DB11北京市市場監(jiān)督管理局發(fā)布前言 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)等級 3 36數(shù)字成像檢測技術(shù) 67檢測結(jié)果 8檢測記錄和報告 附錄A（規(guī)范性附錄）圖像質(zhì)量最低值 附錄B（資料性附錄）幾何放大技術(shù)原理 附錄C（資料性附錄）管道壁厚損失數(shù)字X射線DWT測試過程 參考文獻(xiàn) 本文件按GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。本文件由北京市市場監(jiān)督管理局提出并歸口。本文件由北京市市場監(jiān)督管理局組織實施。本文件起草單位：北京市特種設(shè)備檢測中心、北京市豐臺區(qū)特種設(shè)備檢測所、北京嘉盛國安科技有限公司、中國特種設(shè)備檢測研究院、北京航星機器制造有限公司。本文件主要起草人：賈強、譚偉、梁麗紅、梁旭、張明洋、王廣坤、王寶龍、陳凱、李偉、陳玉平、李浩、李宏雷、陳克、劉陽、趙軍、楊雷、崔海捷、帥家盛。針對帶保冷層、含液在用氨制冷管道本體及其焊縫X射線檢測難題，在與ISO17636—2:2013（E）,Non-destructivetestingofwelds—Radiographictesting—Part2:X-andgamma—raytechniqueswithdigitaldetectors和NB/T47013.11—2015承壓設(shè)備無損檢測第11部分：X射線數(shù)字成像檢測等標(biāo)準(zhǔn)比對的基礎(chǔ)上，體現(xiàn)與ISO標(biāo)準(zhǔn)接軌的原則、采用原質(zhì)檢總局科技計劃項目《氨制冷裝置RBI與傳統(tǒng)檢驗融合方法研究》課題成果（項目編號：2015QK002）、結(jié)合氨制冷管道X射線數(shù)字成像檢測實踐編制本標(biāo)準(zhǔn)，主要技術(shù)特點如下：——X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)等級按圖像質(zhì)量分為兩個級別：A級圖像質(zhì)量—基本技術(shù)；B級圖像質(zhì)量—高級技術(shù)；——規(guī)定了帶包覆層含液管道焊接接頭X射線數(shù)字成像檢測內(nèi)容；——規(guī)定了管道本體剩余厚度測量內(nèi)容。在用氨制冷壓力管道X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)要求本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在用氨制冷壓力管道本體及其焊接接頭的X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)和質(zhì)量分級要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于公稱直徑不大于400mm的在用氨制冷壓力管道本體剩余厚度測量和焊接接頭裂紋、未焊透、未熔合、咬邊、內(nèi)凹、錯邊等缺陷X射線數(shù)字成像檢測。公稱直徑不大于400mm的其他帶包覆層含液在用管道X射線數(shù)字成像檢測可參照本標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行。