部:試験方法(OITDA/JSA)(日本規(guī)格協(xié)會発行)C5932-2:2019日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會標(biāo)準(zhǔn)第二部會構(gòu)成表大大青青智智藤伊一般社団法人情報処理學(xué)會情報規(guī)格調(diào)査會(國立研究開発法人測巖測巖一般社團(tuán)法人電子情報技術(shù)産業(yè)協(xié)會田內(nèi)富雄田內(nèi)一般財団法人日本規(guī)格協(xié)會正正崎江IEC/SMB日本代表委員(ソ二ー株式會社)井酒一般社団法人電気學(xué)會谷住谷住一般財団法人電気安全環(huán)境研究所村高村高全國地域婦人団體連絡(luò)協(xié)議會中田中田一般社団法人日本電機(jī)工業(yè)會田平田平IEC/CAB日本代表委員(富士ゼロックス株式會社)本水本水東京工業(yè)大學(xué)根山根山主婦連合會主務(wù)大臣:経濟(jì)座業(yè)大臣制定:平成31.3.20官報公示:平成31.3.20原案作成者:一般財団法人光産業(yè)技術(shù)振興協(xié)會(于112-0014東京都文京區(qū)関口1-20-10住友江戸川橋職前ビルTEL03-5225-6431)審議部會:日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會標(biāo)準(zhǔn)第二部會(部會長大崎博之)この規(guī)格についての意見又は質(zhì)問は,上記原案作成者又は経済産業(yè)省産業(yè)技術(shù)環(huán)境局國際電気標(biāo)準(zhǔn)課(F100-8901會の審議に付され,速やかに,確認(rèn),改正又は廃止されます。C5932-2:2019●序文 1 12引用規(guī)格 13用語及び定義 24試験の狀態(tài) 2 24.2基準(zhǔn)狀態(tài) 24.3判定狀態(tài) 24.4試験場所の狀態(tài) 25外観及び構(gòu)造 26共通裝置 2 2 26.3光パワーメー夕(D) 36.4偏光回転器 36.5光プランチングテパイス 37光學(xué)特性試験 3 3 67.3反射減衰量 g7.4偏光依存性損失 g g7.6最大入力光パワー 98耐環(huán)境性及び耐久性試験 9試験報告書 著作権法により無斷での被裂,転截等は禁止されております。JISC5932-2第2部:試験方法●●JISC5877-1偏光子一第1部:通則2C5932-2:20193用語及び定義3.1果又は測定値の換算方法を個別に規(guī)定した場合の基準(zhǔn)狀態(tài)は,4.2による。さらに,標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)で測定するのうち,溫度20℃±2℃,相対濕度60%～70%,及び気圧86kPa～106kPaとする。4.4試験場所の狀態(tài)5外観及び構(gòu)造外観及び構(gòu)造の試験方法は,JISC61300-3-1による。3C5932-2:2019dB以內(nèi)のものを用い,それ以外の場合は,精度を試験報告書に記載する。光パワーメータは,測定に必要空間ビーム光を光パワーメータに入射する場合で,受光素子の受光面全體にわたる感度分布の一様性に偏光消光比は,別途規(guī)定がない場合,20dB以上とする。偏光消光比が不十分である場合は,偏光子を用a)光源b)光パワーメータの揮入損失を測定する方法である。方法2及び方法3は,空間ビーム光で入出射する光アイソレータの揮注記揮入損失の測定系の機(jī)構(gòu)的な構(gòu)成において,方法1及び方法2では光アイソレータに入射する4C5932-2:2019きる限り端面に垂直に近い角度で入射するように調(diào)整する。て測定する。を順方向に配置する。率の最大値Tmxから,式(1)で揮入損失arを求める。Tmax:偏光狀態(tài)を変化させて得た透過率の最大値透過率Tから,式(2)で揮入損失arを求める。