2026年電磁兼容測(cè)試儀器的使用與維護(hù)一、單選題（每題2分，共20題）1.在進(jìn)行電磁兼容測(cè)試時(shí)，以下哪種接地方式適用于低頻干擾測(cè)量？A.信號(hào)接地B.保護(hù)接地C.信號(hào)接地與保護(hù)接地并聯(lián)D.懸浮接地2.電磁兼容測(cè)試中，屏蔽效能最差的連接方式是：A.金屬面板螺栓連接B.金屬面板導(dǎo)電膠連接C.金屬面板焊接連接D.金屬面板導(dǎo)電襯墊連接3.測(cè)試接收機(jī)在執(zhí)行傳導(dǎo)騷擾測(cè)量時(shí)，應(yīng)選擇以下哪種檢波方式？A.峰值檢波B.平均檢波C.有效值檢波D.峰值保持檢波4.在進(jìn)行輻射騷擾測(cè)試時(shí)，天線高度通常設(shè)置為多少米？A.0.1米B.1.0米C.3.0米D.10.0米5.電磁兼容測(cè)試中，屏蔽室內(nèi)部表面通常會(huì)使用導(dǎo)電涂料，其主要作用是：A.提高反射率B.吸收電磁波C.溝通電磁波D.構(gòu)成接地通路6.當(dāng)測(cè)試接收機(jī)出現(xiàn)不穩(wěn)定讀數(shù)時(shí)，可能的原因不包括：A.信號(hào)源輸出不穩(wěn)定B.天線位置不當(dāng)C.接收機(jī)內(nèi)部濾波器故障D.環(huán)境電磁干擾增強(qiáng)7.電磁兼容測(cè)試中，天線輻射方向圖測(cè)量通常需要：A.360°旋轉(zhuǎn)B.90°旋轉(zhuǎn)C.180°旋轉(zhuǎn)D.固定角度8.測(cè)試接收機(jī)的輸入頻率范圍通常由以下哪個(gè)參數(shù)決定？A.中頻帶寬B.頻率轉(zhuǎn)換次數(shù)C.輸入放大器特性D.檢波器類(lèi)型9.在進(jìn)行輻射騷擾測(cè)試時(shí)，場(chǎng)地半徑應(yīng)至少為：A.3米B.10米C.20米D.30米10.電磁兼容測(cè)試中，屏蔽效能的單位是：A.分貝B.奈培C.安培D.伏特二、多選題（每題3分，共10題）1.電磁兼容測(cè)試儀器的校準(zhǔn)內(nèi)容包括：A.頻率準(zhǔn)確度校準(zhǔn)B.輸出功率校準(zhǔn)C.接收機(jī)靈敏度校準(zhǔn)D.天線方向圖校準(zhǔn)2.影響電磁兼容測(cè)試結(jié)果的因素包括：A.測(cè)試場(chǎng)地環(huán)境B.測(cè)試設(shè)備精度C.測(cè)試人員操作D.標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范選擇3.電磁屏蔽材料的主要特性包括：A.高導(dǎo)電率B.高磁導(dǎo)率C.高介電常數(shù)D.高機(jī)械強(qiáng)度4.電磁兼容測(cè)試中，常見(jiàn)的傳導(dǎo)騷擾測(cè)量點(diǎn)包括：A.電源線端口B.信號(hào)線端口C.地線端口D.接地線端口5.電磁兼容測(cè)試接收機(jī)的關(guān)鍵性能指標(biāo)包括：A.頻率范圍B.中頻帶寬C.靈敏度D.動(dòng)態(tài)范圍6.電磁屏蔽效能的測(cè)試方法包括：A.近場(chǎng)測(cè)試B.遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試C.傳輸測(cè)試D.反射測(cè)試7.電磁兼容測(cè)試中，天線的選擇依據(jù)包括：A.頻率范圍B.極化方式C.方向圖特性D.駐波比要求8.電磁兼容測(cè)試儀器的日常維護(hù)內(nèi)容包括：A.清潔設(shè)備B.檢查連接C.校準(zhǔn)驗(yàn)證D.軟件更新9.電磁兼容測(cè)試中，屏蔽室的主要功能包括：A.電磁隔離B.電磁吸收C.電磁反射D.電磁傳導(dǎo)10.電磁兼容測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范包括：A.GB/T17626系列B.CISPR系列標(biāo)準(zhǔn)C.IEC系列標(biāo)準(zhǔn)D.MIL-STD系列標(biāo)準(zhǔn)三、判斷題（每題2分，共20題）1.