電子機器用□礻ク夕一品質要求事項一第1部：品目別通則(IEC62197-1:2006)(JEITA/JSA)日本産業(yè)標準調查會審議C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)日本産業(yè)標準調査會標準第二部會構成表氏名所屬東京大學(委員)青柳惠美子伊藤智一般社団法人情報処理學會情報規(guī)格調査會(國立研究開発法人新エネルギー·産業(yè)技術総合開発機構)巖測幸吾一般社団法人電子情報技術産業(yè)協(xié)會一般財団法人日本規(guī)格協(xié)會江崎正IEC/SMB日本代表委員(ソ二一株式會社)住谷淳吉一般財団法人電気安全環(huán)境研究所高村里子全國地域婦人団體連絡協(xié)議會一般社団法人日本電機工業(yè)會橋爪弘一般社団法人ビジネス機械·情報システム産業(yè)平田真幸IEC/CAB日本代表委員(富士ぜロックス株式會社)藤原昇一般社団法人電気學會水本哲彌東京工業(yè)大學主婦連合會主務大臣:経濟産業(yè)大臣制定：令和2.3.23官報揭裁日:合和2.3.23原案作成者:一般社団法人電子情報技術産業(yè)協(xié)會(于100-0004東京都千代田區(qū)大手町1-1-3大手センタービルTEL03-5218-1050)一般財団法人日本規(guī)格協(xié)會(于108-0073東京都港區(qū)三田3-13-12三田MTビ兒TEL03-4231-8530)審議部會:日本産業(yè)標準調査會標準第二部會(部會長大崎博之)この規(guī)格についての意見又は質問は,上記原案作成者又は経済産業(yè)省産業(yè)技術環(huán)境局國際電気標準課(テ100-8901東京都千代田區(qū)霞が関1-3-1)にこ連絡ください。なお,日本産業(yè)規(guī)格は,産業(yè)標準化法の規(guī)定によって,少なくとも5年を経過する日までに日本産業(yè)標準調査會の審議に付され,速やかに,確認,改正又は廃止されます。C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)●序文 1 1 11.2一般的に考慮する事項 1 2 32技術情報 32.1用語及び定義 32.2水準の體系 42.3統(tǒng)計的工程管理[SPC(StatisticalProcessContol)] 42.4出荷不適合値のppm評価 52.5工程能力 52.6Cp及びCrkの定義 62.7Crkと不適合(不良)品數(shù)との関係 ?2.8Cp及びCrkの代表的な最小値 72.9統(tǒng)計的工程管理の実施 83品質評価手順 83.1品質評価の定義 83.2品質認証(QA,QualificationApproval) 93.3能力認証(CA,CapabilityApproval) 93.4技術認証(TA,TechnologyApproval) 94試験及び試験計畫 4.1一般事項 4.2試験計畫 附屬書A(參考)工程の測定指標に関する詳細情報及び実踐的數(shù)値 附屬書B(規(guī)定)品質評価手順 解説 ●(1)著作権法により無斷での復型,転截等は禁止されております。C62197-1:2020●●●日本産業(yè)規(guī)格JIS(IEC62197-1:2006)電子機器用コネクター品質要求事項一Connectorsforelectronicequipment—Qualityassessmentrequirements—Part1:Genericspecification序文この規(guī)格は,2006年に第1版として発行されたIEC62197-1を基に,技術的內(nèi)容及び構成を変更するこなお,この規(guī)格で點線の下線を施してある?yún)⒖际马棨?対応國際規(guī)格にはない事項である。この規(guī)格は,電子及び電気機器用コネクタの品質評価手順に注記この規(guī)格の対応國際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC62197-1:2006,Connectorsforelectronicequipment-Qualityassessmentrequirements-Part1:Genericspecification(IDT)なお,対応の程度を表す記號“IDT”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“一致している”この規(guī)格は,コネクタの検査に関する用語,定義,記號,試験方法及び情報を含むか,又はこれらに対骸當する場合は,IECGuide102:1996[Electroniccomponents-Specificationstructuresforqualiyassessmentこの規(guī)格と個別品質規(guī)格との間に相違がある場合,個別品質規(guī)1.2.1品種別品質通則適用する場合,品質評価手順には,その品種に適用可能な全ての試験方法及び試験手順,並びに厳しさ及び特性の推奬値を含んでいなければならない。