2025年電鏡理論考試題庫及答案

一、單項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.在透射電子顯微緩中，用于產(chǎn)生電子束的裝置是:

A.光源

B.磁鐵

C.熱陰極

D.電容器

答案：C

2.透射電子顯微鏡的分辨率主要受限于：

A.電子的波長

B.物鏡的放大倍數(shù)

C.樣品的厚度

D.顯微鏡的亮度

答案：A

3.在掃描電子顯微虢中，用于聚焦電子束的裝置是：

A.光柵

B.鏡頭

C.陰極

D.陽極

答案：B

4.掃描電子顯微鏡的樣品通常需要：

A.蒸鍍一層金屬

B.浸泡在液體中

C.保持干燥

D.加熱到高溫

答案：A

5.在透射電子顯微繚中，用于提高分辨率的光學(xué)元件是:

A.孔徑膜

B.中繼鏡

C.聚光鏡

D.照明器

答案：B

6.在掃描電子顯微繚中，用于提高成像對比度的裝置是:

A.二次電子探測器

B.背散射電子探測器

C.光電倍增管

D.鏡頭

答案：A

7.在透射電子顯微緩中，樣品厚度一般要求在：

A.10納米以下

B.100納米以下

C.1微米以下

D.10微米以下

答案：B

8.在掃描電子顯微績中，樣品室通常需要：

A.高真空

B.中等真空

C.大氣壓

D.氮?dú)獗Ｗo(hù)

答案：A

9.在透射電子顯微鏡中，用于提高成像亮度的裝置是：

A.中繼鏡

B.聚光鏡

C.孔徑膜

D.照明器

答案：B

10.在掃描電子顯微鏡中，用于提高成像分辨率的裝置是:

A.二次電子探測器

B.背散射電子探測器

C.光電倍增管

D.鏡頭

答案：C

二、多項(xiàng)選擇題（每題2分，共10題）

1.透射電子顯微鏡的主要組成部分包括:

A.電子源

B.磁透鏡

C.樣品臺

D.光學(xué)系統(tǒng)

E.記錄系統(tǒng)

答案：A,B,C,E

2.掃描電子顯微鏡的主要特點(diǎn)包括：

A.高分辨率

B.成像深度大

C.樣品制備簡單

【）.成像速度慢

E.可進(jìn)行能譜分析

答案：A,B,C,E

3.透射電子顯微鏡的樣品制備方法包括:

A.蒸鍍

B.超薄切片

C.離子轟擊

D.離子束刻蝕

E.蒸發(fā)

答案：B,C,D

4.掃描電子顯微鏡的成像模式包括：

A.二次電子成像

B.背散射電子成像

C.吸收電子成像

D.磁力成像

E.電荷成像

答案：A,B,C

5.透射電子顯微鏡的成像原理包括：

A.電子與樣品的相互作用

B.電子的衍射

C.電子的散射

I).電子的吸收

E.電子的透射

答案：A,B,C,D,E

6.掃描電子顯微鏡的樣品制備方法包括:

A.蒸鍍

B.超薄切片

C.離子轟擊

D.離子束刻蝕

E.蒸發(fā)

答案：A,B,E

7.透射電子顯微鏡的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括:

A.材料科學(xué)

B.生物學(xué)

C.地球科學(xué)

D.化學(xué)工程

E.環(huán)境科學(xué)

答案：A,B,C,D,E

8.掃描電子顯微鏡的主要應(yīng)用領(lǐng)域包括:

A.材料科學(xué)

B.生物學(xué)

C.地球科學(xué)

D.化學(xué)工程

E.環(huán)境科學(xué)