2規(guī)范性引用文件下列文件對本標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T12604.2無損檢測術(shù)語射線照相檢測GB18871電離輻射防護(hù)與輻射源安全基本標(biāo)準(zhǔn)GB/T23901.1—2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分：線型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定GB/T23901.5—2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第5部分：雙線型像質(zhì)計圖像不清晰度GB50126工業(yè)設(shè)備及管道絕熱工程施工規(guī)范NB/T47013.1—2015承壓設(shè)備無損檢測第1部分：通用要求NB/T47013.2—2015承壓設(shè)備無損檢測第2部分：射線檢測NB/T47013.11—2015承壓設(shè)備無損檢測第11部分：X射線數(shù)字成像檢測TSGZ8001特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則TSGD7005壓力管道定期檢驗規(guī)則-工業(yè)管道GBZ117—2015工業(yè)X射線探傷放射防護(hù)要求3術(shù)語和定義GB/T12604.2界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本部分。氨制冷壓力管道ammoniarefrigerationpressurepipe制冷系統(tǒng)內(nèi)部以氨制冷劑為介質(zhì)的壓力管道，包括帶包覆層和不帶包覆層的管道。數(shù)字探測器digitaldetectorarray將X射線轉(zhuǎn)換為離散陣列模擬電信號、經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換后通過計算機顯示輸出X射線數(shù)字圖像的電子設(shè)備，以下簡稱探測器。X射線數(shù)字成像X-raydigitalradiographyX射線穿透工件經(jīng)探測器采集轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號輸入計算機處理顯示圖像的一種成像方法。像素pixelX射線數(shù)字探測器的的基本組成單元，即與敏感元器件對應(yīng)的點?；叶戎礸rayvalueX射線數(shù)字圖像中每一像素的數(shù)值。線性化灰度值linearizedgrayva與探測器曝光量嚴(yán)格成正比例的像素灰度值，當(dāng)探測器未曝光，對應(yīng)的灰度值等于零。數(shù)字探測器基本空間分辨力basicspatialresolutionofadigitaldetectorarraySRetector在無被檢工件、像質(zhì)計放置于數(shù)字探測器之上和透照幾何放大倍數(shù)接近于1時，檢測系統(tǒng)所能分辨的最小幾何尺寸細(xì)節(jié)的能力，在數(shù)值上等于在數(shù)字圖像上測得的探測器不清晰度的一半。數(shù)字圖像基本空間分辨力basicspatialresolutionofadigitalimageSRmage像質(zhì)計放置于射線源側(cè)被檢工件之上，檢測系統(tǒng)所能發(fā)現(xiàn)的被檢工件圖像中最小細(xì)節(jié)的能力，在數(shù)值上等于在數(shù)字圖像上測得的不清晰度的一半。信噪比signal-to-noiseratio數(shù)字圖像中給定區(qū)域線性化灰度值平均值與線性化灰度值標(biāo)準(zhǔn)偏差之間的比值。歸一化信噪比normalizedsignal-to-noiseratio實測信噪比按下式除以基本空間分辨力（單位微米）：注：SNRmeasured為實際測得的信噪比；SRb=SRetector對比度/噪聲比contrast-to-noiseratio數(shù)字圖像兩個區(qū)域灰度平均值之差與灰度平均標(biāo)準(zhǔn)偏差之間的比值。