T-ZZB 3476-2023 計算機硬盤音圈電機用燒結(jié)釹鐵硼磁體_第1頁
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T/ZZB3476—2023計算機硬盤音圈電機用燒結(jié)釹鐵硼磁體Sinteredneodymiumironboronpermanentmagnetsforvoicecoilmotorsof2023-11-20發(fā)布浙江省質(zhì)量協(xié)會發(fā)布T/ZZB3476—2023 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14簡化牌號表示方法 25基本要求 26技術(shù)要求 37試驗方法 58檢驗規(guī)則 69包裝、標(biāo)志、運輸及貯存 7 7附錄A(規(guī)范性)高溫磁通不可逆損失測試條件 8附錄B(規(guī)范性)液體顆粒數(shù)測試條件 T/ZZB3476—2023本文件依據(jù)GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利,本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由浙江省質(zhì)量協(xié)會歸口。本文件主要起草單位:寧波韻升磁體元件技術(shù)有限公司。本文件參與起草單位:寧波科寧達工業(yè)有限公司、寧波韻升股份有限公司、寧波市磁性材料商會。本文件主要起草人:歐陽習(xí)科、鄭曉東、潘佳靜、黃威、姚麗紅、吳玥臻、謝宇、程英、張民、葉青、喻佳、趙春麗、李海晞、陳濟暉、周摶北、沈國迪。本文件評審專家組長:陳萍。T/ZZB3476—20231計算機硬盤音圈電機用燒結(jié)釹鐵硼磁體本文件規(guī)定了計算機硬盤音圈電機用燒結(jié)釹鐵硼磁體的術(shù)語和定義、簡化牌號表示方法、基本要求、技術(shù)要求、試驗方法、檢驗規(guī)則、包裝、標(biāo)志、運輸及貯存和質(zhì)量承諾。本文件適用于采用粉末冶金工藝制備的等形坯料再經(jīng)過機械加工、表面處理等工序制造的,用于計算機硬盤的搖臂式音圈電機用燒結(jié)釹鐵硼磁體(以下簡稱磁體)。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T2423.50環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗GB/T2828.1技術(shù)抽樣檢驗程序第一部分:按接收質(zhì)量線(AQL)檢索的逐批抽樣計劃GB/T3217永磁(硬磁)材料磁性試驗方法GB/T5682—2015硼鐵GB/T9637電工術(shù)語磁性材料與元件GB/T9967—2010金屬釹GB/T9971—2017原料純鐵GB/T13560燒結(jié)釹鐵硼永磁材料GB/T16292醫(yī)藥工業(yè)潔凈室(區(qū))懸浮粒子的測試方法GB/T16921金屬覆蓋層覆蓋層厚度測量X射線光譜法GB/T20892—2020鐠釹金屬GB/T24270永磁材料磁性能溫度系數(shù)測量方法GB/T26125電子電氣產(chǎn)品六種限用物質(zhì)(鉛、汞、鎘、六價鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚)的測定GB/T26415—2010鏑鐵合金GB/T29024.2粒度分析單顆粒的光學(xué)測量方法第2部分:液體顆粒計數(shù)器光散射法GB/T34491燒結(jié)釹鐵硼表面鍍層GB39176稀土產(chǎn)品的包裝、標(biāo)志、運輸和貯存GB/T40794稀土永磁材料高溫磁通不可逆損失檢測方法IEC61249-2-21:2003印制板和其他互聯(lián)結(jié)構(gòu)用材料-第2-21部分:包被和非包被增強基材.