該當する場合,品質評価の內(nèi)容は,この規(guī)格及び個別製品規(guī)格による。この規(guī)格と個別品質規(guī)格との間に相違がある場合,個別品質規(guī)格を優(yōu)先する。ブランク個別品質規(guī)格には,用いる様式及び規(guī)定する事項を記載して,適切な個別品質規(guī)格の作成指針2C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)タイプの品質を評価するために必要かつ十分であり,管理のために完全かつ十分と考えられる技術基準のに必要な全ての情報を直接規(guī)定するか,又は他の規(guī)格を引用する。品質を評価するために必要かつ十分であり,管理のために完全かつ十分と考えられる技術基準の選択肢をの引用規(guī)格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西層年の付記がない引用規(guī)格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。JISC5401-1:2015電子機器用コネクター製品要求事項一第1部:品目別通則注記対応國際規(guī)格:IEC61076-1:2006,Connectorsforelectronicequipment—Productrequirements-Part1:Genericspecification(IDT)注記対応國際規(guī)格:IEC60512(allparts),Connectorsforelectronicequipment—Testsandmeasurements注記1対応國際規(guī)格:IEC60068-1:1988,Environmentaltesting-Part1:Generalandguidance(IDT)注記2…この規(guī)格の対応國際規(guī)格での引用は.1988.年版であるが.既に.2013.年版が発行されているたぬ,二の対応國際規(guī)格に対応した最新のSを探用した?！璊ISZ9015-1計數(shù)値検査に対する抜取検査手順一第1部:ロットごとの検査に対するAQL指標型抜取検査方式注記対応國際規(guī)格:ISO2859-1,Samplingproceduresforinspectionbyattributes-Part1:Samplingschemesindexedbyacceptancequalitylimit(AQL)forlot-by-lotinspectionIEC60050-581:1978,InternationalElectrotechnicalVocabulary(IEV)-Part581:ElectromechanicalcomponentsforelectronicequipmentIECQC001002-2:2004,IECQualityAssessmentSystemforElectronicComponents(IECQ)—RulesofProcedure—Part2:DocumentationIECQC001002-3:2005,IECQualityAssessmentSystemforElectronicComponents(IECQ)—RulesofProcedure-Part3:ApprovalproceduresIECQC210000:1995,TechnologyApprovalSchedules—RequirementsundertheIECQQualityAssessmentSystemforElectronicComponents著作権法により無斷での複製,転裁等は禁止されております。3C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)動作環(huán)境などの性能特性の詳細は,JISC5401-1の1.4(性能特性)による。一特性電気的特性及び機械的特性の詳細は,JISC5401-1の1.4.3(電気的特性)及び1.4.4(機械的特一互換性互換性の詳細は,JISC5401-1の1.4.5(互換性)による。2技術情報2.1用語及び定義2.1.1工程(process)製品又はサービスに施されたアウトプットを実現(xiàn)するために相互に作用する人,裝置,材料,方法及び環(huán)境の組合せ。注記工程の運営管理に用いる重要な手段は,統(tǒng)計的工程管理である。2.1.2特性(characteritic)注記1工程特性は,例えば,溫度又はサイクル時間である。