C3216-6:2011序文 11適用範(fàn)囲 12引用規(guī)格 13耐熱衝撃(エナメル線及びテープ巻線に適用) 23.1試験片 23.2試験手順 23.3結(jié)果 24耐軟化(公稱導(dǎo)體徑0.100mmを超え1.600mm以下のエナメル丸線及びテープ巻丸線に適用) 24.1試験裝置 24.2試験手順 35溫度指數(shù) 4 45.2テープ巻線 46加熱減量(エナメル丸線に適用) 46.1試験片 46.2試験手順 4附屬書A(參考)高溫中破壊試験(エナメル丸線に適用) 6附屬書JA(規(guī)定)代替試験方法 7 C3216-6:2011この規(guī)格は,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第12條第1項の規(guī)定に基づき,社団法人日本電線工業(yè)會(JCMA)から,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を制定すべきとの申出があり,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が制定した日本工業(yè)規(guī)格である。これによって,JISC3003:1999及びJISC3006:1999は廃止され,この規(guī)格に置き換えられた。この規(guī)格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大臣及び日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実川新案権に閃わる確認(rèn)について,真任はもたない。この規(guī)格は,エナメル線及び橫巻線の試験方法の統(tǒng)一並びに試験規(guī)格のIEC規(guī)格整合化を目的として制定したものである。この規(guī)格は,IEC規(guī)格への整合化に向け検討してきたが,內(nèi)容によって大きな変更となり市場の混亂が予想されたため,整合化に向けた経過措置として整合化規(guī)格を主とし,従來のJISによJISC3216の規(guī)格群には,次に示す部編成がある。JISC3216-1JISC3216-2JISC3216-3JISC3216-4JISC3216-5JISC3216-6第1部:全般事項第2部：寸法第3部：機械的特性第4部:化學(xué)的特性第5部：電気的特性第6部:熱的特性日本工業(yè)規(guī)格JIS卷線試験方法一第6部:熱的特性序文この規(guī)格は,1996年に第2版として発行されたIEC60851-6,Amendment1(1997)及びAmendment2(2003)を基に,対応國際規(guī)格を翻訳し,市場にIEC整合規(guī)格のコンセンサスを得るまでの措置として,技術(shù)的內(nèi)容を変更して作成した日本工業(yè)規(guī)格であるが,対応國際規(guī)格には規(guī)定されていない規(guī)定項目を日なお,この規(guī)格で點線の下線を施してある簡所及び附屬書JAは,対応國際規(guī)格にはない事項である。変更の一覧表にその説明を付けて,附屬書JBに示す。要求事項は,この規(guī)格を引用する個別規(guī)格で規(guī)定する。ム線の熱的特性の試験方法について規(guī)定する。なお,試験方法の全般小攻については,JISC3216-1による。注記この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。Amendment2:2003(MOD)なお,対応の程度を表す記號“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”引用規(guī)格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西層年の付記がない引用規(guī)格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。