阻燃型(垂直燃燒試驗)銅包被的非鹵化環(huán)氧編織E型玻璃纖維增強層壓板(Materialsforprintedboardsandotherinterconnectionstructures-Part2-21:Reinforcedbasematerials,cladandunclad;Non-halogenatedepoxidewovenE-glassreinforcedlaminatedsheetsofdefinedflammability(verticalburningtest),copper-clad)3術(shù)語和定義T/ZZB3476—20232GB/T9637、GB/T13560和GB/T34491界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。4簡化牌號表示方法磁體按內(nèi)稟矯頑力大小特征分為中等矯頑力M(HcJ≥1114kA/m)、高矯頑力H(HcJ≥1353kA/m)二個品種。磁體牌號由材料制造特征、主稱、磁特性組成,表示方法符合GB/T13560—2017中4.3條的規(guī)定??蓸?biāo)注簡化牌號,簡化牌號由最大磁能積的標(biāo)稱值、內(nèi)稟矯頑力等級組成,表示方法見圖1。YXXY 品種代號,包括M和H最大磁能積的標(biāo)稱值,單位為MGOe圖1簡化牌號表示方法5基本要求5.1設(shè)計研發(fā)5.1.1應(yīng)采用磁性能設(shè)計準(zhǔn)則優(yōu)化磁體材料配方。5.1.2應(yīng)采用磁路設(shè)計軟件設(shè)計等形坯料成型模具。5.2原材料5.2.1鐠釹金屬選用不低于GB/T20892—2020中技術(shù)要求所規(guī)定的PrNd-80NdA或PrNd-75NdA材料。5.2.2金屬釹選用不低于GB/T9967—2010中技術(shù)要求所規(guī)定的044025(RE99.0)材料。5.2.3純鐵選用不低于GB/T9971—2017中技術(shù)要求所規(guī)定的YT3材料。5.2.4硼鐵選用不低于GB/T5682—2015中技術(shù)要求所規(guī)定的FeB22C0.05或FeB20C0.05或FeB18C0.1材料。5.2.5鏑鐵選用不低于GB/T26415—2010中技術(shù)要求所規(guī)定的105080(RE80)材料。5.3工藝和裝備5.3.1應(yīng)采用熔煉爐控制鑄片柱狀晶生長一致性,氣流磨設(shè)備控制粉料粒度一致性,成型壓機設(shè)備控制磁體尺寸一致性,燒結(jié)爐控制磁體密度收縮一致性性。5.3.2應(yīng)采用四工位成型磨床控制輪廓一致性。5.3.3應(yīng)采用線鋸切片機和雙端面磨床保證厚度精度一致性。5.3.4應(yīng)采用超聲波清洗設(shè)備清洗滾鍍后的磁體。5.4檢驗和檢測T/ZZB3476—202335.4.1應(yīng)具備原材料進廠檢驗和過程化學(xué)成分檢測能力,包括稀土元素含量以及碳氧氫氮磷硫等其他元素含量。5.4.2應(yīng)具備室溫磁性能、高溫磁性能、高溫磁通不可逆損失檢測能力。5.4.3應(yīng)具備檢測磁體厚度和輪廓度的能力。5.4.4應(yīng)具備磁體鍍層耐腐蝕特性測試和表面清潔度檢測的能力。6技術(shù)要求6.1磁性能磁體牌號的主要磁性能(在20℃時)和方形度應(yīng)符合表1的規(guī)定。表1磁體在室溫20℃下的磁性能BHH/H%T1.33~13.3~342~1.33~13.3~342~1.37~13.7~358~1.37~13.7~358~1.39~13.9~374~1.42~14.2~390~1.44~14.4~406~6.2磁性能溫度系數(shù)磁體磁性能溫度系數(shù)應(yīng)符合表2的規(guī)定。表2磁體磁性能溫度系數(shù)T/ZZB3476—20234表2(續(xù))6.3外觀磁體應(yīng)無裂紋、缺損或夾雜等影響使用的缺陷;應(yīng)無異物、針孔、燒焦、鍍層起泡或生銹等異常。6.4尺寸磁體厚度在0.5mm~5.0mm之間,磁體輪廓度、平行度、平面度和厚度偏差應(yīng)符合表3的規(guī)定。