數(shù)字芯片后端設(shè)計(jì)基礎(chǔ)與實(shí)踐-習(xí)題庫(kù)【第4章】_第1頁(yè)
數(shù)字芯片后端設(shè)計(jì)基礎(chǔ)與實(shí)踐-習(xí)題庫(kù)【第4章】_第2頁(yè)
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第四章：電路的可測(cè)性可分為可控制性和。為了要進(jìn)行DFT設(shè)計(jì)，需要保證設(shè)計(jì)具有________。目前業(yè)界比較成熟的DFT技術(shù)有_________。掃描鏈：Scanchain，是可測(cè)試性設(shè)計(jì)的一種實(shí)現(xiàn)技術(shù)，它通過(guò)植入，使得測(cè)試人員可以從外部控制和觀測(cè)電路內(nèi)部的信號(hào)值?！皰呙琛笔侵笇㈦娐分械娜我粻顟B(tài)移進(jìn)或移出的能力，其特點(diǎn)是測(cè)試數(shù)據(jù)的。基于掃描設(shè)計(jì)是可測(cè)性設(shè)計(jì)中最常用的一種方法。它是將電路中的普通觸發(fā)器(flip-flop)替換為。一個(gè)自動(dòng)測(cè)試向量生成(ATPG)的周期可以分為兩個(gè)階段：和?，F(xiàn)在被廣泛使用的ATPG算法包括：，和。BIST技術(shù)大致可以分兩類：和。LBIST通常用于測(cè)試，一般采用一個(gè)來(lái)產(chǎn)生輸入測(cè)試圖形，應(yīng)用于器件內(nèi)部機(jī)制。MBIST只用于測(cè)試，典型的MBIST包含測(cè)試電路用于加載，讀取和測(cè)試圖形。MBIST算法主要有哪些__________。內(nèi)建自測(cè)試必須附加兩個(gè)額外電路：和。生成激勵(lì)使用最多的方法是：和。不會(huì)把組合電路轉(zhuǎn)換成時(shí)序電路的故障稱為，將組合電路轉(zhuǎn)換成具有時(shí)序特性的故障稱為。測(cè)試故障模型有哪些_______。DFT的主用作用是什么？DFT的可控制性是指什么？DFT的可觀察性是指什么？掃描測(cè)試的實(shí)現(xiàn)過(guò)程是什么？掃描測(cè)試有哪兩種運(yùn)行模式，分別如何工作？簡(jiǎn)述全掃描的定義及特點(diǎn)。簡(jiǎn)述部分掃描的定義及特點(diǎn)。畫出掃描觸發(fā)器的結(jié)構(gòu)圖？畫出BIST電路的一般結(jié)構(gòu)圖？自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)測(cè)試矢量的應(yīng)用需要的五個(gè)階段？階段的工作方式？測(cè)試的生成的獲得方法有？測(cè)試向量的產(chǎn)生主要的考慮因素有？簡(jiǎn)述ATPG算法對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)

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