歸一化對比度/噪聲比normalizedcontrast-to-noiseratio實測對比度/噪聲比按下式除以基本空間分辨力（單位為微米）：注：SNRmeasured為實際測得的信噪比；SRb=SRetector4X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)等級X射線數(shù)字成像檢測技術(shù)等級按圖像質(zhì)量分為兩個級別（見附錄A）：a)A級圖像質(zhì)量—基本技術(shù)；b)B級圖像質(zhì)量—高級技術(shù)。5一般要求5.1檢測人員5.1.1從事X射線數(shù)字成像檢測的人員，上崗前應(yīng)進(jìn)行輻射安全知識培訓(xùn)，并取得相關(guān)證書。5.1.2從事X射線數(shù)字成像檢測的人員，應(yīng)在取得特種設(shè)備無損檢測X射線數(shù)字成像檢測專項資格后，從事相應(yīng)項目的檢測工作。5.1.3檢測人員應(yīng)了解與X射線數(shù)字成像技術(shù)相關(guān)的計算機知識、數(shù)字圖像處理知識，掌握相應(yīng)的計算機基本操作方法。5.2檢測系統(tǒng)與器材5.2.1X射線機5.2.1.1采用與探測器相匹配的X射線機。5.2.1.2應(yīng)根據(jù)被檢工件的厚度、規(guī)格、焦距大小以及是否含介質(zhì)、帶包覆層等現(xiàn)場透照條件，選擇X射線機的能量范圍。5.2.2探測器系統(tǒng)5.2.2.1包含面陣列探測器及其通訊、控制線纜等配件。5.2.2.2面陣列探測器像素尺寸宜在大于100微米至148微米范圍內(nèi)。5.2.2.3A/D轉(zhuǎn)換位數(shù)不小于14bit。5.2.2.4探測器供應(yīng)商應(yīng)提供探測器的壞像素表和壞像素校正方法。5.2.2.5應(yīng)按照具體的探測器系統(tǒng)規(guī)定的圖像校正方法，對探測器進(jìn)行校正。5.2.3計算機與系統(tǒng)軟件5.2.3.1計算機顯示器應(yīng)滿足的最低要求如下：a)亮度不低于250cd/m2；b)灰度等級不小于8bit；c)圖像顯示分辨率不低于1024×768；d)顯示器像素點距不高于0.3mm。5.2.3.2系統(tǒng)軟件至少應(yīng)具有以下功能：平均、窗位、安全延時、圖像4～16倍不失真縮放、線纜/無線控制、圖像采集、圖像處理、缺陷幾何尺寸測量、缺陷標(biāo)注、信噪比和基本空間分辨力測量、雙絲像質(zhì)計擺放角度測量、圖像存儲。5.2.4像質(zhì)計5.2.4.1圖像相對靈敏度采用線型像質(zhì)計進(jìn)行測定，線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.15.2.4.2數(shù)字圖像和陣列數(shù)字探測器基本空間分辨力采用雙線型像質(zhì)計進(jìn)行測定，雙線型像質(zhì)計的型號和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.5的規(guī)定。5.2.4.3線型像質(zhì)計5.2.4.3.1無包覆層、不含液態(tài)介質(zhì)管道線型像質(zhì)計的放置原則應(yīng)符合NB/T47013.11—2015中5.2.4.3.2有包覆層、不含液態(tài)介質(zhì)管道線型像質(zhì)計宜放置在射線源側(cè)的工件上；若相對靈敏度（IQI值）不能滿足透照要求（見附錄A中表A.1～A.3），應(yīng)放置于靠近探測器的保溫層外側(cè)。5.2.4.3.3含液態(tài)介質(zhì)管道線型像質(zhì)計宜放置在探測器側(cè)的工件上；管道帶保溫層時，應(yīng)放置于靠近探測器的保溫層外側(cè)。5.2.4.3.4當(dāng)線型像質(zhì)計放置在探測器側(cè)時，應(yīng)在適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，“F”標(biāo)記的圖像應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在圖像上，且應(yīng)在檢測報告中注明。