注記2重要な特性が目標値から大きく外れないように,工程への措置を講じる必要がある。2.1.3工程の最も生産的な操業(yè)に起因し,監(jiān)視される特性値。2.1.4管理図(controlchart)工程の特性から集めた統(tǒng)計量のプロット値,中心線及び1本又は2本の管理限界線で構成する図式表示。注記二つの基本的な利用法は,工程が統(tǒng)計的管理の下で運用していることを判定するとき及び統(tǒng)計2.1.5範囲(range)特性の最大値と最小値との差。注記この用語は,測定値の母集団內(nèi)のばらつきの尺度である。2.1.6規(guī)格限界値と工程能力との関係を表す尺度。注記!…工程能力指數(shù)は,初期(Cy及びCnk),生産前(Pp及びPpk)及び量産段階(Cp及びCpk)注記2この規(guī)格では,Cp及びCpkの工程能力指數(shù)だけを考慮する。4C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)2.1.7偶然原因(commoncauses)経時的に安定して繰り返し性のある分布をもつ,工程內(nèi)の多くの変動要因(例えば,抜き型の摩耗)。注記変動の偶然原因だけが存在し,その偶然原因が変化しない場合,工程のアウトプットは,予測可能である。工程能力は,偶然原因による変動によって求められる。2.1.8工程に常に作用しない何らかの変動要因。注記!.…変動要因は斷続的であり,多くの場合,予測できず不安定である。変動要因が生じるとき,工程全體の分布が変化する。例えば,原材料の変更。注記2変動の異常原因が存在する場合,工程のアウトプットは,経時的に不安定である。弊害をもたらす場合は,原因を特定して取り除く必要がある。有益である場合も,それを特定してエ程の一部とする必要がある。2.1.9工程広がり(processspread)工程特性の個々の値の分布が変動する範囲。注記工程の平均に標準偏差(o)の倍數(shù)を加算又は減算して示すことが多い。2.2水準の體系性能水準は,コネクタを試験する環(huán)境及び機械的ストレスの群分けを示し,並びに電気的特性の長期安定性のような特徴も示す。これらの水準には,番號を付與し,通常最も小さい番號(1)が最高の性能を示す。2.2.2互換性水準互換性は,異なる製造業(yè)者のコネクタの互換性を,標準化の程度に応じて,JISC5401-1の(水準1一取付けの互換性),(水準2一結合の互換性),(水準3一結合及び取付けの互換性)及び(水準4一性能の互換性)による四つの水準に分類する。異なる互換性水準のコネクタ同士を結合する場合は,下位の水準を優(yōu)先する。2.3統(tǒng)計的工程管理[SPC(StatisticalProcessContol)]継続的な品質改善並びに優(yōu)れた製造及び生産管理の達成は,全ての製造業(yè)者が目指している総合的品質理念の本質である。優(yōu)れた目標を達成するための主要な手段の一つは,統(tǒng)計的工程管理手法の適用である。統(tǒng)計的手法は,重要な工程特性及びそれらの変動性を決定することを可能にし,変動性を低減するための措置を講じることを可能にする(不良検知に代わる未然防止の戦略)。SPCは,不良予防に第一の焦點を合わせる継続的工程改善の経営理念を包含する。経営陣は,人材に責任及び権限を與え,SPCシステムを導入し,維持するために十分なリソースを提供する。SPCシステムは,この細分簡條は,用いるSPC手法の一般的な概要だけを示している。5C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)2.4出荷不適合値のppm評価生産技術の向上は,コネクタなどの部品の品質改善をもたらしている。このため,百分率による不適合品の平均品質水準は,百萬分率(以下,ppmという。)に置き換える必要がある。部品に対するppmでの不適合水準の推定は,次式で算出する。表1に,その例を示す。ここに,D:ppm不適合水準u:不適合品數(shù)n:検査した製品の総數(shù)表1ー不適合水準の代表値不適合品數(shù)(個)検查試料數(shù)(個)1.5×10?2×10?2.5×10?不適合水準：ppm04728185682270337024744703132355570380285228例不適合水準の計算例不適合品數(shù)：0ppmに対する不適合の対象には,機能的欠陥,電気的不適合,外観及び機械的欠陥を含む。例えば,次の事象が點る?！瓩C械的欠陥:コネクタの結合機構の欠陥注記この細分簡條の全ての方程式に係數(shù)0.7が含まれているが,これは電子機構部品分野でのppm不適合水準の算出における業(yè)界の実質的経験に十分な安全率を加味して設定している。