表3磁體輪廓度、平行度、平面度和厚度偏差6.5鍍層防護6.5.2磁體經(jīng)溫度為85℃±2℃,相對濕度為85%±5%的恒溫恒濕試驗168h后,表面鍍層應(yīng)無開裂、鼓泡,無基體銹蝕。6.6高溫磁通不可逆損失磁體半開路和閉路高溫磁通不可逆損失均應(yīng)≤5%。6.7表面清潔度磁體表面清潔度的液體顆粒數(shù)(LPC)應(yīng)≤8000計數(shù)/cm:。6.8有害物質(zhì)限量磁體有害物質(zhì)限量應(yīng)符合表4的規(guī)定。T/ZZB3476—20235表4磁體有害物質(zhì)限量6.9鹵素限量磁體鹵素限量應(yīng)符合表5的規(guī)定。表5磁體鹵素限量7試驗方法7.1磁性能磁體主要磁性能的測量按照GB/T3217的規(guī)定進行。7.2磁性能溫度系數(shù)磁體磁性能溫度系數(shù)的測量按照GB/T24270的規(guī)定進行。7.3外觀采用3倍放大鏡下目測,在3倍放大鏡下目測不確定情況下應(yīng)在10倍放大鏡下再次目測。7.4尺寸采用投影儀、平面度測量儀、平行度測量儀、數(shù)顯千分尺進行尺寸檢測。7.5鍍層防護7.5.1表面鍍層檢測按照GB/T16921的規(guī)定進行。7.5.2恒溫恒濕試驗按照GB/T2423.50規(guī)定的試驗方法進行。7.6高溫磁通不可逆損失高溫磁通不可逆損失試驗方法參照GB/T40794的規(guī)定執(zhí)行,試驗條件按附錄A的規(guī)定進行。7.7表面清潔度T/ZZB3476—20236表面清潔度液體顆粒數(shù)試驗方法參照GB/T29024.2的規(guī)定執(zhí)行,試驗條件按附錄B的規(guī)定進行。7.8有害物質(zhì)限量鉛、汞、鎘、六價鉻的測定按GB/T26125的規(guī)定進行。7.9鹵素限量鹵素含量的測定按IEC61249-2-21的規(guī)定進行。8檢驗規(guī)則8.1檢驗分類產(chǎn)品檢驗分出廠檢驗和型式檢驗。8.2出廠檢驗8.2.1應(yīng)經(jīng)出廠檢驗合格,并附有合格證方能出廠。8.2.2每批產(chǎn)品應(yīng)由同一牌號、同一爐次制成的同一規(guī)格的產(chǎn)品組成。8.2.3外觀出廠檢驗全檢,其余檢驗項目抽樣數(shù)量按GB/T2828.1的規(guī)定,其材料的主要磁性能質(zhì)量接收限為特殊檢查水平S-2,尺寸檢測接收限為一般檢查水平I的2級,Ac=0,其他項目質(zhì)量由供需雙方協(xié)商確定。產(chǎn)品檢驗的要求和方法見表6。表6產(chǎn)品檢驗的要求和方法1√√2 √3√√4√√5√√6√7 √8 √9 √1件—√1件8.3型式檢驗檢驗結(jié)果判定8.3.1在有下列情況之一時進行型式檢驗:新產(chǎn)品或者產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)的試制定型鑒定;a)正式生產(chǎn)后,如結(jié)構(gòu)、材料、工藝有較大改變,可能影響產(chǎn)品性能時;b)長期停產(chǎn)后恢復(fù)生產(chǎn)時;T/ZZB3476—2023c)正常生產(chǎn),按周期進行型式檢驗;d)出廠檢驗結(jié)果與上次型式檢驗有較大差異時;e)國家質(zhì)量監(jiān)督機構(gòu)提出進行型式檢驗要求時;f)用戶提出進行型式檢驗的要求時。8.3.2型式檢驗項目見表6。8.3.3在出廠檢驗合格的產(chǎn)品中隨機抽取樣品進行,樣品數(shù)量見表6。檢驗項目全部符合要求的,判定為型式檢驗合格;檢驗項目如有一項及以上不符合要求,允許在原抽樣批次中加倍抽樣復(fù)檢,復(fù)檢后所有項目合格,判定為型式檢驗合格;如仍有不合格項目,則判定為型式檢驗不合格。9包裝、標(biāo)志、運輸及貯存9.1產(chǎn)品一般以磁中性狀態(tài)交貨。9.2磁體內(nèi)包裝在潔凈度符合GB/T16292的100級別車間內(nèi)完成,產(chǎn)品裝入潔凈吸塑盒中,用潔凈袋包裝并抽真空。