電磁兼容測(cè)試只需要在屏蔽室中進(jìn)行。（×）2.測(cè)試接收機(jī)的檢波方式會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。（√）3.電磁屏蔽效能越高越好。（√）4.電磁兼容測(cè)試不需要考慮環(huán)境因素。（×）5.輻射騷擾測(cè)試時(shí)，場(chǎng)地半徑越小越好。（×）6.測(cè)試接收機(jī)的靈敏度越高越好。（×）7.電磁屏蔽材料不需要考慮機(jī)械強(qiáng)度。（×）8.傳導(dǎo)騷擾測(cè)試時(shí)，只需要測(cè)量電源線。（×）9.電磁兼容測(cè)試儀器不需要定期校準(zhǔn)。（×）10.天線的極化方式會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。（√）11.屏蔽室的接地方式對(duì)測(cè)試結(jié)果沒(méi)有影響。（×）12.電磁兼容測(cè)試只需要滿(mǎn)足國(guó)標(biāo)要求即可。（×）13.測(cè)試接收機(jī)的動(dòng)態(tài)范圍越大越好。（√）14.電磁屏蔽效能測(cè)試只需要測(cè)量一個(gè)頻率點(diǎn)。（×）15.天線的增益越高越好。（×）16.電磁兼容測(cè)試不需要考慮設(shè)備間干擾。（×）17.屏蔽室的材料必須使用導(dǎo)電材料。（×）18.電磁兼容測(cè)試儀器不需要考慮溫度影響。（×）19.輻射騷擾測(cè)試時(shí)，測(cè)試距離可以小于3米。（×）20.電磁屏蔽效能的單位是分貝。（√）四、簡(jiǎn)答題（每題5分，共5題）1.簡(jiǎn)述電磁兼容測(cè)試的基本流程。2.解釋什么是電磁屏蔽效能及其影響因素。3.描述電磁兼容測(cè)試中常用的屏蔽室類(lèi)型及其特點(diǎn)。4.說(shuō)明電磁兼容測(cè)試接收機(jī)的關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)及其意義。5.分析電磁兼容測(cè)試中常見(jiàn)的誤差來(lái)源及其應(yīng)對(duì)措施。五、論述題（每題10分，共2題）1.結(jié)合實(shí)際案例，論述電磁兼容測(cè)試儀器在電子產(chǎn)品研發(fā)中的應(yīng)用價(jià)值。2.分析電磁兼容測(cè)試技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)及其對(duì)測(cè)試維護(hù)工作的影響。答案與解析一、單選題答案與解析1.B解析：低頻干擾測(cè)量需要使用保護(hù)接地，以有效消除工頻干擾。2.B解析：導(dǎo)電膠連接的接觸電阻較大，屏蔽效能最差。3.A解析：傳導(dǎo)騷擾測(cè)量通常使用峰值檢波，以捕捉最強(qiáng)干擾信號(hào)。4.C解析：輻射騷擾測(cè)試時(shí)，天線高度通常設(shè)置為3米，符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。5.D解析：導(dǎo)電涂料主要用于構(gòu)成接地通路，增強(qiáng)屏蔽效果。6.C解析：接收機(jī)內(nèi)部濾波器故障會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定，其他選項(xiàng)是外部因素。7.A解析：輻射方向圖測(cè)量需要360°旋轉(zhuǎn)，以獲取完整方向圖信息。8.C解析：輸入放大器特性決定了測(cè)試接收機(jī)的輸入頻率范圍。9.B解析：輻射騷擾測(cè)試場(chǎng)地半徑至少為10米，滿(mǎn)足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求。10.A解析：屏蔽效能的單位是分貝，表示信號(hào)衰減程度。