B3502:2011序文 11一般事項 11.1適用範(fàn)囲 11.2この規(guī)格への適合性 2 32形式試験 62.1EUT[equipmentundertest(供試品)] 6 82.3耐力試験 92.4検証手順 92.5製造業(yè)者が用意する試験プログラム及び正規(guī)の機(jī)能検証手順[properfunctioningverificationprocedures(PFVP)]に関する要求事項 92.6試験に関する一般事項 93用語及び定義 4通常の稼動條件及び要求事項 4.1環(huán)境條件及び要求事項 4.2機(jī)械的な稼動條件及び要求事項 4.3輸送及び保管條件並びに要求事項 4.4電気的稼動條件及び要求事項 204.5特殊稼動條件及び要求事項 205機(jī)能に関する要求事項 215.1電源供給及びメモリバックアップ機(jī)能に関する要求事項 225.2デジタル入出力 235.3アナログ入出力 5.4通信インタフェースの要求事項 325.5PLCシステムの主処理裝置及びメモリの要求事項 5.6リモートI/O(RIOS)の要求事項 5.7周辺裝置(PADT,TE及びHMI)の要求事項 335.8PLCシステムの自己試験及び診斷の要求事項 335.9機(jī)能接地 345.10據(jù)付けに関する要求事項 345.11表示への一般要求事項 345.12通常稼動及び機(jī)能に関する形式試験及び検証に関する要求事項 355.13通常稼動及び機(jī)能に関する情報の要求事項 356通常稼動及び機(jī)能に関する形式試験及び検証 356.1耐候性試験 356.2(內(nèi)容を考慮して6.1に含めたため,削除) 376.3機(jī)械的試験 6.4電源端子及びメモリバックアップヘの特殊機(jī)能要求仕様の検証一電源端子の特殊イミュニテイ限界 6.5入出力特性の検証 446.6通信インタフェース要求事項の検証 476.7主処理裝置(MPU)の特性の検証 476.8リモート入出力局の検証 476.9周辺裝置(PADT,TE及びHMI)の特性の検証 486.10PLCシステムの自己診斷機(jī)能の検証 486.11表示及び製造業(yè)者ドキュメントの検証 487製造業(yè)者の提供情報 487.1文書情報の種類及び內(nèi)容 487.2この規(guī)格に対する適合性に関する情報 487.3信頼性に関する情報 497.4その他の條件での情報 497.5出荷及び保管に関する情報 497.6AC及びDC電源に関する情報 497.7デジタル入力に関する情報 497.8デジタル交流出力に関する情報 7.9デジタル直流出力に関する情報 7.10アナログ入カに関する情報 507.11アナログ出力に関する情報 527.12通信インタフェースに関する情報 7.13PLCシステムのMPU及びメモリに関する情報 537.14リモート入出力に関する情報 537.15周辺裝置(PADT,TE及びHMI)に関する情報 7.16自己診斷に関する情報 548電磁両立性(EMC)に関する要求事項 548.1一般 8.2エミッションに関する要求事項 8.3EMCイミュニティに関する要求事項 558.4EMCの試験及び検証に関する要求事項 618.5EMCに関する情報についての要求事項 619電磁両立性(EMC)形式試験及び検証 619.1電磁両立性関連試験 619.2試験環(huán)境 9.3放射妨害の測定 629.4伝導(dǎo)妨害の測定 629.5靜電気放電 639.6放射無線周波電磁界一振幅変調(diào) 9.7電源周波數(shù)磁界 9.8ファストトランジェント·バースト 64 659.10無線周波電磁界伝導(dǎo)妨害 9.11滅衰振動波(ゾーンCだけ対象) 9.12電圧デイップ及び瞬時停電 6710製造業(yè)者が提示しなければならない電磁両立性(EMC)に関する提供情報 6711安全要求事項 6711.1裝置タイプ及び保護(hù) 6711.2感電に対する保護(hù) 6911.3延焼に対する保護(hù) 7311.4空間距離及び沿面距離への要求事項 7411.5非金屬材料の難燃性に対する要求事項 11.6溫度限界 11.8操作者が接觸可能な危険充電狀態(tài)になる現(xiàn)場配線端子構(gòu)造上の要求事項 11.9保護(hù)接地に関する條項 11.11スイッチング機(jī)器 11.12安全要求に関係する構(gòu)成要素 11.13電池への要求事項 11.14最大及び最小電圧 11.15表示及び識別 11.16安全性に対する形式試験及び検証への要求事項 11.17安全性に対する定常試験及び検証への要求事項 11.18安全性の情報に関する要求事項 8612安全性形式試験及び検証 8712.1安全性関連機(jī)械的試験及び検証 8712.2安全性関連電気試験 8912.3単一故障狀態(tài)試験 9312.4電力制限回路試験 9413安全定常試験 9513.1絶緑耐力試験 9513.2絶緑耐力検証試験 9513.3保護(hù)接地試験 9514製造業(yè)者による安全性に関する情報 96(4)ページ14.1開放形裝置のきょう體についての評価情報(消費電力) 9614.2端子接続の構(gòu)造に関する情報 96附屬書A(參考)PLCシステムのハードウェア定義図 97附屬書B(參考)デジタル入力の標(biāo)準(zhǔn)動作範(fàn)囲の計算式 98附屬書C(規(guī)定)試験ツール 