• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2025-12-23 頒布
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【正版授權(quán)-英語版】 IEC 60749-26:2025 EN Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)_第1頁
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基本信息：

  • 標(biāo)準(zhǔn)號：IEC 60749-26:2025 EN
  • 標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體器件-機械和氣候測試方法-第26部分：靜電放電(ESD) 靈敏度測試-人體模型(HBM)
  • 英文名稱：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
  • 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
  • 發(fā)布日期：2025-12-23

文檔簡介

靜電放電(ESD)靈敏度測試-人體模型(HBM)標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容如下：

靜電放電敏感度測試是半導(dǎo)體器件的重要測試之一，它用于評估半導(dǎo)體器件在受到靜電放電時的性能。IEC60749-26:2025EN半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第26部分：靜電放電(ESD)靈敏度測試-人體模型(HBM)規(guī)定了靜電放電敏感度測試的詳細(xì)方法和要求。

測試方法包括以下步驟：

1.準(zhǔn)備測試環(huán)境：測試應(yīng)在無塵室進行，溫度和濕度應(yīng)控制在規(guī)定范圍內(nèi)。

2.測試樣品準(zhǔn)備：半導(dǎo)體器件應(yīng)放置在適當(dāng)?shù)陌b中，以確保在測試過程中不受外部干擾。

3.靜電放電模擬器：使用靜電放電模擬器產(chǎn)生模擬靜電放電的電壓和電流，對半導(dǎo)體器件進行放電。

4.測量參數(shù)：測試過程中，應(yīng)測量半導(dǎo)體器件的電位、電流、功率等參數(shù)，以評估其受靜電放電影響的程度。

人體模型(HBM)測試是一種常用的靜電放電敏感度測試方法，它通過模擬人體的帶電情況和與半導(dǎo)體器件的接觸來評估器件的抗靜電能力。在進行人體模型測試時，應(yīng)注意以下事項：

1.測試人員應(yīng)穿戴防靜電服和鞋帽等，并使用防靜電設(shè)備與半導(dǎo)體器件接觸。

2.測試前，應(yīng)進行人體模型與半導(dǎo)體器件之間的接地處理，以確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

3.測試過程中，應(yīng)密切關(guān)注半導(dǎo)體器件的參數(shù)變化，以確保其符合規(guī)定要求。

IEC60749-26:2025EN半導(dǎo)體器件機械和氣候試驗方法第26部分：靜電放電(ESD)靈敏度測試-人體模型(HBM)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了靜電放電敏感度測試的詳細(xì)方法和要求，以確保半導(dǎo)體器件在生產(chǎn)和使

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