外包裝采用紙箱,做好防震措施,紙箱中放入產(chǎn)品合格證、質(zhì)量說明書和各項分析檢驗結(jié)果或試驗報告。紙箱打托,并用塑料膜包裹。9.3產(chǎn)品的標(biāo)志、運輸和貯存應(yīng)按GB39176規(guī)定進行。10質(zhì)量承諾10.1制造商應(yīng)承諾在用戶購買之日起十二個月內(nèi)出現(xiàn)屬產(chǎn)品本身質(zhì)量問題的,經(jīng)由制造商技術(shù)人員確認(rèn)后無償提供合格的同型號的部件或產(chǎn)品更換服務(wù)。10.2產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)任何問題,制造商應(yīng)在接到客戶電話或傳真后24h內(nèi)做出響應(yīng)。T/ZZB3476—20238高溫磁通不可逆損失測試條件A.1半開路高溫磁通不可逆損失磁體雙極飽和充磁,全吸附在2mm厚度鐵板上(見圖A.1測量磁通,然后經(jīng)過50℃烘烤3h,產(chǎn)品恢復(fù)至室溫,再次測量磁通,計算烘烤前后磁通不可逆損失百分比。圖A.1半開路高溫磁通不可逆損失測量示意圖A.2閉路高溫磁通不可逆損失測量兩片磁體雙極飽和充磁,吸附在2mm厚度鐵板上(見圖A.2),測量磁通,然后2片磁體+鐵板組裝后形成閉路,兩片磁體之間保留3.5mm間隙,經(jīng)過80℃烘烤3h,產(chǎn)品恢復(fù)至室溫,測量每片磁通,計算烘烤前后每片磁通不可逆損失百分比。2磁體圖A.2閉路高溫磁通不可逆損失測量示意圖T/ZZB3476—20239A.3計算Φ(T)?Φ(T0)高溫磁通不可逆損失Φ(T)?Φ(T0)δ(T)=×100%Φ(T0) Φ(T)——磁體經(jīng)高溫T老化試驗后恢復(fù)到室溫T0溫度下的磁通值,磁通單位為韋伯(Wb)或麥克斯韋(Maxwell);Φ(T0)——磁體高溫老化試驗前在室溫T0溫度下的磁通值,磁通單位為韋伯(Wb)或麥克斯韋A.4其它A.4.1磁體間距宜不小于磁體同方向邊長的4倍,磁體N極方向應(yīng)相同。A.4.2在公式A.1中,以老化前在室溫下測試的表磁替換Φ(T0)、以老化后室溫下測試的表磁替換Φ(T計算出高溫表磁不可逆損失,其技術(shù)要求等同于高溫磁通不可逆損失。表磁測試位置應(yīng)為磁鋼N極或S極端面幾何中心點,可計算機計算確定,幾何中心點在測試時應(yīng)標(biāo)記,如圖A.1點a,表磁單位為特斯拉(T)或高斯(Gs)。A.4.3磁通測量裝置、高溫試驗箱等按照GB/T40794的規(guī)定執(zhí)行。T/ZZB3476—2023液體顆粒數(shù)測試條件B.1測試原理概述激光照射到顆粒采集散射光匯聚到光電探測器上,產(chǎn)生正的電信號脈沖,脈沖信號的幅度和散射光強成正比,根據(jù)脈沖信號的幅度可以求出顆粒的粒徑大小,根據(jù)脈沖的個數(shù)可以求出待測液體中的顆粒數(shù)量,對液體中的顆粒進行計數(shù)檢測,即GB/T29024.2所闡述的方法。液體顆粒數(shù)(LPC)測試過程側(cè)重規(guī)定以下程序:磁體在純水中超聲波沐振,沐振后磁體表面顆粒掉落入純水中,采用液體顆粒計數(shù)器檢測水中的顆粒大小和數(shù)量。B.2儀器、設(shè)備和材料需要以下儀器、設(shè)備和材料:a)潔凈工作臺:工作臺潔凈度100級;b)液體顆粒計數(shù)器:用于檢測純水中顆粒的粒徑和數(shù)量;c)除氣裝置:用于去除純水中的氧氣;設(shè)有0.10μm和0.05μm微孔濾膜過濾;d)溶解氧氣計量器或同等物:計量純水中的氧溶解濃度;e)磁性攪拌器:用于攪拌純水使懸浮顆粒分布均勻;f)磁性攪拌棒:磁性攪拌棒表面帶有PTFE涂層;g)磁性攪拌棒取回器:用于取放磁性攪拌棒;h)超聲波發(fā)生器:超聲波槽功率15.582瓦特/升,超聲波頻率132KHz;i)超聲缸:燒杯放入超聲缸中燒杯架上,超聲缸的注水高位高于燒杯中檢測用水的水位1cm;j)50mL、1000mL的燒杯:耐熱玻璃;l)鉤子:聚脂塑鋼線材質(zhì);使用鉤子后,在132kHz/30s超聲下≥0.3μm的顆粒低于10個;m)牙線:用于清潔液體顆粒計數(shù)器流動池的毛細管。