《2025年無損檢測員(技師)無損檢測質(zhì)量控制與安全管理鑒定試卷(含答案)》一、單項選擇題（每題1分，共30分。每題只有一個正確答案，請將正確選項的字母填在括號內(nèi)）1.在射線檢測中，決定底片對比度的首要因素是（）。A.管電壓B.曝光量C.膠片梯度D.工件厚度差答案：C2.GB/T23901.1—2022規(guī)定，射線檢測用線型像質(zhì)計最細(xì)線徑為（）mm。A.0.05B.0.063C.0.08D.0.10答案：B3.超聲檢測中，當(dāng)探頭折射角為60°，鋼中橫波聲速為3230m/s，則探頭頻率為2MHz時，波長約為（）mm。A.1.6B.2.0C.2.4D.3.2答案：A4.滲透檢測時，顯像劑層厚度一般控制在（）μm以內(nèi)，以保證缺陷回滲。A.10B.25C.50D.100答案：B5.磁粉檢測中，若周向磁場強(qiáng)度不足，最易漏檢的缺陷取向為（）。A.平行于軸線B.垂直于軸線C.45°斜向D.任意取向答案：A6.按NB/T47013.3—2022，超聲檢測中Ⅱ級焊縫允許存在的單個條形缺陷最大長度為（）mm（板厚T=30mm）。A.6B.9C.12D.15答案：B7.射線底片黑度D=2.5，則透過率為（）。A.0.32%B.0.56%C.1.0%D.3.2%答案：A8.在TOFD檢測中，導(dǎo)致“側(cè)向波”信號幅度下降的主要原因是（）。A.增益過低B.楔塊磨損C.表面耦合差D.探頭晶片老化答案：C9.對同一缺陷，當(dāng)射線能量從200kV提高到400kV時，其對比度靈敏度將（）。A.升高B.降低C.不變D.先升后降答案：B10.滲透檢測中，若乳化時間過長，最可能出現(xiàn)的偽缺陷是（）。A.過度清洗B.背景過濃C.缺陷漏檢D.干顯像龜裂答案：B11.超聲檢測時，若儀器水平線性誤差為2%，對100mm聲程的缺陷定位誤差為（）mm。A.1B.2C.3D.4答案：B12.按GB18871—2022，職業(yè)照射個人劑量限值連續(xù)5年平均為（）mSv。A.10B.20C.50D.100答案：B13.射線探傷現(xiàn)場必須設(shè)置“三牌一燈”，其中“一燈”指（）。A.應(yīng)急燈B.聲光報警燈C.工作照明燈D.安全出口燈答案：B14.磁粉檢測中，若采用濕法熒光磁懸液，其推薦濃度為（）mL/100mL。A.0.1–0.3B.0.5–1.0C.1.2–2.0D.2.5–3.5答案：B15.超聲檢測中，若缺陷回波比底面回波低6dB，則兩者聲壓比為（）。A.1:1B.1:2C.2:1D.4:1答案：B16.滲透檢測烘干溫度一般控制在（）℃。A.20–30B.30–40C.50–60D.80–100答案：C17.射線底片評定時，觀片燈亮度最低應(yīng)達(dá)到（）cd/m2。A.1000B.3000C.10000D.30000答案：C18.在超聲相控陣檢測中，電子聚焦的焦距與（）成正比。A.陣元間距B.陣元數(shù)量C.孔徑平方D.頻率平方答案：C19.磁粉檢測中，若采用交流電磁化，其趨膚深度δ與頻率f的關(guān)系為（）。A.δ∝fB.δ∝√fC.δ∝1/√fD.δ∝1/f答案：C20.按ISO176361:2022，雙壁單影透照時，最小黑度應(yīng)不低于（）。A.1.5B.2.0C.2.3D.2.5答案：B21.超聲檢測中，若使用2.5P20×2060°斜探頭，其半擴(kuò)散角約為（）°。A.2B.4C.6D.8答案：B22.滲透檢測中，熒光亮度與紫外輻照度關(guān)系為（）。A.線性B.平方C.平方根D.對數(shù)答案：A23.射線檢測中，散射線的主要來源是（）。A.陽極靶B.工件本身C.鉛箔增感屏D.地面反射答案：B24.磁粉檢測后，若需進(jìn)行退磁，其最有效的方法是（）。A.交流線圈遞減法B.直流換向法C.熱退磁D.機(jī)械敲擊答案：A25.超聲檢測中，若缺陷位于近場區(qū)內(nèi)，其回波幅度會（）。A.穩(wěn)定B.隨位置劇烈波動C.單調(diào)上升D.單調(diào)下降答案：B26.