5.2.4.3.5線型像質(zhì)計的使用和識別應(yīng)符合NB/T47013.11—2015中6.1.2.2、6.1.2.3要求。5.2.4.4雙線型像質(zhì)計5.2.4.4.1是否同時使用線型像質(zhì)計和雙線型像質(zhì)計由合同雙方確定。若放大倍率大于1.2，應(yīng)同時使用線型像質(zhì)計和雙線型像質(zhì)計。5.2.4.4.2焊縫雙壁雙影透照，雙線型像質(zhì)計置于管子的射線源側(cè)，圖像基本空間分辨力滿足附錄A中的表A.4或A.5要求（透照厚度為管子公稱直徑）、并且數(shù)字陣列探測器空間分辨力滿足附錄A中的表A.4或A.5要求（透照厚度為2倍管子壁厚）。5.2.4.4.3焊縫雙壁單影或單壁單影透照，雙線型像質(zhì)計置于管子的探測器側(cè)，圖像基本空間分辨力滿足附錄A中的表A.4或A.5要求（透照厚度為管子壁厚）。5.2.4.4.4管道帶包覆層時，雙線型像質(zhì)計置于包覆層上，應(yīng)進(jìn)行工藝驗證，數(shù)字圖像基本空間分辨力應(yīng)在參考圖像上讀取。5.2.4.4.5當(dāng)雙線型像質(zhì)計放置在探測器側(cè)時，應(yīng)在適當(dāng)位置放置鉛字“F”作為標(biāo)記，“F”標(biāo)記的圖像應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在圖像上，且應(yīng)在檢測報告中注明。5.2.4.4.6雙線型像質(zhì)計金屬絲與探測器的行或列成較小的夾角（2°~5°),且細(xì)絲置于外側(cè)。在透照參數(shù)和檢測對象不變的情況下（如一條焊縫的連續(xù)成像），可只在第一幅圖像中放置雙線型像質(zhì)計，細(xì)絲置于外側(cè)。5.2.4.4.7雙線型像質(zhì)計的識別方法見GB/T23901.5—2019。5.2.5標(biāo)記5.2.5.1定位標(biāo)記焊縫透照定位標(biāo)記包括搭接標(biāo)記和中心標(biāo)記。局部檢測時搭接標(biāo)記稱為有效區(qū)段標(biāo)記。當(dāng)鉛質(zhì)標(biāo)記用數(shù)字表示時，可不用中心標(biāo)記。5.2.5.2識別標(biāo)記識別標(biāo)記包括產(chǎn)品編號、焊縫編號、圖像編號和透照日期。返修部分還應(yīng)有返修標(biāo)記R1，R2等（其數(shù)碼表示返修次數(shù)）。5.2.5.3標(biāo)記位置標(biāo)記一般放置在距焊縫邊緣至少5mm以外，所有標(biāo)記圖像不應(yīng)重疊,且不應(yīng)干擾有效評定范圍內(nèi)的影像；搭接標(biāo)記放置的部位還應(yīng)符合NB/T47013.2的規(guī)定。無法標(biāo)記時應(yīng)在原始記錄上畫圖標(biāo)記。5.2.6數(shù)字成像系統(tǒng)運行核查5.2.6.1應(yīng)提供檢測系統(tǒng)性能測試證明文件。在第一次使用前應(yīng)進(jìn)行檢測系統(tǒng)性能驗收，驗收合格后方可使用。5.2.6.2在如下情況下應(yīng)進(jìn)行核查，核查主要指測試系統(tǒng)分辨力，核查方法按NB/T47013.11—2015a)檢測系統(tǒng)有改變時；b)正常使用條件下，每3個月應(yīng)至少核查一次；c)在系統(tǒng)停止使用一個月后重新使用時；d)對于脈沖源，當(dāng)使用脈沖數(shù)占總脈沖數(shù)1/3、2/3時，均須核查。5.2.7曝光量確定原則5.2.7.1應(yīng)按照檢測速度、檢測設(shè)備和檢測質(zhì)量的要求，通過協(xié)調(diào)影響曝光量的參數(shù)來選擇合適的曝光量；需要提高檢測效率時，優(yōu)先選擇大電流短時間的曝光量。5.2.7.2對于直流源高頻射線機，單次曝光量范圍：管電流為0.5mA至4.5mA、通常情況下曝光時間5.2.7.3對于脈沖源射線機，單次曝光量范圍：脈沖數(shù)1至199。