99附屬書D(參考)ゾーンCにおけるEMCイミュニティレベル 附屬書E(參考)過電圧の例 附屬書JA(參考)JISと対応國際規(guī)格との対比表 B3502:2011この規(guī)格は,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第14條によって準(zhǔn)用する第12條第1項の規(guī)定に基づき,社団法人日本電機(jī)工業(yè)會(JEMA)から,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案を具して日本工業(yè)規(guī)格を改正すべきとの申出があり,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會の審議を経て,経済産業(yè)大臣が改正した日本工業(yè)規(guī)格である。これによって,JISB3502:2004は改正され,この規(guī)格に置き換えられた。この規(guī)格は,著作権法で保護(hù)対象となっている著作物である。この規(guī)格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵觸する可能性があることに注意を喚起する。経済産業(yè)大臣及び日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実川新案権に閃わる確認(rèn)について,真任はもたない。裝置への要求事項及び試験Programmablecontrollers—Equipmentrequirementsandtests序文この規(guī)格は,2007年に第3版として発行されたIEC61131-2を其に作成した日本工栄規(guī)格であるが,技術(shù)的內(nèi)容を変更して作成した日本工業(yè)規(guī)格である。なお,この規(guī)格で側(cè)線又は點線の下線を施してある簡所は,対応國際規(guī)格を変更している事項である。(HMI)]などの要求事項及び試験について規(guī)定する。PLC及び関連周辺裝置は,工業(yè)環(huán)境下で用いるこPLC及び関連周辺裝置を工業(yè)環(huán)境下以外(軽工業(yè),商業(yè)及び住宅地域)で用いる場合には,用いる環(huán)境この規(guī)格で対象とする裝置は,裝置電源の定格電圧がAC1000V(実効値)(50注Zれ5の一速の規(guī)格上は,JISB3501.JISB3502.JISB3503.IEC/TR61131-4.IEC61131-5.2B3502:2011IEC61131-7及IEC/TR61131-8左。a)PLC及圓述周辺裝置の進(jìn)定及び適用に圓跡する定我の確立及び主な特性の明確化。b)PLC及び関連周辺裝置に適用する機(jī)能特性,電気的特性,機(jī)械的特性,環(huán)境特性,構(gòu)造特性,稼動條件,安全性,EMC,使用者のプログラム作成及び試験に関して最小限の要求事項を規(guī)定。この規(guī)格では,次の事項についても規(guī)定する。一PLC及び関連周辺裝置に対して,稼動,保管及び輸送に関する要求事項(簡條4)。一PLC及び関連周辺裝置に対して,機(jī)能に関する要求事項(簡條5)。一PLC及び関連周辺裝置に対して,EMCに関する要求事項(簡條8)。一PLC及び関連周辺裝置に対して,安全性に関する要求事項(簡條11)。一製造業(yè)者の提供情報(簡條7,簡條10及び簡條14)。一PLC及び関連周辺裝置が,要求事項に適合しているかどうかを検証するために用いる試験方法及び手順(簡條6,簡條9及び簡條12)。一PLC及び周辺裝置に対する安全定常試験(簡條13)。試験とは,形式試験又は製造定常試験であって,PLCシステムの適用方法に関する試験ではない。1.2この規(guī)格への適合性この規(guī)格に対する適合性を制限なしで明記する場合は,この規(guī)格で要求している全ての試験及び検証をを必要としない場合,又は実用上の理由によって試験條件を制限している場合においても,この規(guī)格で明示している責(zé)任を製造業(yè)者は放棄できない。この規(guī)格のいずれかの一部に対する適合性を示す場合は,その要求條項に対してだけ適合していることを確かめてあればよい。ただし,製造業(yè)者の責(zé)任については,上記と同様に放棄できない。この規(guī)格に対する適合の取小單位は,簡條5の機(jī)能に閃する要求小頭,簡條8のEMCに則する要求小項又は簡條11のこの規(guī)格の一部分に対する適合性に関しては,特定の適合評価條件に関する労力を軽減するために,例えば,EU出磁両立性指令への適合條件としての簡條8,簡條9及び簡條10,又はEU低出圧指令への適合條件としての簡條11,簡條12,簡條13,簡條14などがある。構(gòu)造に関する要求事項及び製造業(yè)者が提供する情報に関する要求事項に対しての適合性は,適切な試験,試験及び検証の要求條項に従って試験していない全ての事項は,受渡當(dāng)事者間の協(xié)定に基づいた手順に請求があった場合,製造業(yè)者は,この規(guī)格の全て又は一部に対する適合性への要求事項全てに関する適合性検証情報を提供しなければならない。