二、多選題答案與解析1.ABCD解析：電磁兼容測(cè)試儀器校準(zhǔn)內(nèi)容全面包括各項(xiàng)關(guān)鍵性能指標(biāo)。2.ABCD解析：測(cè)試結(jié)果受多種因素影響，包括環(huán)境、設(shè)備、人員和標(biāo)準(zhǔn)選擇。3.ABCD解析：電磁屏蔽材料需要具備導(dǎo)電率、磁導(dǎo)率、介電常數(shù)和機(jī)械強(qiáng)度等多種特性。4.ABCD解析：傳導(dǎo)騷擾測(cè)量點(diǎn)應(yīng)全面覆蓋電源線、信號(hào)線、地線和接地線等關(guān)鍵接口。5.ABCD解析：測(cè)試接收機(jī)的關(guān)鍵性能指標(biāo)包括頻率范圍、中頻帶寬、靈敏度和動(dòng)態(tài)范圍。6.ABC解析：電磁屏蔽效能測(cè)試方法包括近場(chǎng)、遠(yuǎn)場(chǎng)和傳輸測(cè)試，反射測(cè)試不屬于此范疇。7.ABCD解析：天線選擇需綜合考慮頻率范圍、極化方式、方向圖特性和駐波比要求。8.ABCD解析：電磁兼容測(cè)試儀器維護(hù)需要全面覆蓋清潔、檢查、校準(zhǔn)和軟件更新。9.AB解析：屏蔽室主要功能是電磁隔離和吸收，反射和傳導(dǎo)不是其主要功能。10.ABCD解析：電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范包括國(guó)標(biāo)、CISPR、IEC和MIL-STD等多個(gè)系列。三、判斷題答案與解析1.×解析：電磁兼容測(cè)試不僅需要在屏蔽室中進(jìn)行，有時(shí)也需要在開(kāi)放場(chǎng)地進(jìn)行。2.√解析：檢波方式不同會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果差異，如峰值檢波和平均檢波。3.√解析：屏蔽效能越高，電磁波衰減越嚴(yán)重，屏蔽效果越好。4.×解析：環(huán)境因素如溫度、濕度等會(huì)影響測(cè)試結(jié)果，需要考慮。5.×解析：輻射騷擾測(cè)試場(chǎng)地半徑至少為10米，太小會(huì)影響測(cè)試準(zhǔn)確性。6.×解析：靈敏度越高并非越好，需要與動(dòng)態(tài)范圍匹配。7.×解析：電磁屏蔽材料需要考慮機(jī)械強(qiáng)度，以保證使用可靠性。8.×解析：傳導(dǎo)騷擾測(cè)量點(diǎn)應(yīng)全面覆蓋所有輸入輸出端口。9.×解析：電磁兼容測(cè)試儀器需要定期校準(zhǔn)，以保證測(cè)量準(zhǔn)確性。10.√解析：天線極化方式不同會(huì)導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果差異。11.×解析：屏蔽室接地方式對(duì)測(cè)試結(jié)果有顯著影響，需要正確處理。12.×解析：電磁兼容測(cè)試需要滿(mǎn)足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，但不是唯一要求。13.√解析：動(dòng)態(tài)范圍越大，設(shè)備能處理更大信號(hào)范圍，性能越好。14.×解析：電磁屏蔽效能測(cè)試需要在多個(gè)頻率點(diǎn)進(jìn)行，不能只測(cè)一點(diǎn)。15.×解析：天線增益過(guò)高可能導(dǎo)致飽和，并非總是越好。16.×解析：設(shè)備間干擾是電磁兼容測(cè)試的重要內(nèi)容，需要考慮。17.×解析：屏蔽室可以使用非導(dǎo)電材料配合其他屏蔽技術(shù)。18.×解析：溫度會(huì)影響測(cè)試儀器性能，需要考慮并控制。19.×解析：輻射騷擾測(cè)試距離至少為3米，太小會(huì)影響測(cè)試準(zhǔn)確性。20.√解析：電磁屏蔽效能的單位確實(shí)是分貝。四、簡(jiǎn)答題答案與解析1.