2025年高職通信（光纖熔接技術）試題及答案

（考試時間：90分鐘滿分100分）班級______姓名______第I卷（選擇題共40分）答題要求：本大題共20小題，每小題2分，共40分。在每小題給出的四個選項中，只有一項是符合題目要求的。1.光纖熔接技術中，決定光纖傳輸特性的主要因素是A.光纖的材質B.光纖的制造工藝C.光纖的幾何尺寸D.光纖的折射率分布2.單模光纖的特點是A.芯徑大，可傳多種模式B.芯徑小，只能傳一種模式C.傳輸容量小D.色散大3.在光纖熔接過程中，清潔光纖表面的目的是A.使光纖外觀更美觀B.防止灰塵進入熔接機C.確保熔接損耗最小D.便于觀察光纖4.光纖熔接機的電極壽命與以下哪個因素關系最大A.熔接次數B.熔接時間C.環(huán)境溫度D.光纖類型5.熔接損耗的主要來源不包括A.光纖本征損耗B.熔接處的損耗C.光纖彎曲損耗D.光纖拉伸損耗6.以下哪種光纖熔接方式適用于緊急搶修A.熱熔接B.冷接C.機械連接D.混合連接7.熔接損耗的測量方法中，精度最高的是A.剪斷法B.后向散射法C.插入損耗法D.OTDR法8.光纖的數值孔徑反映了光纖的A.抗彎曲能力B.抗拉伸能力C.集光能力D.傳輸速度9.熔接前對光纖進行端面處理時，切割長度一般為A.5-10mmB.10-16mmC.16-20mmD.20-25mm10.光纖熔接機的熔接模式設置主要依據A.光纖的顏色B.光纖的型號C.熔接損耗要求D.操作人員的習慣11.多模光纖的傳輸距離一般比單模光纖A.長B.短C.一樣D.不確定12.熔接過程中，放電時間過長會導致A.熔接損耗減小B.光纖碳化C.熔接損耗增大D.電極壽命延長13.光纖的拉伸強度主要取決于A.光纖的芯徑B.光纖的包層C.光纖材料的分子結構D.光纖的長度14.以下哪種情況可能導致熔接損耗增大A.光纖端面平整B.熔接機放電參數合適C.光纖清潔良好D.光纖放置位置不正15.熔接完成后，需要對熔接處進行A.打磨B.拋光C.清潔D.加熱16.光纖熔接技術中，影響熔接損耗的外部因素不包括A.環(huán)境濕度B.環(huán)境溫度C.光纖的彎曲半徑D.光纖的制造工藝17.單模光纖的截止波長是指A.光纖開始傳多模的波長B.光纖開始傳單模的波長C.光纖停止傳光的波長D.光纖傳輸損耗最小對應的波長18.熔接損耗的單位通常是A.dBB.dBmC.WD.m19.光纖熔接機的放電電流大小會影響A.熔接損耗和熔接時間B.光纖類型C.熔接環(huán)境D.光纖的顏色20.以下哪種光纖適合長距離大容量傳輸A.多模光纖B.單模光纖C.塑料光纖D.階躍型光纖第II卷（非選擇題共60分）（一）填空題（共10分）答題要求：本大題共5小題，每小題2分，共10分。請將正確答案填寫在題中的橫線上。21.光纖熔接技術主要包括光纖的清潔、______、熔接和______等步驟。22.光纖的損耗主要包括吸收損耗、散射損耗和______損耗。23.熔接損耗的計算方法主要有剪斷法、______和______。24.光纖熔接機的主要組成部分包括______、______、放電電極和監(jiān)測系統(tǒng)等。25.單模光纖的模場直徑一般在______μm左右。（二）簡答題（共20分）答題要求：本大題共4小題，每小題5分，共20分。簡要回答問題。26.簡述光纖熔接前需要進行哪些準備工作。27.說明熔接損耗產生的原因。28.如何選擇合適的光纖熔接模式？29.簡述熔接后如何對熔接處進行質量檢查。（三）計算題（共10分）答題要求：本大題共1小題，共10分。解答應寫出必要的文字說明、計算過程和答案。30.已知某光纖熔接處的熔接損耗為0.5dB，若該光纖傳輸光信號的功率為1mW，求經過熔接處后光信號的功率。（四）材料分析題（共10分）答題要求：本大題共2小題，每小題5分，共10分。閱讀材料，回答問題。材料：在一次光纖熔接工程中發(fā)現(xiàn)，熔接后的光纖傳輸信號出現(xiàn)衰減異常。經過檢查，發(fā)現(xiàn)熔接處有明顯的碳化現(xiàn)象，且熔接損耗較大。進一步分析發(fā)現(xiàn)，熔接時放電時間過長，導致光纖局部過熱。31.請分析熔接時放電時間過長對光纖造成了哪些影響？32.針對此次熔接問題，提出改進措施。（五）綜合應用題（共1題，共10分）答題要求：本大題共1小題，共10分。結合所學知識，解決實際問題。33.某通信線路需要熔接一段單模光纖，已知光纖的型號為G.652，要求熔接損耗不超過0.3dB。請設計一個熔接方案，包括熔接前的準備、熔接過程中的操作要點以及熔接后的檢查內容。答案：1.D2.B3.C4.A5.D6.B7.A8.C9.B10.B11.B12.B13.C14.D15.C16.D17.B18.A19.A20.B21.端面處理、損耗監(jiān)測22.彎曲23.插入損耗法、后向散射法24.熔接腔、加熱模塊25.926.準備工作包括清潔光纖表面，去除灰塵、油污等雜質；準備好合適的熔接機及相應工具；對光纖進行端面切割，保證切割長度合適且端面平整；根據光纖型號設置好熔接機的參數。27.熔接損耗產生的原因有光纖本征損耗，如材料吸收、散射等；熔接處損耗，包括端面不平整、熔接參數不合適等；外界因素影響，如環(huán)境溫度、濕度變化，光纖彎曲等。28.根據光纖的型號、熔接損耗要求以及熔接環(huán)境等因素選擇合適的熔接模式。一般來說，對于要求較高的熔接，選擇自動優(yōu)化模式；對于緊急搶修等情況，可選擇快速熔接模式，但要注意保證一定的熔接質量。29.熔接后對熔接處進行質量檢查，可通過觀察熔接處外觀是否正常，有無碳化、氣泡等；用熔接損耗測試儀測量熔接損耗，看是否符合要求；還可通過后向散射法觀察熔接處及附近光纖的損耗情況，判斷熔接質量。30.根據熔接損耗計算公式：熔接損耗（dB）=10lg（輸入功率/輸出功率），已知熔接損耗為0.5dB，輸入功率為1mW，可得0.5=10lg（1/輸出功率），lg（1/輸出功率）=0.05，1/輸出功率=10^0.05，輸出功率=1/1.122≈0.89mW。31.放電時間過長導致光纖局部過熱，造成熔接處有明顯的碳化現(xiàn)象，使光纖的結構和性能發(fā)生改變，從而導致熔接損耗增大，影響光纖傳輸信號的衰減，出現(xiàn)衰減異常。32.改進措施包括嚴格控制熔接時的放電時間，按照熔接機的操作規(guī)范和光纖型號設置合適的放電參數；在熔接過程中加強監(jiān)測，及時發(fā)現(xiàn)異常情況并調整；熔接前對光纖進行更充分的清潔和檢查，確保光纖狀態(tài)良好。3