JISB1501転が2軸受一鋼球JISC3216-1巻線試験方法一第1部:全般事項注記対応國際規(guī)格:IEC60851-1:1996,Windingwires—Testmethods—Part1:General(MOD)JISC3216-3巻線試験方法一第3部:機械的特性注記対応國際規(guī)格:IEC60851-3:1996,Windingwires—Testmethods—Part3:Mechanicalproperties(MOD)JISC3216-5巻線試験方法一第5部:電気的特性2C3216-6:2011注記対応國際規(guī)格:IEC60851-5:1996,Windingwires—Testmethods—Part5:Electricalproperties(MOD)IEC60172:1987,Testprocedureforthedeterminationofthetemperatureindexofenamelledwindingwires3耐熱衝撃(エナメル線及びテープ巻線に適用)耐熱衝撃は,マンドレルへの巻付け,曲げ,引張りなどの負荷を加えた後に,個別規(guī)格に規(guī)定の溫度に耐えるかを検査する。なお.受渡當(dāng)事者間の協(xié)定によ2て.附屬書JA.3の貳験方法を用いてもよい。3.1試験片試験片は,次によって1本作製する。一公稱導(dǎo)體徑1.600mm以下のエナメル線の場合,JISC3216-3の5.1.1(丸線)一公稱導(dǎo)體徑1.600mmを超えるエナメル線の場合,JISC3216-3の5.2[伸長試験(公稱導(dǎo)體徑が1.600mmを超えるエナメル丸線に適用)]一公稱導(dǎo)體徑1.600mm以下のテープ巻線の場合,JISC3216-3の5.1.1一公稱導(dǎo)體徑1.600mmを超えるテープ巻線の場合,JISC3216-3の5.5.4[テープ巻丸線及び平角線(融著テープ巻線)]平角線については,JISC3216-3の5.1.2(平角線)によって厚さ方向(flatwise)曲げの試験片1本を作製する。3.2試験手順試験片を規(guī)定の淵度(個別規(guī)格に規(guī)定した溫度±5℃)に保った強制循環(huán)忙溫柳中で30分問加熱する。強制循環(huán)恒溫槽から取り出し,試験片の溫度が常溫に戻った後,皮膜に亀裂が生じていないかを表1に示す倍率の拡大鏡で調(diào)べる。試験は,丸線は3本,平竹線は2本の試験片で行う。表1一拡大鏡の倍率線の寸法倍率0.040mm以下の丸線10~15倍6～10倍0.500mmを超える丸線平角線6~10倍亀裂の発生した本數(shù)を記録する。4耐軟化(公稱導(dǎo)體徑0.100mmを超え1.600mm以下のエナメル丸線及びテープ巻丸線に適用)耐軟化は,試験片2本を互いに直交するように配置し,その交點に個別規(guī)格に規(guī)定の溫度で規(guī)定のおも注記多くの場合,耐軟化は絶縁の破壊した溫度で表す。なね..受渡當(dāng)事者間の協(xié)定によって.附屬書JA.4の貳験方法を用いて志よい。3C3216-6:20114.1試験裝置試験裝ǔは次による(図1參照)。黃銅又は銅製の金屬プロックは,電気加熱ができ,溫度の測定及び制御ができるものとする。ブロック中央の交點に2本の試験片を直交させて人れる二つの溝があり,その交差部分に垂直におもり変圧器は,100VA以上の容量をもち100±10Vの交流試験電圧を供給できるもので,5±1mAで動作する過電流裝置,及び最大電流を50mAに制御する抵抗器を備えているものとする。図1一耐軟化試験裝置①試験片②試験片⑧溫度制御裝置插入穴⑩試験片接続用絶緑端子4.2試験手順2本の正線狀の試験片を,個別規(guī)格に規(guī)定の溫度に前もって加熱した金屈ブロックに相らに此交させて插入する。溫度は,できる限り交差部分の近くで測定し,個別規(guī)格に規(guī)定の溫度に対し±3℃以內(nèi)であるものとする。交差部分は,ピストンの中心の兵下になるようにする。公稱導(dǎo)體徑0.200mm未満の場合は,2本の直線狀の試験片を平行に並べて置き,その上にもう1本の試験片をピストンの軸に対し最初の2本に試験出圧を上下の試験片に印加する。下側(cè)に2本の試験片を川いる場合には,その端末をつないで導(dǎo)通4C3216-6:2011交差部分にかける力及び試験電圧は2分間かける。