T:指定の偏光狀態(tài)で入力させて得た透過率一偏光無依存形光アイソレータの場合,偏光狀態(tài)を変化させて得た透過率の最小値Tminから,式(3)Tmin:偏光狀態(tài)を変化させて得た透過率の最小値5C5932-2:2019● 供試品 供試品供試品供試品● 供試品3)各角度での揮入損失arを,式(4)で求める。6C5932-2:2019偏光回転器偏光回転器●3)揮入損失arを,式(5)で求める。この試験の方法4に用いる裝置は,JISC61300-3-2による。また,方法5及び方法6に用いる裝置は,c)偏光回転器●著作権法により無斷での複製,転截等は禁止されております。7,個別規(guī)格に規(guī)定する使用波長範(fàn)囲の最短波長,最長波長及び中心波長の三つの波長において測定する。角度での出射する光パワーP?を測定する。8C5932-2:2019………………(7)偏光回転器図4ー出射する光パワーの測定測定系を構(gòu)成し,入射する光パワーP3’を測定する。2)図2の構(gòu)成に供試品として光アイソレータを逆方向に揮入して図4の構(gòu)成とし,光軸を中心に光アイソレータを回転させ,出射する最大の光パ…………………(8)P3':入射する光パワー(W)7.3反射減衰量ソレータに関する反射減衰量の測定に用いる裝置及び測定方法は,JISC61300-3-6による。反射減衰量は,個別規(guī)格に規(guī)定する使用波長範(fàn)囲の最短波長,最長波長及び中心波長の三つの波長において測定する。7.4偏光依存性損失依存形光アイソレータに関する偏光依存性損失の測定に用いる裝置及び測定方法は,JISC61300-3-2による。偏光依存性損失は,個別規(guī)格に規(guī)定する使用波長範(fàn)囲の最短波長,最長波長及び中心波長の三つの波7.5偏波モード分散依存形光アイソレータに関する偏波モード分散の測定に用いる裝置及び測定方法は,JISC61300-3-32による。偏波モード分散は,個別規(guī)格に規(guī)定する使用波長範(fàn)囲の中心波長において測定する。9C5932-2:2019(裝置)に,測定方法はJISC61300-2-14:2011の6.5(試験3)による。順方向及び逆方向に同時に光を入力して最大入力光パワーを測定する場合は,まず,揮入損失,アイソに規(guī)定する測定方法で測定する。順方向及び逆方向に同時に光を入力する場合の測定系の例を図7に示最大入力光パワーは,個別規(guī)格に規(guī)定する公稱波長において測定する。供試品D2D2BDP1D3供試品D2BDP1TD1T供試品供試品BD1D1D1BD2図7一順方向及び逆方向に最大入力光パワーを入力する場合の接続例(接続3)●C5932-2:2019b)合格判定數(shù)又は検査水準(zhǔn)a)規(guī)格番號c)試験環(huán)境條件光學(xué)特性試験に用いた光源の詳細(xì)について,次の項(xiàng)目を記載する。一光源の種類一揮入損失h)試験年月日部:試験方法1今回の制定までの経緯なすJISC5932(光アイソレータ通則)が2006(平成18)年に改正されたことを受けて,2012(平成24)試験方法を新たに規(guī)定として加え,通則,試験方法,個別規(guī)格を部構(gòu)成とする規(guī)格體系に従って規(guī)格番號今回,2017(平成29)年度から,一般財団法人光産業(yè)技術(shù)振興協(xié)會の光受動部品標(biāo)準(zhǔn)化委員會において2今回の制定の趣旨この規(guī)格は,2012(平成24)年に改正されたJISC5933を基に,最大入力光パワーの試験方法を規(guī)定と3審議中に特に問題となった事項(xiàng)今回のこの規(guī)格の審議において問題となった主な事項(xiàng)及び審議結(jié)果は,次のとおりである。a)試験の狀態(tài)(簡條4)舊規(guī)格では,試験の標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)として,JISC60068-1の標(biāo)準(zhǔn)大気條件に規(guī)定する大気條件の標(biāo)準(zhǔn)範(fàn)囲で行うことと規(guī)定していた。