n)鑷子:特氟龍材質(zhì),用于夾取磁性攪拌棒以及產(chǎn)品;o)塑料或不銹鋼燒杯架:能夠平穩(wěn)放置1000mL容量的燒杯;p)樣品桿:樣品桿可調(diào)節(jié),使被檢測磁體放置在燒杯水位中心位置;q)計時器:用于記錄超聲時間;r)耗材:丁腈手套、潔凈布。B.3試劑按以下步驟準(zhǔn)備試劑:a)LPC清潔液:主要成分為水、表面活性劑、香精、抗菌因子和硝酸鹽。b)純水:為萃取水和清洗用水;為電阻率≥10MΩ·cm的去離子水,要求純水中顆粒粒徑≥0.3μm數(shù)量小于3個,純水的溶解氧為40%±2%、溫度25℃±5℃;超聲缸中所用純水的溶解T/ZZB3476—2023B.4測試程序B.4.1計算超聲功率超聲功率按以下步驟計算:a)磁體處于燒杯水位中心點確認(rèn),確定燒杯中用水體積V磁體;b)超聲缸中純水及水位的確認(rèn):確認(rèn)超聲缸中純水的溶解氧為(95%±5%溫度(25℃±5℃);超聲缸在未攪動的情況下靜置4小時以上,將超聲波功率開到100%、保持5分鐘進行除氣處理;將裝有檢測用水量的燒杯按做樣的狀態(tài)放置在超聲缸中的燒杯架上,并確保燒杯的底部至少和超聲缸底部間距2.54cm;往超聲缸中注水至水位高出燒杯中水面1cm;量得超聲缸用水體積V缸;c)超聲波功率計算:超聲波功率=15.852×(V缸+V磁體)..................(B.1)超聲缸輸出功率(450W)V缸——磁體測試的超聲缸用水體積,單位:升(L);2.5"硬盤磁體的水量為16.2L,3.5"硬盤磁體的水量為19.8LV磁體——磁體測試的燒杯用水體積,單位:升(L);2.5"硬盤磁體的V磁體=540mL;3.5"硬盤磁體的V磁體=940mL計算確定:2.5"硬盤磁體的超聲波功率=15.852×(16.2+0.54)=265W,η=265W/450W×100%=59%;3.5"硬盤磁體的超聲波功率=15.852×(19.8+0.94)=328W,η=328W/450W×100%=73%。B.4.2校準(zhǔn)液體顆粒計數(shù)器校準(zhǔn)液體顆粒計數(shù)器按以下步驟準(zhǔn)備:a)液體顆粒計數(shù)器每年校準(zhǔn)一次,按照GB/T29024.2規(guī)定執(zhí)行;b)當(dāng)儀器的直流燈(DCLight)的數(shù)值顯示為0.5V或更高時,用牙線沾LPC清潔液對感應(yīng)器的流動池進行沖洗清潔。c)當(dāng)液體顆粒計數(shù)器不使用的時候,為確保采樣管中不含氣泡,應(yīng)將采樣管放入注滿3/4純水B.4.3燒杯和器具的清洗燒杯和器具清洗按以下步驟準(zhǔn)備:a)燒杯中滴入幾滴LPC清潔液,并注滿純水;b)將燒杯放入超聲缸內(nèi)的燒杯架上;c)把鉤子放入燒杯中,以最大功率的90%進行5分鐘的超聲波清洗;T/ZZB3476—2023d)用純水對燒杯和器具進行淋洗,手指不得觸摸燒杯內(nèi)壁和鑷子的夾口部分;鑷子的操作可通過把手部分進行開合,以避免對萃取溶液造成污染;e)在使用新燒杯和器具,或燒杯和器具經(jīng)純水淋洗幾次后仍然具有較高的粒子數(shù)(沒有達到顆粒粒徑≥0.3μm數(shù)量小于3個的要求)時,則必須按照以上進行清洗。燒杯和器具在每次使用前和使用后需用純水進行淋洗,器具不使用時需浸入裝有純水的燒杯中,以保證足夠干凈。B.4.4空白試驗空白試驗按以下步驟準(zhǔn)備:a)在干凈的采樣燒杯中注入純水;b)用對磁體相同的超聲波功率和時間(參考B.4.5)對空白樣(燒杯+純水+鉤子)進行超聲;將潔凈的磁性攪拌棒用干凈的鑷子夾至燒杯口,用磁性攪拌棒取回器吸住緩慢滑入燒杯,再將

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