按GB/T29302—2022，數(shù)字射線檢測系統(tǒng)空間分辨率用（）表示。A.MTFB.SNRC.NEQD.DQE答案：A27.滲透檢測中，黑光燈距工件表面距離一般控制在（）mm。A.50–100B.100–150C.150–300D.400–500答案：C28.射線檢測中，若使用Ir192源，其半衰期為（）天。A.5.3B.30C.74D.120答案：C29.超聲檢測中，若橫波斜探頭K值為2，則其折射角約為（）°。A.45B.60C.63.4D.70答案：C30.磁粉檢測中，若采用旋轉(zhuǎn)磁場，其合成磁場方向（）。A.固定B.隨時間旋轉(zhuǎn)C.垂直于工件D.平行于工件答案：B二、多項選擇題（每題2分，共20分。每題有兩個或兩個以上正確答案，請將所有正確選項的字母填在括號內(nèi)，漏選、錯選均不得分）31.下列因素中，影響射線底片顆粒度的有（）。A.膠片類型B.曝光量C.顯影溫度D.增感屏類型答案：ACD32.超聲檢測中，導(dǎo)致“幻象波”的原因包括（）。A.重復(fù)頻率過高B.探頭未耦合好C.儀器阻塞恢復(fù)慢D.工件表面粗糙答案：AC33.滲透檢測中，以下哪些情況會導(dǎo)致虛假顯示（）。A.工件表面銹蝕B.顯像劑過厚C.乳化不足D.清洗過度答案：ABC34.磁粉檢測中，下列哪些方法可測量磁場強(qiáng)度（）。A.霍爾計B.磁強(qiáng)計C.磁粉試片D.特斯拉計答案：ABD35.射線檢測中，以下哪些措施可提高對比度靈敏度（）。A.降低管電壓B.使用微粒膠片C.減少曝光量D.采用鉛增感屏答案：ABD36.超聲檢測中，下列哪些屬于探頭性能參數(shù)（）。A.回波頻率B.入射角C.阻抗匹配D.晶片尺寸答案：ACD37.按GB11806—2019，運輸Ⅱ級（黃）放射性貨包，其表面劑量率限值為（）mSv/h，且運輸指數(shù)不超過（）。A.0.5B.1C.2D.10答案：AC38.數(shù)字射線檢測中，影響圖像信噪比SNR的因素有（）。A.曝光量B.探測器增益C.散射抑制D.重建算法答案：ABC39.滲透檢測中，以下哪些屬于常見的不連續(xù)類型（）。A.縮孔B.冷隔C.疲勞裂紋D.未熔合答案：ABC40.超聲相控陣檢測的優(yōu)勢包括（）。A.電子掃描B.動態(tài)聚焦C.高分辨率D.無需耦合劑答案：ABC三、判斷題（每題1分，共10分。正確打“√”，錯誤打“×”）41.射線檢測中，增大焦距可減小幾何不清晰度。（√）42.超聲檢測時，K值越大，一次波聲程越短。（×）43.滲透檢測熒光亮度與紫外波長無關(guān)。（×）44.磁粉檢測中，交流電磁化對表面缺陷最敏感。（√）45.數(shù)字射線檢測的DQE越高，所需曝光量越小。（√）46.超聲檢測中，當(dāng)量法可給出缺陷真實尺寸。（×）47.射線檢測中，使用Ir192時，散射比隨厚度增加而減小。（×）48.滲透檢測后，工件若需焊接，必須徹底去除殘留滲透劑。（√）49.磁粉檢測退磁后，剩磁應(yīng)低于0.3mT（3Gs）。（√）50.超聲檢測中，擴(kuò)散角與晶片面積成反比。（√）四、簡答題（每題6分，共30分）51.簡述射線檢測中“最佳黑度”概念及其確定方法。答案：最佳黑度是指在滿足標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定靈敏度前提下，使缺陷對比度與識別度綜合最優(yōu)的黑度區(qū)間。確定方法：1.采用階梯試塊，改變曝光量獲得不同黑度階梯；2.用像質(zhì)計測定各階梯靈敏度；3.繪制黑度—靈敏度曲線，取靈敏度最高且黑度在標(biāo)準(zhǔn)允許范圍內(nèi)的中值作為最佳黑度；4.現(xiàn)場驗證并修正。52.超聲檢測中，如何利用“距離—波幅曲線”進(jìn)行缺陷定量？答案：1.制作DAC曲線：在標(biāo)準(zhǔn)試塊上測出不同深度φ3橫孔的最高回波，連成曲線；2.設(shè)置評定線、定量線、判廢線（如±6dB、±12dB）；3.檢測中發(fā)現(xiàn)缺陷回波，記錄其深度與dB值；4.