出荷したPLC及び関連周辺裝置が,この規(guī)格に従って形式試験したEUT(供試品)と同等であり,し重要な変更は,適切な版數(shù)表示及び識別(5.11及び11.15參照)の使用によって示し,この規(guī)格に適合注記1適合性を認(rèn)証するために,新規(guī)の形式試験を必要とする場合もある。製造業(yè)者は,幾つかの任意選択機(jī)能の中で選択できるものに関して,カタログ及びノ又はデータシートに,PLCシステム裝置のどの部分が対応しているかを明確に指定しなければならない。これは,瞬時停電の厳しさレベル(表7に基づくPS1又はPS2)及びデジタル入力のタイプ(3.12及び3.13に基づくタイプ3B3502:20111又はタイプ2)に適用する。注記2この規(guī)格の対応因際規(guī)格及びその対応の程度を表す記號を,次に示す。IEC61131-2:2007,Programmablecontrollers—Part2:Equipmentrequirementsandtests(MOD)なお,対応の程度を表す記號“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”の引用規(guī)格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補(bǔ)を含む。)は適用しない。西層年の付記がない引用規(guī)格は,その最新版(追補(bǔ)を含む。)を適用する。注記対応國際規(guī)格:IEC61131-1:2003,Programmablecontrollers—Part1:Generalinformation(IDT)JISC0365:2007感電保護(hù)一設(shè)備及び機(jī)器の共通事項注記対応國際規(guī)格:IEC61140:2001,Protectionagainstelectricshock—Commonaspectsforinstallationandequipment(IDT)注記対応國際規(guī)格:IEC60529:2001,Degrecsofprotectionprovidedbyenclosures(IPCode)(IDT)JISC1010-1:2005測定,制御及び研究室用電気機(jī)器の安全性一第1部:一般要求事項注記対応國際規(guī)格:IEC61010-1:2001,Safetyrequirementsforelectricalequipmentformeasurement,control,andlaboratoryuse—Part1:Generalrequirements(MOD)JISC1604測溫抵抗體JISC2134:2007固體絶緑材料の保証及び比較トラッキング指數(shù)の測定方法trackingindicesofsolidinsulatingmaterials(IDT)JISC.2812機(jī)器取付け用し一ルJISC6950-1:2009情服技術(shù)機(jī)器一安全性一第1部:一般要求項注記対応國際規(guī)格:IEC60950-1:2001,Informationtechnologyequipment—Safety—Part1:Generalrequirements(MOD)JISC8201-5-1:2007低圧開閉裝置及び制御裝置一第5部:制御回路機(jī)器及び開閉素子一第1節(jié):電気機(jī)械式制御回路機(jī)器注記対応國際規(guī)格:IEC60947-5-1:2003,Low-voltageswitchgearandcontrolgear—Part5-1:Controlcircuitdevicesandswitchingelements—Electromechanicalcontrolcircuitdevices(IDT)JISC8201-7-1:2010低圧開閉裝置及び制御裝置一第7部:補(bǔ)助裝置一第1節(jié):銅導(dǎo)體用端子臺注記対応國際規(guī)格:IEC60947-7-1:2002,Low-voltageswitchgearandcontrolgear—Part7-1:Ancillaryequipment—Terminalblocksforcopperconductors(MOD)JISC60050-161:1997EMCに関するI注記対応國際規(guī)格:IEC60050-161:1990,InternationalElectrotechnicalVocabulary—Chapter161:Electromagneticcompatibility(IDT)JISC60068-2-1:2010環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-1部:低溫(耐寒性)試験方法(試験記號:A)注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-1:2007,Environmentaltesting—Part2-1:Tests—TestA:Cold(IDT)4B3502:2011JISC60068-2-2:1995環(huán)境試験方法一電気·電子一高溫(耐熱性)一試験方法注記対応川際規(guī)格:IEC60068-2-2:1974,Environmentaltesting—Part2:Tests—TestsB:Dryheat(IDT)JISC60068-2-6:1999環(huán)境試験方法一電気·電子一正弦波振動試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-6:1995,Environmentaltesting—Part2:Tests—TestFc:Vibration(sinusoidal)(IDT)JISC60068-2-14:2011環(huán)境試験方法一電気·電子一第2-14部:溫度変化試験方法(試験記號:N)注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-14:2009,Environmentaltesting—Part2-14:Tests—TestN:ChangeofJISC60068-2-31:1995環(huán)境試験方法一電気·電子一面落下,角落下及び転倒(主として機(jī)器)試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-31:1969,Environmentaltesting—Part2:Tests—TestEc:Dropandtopple,primarilyforequipment-typespecimens(IDT)JISC60068-2-32:1995環(huán)境試験方法一電気·電子一自然落下試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60068-2-32:1975,Environmentaltesting—Part2:Tests—TestEd:Freefall(IDT)JISC60364-1:2010低圧電気設(shè)備一第1部:基本的原則,一般特性の評価及び用語の定義注記対応國際規(guī)格:IEC60364-1:2005,Low-voltageelectricalinstallations—Part1:Fundamentalprinciples,assessmentofgeneralcharacteristics,definitions(IDT)JISC60364-4-41:2010低圧電気設(shè)備一第4-41部:安全保護(hù)一感電保護(hù)注記対応國際規(guī)格:IEC60364-4-41:2005,Low-voltageelectricalinstallations—Part4-41:Protectionforsafety—Protectionagainstelectricshock(IDT)JISC60664-3:2009低圧系統(tǒng)內(nèi)機(jī)器の絶緑協(xié)調(diào)一第3部:汚払保護(hù)のためのコーティング,ポッティ注記対応國際規(guī)格:IEC60664-3:2003,Insulationcoordinationforequipmentwithinlow-voltagesystems—Part3:Useofcoating,pottingormouldingforprotectionagainstpollution(IDT)JISC60695-2-11:2004耐火性試験一電気·電子一最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60695-2-11:2000,Firehazardtesting—Part2-11:Glowing/hot-wirebasedtestmethods—Glow-wireflammabilitytestmethodforend-products(IDT)JISC60695-11-10:2006耐火性試験一電気·電子一第11-10部:試験炎一50W試験炎による水平及び垂直燃焼試験方法注記対応國際規(guī)格:IEC60695-11-10:1999,Firehazardtesting—Part11-10:Testflames—50Whorizontalandverticalflametestmethods(IDT)JISC61000-4-2:1999電磁両立性一第4部:試験及び測定技術(shù)一第2節(jié):靜電気放電イミュニティ試験注記対応國際規(guī)格:IEC61000-4-2:1995,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-2:Testingandmeasurementtechniques—Electrostaticdischargeimmunitytest(IDT)注記対応國際規(guī)格:IEC61000-4-4:2004,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-4:Testingandmeasurementtechniques—Electricalfasttransientburstimmunitytest(IDT)5B3502:2011JISC61000-4-5:2009電磁両立性一第4-5部:試験及び測定技術(shù)ーサージイミュニティ試験注記対応際規(guī)格:IEC61000-4-5:2005,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-5:Testingandmeasurementtechniques—Surgeimmunitytest(IDT)JISC61000-4-6:2006電磁両立性一第4-6部:試験及び測定技術(shù)一無線周波電磁界によって誘導(dǎo)する注記対応國際規(guī)格:IEC61000-4-6:2003,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