光纜測(cè)試知識(shí)試題及答案

一、單項(xiàng)選擇題1.以下哪種不是常用的光纜測(cè)試儀表？A.光時(shí)域反射儀（OTDR）B.光源C.萬(wàn)用表D.光功率計(jì)答案：C2.光時(shí)域反射儀（OTDR）的主要功能是測(cè)量（）。A.光纖的長(zhǎng)度、損耗和故障點(diǎn)位置B.光纖的帶寬C.光纖的顏色D.光纖的重量答案：A3.使用光功率計(jì)測(cè)量光信號(hào)功率時(shí)，首先要（）。A.進(jìn)行波長(zhǎng)設(shè)置B.進(jìn)行量程設(shè)置C.清潔光接口D.開(kāi)機(jī)預(yù)熱答案：A4.光纖的損耗主要包括（）。A.吸收損耗和散射損耗B.彎曲損耗和拉伸損耗C.連接損耗和熔接損耗D.以上都是答案：D5.以下關(guān)于光纖熔接損耗的說(shuō)法正確的是（）。A.熔接損耗與光纖的類(lèi)型無(wú)關(guān)B.熔接損耗只與熔接機(jī)的性能有關(guān)C.良好的熔接操作可以降低熔接損耗D.熔接損耗不會(huì)影響光信號(hào)傳輸答案：C6.在測(cè)量光纖長(zhǎng)度時(shí)，OTDR顯示的長(zhǎng)度是（）。A.光纖的實(shí)際長(zhǎng)度B.光纖的敷設(shè)長(zhǎng)度C.光纖的有效長(zhǎng)度D.以上都不對(duì)答案：C7.光源輸出的光信號(hào)一般是（）。A.單波長(zhǎng)光B.多波長(zhǎng)光C.白光D.紅外光答案：A8.測(cè)試光纖帶寬的常用方法是（）。A.時(shí)域法B.頻域法C.插入損耗法D.后向散射法答案：B9.光纖彎曲半徑過(guò)小會(huì)導(dǎo)致（）增加。A.光纖損耗B.光纖帶寬C.光纖強(qiáng)度D.光纖重量答案：A10.對(duì)光纜進(jìn)行測(cè)試前，需要對(duì)光纜進(jìn)行（）。A.標(biāo)識(shí)B.清潔C.固定D.以上都需要答案：D二、多項(xiàng)選擇題1.光纜測(cè)試的主要項(xiàng)目包括（）。A.光纖長(zhǎng)度測(cè)試B.光纖損耗測(cè)試C.光纖帶寬測(cè)試D.光纜護(hù)層絕緣電阻測(cè)試答案：ABCD2.光時(shí)域反射儀（OTDR）可以測(cè)量的參數(shù)有（）。A.光纖長(zhǎng)度B.光纖損耗C.光纖后向散射曲線D.光纖的折射率答案：ABC3.以下屬于光纖損耗的是（）。A.固有損耗B.彎曲損耗C.連接損耗D.散射損耗答案：ABCD4.常用的光纖連接方式有（）。A.熔接B.活動(dòng)連接C.機(jī)械連接D.焊接答案：ABC5.影響光纖熔接損耗的因素有（）。A.光纖的模場(chǎng)直徑不一致B.光纖的纖芯與包層同心度偏差C.熔接機(jī)的放電條件D.光纖的清潔程度答案：ABCD6.光功率計(jì)的主要作用有（）。A.測(cè)量光信號(hào)的功率B.檢測(cè)光鏈路的損耗C.校準(zhǔn)光源輸出功率D.測(cè)量光纖的長(zhǎng)度答案：ABC7.測(cè)試光纖帶寬的意義在于（）。A.評(píng)估光纖的傳輸能力B.確定光纖適用的通信系統(tǒng)C.檢測(cè)光纖是否存在故障D.衡量光纖的質(zhì)量答案：ABD8.光纜的結(jié)構(gòu)組成包括（）。A.光纖B.加強(qiáng)構(gòu)件C.護(hù)套D.填充物答案：ABCD9.光纖測(cè)試前的準(zhǔn)備工作包括（）。A.檢查測(cè)試儀表是否正常B.清潔光纖接口C.了解光纜的敷設(shè)情況D.準(zhǔn)備好記錄表格答案：ABCD10.以下關(guān)于光纜測(cè)試的說(shuō)法正確的是（）。A.不同類(lèi)型的光纖測(cè)試方法可能不同B.測(cè)試環(huán)境會(huì)對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生影響C.多次測(cè)試取平均值可以提高測(cè)試精度D.測(cè)試人員不需要具備專(zhuān)業(yè)知識(shí)答案：ABC三、判斷題1.光時(shí)域反射儀（OTDR）只能測(cè)量光纖的長(zhǎng)度，不能測(cè)量損耗。（）答案：錯(cuò)誤2.光纖的損耗越小，光信號(hào)在光纖中傳輸?shù)木嚯x越遠(yuǎn)。（）答案：正確3.熔接損耗是不可避免的，無(wú)法通過(guò)任何方法降低。（）答案：錯(cuò)誤4.光源輸出的光信號(hào)功率越大越好。（）答案：錯(cuò)誤5.測(cè)試光纖帶寬時(shí)，不需要考慮光纖的類(lèi)型。（）答案：錯(cuò)誤6.光功率計(jì)可以直接測(cè)量光源的輸出功率。（）答案：正確7.光纜護(hù)層絕緣電阻測(cè)試是光纜測(cè)試的重要項(xiàng)目之一。（）答案：正確8.光纖彎曲不會(huì)對(duì)光信號(hào)傳輸產(chǎn)生影響。（）答案：錯(cuò)誤9.測(cè)試儀表在使用前不需要進(jìn)行校準(zhǔn)。（）答案：錯(cuò)誤10.不同廠家生產(chǎn)的光纖，其性能一定相同。（）答案：錯(cuò)誤四、簡(jiǎn)答題1.簡(jiǎn)述光時(shí)域反射儀（OTDR）的工作原理。光時(shí)域反射儀通過(guò)向光纖中發(fā)射光脈沖，光脈沖在光纖中傳輸時(shí)，一部分光會(huì)由于光纖的散射和反射返回，OTDR接收這些返回光信號(hào)。通過(guò)測(cè)量光脈沖發(fā)射到接收返回光信號(hào)的時(shí)間，以及返回光信號(hào)的強(qiáng)度等信息，利用相關(guān)算法來(lái)計(jì)算光纖的長(zhǎng)度、損耗以及定位故障點(diǎn)等參數(shù)。2.光纖熔接損耗過(guò)大的原因有哪些？原因主要有：光纖的模場(chǎng)直徑不一致，不同廠家或批次光纖可能存在差異；光纖的纖芯與包層同心度偏差；熔接機(jī)的放電條件不合適，如放電電流、時(shí)間等設(shè)置不當(dāng)；光纖清潔不徹底，存在灰塵、油污等雜質(zhì)；光纖切割角度不良，導(dǎo)致對(duì)接不精確等。3.如何正確使用光功率計(jì)進(jìn)行光信號(hào)功率測(cè)量？首先開(kāi)機(jī)預(yù)熱，根據(jù)被測(cè)光信號(hào)的波長(zhǎng)進(jìn)行波長(zhǎng)設(shè)置。然后清潔光功率計(jì)的光接口以及待測(cè)光纖的接口，將光纖與光功率計(jì)正確連接。選擇合適的量程，若量程過(guò)大可能測(cè)量不準(zhǔn)確，量程過(guò)小可能損壞儀表。連接穩(wěn)定后讀取光功率計(jì)顯示的數(shù)值，記錄測(cè)量結(jié)果。4.簡(jiǎn)述光纖損耗的分類(lèi)及各自特點(diǎn)。光纖損耗分為固有損耗、彎曲損耗、連接損耗等。固有損耗包括吸收損耗和散射損耗，是光纖材料本身特性決定的，與光纖的成分、結(jié)構(gòu)有關(guān)。彎曲損耗是光纖彎曲導(dǎo)致部分光泄漏引起的，彎曲半徑越小損耗越大。連接損耗是光纖連接部位產(chǎn)生的，如熔接、活動(dòng)連接時(shí)由于光纖對(duì)準(zhǔn)不良等原因造成。五、討論題1.在實(shí)際的光纜測(cè)試工作中，如何確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性？在實(shí)際測(cè)試中，首先要選擇合適且精度高的測(cè)試儀表，并定期校準(zhǔn)。測(cè)試前仔細(xì)檢查儀表狀態(tài)，確保正常。對(duì)光纖接口要嚴(yán)格清潔，避免雜質(zhì)影響光信號(hào)傳輸。進(jìn)行多次測(cè)量取平均值，減少隨機(jī)誤差。了解光纜敷設(shè)過(guò)程中的各種情況，如是否有彎曲、拉伸等，分析可能對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生的影響。同時(shí)，測(cè)試人員要具備專(zhuān)業(yè)知識(shí)和熟練的操作技能，嚴(yán)格按照測(cè)試規(guī)范進(jìn)行操作。2.隨著通信技術(shù)的發(fā)展，光纜測(cè)試技術(shù)可能會(huì)有哪些新的發(fā)展方向？未來(lái)光纜測(cè)試技術(shù)可能朝著更智能化、集成化方向發(fā)展。測(cè)試儀表可能具備自動(dòng)識(shí)別光纖類(lèi)型、自動(dòng)設(shè)置測(cè)試參數(shù)功能，減少人工操作誤差。在測(cè)試精度上會(huì)進(jìn)一步提高，能夠檢測(cè)到更微小的光纖性能變化。還可能發(fā)展出非接觸式的測(cè)試方法，方便在一些特殊環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試。另外，與大數(shù)據(jù)、云計(jì)算結(jié)合，實(shí)現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)的遠(yuǎn)程傳輸、分析和管理，提高工作效率和管理水平。3.當(dāng)使用OTDR測(cè)量光纖長(zhǎng)度和損耗時(shí)，發(fā)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果與預(yù)期差異較大，應(yīng)該如何排查問(wèn)題？首先檢查OTDR儀表設(shè)置是否正確，如波長(zhǎng)、脈寬、折射率等參數(shù)。查看光纖連接是否正常，有無(wú)松動(dòng)、污染等情況?？紤]光纖本身是否存在問(wèn)題，例如是否有嚴(yán)重彎曲、受損等情況，可沿著光纜敷設(shè)路徑進(jìn)行查看。也可能是儀表故障，可使用其他正常的OTDR進(jìn)行對(duì)比測(cè)量。若懷疑熔接問(wèn)題，可重新熔接或檢查熔接記錄，分析熔接損耗是否過(guò)大等。4.對(duì)于不同類(lèi)型的光纖（如單模光纖和多模光纖），在測(cè)試方法和要點(diǎn)上有哪些不同？單模光纖和多模光纖在測(cè)試方法和要點(diǎn)上有區(qū)別。測(cè)試方法上，帶寬測(cè)試多模光纖