2.5工程能力工程能力は,偶然原因から生じる変動によって決定される。一般に,工程能力は,工程自體の最高性能全ての工程は,工程能力及び工程管理に基づき分類される。工程は,次の四つの場合のいずれかに分類が可能である.(表2.參照)。ーケース2は,工程は管理されているが,低減する偶然原因に過度の変動がある。6C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)ーケース3は,要求事項を満たす能力は得られるが,管理されていない。変動の異常原因を特定して対応する。ーケース4は,工程は管理されておらず,受け入れることが不可能である。偶然原因及び異常原因の変動は低減しなければならない。表2-工程能力の事例XNNXN N記號の説明2.6Cp及びCpkの定義工程の測定指標の定義は,次による。C,:公差の範囲を工程広がりで除したしたものとして定義する工程能力指數(shù)であり,工程の中心値と合致しているかは無関係である。一般的に,次式で表す。Cpu:上側規(guī)格限界に対応した工程能力指數(shù)であり,上側の公差の広がりを実際の上側の工程広がりで除しCμ:下側規(guī)格限界に対応した工程能力指數(shù)であり,下側の公差の広がりを実際の下側の工程広がりで除し7C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)cn-cn-Ck:工程の平均值億対寸石偏nの度合

走説明寸石工程能力指數(shù)で南n,Cu又仗Cnの最小值匕Lて定義之札石。工程の平均值及述そ乙扒兮近

方の規(guī)格限界匕の間隔走,全體の工程依爐nの半分億関Lて表寸。一般的億,次式で表寸(詳細仗,附屬書A參照)。乙乙億,X:工程の平均值その他の定義仗,表2億X石。重要特性仗,十分億確認L,使用者及述製造業(yè)者の雙方億受忄入札兮札女忄札試女兮女

[表3及述表4,並述億囡A.1a),囡A.1b),囡A.1c),囡A.1d),及述囡A.1e)參照]。2.7Crk匕不適合(不良)品數(shù)との関係Cpk匕不適合(不良)品數(shù)匕の関係仗,表3走參照。表3-良品,不良品の関數(shù)匕LてのCpk值%02.8Cp及びCpkの代表的な最小値參Cp及TCPkの代表的女最小值仗,表4及述附屬書A走參●著作榷法億Xn無斷での複製,耘截等仗禁止之札て擴n支寸。8表4-代表的な最小值Ck>133工程平均は規(guī)格限界に近づ工程能力は規(guī)格限界を外れ×。著作権法により無斷での複製,転載等は禁止されております。9著作権法により無斷での複製,転載等は禁止されております。C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)一試験計畫適切な數(shù)量だけでなく,検査水準及び合格品質限界(AQL)は,該當する場合,関連する個別品質規(guī)格3.2品質認証(QA,Qualification3.3能力認証(CA,CapabilityApproval)3.4技術認証(TA,Technology技術プロセス全體(例えば,設計,工程実現(xiàn),製品の生産,試験及び出荷)を包含する。C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)4試験及び試験計畫全ての試験は,適用可能な場合JISC5402規(guī)格群に従って行う。品種別製品通則は,試験手順及び各試験手順の試料數(shù)(4個以上)を示す。個別製品規(guī)格は,品種別通則に規(guī)定する試験手順から試験を選択し,試料數(shù)を規(guī)定する。個別の類似品は,特定の條件について認証を得るために形式認証を受けてもよい。認証が必要な類似品の全範囲から代表を選択して試験する個數(shù)を制限することは,許容する(個別製品コネクタは,現(xiàn)在の優(yōu)れた実踐手法に合致した最良の方法で製造する。関連する規(guī)格(例えば,JISC5402規(guī)格群)で規(guī)定する試験方法を推凝するが,必ずしも用いることができる唯一の方法ではない。ただし,疑義が生じる場合,個別製品規(guī)格に規(guī)定する方法を判定方法として用いる。個別製品規(guī)格に規(guī)定がない場合,全ての試験は,JISC60068-1の.4.3(測定及び試験に用いる標準大気條件)に規(guī)定する試験の標準大気條件で行う。試料の配線が必要な場合,個別製品規(guī)格は,選択した試験を行うために十分な情報を含んでいなければ試験で試料の取付けを必要とする場合,コネクタは,金屬板,プリント配線板,又は規(guī)定するアクセサ該當する場合,個別品質規(guī)格は,次の要素を含んでいなければならない。