試験は3本の試験片で行い,破壊した本數(shù)を記録すmm12mmNな招:受渡當(dāng)事者間の協(xié)定によって.附屬書JA.5の貳験方法を用いて志よ加熱滅量は,個別規(guī)格に規(guī)定の溫度での皮膜の質(zhì)量減少率を測定する。片は熱風(fēng)循環(huán)恒溫槽中にて130±3℃で1時間加熱する。恒溫槽から取り出した後,試験片をデシケータ恒溫槽から取り出し,試験片をデシケータ中に置き,室溫まで30分以上冷卻する。試験片は0.1mg単C3216-6:2011皮膜の剝離に用いる菜品は,導(dǎo)體に影響がないものでなければならない。剝離した後,裸導(dǎo)體を150±3℃にて15±1分屹燥する。その後,デシ個一夕中に置き,室溫まで30分以上冷卻する。裸導(dǎo)體を0.1mg單位までUよ3量する(M3)。實量損率(△M)は,次の式で計算する。試験は2回行い,それぞれの值を記録する。6C3216-6:2011附屬書A高溫中破壊試験(工ナ×兒丸線に適用)高溫中破壊試験は,試験片を加熱中に個別規(guī)格に規(guī)定の試験電圧を印加した狀態(tài)で加熱し,破壊した本數(shù)で表す。が最低15分としているので,數(shù)分以內(nèi)での破壊は適用外であり,短時間で破壊する場合は,一恒溫槽は,強制循環(huán)方式の有無にかかわらず,使用可能溫度を450℃とする。また,設(shè)定溫度の許容に,恒溫槽は,表A.1の試験電圧を供給可能な電圧端子を備える。不具合を検知し,タイマで遮斷する。mmV験上,試験のやりやすさから,通例は1種で公稱導(dǎo)體徑1.0mmとする。A.3試験手順試験片を端子に接続し,個別規(guī)格に規(guī)定の溫度に保った恒溫槽に設(shè)置する。設(shè)置後すぐに,個別規(guī)格に5本の試験片で行い,破壊した本數(shù)を記録する。15分未満で破壊した場合は,記録しない。過電流保護7C3216-6:2011附屬書JA代替試験方法乙の附屬書仗,本體の対応寸石簡條蒼補足寸石古ので南n,本體で規(guī)定寸石試驗方法億対l,置寺?lián)Q之て適用爐可能女試驗方法億彐,て規(guī)定す石。注記乙の附屬書で規(guī)定寸石試驗方法仗,乙の規(guī)格蒼IEC60851-6億整合之甘石億當(dāng)憶n,乙の內(nèi)容億女→て大寺女變更匕女n市場の混亂爐予想之札石事項億彐,て,完全整合化億向壙憶經(jīng)過措置匕l(fā)て,麂止l憶JISC3003:1999及述JISC3006:1999億徉→憶試驗方法蒼代替試驗方法匕l(fā)て餅記l憶古ので南石。JA.3耐熱衝撃丸線仗,導(dǎo)體徑0.080～0.350mm億彐,て仗次のa)伸長億女→て,導(dǎo)體徑0.370mm以上億彐,て仗次のa)伸長時一卷梓扒兮長之約35cmの試驗片蒼3本匕n,標(biāo)緑圈離蒼250mm匕l(fā)て1分問當(dāng)憶n300mm以下の引張速之で規(guī)定の值支で伸戌l憶後,個別規(guī)格億規(guī)定の溫度億?！鷳浐銣夭壑肖?時間加熱寸石。恒溫槽扒兮取n出l,試驗片の溫度爐常溫億戾→憶後,皮膜億導(dǎo)體爐見之石龜裂爐生cて,女,b)巻付け同一卷棒扒兮長之約50cmの試驗片3本蒼匕n,個別規(guī)格億規(guī)定の徑蒼古彐表面滑兮扒女丸棒億,線匕線匕爐接觸寸石女虧億緊密億10回卷寺付壙憶後,個別規(guī)格億規(guī)定の溫度億?！鷳浐銣夭壑肖?時問加熱寸石。恒溫槽扒兮取n出l,試驗片の溫度爐常溫億戾→憶後,皮膜億導(dǎo)體爐見之石龜裂爐生c女,扒蒼目JA.3.2平角線同一卷梓扒兮長之約35cmの試驗片3本蒼匕n,そ札弋札億彐,て標(biāo)線距離蒼250mm億lて1分間當(dāng)憶n300mm以下の引張速之で個別規(guī)格億規(guī)定の值支で伸戌l憶後,個別規(guī)格億規(guī)定の溫度億?！鷳浐銣夭壑肖?時間加熱寸石。恒溫槽扒兮取n出l,試驗片の溫度爐常溫億戾→憶後,皮膜億導(dǎo)體爐見之石龜裂爐生cて,女,扒蒼目視で調(diào)尺石。JA.4耐軟化導(dǎo)體徑0.190mm以下の丸線億彐,て仗次のa)輪狀交差法億女→て,導(dǎo)體徑0.200mm以上の丸線億彐,て仗b)交差法億女→て,及述平角線億彐,て仗c)鋼球法億女→て行虧。