電磁兼容測(cè)試基本流程：-測(cè)試計(jì)劃制定：確定測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、項(xiàng)目、設(shè)備和方法-測(cè)試環(huán)境準(zhǔn)備：搭建測(cè)試場(chǎng)地，檢查環(huán)境條件-測(cè)試設(shè)備校準(zhǔn)：對(duì)測(cè)試接收機(jī)、天線等進(jìn)行校準(zhǔn)-測(cè)試對(duì)象準(zhǔn)備：將被測(cè)設(shè)備安裝到測(cè)試位置-測(cè)試實(shí)施：按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范進(jìn)行測(cè)量-數(shù)據(jù)分析：處理測(cè)量數(shù)據(jù)，與標(biāo)準(zhǔn)限值比較-報(bào)告編寫(xiě)：整理測(cè)試結(jié)果，編寫(xiě)測(cè)試報(bào)告2.電磁屏蔽效能及其影響因素：電磁屏蔽效能指屏蔽體對(duì)電磁波的衰減能力，單位為分貝。影響因素包括：-材料導(dǎo)電率：導(dǎo)電率越高，屏蔽效能越好-材料磁導(dǎo)率：磁導(dǎo)率越高，對(duì)低頻干擾屏蔽效能越好-厚度：屏蔽層越厚，屏蔽效能越高-接縫處理：接縫越小，屏蔽效能越高-頻率：屏蔽效能隨頻率變化，高頻通常更好3.電磁兼容測(cè)試常用屏蔽室類(lèi)型及其特點(diǎn)：-混合型屏蔽室：結(jié)合了法拉第籠和屏蔽機(jī)房?jī)?yōu)點(diǎn)，屏蔽效果好-屏蔽機(jī)房：結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，可進(jìn)行大型設(shè)備測(cè)試-移動(dòng)式屏蔽室：方便在不同地點(diǎn)使用，但屏蔽效能可能稍低-便攜式屏蔽室：體積小，重量輕，適合現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試4.電磁兼容測(cè)試接收機(jī)關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)及其意義：-頻率范圍：決定可測(cè)試的頻率范圍-中頻帶寬：影響測(cè)量帶寬和動(dòng)態(tài)范圍-靈敏度：決定可檢測(cè)的最小信號(hào)強(qiáng)度-動(dòng)態(tài)范圍：決定可同時(shí)處理的最大和最小信號(hào)差異-檢波方式：影響測(cè)量結(jié)果特性5.電磁兼容測(cè)試常見(jiàn)誤差來(lái)源及其應(yīng)對(duì)措施：-誤差來(lái)源：環(huán)境電磁干擾、設(shè)備校準(zhǔn)誤差、操作誤差-應(yīng)對(duì)措施：選擇合適測(cè)試場(chǎng)地、定期校準(zhǔn)設(shè)備、規(guī)范操作流程五、論述題答案與解析1.電磁兼容測(cè)試儀器在電子產(chǎn)品研發(fā)中的應(yīng)用價(jià)值：電磁兼容測(cè)試儀器在電子產(chǎn)品研發(fā)中具有重要價(jià)值，主要體現(xiàn)在：-產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證：通過(guò)測(cè)試發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷，提前改進(jìn)-降低開(kāi)發(fā)成本：早期發(fā)現(xiàn)問(wèn)題比后期修改成本低得多-提高產(chǎn)品可靠性：確保產(chǎn)品在各種電磁環(huán)境下穩(wěn)定工作-滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)要求：幫助產(chǎn)品通過(guò)認(rèn)證，順利上市-提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)：具有更好的