a)品質認証試験必要とする試験計畫表,試料の最小數(shù)及び許容される不適合品の最大數(shù)は,要求する選択した試験手順及び定期試験は,指針であり,個別品質規(guī)格に要求のある評価水準によって変更してC62197-1:2020(IEC62197-1:2006)附屬書A工程の測定指標に関寸石詳細情報及述憲踐的數(shù)值1)A.1一般事項図A.1の例では,6シグマ(6σ)=4及び設計公差E=USL-LSL=18-10=8という値である。工程の評価は,Cp,Ck並びにCu及びCmの指數(shù)を全て含めることが望ましい。Cxだけの考え方は,工程の品質,ガウス統(tǒng)計分布の平均値及び広がりを記述するが,上側規(guī)格限界(USL)及び下側規(guī)格限界(LSL)の間に公差範囲を與えない。工程は,一般的に次の分類が當てはまる。一低い工程能力指數(shù)(Ck<1)不十分な工程能力一中程度の工程能力指數(shù)(1≤Ck≤1.33)厳しい工程能力一高い工程能力指數(shù)(Cpg>1.33)良好な工程能力NXCpCpuCpLCpK22.5X2XCpXCpCpuCpLCpK22.5NC62197-1:2020(IEC62197-1:2006)LSLNXCpCpuCpLCpK2LSLNLSLNXCpCpuCpLCpk20.50.5図A.1ー工程能力指數(shù)の実踐的數(shù)値(続き)注n參照文獻GünterKirschling-Qualit?tssicherungundToleranzen.(品質保誣及述公差)●著作権法により無斷での複製,転截等は禁止されております?！馛62197-1:2020(IEC62197-1:2006)附屬書B品質評価手順B.1一般事項IEC電子部品品質認証制度(IECQ-CECC)は,品質への高い信頼性をもって使用者が電子部品をコスト効率よく調達するための手段である。電子部品の使用者は,自らの要求事項及び仕様書に合う製品を選この認証制度は,製造工程の関連サービス及び最終製品において,明確かつ重要視される信頼性水準を確立し,評価,販売業(yè)者の格付け及び監(jiān)査に使用者が費やす労力を節(jié)約する。この認証制度は,IEC規(guī)格又はその他の受け入れ可能な規(guī)格に従って承認されている部品が,継続して製造業(yè)者のニーズを満たすために発展している認証方法が含まれており,最新の原則及び技術を品質管理に取り入れている。統(tǒng)計的手法及び手段を利用するための継続的改善及び手順の柔軟性を提供する。IECQ-CECCでは,品質認証,能力認証及び技術認証を含む様々な手法が利用可能である。B.2.1一般品質認証の認可を得る前提條件は,製造業(yè)者がIECQC001002-3の2.3(製造業(yè)者,販売業(yè)者又は専門簡條3を參照。詳細は,3.1及びIECQC001002-3の5.1(定義)を參照。附屬書Bは,JISC5401-1及びこの規(guī)格に規(guī)定するコネク夕及び品質評価の要求事項に適合するためにB.2.4品質評価手順詳細は,簡條3を參照。著作権法により無斷での複製,転截等は禁止されております。C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)B.2.5組織認証組織認証は,自身の組織で生産し,自身の手でそれぞれ保管,配送及び供給する,コネクタ及びその部品の認証を得るためにIECQ-CECCの下で認証された製造業(yè)者になることを希望する製造業(yè)者,販売B.2.6.1一般品質認証は,単一のコネクタ又は個別規(guī)格が存在する細かな機構だけ異なるコネクタの範囲で,それらB.2.6.2品質認証の手順詳細は,IECQC001002-3の4.3(出荷)を參照。B.2.6.4品質確認検査B.一般個別製品規(guī)格は,実施しなければならない試験について規(guī)定する。ュネクタの品質確認検査及び定期試験の要求事項は,個別品質規(guī)格に規(guī)定するか又は他の規(guī)格を引用すB.定期試験個別品質規(guī)格に規(guī)定のない場合,定期試験は,IECQC001002-3の(定期的試験)によって行う。B.破壊試験破壊試験の詳細は,IECQC001002-3の(破壊試験)を參照。B.拔取検查方式個別品質規(guī)格で要求する場合,製造業(yè)者が検査の最終段階において個別品質規(guī)格の要求事項を満たす能B.2.6.6不適合水準電子産業(yè)及びその生産技術の進化は,コネクタ及びコネクタ部品の數(shù)量を増加させ,これによって生産●C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)詳細は,IECQC001002-3の3.1.7(QAのB.3能力認証詳細は,簡條3を參照。B.3.3関連規(guī)格詳細は,簡條3を參照。