將回波與DAC曲線比較，若位于定量線，則記錄為SL+6dB；5.利用當(dāng)量計算法或AVG圖，換算成當(dāng)量直徑；6.結(jié)合缺陷長度測量，最終評定級別。53.滲透檢測中，出現(xiàn)“背景過濃”的原因及糾正措施。答案：原因：1.乳化時間過長，多余滲透劑被乳化未洗凈；2.清洗水壓不足或角度不當(dāng)；3.顯像劑噴涂過厚；4.工件表面粗糙多孔。糾正：1.縮短乳化時間至工藝驗證值；2.提高水壓0.2–0.3MPa，扇形噴頭45°；3.顯像劑薄而均勻，厚度≤25μm；4.對多孔材料改用可剝型顯像或改用熒光法；5.重新檢測并記錄參數(shù)。54.磁粉檢測后，為什么要進(jìn)行退磁？列舉兩種退磁方法并比較其特點。答案：目的：防止剩磁影響后續(xù)加工、測量或使用，避免吸附鐵屑加劇磨損。方法：1.交流線圈遞減法：將工件通過交流線圈，同時緩慢降低電流至零，適合中小型復(fù)雜件，退磁深度淺；2.直流換向衰減法：用直流電反復(fù)換向并遞減，可退大深度剩磁，適合大型鍛件，需專用設(shè)備，耗時較長。55.簡述數(shù)字射線檢測中“壞像素”校準(zhǔn)步驟。答案：1.采集暗場圖像：關(guān)閉射線源，積分時間與正常檢測相同，取≥9幅平均；2.采集亮場圖像：在無工件條件下曝光，取≥9幅平均；3.計算壞像素圖：暗場>均值+5σ或亮場<均值–5σ的像素標(biāo)記；4.鄰域插值：用周圍3×3或5×5正常像素中值替換；5.存儲校準(zhǔn)文件，每次檢測自動調(diào)用；6.每季度或探測器受震動、輻照后重校。五、計算題（每題10分，共30分）56.用Ir192源透照30mm鋼焊縫，已知源尺寸φ3mm，焦距600mm，求幾何不清晰度Ug；若要求Ug≤0.2mm，求最小焦距。答案：Ug=d·b/(F–b)，d=3mm，b=30mm，F(xiàn)=600mm，Ug=3×30/570=0.158mm；設(shè)Ug=0.2mm，則0.2=3×30/(F–30)，F(xiàn)–30=450，F(xiàn)=480mm。最小焦距480mm。57.超聲檢測板厚T=40mm，發(fā)現(xiàn)一缺陷距探測面深度15mm，回波比φ2×200mm橫孔基準(zhǔn)低10dB，求該缺陷的當(dāng)量橫孔直徑。答案：基準(zhǔn)φ2，ΔdB=10=20lg(φ2/φx)，lg(φ2/φx)=0.5，φ2/φx=3.16，φx=2/3.16=0.63mm。當(dāng)量橫孔直徑0.63mm。58.磁粉檢測周向磁化，鋼筒外徑D=200mm，壁厚t=10mm，要求表面場強(qiáng)H=2kA/m，求所需電流I（采用直接通電法，忽略趨膚效應(yīng)）。答案：周向磁化電流公式I=πD·H=π×0.2m×2000A/m=1256A。需電流1.26kA。六、案例分析題（每題15分，共30分）59.某石化裝置在役換熱器管板角焊縫，材質(zhì)16MnR，板厚25mm，運行10年。采用超聲相控陣檢測，發(fā)現(xiàn)管橋區(qū)一缺陷深度12mm，長度8mm，回波幅度比φ1×20mmDAC曲線高4dB?，F(xiàn)場射線復(fù)拍，底片黑度2.4，未見明顯顯示。請分析可能原因，并提出處理建議。答案：原因：1.超聲發(fā)現(xiàn)的是靠近管孔內(nèi)壁的微小裂紋，開口窄，射線角度不利，未形成足夠?qū)Ρ榷龋?.管橋幾何復(fù)雜，射線散射嚴(yán)重；3.缺陷自身高度小，射線方向與裂紋面夾角大，投影面積不足。處理：1.采用TOFD或高頻相控陣二次掃查，確認(rèn)缺陷高度；2.若高度<0.5mm，按NB/T47013.3Ⅱ級可接受；3.若高度≥1mm，打磨補(bǔ)焊并重新檢測；4.加強(qiáng)運行期超聲在線監(jiān)測，每2年復(fù)查一次。60.某天然氣站場新建φ1016×21mmX80管線，環(huán)焊縫采用全自動超聲（AUT）檢測?，F(xiàn)場發(fā)現(xiàn)一超標(biāo)信號：通道4（TOFD）顯示深度8mm，長度30