試驗仗,導(dǎo)體間又仗導(dǎo)體匕鋼球匕の間億50Hz又仗60Hzの正弦波億近,波形蒼古→憶交流電圧100V蒼加之,その狀態(tài)で1分間當(dāng)憶n約2℃の割合で溫度蒼上昇之甘,短絡(luò)寸石溫度蒼試驗片億最古近,部分億熱電対蒼固定lて測定寸石。そのa)輪狀交差法同一卷梓扒兮長之約30cmの試驗片2本蒼匕n,乙札蒼各攵輪狀億lて囡JA.1の女虧億交差之甘,下の試驗片億表JA.1億示寸打古n蒼彐n下吠,乙札蒼恒溫槽億入札て耐軟化溫度蒼測定寸8一一一335577——9C3216-6:2011JA.5溫度指數(shù)JA.5.1概要溫度指數(shù)は,導(dǎo)體徑0.260～1.500mmを用いて次の方法で求める。平角線の場合は,同じ皮膜でエナメル丸線を作成し実施する。JA.5.2試験片JISC3216-5のJA.4.2b)(2個より法)に従って2個より試験片を作製する。ただし,試験片の數(shù)は各JA.5.3試験手順試験手順は,次による。a)試験片は,試験中外部応力を避けるため適切な方法で固定し,加熱する。b)試験片を表JA.2に規(guī)定する加熱溫度及び加熱日數(shù)で加熱した後恒溫槽から取り出し常溫になるまで放置し,壽命時間を調(diào)べるため表JA.3に規(guī)定する電圧で耐電圧試験を行い,それを1サイクルとする。試験片が破壊されない場合は2サイクル目の試験を行い,その後試験片は破壊されるまでサイクルを繰り返す。なお,この試験に用いる変圧器の容量は500VA以上とし,検出裝置は高圧側(cè)で5mA以上で動作すc)試験は3點以上の溫度で行い,最低加熱溫度は推定溫度指數(shù)より20～40℃高い溫度とし,加熱溫度沒足しなければならない。試験片の加熱溫度は,±2℃以內(nèi)にしなければならない。平均壽命のサイクル數(shù)は8～20サイクルに入るように加熱溫度を選択する。なお,特定のサイクルで既に試験を行っている場合は,平均壽命のサイクル數(shù)を8～20サイクルにd)試験片の平均壽命時間は,その試験片が試験電圧で破壊しなかった合計の加熱時間に破壊したときのサイクル加熱時間の1/2を加えた値で示す。全ての試験片が破壊し終わったとき,各加熱溫度での平均な命を計算する。計算した値は,図JA.2に示す耐熱な命グラフにプロットし,川州正線1を求める。注1)注記の回線直線の簡易計算方法を參照。e)溫度指數(shù)は,回帰直線を20000時間まで外揮し,その交點から求めた溫度で表す。C3216-6:2011表JA.2-1#亻ク兒の推獎加熱日數(shù)℃1214271427142741721427142747表JA.3一試験電莊両側(cè)皮膜厚さmmVC3216-6:201110?E10?E210時簡L190200210220230240250260溫度℃+102.K)023図JA.2一耐熱壽命グラフ注記回帰直線の簡易計算方法この注記の目的は壽命試験値に対して,簡単に回帰直線をプロットする方法を示すことにある。この方法は,各試験溫度における多くの測定値に対して適用する。信頼限界が必要な場合は,IEC60216-3に従って詳細に解析することができる。多くの絶緑材料は,次の式に従って劣化される。ここに,L:絶緑材料の壽命(h)A,B:各絶緑材料に対する定數(shù)e:自然対數(shù)の底a:logi?AX:1/Tb:(log1oe)·B高溫での試験値をlogoL-1/Tグラフ用紙にプロットし,直線を引き,低溫まで外揮してもよいが,対數(shù)プロットの性頭によって,武験値から最通直線を小こうとしても正確な外抑を行うことはできないので,精度及び一様性を上げるため,もっと厳密な方法を用いなければならなC3216-6:2011最小二乗法によって,定數(shù)a及びbを試験値から計算する。………………………數(shù)N:平均壽命の數(shù)Y:log?L=破壊時間の対數(shù)値:N個の値についての総和參考文獻JISC3003:1999エナメル線試験方法JISC3006:1999橫卷線試験方法JISC3202エナメル線JISC3204橫巻線IEC60216-3,Electri