• 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2025-12-04 頒布
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【正版授權(quán)-英/法語版】 IEC 63203-201-4:2024/AMD1:2025 EN-FR Amendment 1 - Wearable electronic devices and technologies - Part 201-4: Electronic textile - Test method for determining sheet resistan_第1頁
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基本信息：

  • 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：IEC 63203-201-4:2024/AMD1:2025 EN-FR
  • 標(biāo)準(zhǔn)名稱：修正案1 - 可穿戴電子設(shè)備和科技 - 第201-4部分：電子紡織品 - 磨損后導(dǎo)電織物電阻率測(cè)定試驗(yàn)方法
  • 英文名稱：Amendment 1 - Wearable electronic devices and technologies - Part 201-4: Electronic textile - Test method for determining sheet resistance of conductive fabrics after abrasion
  • 標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
  • 發(fā)布日期：2025-12-04

文檔簡(jiǎn)介

電子紡織品-磨損后導(dǎo)電織物電阻率的測(cè)定試驗(yàn)方法是一個(gè)國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）的標(biāo)準(zhǔn)，專門針對(duì)可穿戴電子設(shè)備和技術(shù)的測(cè)試方法。以下是該標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于磨損后導(dǎo)電織物電阻率測(cè)定試驗(yàn)方法的詳細(xì)解釋：

測(cè)試對(duì)象：該測(cè)試方法適用于各種類型的導(dǎo)電織物，包括但不限于金屬纖維、碳纖維、銀染料處理織物等。

測(cè)試步驟：

1.準(zhǔn)備樣品：選取適量的待測(cè)導(dǎo)電織物樣品，確保它們具有相似的材料和結(jié)構(gòu)。

2.測(cè)量初始電阻：在未磨損的條件下，使用適當(dāng)?shù)臏y(cè)量設(shè)備（如四探針或電流-電壓測(cè)試儀）測(cè)量織物的電阻。

3.模擬磨損：使用適當(dāng)?shù)哪M磨損設(shè)備對(duì)織物進(jìn)行模擬磨損處理。這通常涉及到對(duì)織物施加一定的壓力、摩擦或沖擊，以模擬實(shí)際使用中的磨損情況。

4.測(cè)量磨損后的電阻：在磨損處理后，再次使用測(cè)量設(shè)備測(cè)量織物的電阻。

5.數(shù)據(jù)處理：根據(jù)測(cè)量得到的初始電阻和磨損后的電阻值，計(jì)算出織物在磨損后的電阻率變化。

IEC63203-201-4標(biāo)準(zhǔn)中還規(guī)定了其他測(cè)試條件和要求，如測(cè)試環(huán)境、樣品數(shù)量、重復(fù)性測(cè)試等。在實(shí)際操作中，應(yīng)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中的具體規(guī)定進(jìn)行操作。此外，該標(biāo)準(zhǔn)還涉及到其他相關(guān)的術(shù)語和定義，如“磨損”、“導(dǎo)

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