B.3.5組織認証組織認証は,自身の組織で生産し,自身の手でそれぞれ保管,配送及び供給する,コネクタ及びその部C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)B.3.6.5統(tǒng)計的工程管理(SPC)B.拔取検查方式C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)技術認証スケジュール(TAS)に定義されている工程管理方法[例えば,統(tǒng)計的工程管理(SPC)]並一総合的な技術並びにコネクタの設計,製造及び関連する製造工程に関する業(yè)務のモニタリング。一迅速な認証又は認証の拡張を提供するための製造業(yè)者の作業(yè)文書の受理。技術認証を得るための前提條件は,製造業(yè)者がIECQC001002-3の2.3に従って製造業(yè)者の認証を詳細は,IECQC001002-3の6.1(定義)を參照。B.4.4品質評価手順詳細は,簡條3を參照。B.4.5組織認証組織認証は,自身の組織で生産し,自身の手でそれぞれ保管,配送及び供給する,コネク夕及びその部又は請負業(yè)者の認証の水準である。詳細は,IB.4.6.1一般技術認証手順は,製造業(yè)者があるコネクタの生産について認証取得を検討しており,認証側面を含む必要な全ての技術プロセス(設計,工程実現(xiàn),製品製造,試験,工程管理を含む管理方法及び出荷)を自身B.4.6.2技術認証計畫技術認証計畫は,製造業(yè)者の技術認証の下で実証し維持すべき最小限の宣言,技術的要求事項及び管理詳細は,IECQC001002-3の6.2(一般的施行)を參照。TAの対象となる製造業(yè)者組織の要素(場所,稼働及び生産品)について明確な記述を提供することである。詳細は,IECQC001002-3の6.4.1(TADD)及び6.4.2(TADDの要求事項)を參照。著作権法により無斷での複製,転救等は禁止されております。B.4.6.6技術及び製造工程の記述。B.製造工程の主要特性ばならない。コネクタ製造業(yè)者は,組立,試験,出荷,取扱い及び保管,修理,並びに再加工といったエ及び主要工程の特性を示す細分簡條を含まなければならない。參考文獻IEC.Guide.102:1996.…Electronic…components一Specification.stru(IEC62197-1:2006)解説電子機器用コネクタの品目別通則に関する規(guī)格の変遷IEC61076-1(Connectorsforelectronicequipment-Productrequirements-Part1:Genericspecification)に基づいて,JISC5401(電子機器用コネク夕通則)が,1968年に制定された。forelectronicequipment-Productrequirements—Part1:Genericspecification)と品質評価に関する要求事項はIEC62197-1:2006(Connectorsforelectronicequipment—Qualityassessmentrequirements—Part1:Genericspecification)とに分割された。IEC61076-1:2006に基づく,JISC5401-1:2015(電子機器用コネク夕一製品要求事項一第1部:品目別通則)が改正され,その結果,JISC5401が廃止された。この規(guī)格は,IEC62197-1:2006を基に,JISC62197-1(電子機器用これによって,品種別通則一般事項を規(guī)定するJISC5401-1及び品質評価に関する要求事項を規(guī)定2制定の経緯対応國際規(guī)格IEC62197-1が2006年(平成18年)発行されており,一般社団法人電子情報技術産業(yè)協(xié)會(JEITA)が,JEITA電子部品及び実裝分野IS原案作成委員會及び分科會を組織しJIS原案を作成した。a)品種別品質通則(1.2.1)1.2.1の題名が,対応國際規(guī)格IEC62197-1の“DetailQualitySpecifications著作権法により無斷での複製,転截等は禁止されております。20著作権法により無斷での複製,転賊等は禁止されております。C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)解説品種別通則一JISC5401-2品種別通則一JISC5401-3品種別通則一JISC5401-4電子機器用コネクター製品要求事項-JISC5401-1規(guī)定事項:製品要求事項性能特性,技術情報,寸法情報,試験及び試験計畫品質要求事項電子機器用コネクター品質要求事項-JISC62197-1規(guī)定事項:技術情報,品質評価手順,試験及び試験計畫附屬書B:品質評価手順規(guī)定事項:品質認証(B.2),能力認証(B.3),技術認証(B.4)品種別品質通則品種別品質通則は存在せず,必要な事項は,JISC62197-1の附屬書Bに規(guī)定する。