JISC60068-1の標(biāo)準(zhǔn)大気條件は,電子部品の試験の狀態(tài)を規(guī)定するものであるが,光受動部品の試験の標(biāo)準(zhǔn)的な環(huán)境條件についてはJISC61300-1で規(guī)定している。JISC60068-1で規(guī)定する標(biāo)準(zhǔn)大気條件では,15℃~35℃を標(biāo)準(zhǔn)的溫度範(fàn)囲としているが,JISC61300-1で規(guī)定する試験及び測定の標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境條件の溫度範(fàn)囲は18℃~28℃である。この規(guī)格で規(guī)定する光アイソレータでは,特性の溫度依存性が比較的大きな磁気光學(xué)材料が用いられる。審議の結(jié)果,この規(guī)格ではJISC61300-1で規(guī)定する試験及び測定の標(biāo)準(zhǔn)的環(huán)境條件を,4規(guī)定項(xiàng)目の內(nèi)容4.1用語及び定義(簡條3)C5932-2:2019解説4.3外観及び構(gòu)造(簡條5)4.5.4偏光依存性損失(7.4)て偏光依存性損失の測定を規(guī)定し,測定に用いる裝置及び測定方法は光受動部品共通の測定方法であるて偏波モード分散の測定を規(guī)定し,測定に用いる裝置及び測定方法は光受動部品共通の測定方法である順方向,逆方向及び両方向同時に高パワー光が入射する3通りの場合について最大入力光パワーを測定4.6耐環(huán)境性及び耐久性試験(簡條8)光アイソレータの耐環(huán)境性及び耐久性に関する試験條件,試料數(shù)及び合格判定數(shù)又は検査水準(zhǔn)は,性能4.7試験報告書(簡條9)5その他の解説事項(xiàng)この規(guī)格と舊規(guī)格(JISC5933)との対比を解説表1に示す。解説表1ーこの規(guī)格と舊規(guī)格との対比細(xì)分簡條規(guī)定內(nèi)容細(xì)分簡條規(guī)定內(nèi)容2引用規(guī)格一JISC61300-3-12引用規(guī)格JISC61300-3-32態(tài)態(tài)準(zhǔn)的環(huán)境條件)に規(guī)定する試験及び測定の標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件態(tài)態(tài)及び試験のための標(biāo)準(zhǔn)大気條件(標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài))]に規(guī)定する大気條件の標(biāo)準(zhǔn)範(fàn)囲構(gòu)造一構(gòu)造一6共通裝置最大入力光パワーを測定規(guī)定なし7光學(xué)特性試験7.6最大入光學(xué)特性の試験方法として新たに規(guī)定規(guī)定なし6原案作成委員會の構(gòu)成表原案作成委員會の構(gòu)成表を,次に示す。光受動部品標(biāo)準(zhǔn)化委員會構(gòu)成表氏名所屬(委員長)彌哲本水東京工業(yè)大學(xué)(委員)清吉更水田田祐知裕貴也司一般財団法人日本規(guī)格協(xié)會経濟(jì)産業(yè)省商務(wù)情報政策局(平成30年3月まで)経済産業(yè)省商務(wù)情報政策局(平成30年4月から)松松高和波巖畑增高碳內(nèi)駒森村綿小木(事務(wù)局)田田林下野田子橋林下野田子橋浦橋村山田貫田谷大博健恒多栄浩信隆幸一郎輔輔之治夫?qū)g司東北學(xué)院大學(xué)上智大學(xué)富士通株式會社株式會社白山?jīng)_電気工業(yè)株式會社古河電気工業(yè)株式會社一般財団法人電気安全環(huán)境研究所京セラ株式會社経済産業(yè)省産業(yè)技術(shù)環(huán)境局一般財団法人光産業(yè)技