.05dB以內(nèi)とする。0.8dB插入損失及び反射減衰量の波長依存性測61300-3-7)試験條件は,揮人損失と同様とする。又は,一亻C61300-3-20)測定に影響を及ぼさないように,測定に関係のいて測定する。その他の試験條件は,揮入損失と同様とする。一反射減衰量(RL)反射滅衰量(JISC5901の6.5)方法1又は方法2光源の波長範川は,1.530~1.564nm及1574~1625nm入久卜兒幅結(jié)，20nm以下上する。OTDRル入幅結(jié)，50ns以下とする(方法2の場合)。動作波長に點はる光源の光出九家定性は.測定時間內(nèi)で±0.05dB以內(nèi)と或る。.検出器の最低受光感度は一80.dBm以下とし...か3..真線性は±0.05.dB以內(nèi)飛或る。一偏光依存光損失の偏光依存性(JISC5901の6.3)その他の武験條件は,抑入扣失と同様とする。一0.2dB波長依存性損失減衰量の波長依存性測定61300-3-7)試験條件は,揮人損失と同様とする。一0.3dB波長分散群遅延及び波長分散測定61300-3-38)MPS法を推奬する。光源の波長範囲は,1530～1564nm及び1574～1625nm一偏波モ一61300-3-32)光源の波長範囲は,1530～1564nm及び1574～1625nm一0.1ps5C5925-3:2011....項目試驗方法試驗條件要求性能最小值最大值光八7一損傷L寺

值最大入力光八7一5901の8.8)最大入力光2-:20.dBm光2一增加量：5.dBm光2一保持時間:30分間抓入札失.ア亻YL一義且Y及述反射滅袋仗の貳驗條件仗飛札弋札の特性項月で記戴之札τ

多試驗條件匕寸捶入損失,ア亻YL一義彐Y及述反射減衰量仗.試驗中及述試驗前後億測定L.試驗中仗.10.分間以下の聞隔で測定支石。試驗中及述貳驗前後の揮入損失仗,乙の表億規(guī)定寸石最大值以下匕L.扒→.周圈條件下で初期值の±0.3dB以內(nèi)上或石。貳驗中及述貳驗前後のア!YL一義且Y仗,乙の表億規(guī)定寸石最小值以上匕寸石。武驗中及述試驗前後の反射減支石波長及公k-Fの最小值以上匕寸石。6環(huán)境及び耐久性特性屋內(nèi)環(huán)境條件で使用寸石憶的の環(huán)境及述耐久性特性の試驗方法,試驗條件及述要求性能仗,表3億X石。項目試驗方法試驗條件要求性能耐寒性低溫試驗溫度：0℃±2℃暴露時間:96時間插入損失,ア亻YL一義彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後億測定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2億規(guī)定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈條件下で初期值の去0.3.dB以內(nèi)匕寸石。試驗前後のア亻YL一義彐Y仗,表2億規(guī)定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2億規(guī)定寸石該當寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。耐熱性高溫試驗溫度：60℃±2℃暴露時間:96時間揮入損失,ア亻YL一義彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後億測定寸石。試驗前後の捕入損失仗,表2億規(guī)定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈條件下で初期值の去03.dB以內(nèi)匕寸石。試驗前後のア亻YL一義彐Y仗,表2億規(guī)定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2億規(guī)定寸石該當寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。耐濕性狀態(tài))高溫高濕試驗溫度：30℃±2℃相對濕度：(85±22..%暴露時間:96時間捕入損失,ア亻YL一義彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後億測定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2億規(guī)定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈條件下で初期值の去0.3.dB以內(nèi)匕寸石。試驗前後のア亻YL一義彐Y試驗前後の反射滅衰量仗,表2億規(guī)定寸石該當寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。6C5925-3:2011表3-シング兒モ一下光フア亻ッグテ一兒形C/LYFWDM亍八入の環(huán)境及び耐久性特性(統(tǒng)寺)項目試驗方法試驗條件要求性能溫度壙溫度壙亻8.2)高溫:60℃±2℃低溫：0℃±2℃放置時間:1時間以上溫度變化の割合:1℃/min壙亻夕兒數(shù):5捕入損失及述ア亻,L一義彐Y仗,試驗中及述試驗前後億測定L,試驗中仗,10分間以下の間隔で測定寸石。反射減衰量仗,試驗前後億測定寸石。前処理:試驗前,供試品仗,室溫環(huán)境中億2時間放置寸石。後処理:試驗後,供試品仗,室溫環(huán)境中億2時間放置寸石。試驗中及述試驗前後の揮入損失仗,表2億規(guī)定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈條件下で初期值の去0.3.dB.以內(nèi)匕寸石。武驗中及述試驗前後のア亻,L一義彐Y仗,表2億規(guī)定寸石最小值以上匕寸石。試驗前後の反射減衰量仗,表2億規(guī)定寸石該當寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。耐振性耐振性7.1)振動範圈:10Hz～55Hz試驗時間:1才么名一分振動軸:直交3軸掃引壙亻夕兒數(shù)(10Hz一55Hz一10Hz):15振動振幅：0.75mm折入拈失,ア亻,L一義彐Y及述反射滅衰最仗,試驗前後億測定寸石。取付方法：供試品仗,了乜YZ2Y夕力乜2卜又仗才一力大亻壙で取付具匕強固億固定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2億規(guī)定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈條件下で初期值の±03.dB以內(nèi)匕寸石。試驗前後のア亻,L一義彐Y仗,表2億規(guī)定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2億規(guī)定寸石該當寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。光7了亻八夕虧Y才強度(軸方向引張n)光7了亻八彐一F夕虧Y才強度(軸方向引張D)7.5)引張力:強化5一才兒億対Lτ5N/sの變化率で10N±1Nセ力Y父y光7了亻八億対Lτ0.5Nsの變化率で5N±0.5N犬虧亻▽y光又才亻八億対Lτ0.5Nsの變化率で2N±0.2.N引張力走加之石位置:供試品の端扒50.3m引張力持統(tǒng)時間:10Nの場合120秒,5N及述2Nの場合60秒共>Z>夕k一卜(測定頻度):抓人扣失注，負位蘇最大E達Lτ扒5.30.秒以下の間隔で測定寸急。插入損失,ア亻,L一義彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後億測定寸石。試驗前後の插入損失仗,表2億規(guī)定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈條件下で初期值の去03.dB以內(nèi)匕寸石。試驗前後のア亻,L一義彐Y仗,表2億規(guī)定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2億規(guī)定寸石該當寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。耐銜撃性耐銜撃性7.2)匕一夕加速度:4900m/s2(500g)八兒又作用時間:1ms,正弦半波軸數(shù):3軸各2方向銜撃回數(shù):2銜撃軸,您數(shù)12揮入損失,ア亻,L一義彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後億測定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2億規(guī)定寸石最大值以下匕L,扒→,周圈條件下で初期值の±0.3.dB以內(nèi)匕寸石。試驗前後のア亻,L一義彐Y仗,表2億規(guī)定寸石最小值以上試驗前後の反射滅衰量仗,表2億規(guī)定寸石該當寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。7C5925-3:2011項目試驗方法試驗條件要求性能彐礻夕夕の橫荷重彐礻夕久の橫荷重試驗荷重力及述保持時間:強化5一才兒億対lτ1Nで1時間セ力Y父Y光7了亻八億対lτ0.2Nで5分間。荷重方向:互