c)引用規(guī)格(1.3)注記追記及び削除した事項は,次のとおりである。1)JISC60068-1の引用について,この規(guī)格の対応國際規(guī)格IEC62197-1では,IEC60068-1:1988を引用しているが,この規(guī)格の試験手順及び測定方法(4.1.1)では,JISC60068-1の最新版に基づいた細分簡條を引用した。このため,引用規(guī)格(1.3)に次の注記2を設けた?！白⒂?この規(guī)格の対応國際規(guī)格での引用は1988年版であるが,既に,2013年版が発行されているため,この対応國際規(guī)格に対応した最新のJISを採用した?！?)JISZ9015-1の引用について,この規(guī)格の対応國際規(guī)格IEC62197-1では,試料のサンプリングに最新のJISZ9015-1では,ISO2859-1を基にしている実態(tài)がある。しかも,この規(guī)格で引用する簡所の規(guī)定內(nèi)容は,IEC60410とISO2859-1の両方とも同じであるため,IEC60410を削除した。d)対応國際規(guī)格IEC62197-1では,用語及び定義(2.1)にIEC62225:2001,Guidanceontermsforconnectorsandmechanicalstructuresinelectronicequipmentを引用しているが,IEC62225が魔止規(guī)格であること及びIEC62225の引用がなくとも用語の理解に支障のないことから,この規(guī)格の用語及び定義(2.1)か著作権法により無斷での複製,転賊等は禁止されております。21C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)解説兮引用走削除L憶。f)工程能力(2.5)の表2(工程能力の事例)対応國際規(guī)格IEC62197-1で仗,工程の平均值走示寸記號億“P”爐用い兮札て,憶。乙の規(guī)格億仗,工程の平均值走説明L憶簡條爐幾→扒南n,不統(tǒng)一でg)附屬書A(工程の測定指標億関寸石群細情報及述害踐的數(shù)值)対応國際規(guī)格IEC62197-1で仗,各攵の細分囡億題名爐女,狀態(tài)で南→憶。審議の結果,各攵の細部囡億下線付寺で題名走付與L憶。4その他の解説事項委員會で議題億上爐→憶主女事項走,次億示寸。a)対応國際規(guī)格で仗麂止之札憶IECQCの3規(guī)格爐記載之札て,石爐,乙の規(guī)格で記載寸八寺扒檢討L憶。審議の結果,該當寸石IECQCの規(guī)格群走引用規(guī)格億記載L,そ札兮のIECQCの規(guī)格億仗,注記走設忄,麂止規(guī)格で南石乙匕及述IECの木ー△尺ー汐上扒兮閱覽可能で南石乙匕走記載L憶。b)工程能力(2.5)の表2(工程能力の事例)億擴,て,対応國際規(guī)格IEC62197-1で仗,測定值の試兮→寺走示寸記號億“σ”爐用,兮札て,憶。支憶,乙の規(guī)格の他の簡條で仗,標準偏差の記號匕Lて“c”走用,て,石乙匕扒兮,審議の結果,記號匕Lて重複寸石乙匕でJISの利用者爐混亂寸石乙匕走防止寸石憶的億,表2の中で用,石記號σ匕甘壙億“測定值試兮→寺”匕意訊L表記L憶。c)參考文獻億記載のIECGuide102仗,対応國際規(guī)格の引用規(guī)格の簡所億記載之札て,憶爐,既億麂止之札て,石。憶愷L,乙の規(guī)格の記載內(nèi)容走理解寸石上で參考情報億女石古ので南石。審議の結果,年號走付忄て引用規(guī)格欄扒兮參考文獻億移L憶。1Scope(適用範圈)3Generalconsiderationsrelatingtoqualityassessmentsystemsforelectroniccomponents(電子部品の憶的の品質認誣Y又亍△億関寸石一般的女考慮事項)4Contentsofspecifications(仕様書の構成)6Examplesofpossiblespecificationstructures(可能女仕様書構成の例)平成30年度電子部品及述害裝分野JIS原案作成委員會構成表走,次億示寸。●著作榷法億Xn無斷での複製,耘截等仗禁止之札て擴n支寸。著作権法により無斷での復製,転載等は禁止されております。22C62197-1:2020(IEC62197-1:2006)解説電子部品及び実裝分野JIS原案作成委員會構成表杉尾杉尾成新朝岡小小山大根佐齋中村谷岡山平高O垣垣小玉趣矢西村池反杉氏名