-6:Testingandmeasurementtechniques—Immunitytoconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields(MOD)JISC61000-4-8:2003電磁両立性一第4部:試験及び測定技術(shù)一第8節(jié):電源周波數(shù)磁界イミュニテ注記対応國際規(guī)格:IEC61000-4-8:1993,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-8:Testingandmeasurementtechniques—Powerfrequencymagneticfieldimmunitytest(MOD)JISC61000-4-11:2008電磁両立性一第4-11部:試験及び測定技術(shù)一電圧ディップ,短時間停電及び注記対応國際規(guī)格:IEC61000-4-11:2004,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-11:Testingandmeasurementtechniques—Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsimmunitytests(IDT)JISC61000-6-1:2008電磁両立性一第6-1部:共通規(guī)格一住宅,商業(yè)及び軽工業(yè)環(huán)境におけるイミュ二ティ注記対応國際規(guī)格:IEC61000-6-1:2005,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part6-1:Genericstandards—Immunityforresidential,commercialandlight-industrialenvironments(IDT)JISC61000-6-2:2008出磁両立性一第6-2部:共通規(guī)格一工業(yè)環(huán)境におけるイミュニティ注記対応國際規(guī)格:IEC61000-6-2:2005,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part6-2:Genericstandards—Immunityforindustrialenvironments(MOD)IEC60038:2002,IECstandardvoltagesIEC.60050-131:2002,IntemationalElectrotechnicalVocabulary—Part131:Circuittheory.IEC60050-151:2001,InternationalElectrotechnicalVocabulary—Part151:ElectricalandmagneticdevicesIEC60050-195:1998,InternationalElectrotechnicalVocabulary(IEV)—Part195:EarthingandprotectionagainstelectricshockIEC60060-1:1992,High-voltagetesttechniques—Part1:GeneraldefinitionsandtestrequirementsIEC60068-2-27:1987,Environmentaltesting—Part2-27:Tests—TestEaandguidance:ShockIEC60068-2-30:2005,Environmentaltesting—Part2-30:Tests—TestDb:Dampheat,cyclic(12h+12-hourcycle)IEC60417,GraphicalsymbolsforuseonequipmentIEC60445:2006,Basicandsafetyprinciplesforman-machineinterface,markingandidentification一IdentificationofequipmentterminalsandconductorterminationsIEC60664-1:1992,Insulationcoordinationforequipmentwithinlow-voltagesystems—Part1:Principles,requirementsandtests,Amendment1:2000及びAmendment2:2002IEC61000-4-3:2006,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-3:Testingandmeasurementtechniques一Radiated,radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest6B3502:2011IEC61000-4-18:2006,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-18:Testingandmeasurementtechniques一DampedoscillatorywaveimmunitytestIEC61000-4-29:2000,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-29:Testingandmeasurementtechniques一Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsond.c.inputpowerportimmunitytestIEC61000-6-4:2006,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part6-4:Genericstandards—EmissionstandardforindustrialenvironmentsIEC61131-3:2003,ProgrammableControllers—Part3:ProgramminglanguagesIEC/TR61131-4:2004,Programmablecontrollers—Part4:UserguidelinesCISPR14-1:2005,Electromagneticcompatibility—Requirementsforhouseholdappliances,electrictoolsandsimilarapparatus—Part1:EmissionCISPR16-1-2:2003,Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods—Part1-2:Radiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatus—Ancillaryequipment—ConducteddisturbancesCISPR16-1-4:2004,Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods—Part1-4:Radiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatus—Ancillaryequipment—RadiateddisturbancesCISPR16-2-1:2005,Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods—Part2-1:Methodsofmeasurementofdisturbancesandimmunity—ConducteddisturbancemeasurementsCISPR16-2-3:2006,Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods—Part2-3:Methodsofmeasurementofdisturbancesandimmunity—Radiateddisturbancemeasurements2形式試験この簡條のⅡ的は,この規(guī)格の要求小項に関して,PLC及び以連周辺裝ǔの適合性を検証する方法を定a)形式試験(簡條6,簡條9及び簡條12參照)による検証。b)適切な試験,外観検查及びノ又は測定による検証。これらの試験は,PLCの適用に関する試験ではなく,機(jī)器の適合性検証である。この規(guī)格の範(fàn)囲によると,a)及びb)の適合性検証は,使用者が意図した自動化システムの要求事項を満足させるPLCシステムの能力を検証するものではない。この規(guī)格で規(guī)定していない特別な試験が必要な場合は,受渡當(dāng)事者間になお,定常試験は,簡條13で規(guī)定する。注記PLCシステムと同じ環(huán)境で用いる周辺裝置は,PLCシステムと同じ要求事項を満たすことが望2.1EUT[equipmentundertest(供試品)]PLCシステムは,獨立形の製品からモジュール構(gòu)造の製品までの範(fàn)囲にわたる。これは,実際に使用者が組み立てるPLCシステム構(gòu)成の種類が無限にあることを意味する?，F(xiàn)実的には要になる。したがって,製造業(yè)者は,EUTを定義して,次の原則を満たす試験計畫及び試験プログラムを文書化しなければならない。一製造業(yè)者の仕様及び設(shè)置説明書に従って使用者が組み立てた,いかなる構(gòu)成においても,同じ試験に7B3502:2011一その構(gòu)成は,通常使川狀態(tài)を反映することを意図した武験であるので,その狀態(tài)で正常に機(jī)能する。この規(guī)格でほかに規(guī)定がない場合には,製造業(yè)者は,所定の形式試験の目的を達(dá)成するために,様々な一全ての種類のモジュールは,許容する組合せの一つ以上のEUT注記多數(shù)の入出力(例えば,100以上)の場合には,サンプルに基づいた統(tǒng)計的な基準(zhǔn)を適用しーローカル拡張バスがPLCシステムの一部であり,その最大ケーブル長が3m以下の場合には,PLCのーローカル拡張バスがPLCシステムの一部であり,3mより長いケーブルで助作する場合には,リンク8個個適用範(fàn)囲補(bǔ)助電源Ar9B3502:2011のモジュールが混在した狀態(tài)で試験する場合には,試験の結(jié)果に影響してはならない。詳細(xì)に関しては,製造業(yè)者は,次に従って各々の試験を?qū)g施する。a)構(gòu)成の設(shè)置方法及び外部との接続方法を指定する。