5.2.7.4多次疊加的總曝光量等于單次曝光量乘以平均次數(shù)。5.2.8安全要求5.2.8.1檢測環(huán)境應(yīng)滿足說明書中對相應(yīng)檢測系統(tǒng)的溫度、濕度、接地、電磁輻射、振動等運行環(huán)境5.2.8.2X射線輻射防護(hù)條件應(yīng)符合GB18871和GBZ117的有關(guān)規(guī)定。5.2.8.3現(xiàn)場進(jìn)行X射線數(shù)字成像檢測時，應(yīng)按GBZ117的規(guī)定劃定控制區(qū)和監(jiān)督區(qū)，設(shè)置警告標(biāo)志，檢測人員應(yīng)佩戴個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。5.2.8.4現(xiàn)場通風(fēng)條件良好，氨濃度應(yīng)在人體安全水平以下；必要時，穿戴氨用防護(hù)面罩。5.2.8.5高空作業(yè)應(yīng)穿戴高空作業(yè)防護(hù)用具。6數(shù)字成像檢測技術(shù)6.1焊縫透照布置6.1.1透照方式6.1.1.1不帶包覆層、不含液氨制冷管道對接焊縫X射線數(shù)字成像檢測透照方式見圖1～圖3。6.1.1.2不帶包覆層、含液氨制冷管道對接焊縫X數(shù)字成像檢測檢測透照方式見圖4～圖6。6.1.1.3帶包覆層、不含液氨制冷管道對接焊縫X射線數(shù)字成像檢測透照方式見圖7～圖9。6.1.1.4帶包覆層、含液氨制冷管道對接焊縫X射線數(shù)字成像檢測透照方式見圖10～圖12。f,——X射線源至工件之間的垂直距離；b,——工件至探測器之間的垂直距離；圖1對接焊縫雙壁雙影橢圓透照方式圖圖2對接焊縫雙壁雙影垂直透照方式圖圖3對接焊縫雙壁單影透照方式圖圖4含液管道對接焊縫雙壁雙影橢圓透照方式圖圖5含液管道對接焊縫雙壁雙影垂直透照方式圖圖6含液管道對接焊縫雙壁單影透照方式圖圖7帶包覆層管道對接焊縫雙壁雙影橢圓透照方式圖圖8帶包覆層管道對接焊縫雙壁雙影垂直透照方式圖圖9帶包覆層管道對接焊縫雙壁單影透照方式圖圖10帶包覆層含液管道對接焊縫雙壁雙影橢圓透照方式圖圖11帶包覆層含液管道對接焊縫雙壁雙影垂直透照方式圖圖12帶包覆層含液管道對接焊縫雙壁單影透照方式圖6.1.2透照方向與透照區(qū)域6.1.2.1透照時射線束中心應(yīng)垂直指向成像區(qū)中心，需要時也可選用有利于發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透照。6.1.2.2透照區(qū)域應(yīng)包含焊縫和距焊縫熔合線10mm范圍內(nèi)的母材區(qū)域。6.1.3小徑管透照6.1.3.1采用傾斜透照橢圓成像時：6.1.3.2橢圓成像有困難時，宜采用垂直透照重疊成像（見圖2、圖5、圖8、圖11），應(yīng)相隔120°6.1.3.3采用傾斜透照雙壁單影成像（見圖3、圖6、圖9、圖12），源至工件距離f在滿足6.3.1的前提下盡量取小值，像質(zhì)計和鉛字“F”標(biāo)記應(yīng)放置在探測器側(cè)。6.1.3.4由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時，經(jīng)合同雙方商定，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。鑒于透照一次不能實現(xiàn)焊縫全長的100%檢測，此時應(yīng)采取有效措施擴大缺陷可檢出范圍，并保證圖像評定范圍內(nèi)灰度、信噪比、靈敏度和分辨力滿足要求。6.1.4相鄰兩幅圖像搭接區(qū)域長度應(yīng)不小于10mm。