答案：A,B,C,D,E

9.透射電子顯微鏡的成像模式包括：

A.高分辨率成像

B.衍射成像

C.吸收成像

D.磁力成像

E.電荷成像

答案:A,B,C

10.掃描電子顯微鏡的成像模式包括：

A.二次電子成像

B.背散射電子成像

C.吸收電子成像

D.磁力成像

E.電荷成像

答案：A,B,C

三、判斷題（每題2分，共10題）

1.透射電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到原子級別。

答案：正確

2.掃描電子顯微鏡的樣品制備比透射電子顯微鏡簡單。

答案：正確

3.透射電子顯微鏡的樣品需要經(jīng)過蒸鍍處理。

答案：錯(cuò)誤

4.掃描電子顯微鏡的成像深度比透射電子顯微鏡大。

答案：正確

5.透射電子顯微鏡的成像原理與掃描電子顯微鏡相同。

答案：錯(cuò)誤

6.透射電子顯微鏡的樣品制備方法比掃描電子顯微鏡多樣。

答案：正確

7.掃描電子顯微鏡的成像速度比透射電子顯微鏡快。

答案：錯(cuò)誤

8.透射電子顯微鏡的成像模式比掃描電子顯微鏡豐富。

答案：正確

9.掃描電子顯微鏡的樣品制備不需要高真空環(huán)境。

答案：錯(cuò)誤

10.透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡都可以進(jìn)行能譜分析。

答案：正確

四、簡答題（每題5分，共4題）

1.簡述透射電子顯微鏡的成像原理。

答案：透射電子顯微鏡的成像原理基于電子與樣品的相互作用。當(dāng)高

能電子束穿過薄樣品時(shí)，電子會與樣品中的原子發(fā)生散射和衍射，這

些相互作用會導(dǎo)致電子束的強(qiáng)度和方向發(fā)生變化，從而形成樣品的圖

像。通過分析電子束的散射和衍射信息，可以獲得樣品的微觀結(jié)構(gòu)信

息。

2.簡述掃描電子顯微鏡的成像原理。

答案：掃描電子顯微鏡的成像原理基于電子束在樣品表面掃描時(shí)與樣

品發(fā)生的相互作用。當(dāng)電子束掃描樣品表面時(shí)，會激發(fā)樣品產(chǎn)生二次

電子、背散射電子等信號，這些信號被探測器收集并轉(zhuǎn)換為圖像信號,

從而形成樣品的圖像。通過分析不同類型電子信號的強(qiáng)度和分布，可

以獲得樣品的表面形貌和成分信息。

3.簡述透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的主要區(qū)別。

答案：透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的主要區(qū)別在于成像原理和

樣品制備方法。透射電子顯微鏡通過高能電子束穿過薄樣品形成圖像,

而掃描電子顯微鏡通過電子束在樣品表面掃描形成圖像。透射電子顯

微鏡的樣品制備要求較高，需要制備超薄樣品，而掃描電子顯微鏡的

樣品制備相對簡單，可以直接使用塊狀樣品。

4.簡述透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的主要應(yīng)用領(lǐng)域。

答案：透射電子顯微鏡主要應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地球科學(xué)等領(lǐng)

域，可以用于觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)、生物細(xì)胞的精細(xì)結(jié)構(gòu)等。掃描電

子顯微鏡主要應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域，可以用于

觀察材料的表面形貌、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等。

五、討論題（每題5分，共4題）

1.討論透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡在樣品制備方面的優(yōu)缺點(diǎn)。

答案：透射電子顯微鏡的樣品制備要求較高，需要制備超薄樣品，這

可能會導(dǎo)致樣品的變形和損傷，但可以獲得高分辨率的圖像。掃描電

子顯微鏡的樣品制備相對簡單，可以直接使用塊狀樣品，但成像分辨

率相對較低。因此，在選擇顯微鏡時(shí)需要根據(jù)具體的研究需求進(jìn)行綜

合考慮。

2.討論透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡在成像模式方面的優(yōu)缺點(diǎn)。

答案：透射電子顯微鏡的成像模式包括高分辨率成像、衍射成像等，

可以獲得樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)信息，但成像速度較慢。掃描電子顯微鏡的

成像模式包括二次電子成像、背散射電子成像等，可以獲得樣品的表

面形貌和成分信息，成像速度較快。因此，在選擇成像模式時(shí)需要根

據(jù)具體的研究需求進(jìn)行綜合考慮。

3.討論透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡在應(yīng)用領(lǐng)域方面的優(yōu)缺點(diǎn)。

答案：透射電子顯微鏡主要應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、地球科學(xué)等領(lǐng)

域，可以用于觀察材料的微觀結(jié)構(gòu)、生物細(xì)胞的精細(xì)結(jié)構(gòu)等，但設(shè)備

成本較高。掃描電子顯微鏡主要應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)、環(huán)境科學(xué)

等領(lǐng)域，可以用于觀察材料的表面形貌、生物細(xì)胞的表面結(jié)構(gòu)等，設(shè)

備成本相對較低。因此，在選擇顯微鏡時(shí)需要根據(jù)具體的研究需求和

經(jīng)濟(jì)條件進(jìn)行綜合考慮。

4.討論透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡在未來的