製造業(yè)者が用意する適切な試験プログラム及び2.5製造業(yè)者が用意する試験プログラム及び正規(guī)の機(jī)能検証手順[properfunctioningverificationprocedures(PFVP)]に関する要求事項c)內(nèi)蔵システム又は外付けシステム,及びアプリケーションデータの,意図的でない変更EUTの全ての入出力及び通チャネルが,機(jī)能しなければならない。注記多數(shù)の入出力(例えば,100以上)の場合には,サンプルに基づいた統(tǒng)計的な基準(zhǔn)を適用して全ての外部的及び內(nèi)部的な製品のステータス情報を通知する手段,すなわち,ディスプレイ,ランプ,警報信號,自己診斷結(jié)果を格納するレジスタなどが機(jī)能していなければならない。試験手順には,関連すB3502:2011試験は,特に規(guī)定しない限り,表1の一般試験條件の下で実施しなけ特に規(guī)定しない限り,形式試験の心ぼは定めない。表1一一般試験條件項目試験條件裝置電源定格電壓，定格周波數(shù)溫度15～35℃相対濕度気圧86～106kPa(650~800mmHg)出力負(fù)荷定格負(fù)荷污損度污損度23用語及び定義3.1アナログスカ(analoginput)3.2アナログ出力(analogoutput)3.33.4基本PLC(システム)3.53.6空間距離(clearance)二つの導(dǎo)體部Nの空Mに拍ける最小の距雕(IEC60664-1の3.2參照)。3.7コーテイング(coating)及び保護(hù)(protective)プリント配線基板の空M団離及びノ又は沿血囲離の川を封じ,外気を遮斷し,インパルス及び遜続し被覆。注記通常,コーティングは,外気の影響を防ぎ,コーティングがない場合には,不十分な空間距離及びノ又は沿面距離の絶緑耐圧特性を強(qiáng)化するために適用する。不十分なコーティングは,外B3502:20113.8材料が50滴の塩化アンモニア(NH?Cl)溶液に対してトラッキングが発生しない最大電圧値(JISC21343.9二つの導(dǎo)電部間の絶緑固形材料の表面に沿った最短距離(IEC60050のIEV151-15-50)。3.10電流シンク(currentsinking)3.11電流ソース(currentsourcing)3.12デジタル入力,タイプ1(digitalinput,typel)3.13デジタル入力,タイプ2(digitalinput,type2)2線式近接スイッチなどの半導(dǎo)體機(jī)器からの號を検出する機(jī)器。其本的には,2們信號をǐーのビット3.14デジタル入力,タイプ3(digitalinput,type3)2線式近接スイッチなどの半導(dǎo)體機(jī)器からの信號を検出する機(jī)器?；镜膜摔?2值信號を単一のビットの入カチャネル數(shù)の高密度化を可能とする。タイプ3は,オフ狀態(tài)で低電流であり,IEC60947-5-2デバイスと互換性がある點でタイプ2と異なる。動作範(fàn)囲の詳細(xì)は,表8を參照。タイプ2に互換性がある近接スイッチの大半は,タイプ3にも互換性がある。3.15デジタル出力(digitaloutput)3.16接地(earth)いかなる點においても,電位が通常0とみなされる大地の導(dǎo)電性の部分(IEC60050のIEV195-01-01)。350035003.17環(huán)境において満足に機(jī)能するための裝置又はシステムの能力(JISC60050-161の番號161-01-07參照)。3.18閉鎖形裝置(enclosedequipment)人が誤って充電部分又は可動部分に接觸することを防止し,中程度の大きさの固形異物の侵人から裝置を保護(hù)し,機(jī)械的強(qiáng)度,難燃性及び安定性(適用可能な場合)の要求事項に合致させるために,取付面を除く,全ての面を閉鎖した裝置。保護(hù)等級は,11.1.2を參照。3.19用途に適した保護(hù)の等級及び種別を與える?yún)Ъ{體(IEC60050のIEV195-02-35)。3.20EUT[equipmentundertest]製造業(yè)者が定義した,形式試験に用いる代表的な構(gòu)成(簡條2參照)。供試品ともいう。3.21外部配線(externalwiring)使用者が設(shè)置するPLCシステム裝置の配線。3.22現(xiàn)場配線(fieldwiring)現(xiàn)場で施す外部配線。3.23機(jī)能接地導(dǎo)體(functionalearthingconductor)妨害イミュニテイ対策の目的で,例えば,大地と電気的に接觸させる導(dǎo)體。3.24片手に持ち,もう一方の手で操作できる裝置。3.25危険狀態(tài)(hazardouslive)通常使用及び単一故障狀態(tài)において,感電又は電気熱傷を生じる狀態(tài)。注記通常狀態(tài)で適用する値は11.2.1.1を參照し,単一故障狀態(tài)で適用する値は11.2.1.2を參照する。3.26電磁妨害が発生する環(huán)境において,機(jī)器,裝置又はシステムが,能力を減じることなく機(jī)能する能力(JISC60050-161の番號161-01-20參照)。注記この規(guī)格においては,EMCだけに対して用いる用語ではなく,例えば,振動,濕度などに引用3.27イミュニティ(形式)試験[immunityty通常の稼動條件を模して定めた特定の作用を與える物理量を一定量與えても,基本PLCシステムの動作B3502:20113.28絶緑材料(insulation)機(jī)器の導(dǎo)電部を絶緑するために用いる全ての材料及び部品(IEC60050のIEV151-15-41)。