6.2管道厚度測量透照方式采用切線技術(shù)測量管道壁厚的透照方式見圖13；采用雙壁厚技術(shù)測量管道壁厚損失的透照方式見圖13切線技術(shù)測量管道壁厚的透照方式圖圖14雙壁厚技術(shù)測量管道壁厚損失的透照方式圖6.3成像幾何參數(shù)6.3.1X射線源至被檢工件表面的最小距離對于圖1、圖2、圖4、圖5、圖7、圖8、圖10、圖11雙壁雙影透照方式，所選用的X射線源至被檢工件表面的距離f應(yīng)滿足公式（1）、公式（2）要求。對于A級圖像質(zhì)量： 對于B級圖像質(zhì)量： 式中：d-射線源焦點尺寸，mm。對于圖3、圖6、圖9、圖12雙壁單影透照方式,f應(yīng)滿足公式（3）、公式（4）要求。對于A級圖像質(zhì)量： 對于B級圖像質(zhì)量： （4）式中：t-名義厚度，mm若規(guī)定對面狀缺陷進(jìn)行檢測，為降低幾何不清晰度，即使A級圖像質(zhì)量合格，射線源至被檢工件表面的距離也應(yīng)提高至B級圖像質(zhì)量要求的f。6.4幾何放大技術(shù)對于圖7～圖9、圖10～圖12透照方式，如果像質(zhì)計相對靈敏度和基本空間分辨力不能滿足表A.1至A.5要求，可以通過幾何放大技術(shù)降低圖像不清晰度。幾何放大技術(shù)原理參見附錄B。6.5散射線和無用射線的屏蔽可采用濾波板、準(zhǔn)直器（光柵）、限制照射場范圍、防散射線鉛板等適當(dāng)措施，減少散射線和無用X射線。6.6圖像質(zhì)量及評定6.6.1圖像質(zhì)量6.6.1.1圖像靈敏度與圖像基本空間分辨力應(yīng)同時保證圖像相對靈敏度和圖像基本空間分辨力的要求；按照圖像質(zhì)量等級要求及采用的透照方式，A級與B級圖像相對靈敏度和不清晰度應(yīng)分別符合附錄A表A.1～表A.5的規(guī)定。6.6.1.2補償原則如果圖像相對靈敏度和不清晰度不能同時達(dá)到表A.1～表A.5的規(guī)定，可通過增加曝光量提高信噪比、進(jìn)而提高線型像質(zhì)計（絲號）的可見性補償超出的不清晰度值（或超出的數(shù)字探測器基本空間分辨對于小型缺陷（缺陷在射線透過方向上的尺寸Δw遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于透照厚度），補償原則基于下列理論近似，見公式（5）：式中：c-常數(shù)；μef-有效衰減系數(shù)；………………CNRN-數(shù)字圖像中測得的歸一化CNR為保證獲得足夠相對靈敏度的X射線數(shù)字圖像，在以下三種情形下需要進(jìn)行補償：a)補償原則Ⅰ,通過提高信噪比SNR（例如提高曝光量）補償對比度的降低（例如提高管電壓導(dǎo)致的對比度降低）；b)補償原則Ⅱ,通過提高信噪比SNR（例如，對應(yīng)于缺失的雙線型像質(zhì)計線對值，提高單絲像質(zhì)計IQIs的絲號）補償探測器不清晰度的增大（例如，數(shù)字探測器基本空間分辨力高于標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定圖像質(zhì)量應(yīng)達(dá)到的數(shù)字圖像基本空間分辨力）。例如：對于某一檢測系統(tǒng)，采用橢圓傾斜透照方式檢測Φ89x4帶包覆層液氨管道，要求達(dá)到B級圖像質(zhì)量，如果圖像質(zhì)量不能同時達(dá)到W14和D9，則達(dá)到W15和D8可提供等效的檢測靈敏度。補償最大不超過2個絲號；c)補償原則Ⅲ,通過提高信噪比SNR補償因為數(shù)字探測器壞像素的校正導(dǎo)致的擬合不清晰度的增6.6.2圖像評定要求6.6.2.1可通過正像或負(fù)像的方式顯示，1：1評定。6.6.2.2圖像有效區(qū)域內(nèi)不應(yīng)存在干擾缺陷圖像識別的偽像。6.6.2.3圖像的灰度值應(yīng)控制在滿量程的20%～80%。6.6.3信噪比要求應(yīng)滿足表1對歸一化信噪比的最低要求。表1歸一化信噪比最低要求-6.6.4缺陷的識別與評定6.6.4.1缺陷的識別可采用計算機輔助人工識別。6.6.4.2人工識別可通過窗位工具將計算機識別的灰度范圍轉(zhuǎn)換成人眼可識別的灰度范圍，達(dá)到人眼識別的最佳效果。