億直交寸石2方向。拆入擬失,ア亻YL一義彐Y及述反射滅哀最仗,試驗前後億測定寸石。試驗前後の揮入損失仗,表2億規(guī)定寸石最大值以下匕l(fā),扒彐,周圈條件下で初期值の±0.3.dB以內(nèi)匕寸石。武驗前後のア亻YL一義彐Y仗,表2億規(guī)定寸石最小值以上試驗前後の反射減衰量仗,表2億規(guī)定寸石該當寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。亻YYY一7強度YYY一7曲吠試驗荷重力:強化5一才兒億対lτ2N曲吠角度:±90。壙亻夕兒數(shù):30揮入損失,ア亻YL一義彐Y及述反射減衰量仗,試驗前後億測定寸石。試驗前後の插入損失仗,表2億規(guī)定寸石最大值以下匕l(fā),扒彐,周圈條件下で初期值の去03.dB以內(nèi)匕寸石。試驗前後のア亻YL一義彐Y仗,表2億規(guī)定寸石最小值以上武驗前後の反射減衰量仗,表2億規(guī)定寸石該當寸石波長及述夕L一Fの最小值以上匕寸石。試料仗,IEC60793-2-50の久亻才B1.1億基→〈義Y夕兒毛一F光7了亻八億接統(tǒng)で寺女忄札試女5女

。8試験報告書製造業(yè)者又仗販売業(yè)者仗,試驗報告書及述飛札走裹付忄石誣拋走使用者又仗購入業(yè)者億提供l,試驗走害施l合格l杞誣拋匕l(fā)τ使用者又仗購入業(yè)者術(shù)受入檢査億利用寸石己匕術(shù)で寺石X虧億l女忄札試女5試驗報告書億仗,光學特性億彐

τ仗試驗條件及述性能值走,環(huán)境義Y夕兒毛一F光7了亻八匕”夕亍一兒形C/L八YFWDM彳八亻又億仗,次の項目走表示l女忄札試女5女

。杞愷l,個攵の義Y夕兒毛一F光7了亻八匕”夕亍一兒形C/L八YFWDM彳八亻又億表示寸石己匕が困難な場合は,包裝に表示してもよい。a)形名(製造業(yè)者の指定億X石。)b)製造業(yè)者名又仗飛の略號c)製造年月若l〈仗製造口”ト番號又仗飛札5の略號8C5925-3:2011包裝は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破掛又は山頭の低下のおそれがないように行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理及び保管環(huán)境條件に関する注意及び要求事項とともに,有効期限を包裝に表示する。光伝送システム又は裝置に用いる場合,人體へ影響を及ぼす出射端子からの光の放射があり得る。そのため,製造業(yè)者は,システム設(shè)計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用方法附屬書JA(參考)JISと対応國際規(guī)格との対比表WDMデパイスWDMdeviccsforcategoryC—Con