6.6.4.3缺陷的評定可采用人工評定或計算機輔助評定方法。6.6.5幾何尺寸的測量6.6.5.1幾何尺寸的測量包括管道管徑、壁厚和焊接缺陷的幾何尺寸測量。6.6.5.2使用已知尺寸且經(jīng)過標(biāo)定的物體作為參考點（例如鋼球），通過參考點校正測量，采用系統(tǒng)軟件直接測量管道管徑、壁厚和焊接缺陷的幾何尺寸。6.6.6缺陷深度的測量6.6.6.1管道剩余壁厚采用切線技術(shù)或雙壁厚技術(shù)進(jìn)行測量。6.6.6.2管道未焊透深度的測量可參照附錄C對比試件進(jìn)行校準(zhǔn)，實現(xiàn)對管道未焊透等缺陷深度的定量測量。6.7圖像處理、保存與存儲采集圖像數(shù)據(jù)可選用連續(xù)幀疊加的方法，圖像評價和缺陷評定可采用灰度增強等圖像處理方法優(yōu)化圖像的顯示效果；任何處理方法不得改變采集的原始圖像數(shù)據(jù)。6.7.2圖像保存6.7.2.1圖像應(yīng)存儲在硬盤等數(shù)字存儲介質(zhì)中，并在只讀光盤中存檔。6.7.2.2檢測圖像應(yīng)備份不少于兩份，相應(yīng)的原始記錄和檢測報告也應(yīng)同期保存。6.7.2.3圖像保存不少于8年，在有效保存期內(nèi)圖像數(shù)據(jù)不得丟失和更改。6.7.3圖像存儲6.7.3.1存儲格式宜采用標(biāo)準(zhǔn)DICONDE格式或者TIF、TIFF格式，也可根據(jù)需要采用專門的存儲格式。專門存儲格式應(yīng)留有與其他格式交換信息的接口。單位代碼、工件編號、焊縫編號、透照規(guī)格、檢測人員代碼、識別標(biāo)記等信息應(yīng)寫入圖像文件的描述字段中，這些信息應(yīng)具備不可更改性。6.7.3.2存儲圖像應(yīng)具有文件輸出打印的功能。6.7.3.3原始圖像和處理后的圖像均應(yīng)保存，且原始圖像的信息應(yīng)具備不可更改性、連續(xù)性和可讀性。6.7.3.4被檢位置編號應(yīng)與圖像編號相對應(yīng)。7檢測結(jié)果7.1焊接接頭射線檢測結(jié)果評定和質(zhì)量分級按NB/T47013.2—2015中7的規(guī)定執(zhí)行。7.2管道本體剩余厚度的測定測定結(jié)果至少應(yīng)包括管道正常壁厚與外徑、缺陷處管道剩余壁厚、缺陷附近管道外徑最大值以及缺陷環(huán)向長度最大值等實測數(shù)據(jù)。8檢測記錄和報告8.1檢測記錄應(yīng)按照現(xiàn)場操作的實際情況詳細(xì)記錄檢測過程的有關(guān)信息和數(shù)據(jù)。X射線數(shù)字成像檢測記錄除符合NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：a)制造單位、檢測單位或委托單位；b)被檢工件：坡口型式、焊接方法；c)使用的檢測工藝文件編號；d)檢測設(shè)備：射線機有效焦點尺寸；e)檢測規(guī)范：檢測技術(shù)或圖像質(zhì)量等級、透照布置、像質(zhì)計、濾波板、射線能量、曝光量或透照時間、射線機與探測器的相對關(guān)系、透照幾何參數(shù)、軟件處理方式和條件等；f)圖像評定：灰度值、信噪比、圖像靈敏度、圖像分辨力、缺陷位置和性質(zhì)；g)檢測工藝文件驗證情況；h)檢測結(jié)果及質(zhì)量分級；a)檢測部位及缺陷位置示意圖；i)審核人員及其技術(shù)資格；j)其他需要說明或記錄的事項。8.2檢測報告應(yīng)依據(jù)檢測記錄出具檢測報告，報告格式見NB/T47013.11附錄E。X射線數(shù)字成像檢測報告除符合NB/T47013.1的規(guī)定外，還至少應(yīng)包括下列內(nèi)容：a)制造單位、檢測單位或委托單位；b)被檢工件：坡口型式、焊接方法；c)使用的檢測工藝文件編號；d)檢測設(shè)備：射線機有效焦點尺寸；e)檢測規(guī)范：檢測技術(shù)或圖像質(zhì)量等級、透照布置、濾波板（類型、數(shù)量和厚度）、像質(zhì)計、射線能量、曝光量或透照時間、射線機與探測器的相對關(guān)系、透照幾何參數(shù)、軟件處理方式和條件等；k)圖像評定：灰度值、信噪比、圖像靈敏度、圖像分辨力、缺陷位置和性質(zhì)。圖像質(zhì)量最低值A(chǔ).1圖像靈敏度對應(yīng)于不同的透照布置方式，圖像質(zhì)量等級與線型像質(zhì)計（IQI）像質(zhì)值見表A.1～表A.3。表A.1線型像質(zhì)計像質(zhì)值——單壁透照、IQI置于射線源側(cè)表A.2線型像質(zhì)計像質(zhì)值——雙壁雙影透照、IQI置于射線源側(cè)注：管道內(nèi)含液態(tài)介質(zhì)，應(yīng)將液態(tài)介質(zhì)深度折算成當(dāng)量表A.3線型像質(zhì)計像質(zhì)值——雙壁單影或雙影透照，IQI在探測器側(cè)注：管道內(nèi)含液態(tài)介質(zhì)，應(yīng)將液態(tài)介質(zhì)深度折算成當(dāng)量A.2不清晰度圖像質(zhì)量A級最大不清晰度見表A.4；圖像質(zhì)量B級最大不清晰度見表A.5。表A.4圖像質(zhì)量A級最大不清晰度與圖像最大基本空間分辨力注3：最小可見IQI絲號和SRage適用于接觸透照。如果采用幾何放大倍率透照技術(shù)見6.4節(jié)）IQI絲號和SRage應(yīng)在參考圖像上讀取。表A.5圖像質(zhì)量B級最大不清晰度與最大基本空間分辨力計入透照厚度w。注3：最小可見IQI絲號和SRage適用于接觸透照。如果采用幾何放大倍率透照技術(shù)見6.4節(jié)）IQI絲號和SRage應(yīng)在參考圖像上讀取。（資料性附錄）幾何放大技術(shù)原理增大探測器與工件之間的距離和/或采用小焦點X射線源，達(dá)到降低圖像不清晰度的目的稱為幾何放大技術(shù)。幾何不清晰度uG按公式（B.1）計算：d………………(B.1)式中：SDD-射線源至探測器之間距離，mm；f-射線源至工件之間的距離，mm；d-焦點尺寸，mm；k-幾何放大倍率。規(guī)定最大圖像不清晰度uIm按公式（B.2）進(jìn)行估算：uIm=………………（B.2）式中：SRb-放大倍率為1時探測器基本空間分辨力。幾何放大倍率增加和/或焦點尺寸減小以降低圖像不清晰度，使之小于或等于表A.4或A.5中規(guī)定的值。幾何放大倍率的正確選擇應(yīng)通過圖像中放置于工件之上的雙線型像質(zhì)計證實。如果2SRb>d（射線源焦點尺寸），雙線型像質(zhì)計放置于靠近探測器側(cè)的工件上；除此之外，雙線型像質(zhì)計放置于射線源側(cè)的工件上。選擇放大倍數(shù)時，建議將雙線型像質(zhì)計放置于工件兩側(cè)，當(dāng)確定了放大倍數(shù)和焦點尺寸后，最終圖像中只需顯現(xiàn)一處雙線型像質(zhì)計即可。射線源側(cè)和探測器側(cè)的放大因子顯著不同。因此，放大因子應(yīng)選擇工件中心處的值。源側(cè)和探測器側(cè)的放大因子變化應(yīng)限制在±25%，如果應(yīng)用了本標(biāo)6.6.1.2b）補償原則II，可取較小值。（資料性附錄）管道壁厚損失數(shù)字X射線DWT測試過程以20鋼Φ89x4管狀對比試件為例，說明模擬未焊透深度測量的管道壁厚損失數(shù)字X射線DWT測試過程如下：a)按實際檢測透照工藝得到Φ89x4管狀對比試件的數(shù)字成像照片；b)點擊DR軟件雙壁厚測量圖標(biāo)，沿管子軸線方向選取兩已知壁厚進(jìn)行校準(zhǔn)（消除放大倍率的影響），本例中參考雙壁厚度8mm（綠色方框），已知測量厚度6.5mm（紅色方框），見圖C.1；c)對校準(zhǔn)精度進(jìn)行驗證1：沿管子軸線方向拖動紅色測量方框至已知外刻槽深度成像處，顯示測量厚度；本例外刻槽深度1mm，顯示測量厚度7.116mm，見圖C.2，誤差0.116mm；d)對校準(zhǔn)精度