次に,関連事項を示す。一絶緑材料は,固體,液體,気體(例えば,空気)又はそれらの任意の組合せのいずれでもよい(IEC60050一絶緑(insulate)分離した導(dǎo)體間の導(dǎo)通を防止すること(IEC60050のIEV151-03-28)。一絶緑(isolate)裝置又は回路を,ほかの裝置又は回路から確実に非接続狀態(tài)にすること。いかなる充電回路に対しても,指定する保護(hù)の等級を(分離することによって)満足させること(IEC60050のIEV151-03-29)。3.29基礎(chǔ)絶緑(basicinsulation)基本的な保護(hù)を行う危険充電部の絶緑(IEC60050のIEV195-06-06)。注記この概念は,機(jī)能を目的とする絶緑以外にも適用する。3.30付加絶緑(supplementaryinsulation)保護(hù)が損なわれた場合に備えて,基礎(chǔ)絶緑に加えて施す獨立した絶緑(IEC60050のIEV195-06-07)。3.31基礎(chǔ)絶緑及び付加絶緑の両方からなる絶緑(IEC60050のIEV195-06-08)。3.32強(qiáng)化絶緑(reinforcedinsulation)感電に対して,二重絶緑と同等の保護(hù)の等級を満足させる危険充電部の絶縁(IEC60050のIEV195-06-09)。注記強(qiáng)化絶緣は,基礎(chǔ)絶縁又は付加絶縁として個別に試験できない複數(shù)の層で構(gòu)成することができ3.33有する境界。3.34內(nèi)部配線(internalwiring)製造業(yè)者によって設(shè)置する,PLCシステム裝置內(nèi)部の配線。3.35電気的結(jié)合がない裝置及び回路。3.36充電部分(livepart)通常動作時に電圧を印加する導(dǎo)體又は導(dǎo)電性部分。中性點導(dǎo)體は含むが,一般的には,PEN導(dǎo)體,PEM35003500注記この概念は,感ūの危険に対しては適川する必要がない(IEC60050のIEV195-02-19)。1)PEN導(dǎo)體中性點導(dǎo)體と保護(hù)接地導(dǎo)體とを接続する機(jī)能導(dǎo)體(IEC60050のIEV1953.37材料グループ(materialgroup)3.383.393.403.41通常操作(normaluse)注記通常稼動狀態(tài)については,簡條4參照。3.42通常狀態(tài)(normalcondition)3.43開放形裝置(openequipment)3.44PLCに接続したHMIによって,機(jī)械又はプロセスに対して指示及び監(jiān)視する人。操作者は,PL350035003.45過電圧カテゴリ(回路又は電気システムに対する)(overvoltagecategory)回路內(nèi)(又は異なる公稱電圧をもつ電気システム內(nèi))で発生し得る一時的な過電圧值を,制限又は制御する數(shù)値を基準(zhǔn)にした種別。過電圧による影響を打ち消す手段に依存する(IEC606641の3.10と同等)。サージ電流エネルギーの拡散,吸収又は転換を行う機(jī)能をもつ過電圧保護(hù)素子又は直列シャ電圧値まで,過渡的過電圧を下げなければならない。3.46常設(shè)設(shè)備(permanentinstallation)注記附屬書A參照。3.47汚損度(ミクロ環(huán)境における)(pollutiondegree)空間距離及び沿面距離を評価する目的のために,ミクロ環(huán)境における3.48～3.50の汚染の程度を規(guī)定す注記1汚染された絶緣の導(dǎo)電性は,異物の付著及び濕気による。注記2汚損度2及び3で決められる最小空間距離は,基礎(chǔ)データよりも経験による。3.48汚損度1(pollutiondegree1)汚染なし又は乾燥しているだけで,導(dǎo)電性の汚染がない狀態(tài)。汚染は,絶緣に影響しない。3.49汚損度2(pollutiondegree2)通常,導(dǎo)電性の汚染がない狀態(tài)。しかし,場合によっては,結(jié)露で一時的な導(dǎo)電性が発生し得る狀態(tài)。3.50汚損度3(pollutiondegree3)導(dǎo)電性汚染がある狀態(tài),又は結(jié)露によって導(dǎo)電性をもつようになる乾燥した非導(dǎo)電性汚染がある狀態(tài)。3.51電源若しくは信號を入出力する場所,又は機(jī)器若しくはネットワークにおいて観測若しくは測定する場所(IEC60050のIEV131-12-60)。3.52可搬形裝置(portableequipment)操作中又は給電のために接続されたままで移動可能な閉鎖形裝置。3.53保護(hù)尊體(protectiveconductor)35003500安全,例えば,感電に対する保護(hù)のために用意した導(dǎo)體(IEC60050のIEV195-02-09)。3.54通常狀態(tài)及び単一故障狀態(tài)において,回路の電圧がAC30V(実効値),42.4V(ピーク値)又はDC60V以下の回路。ただし,ほかの回路の接地故障狀態(tài)は除く。PELV回路は,保護(hù)接地に接続されたSELV回路と同等である。3.55危険充電部と部分接觸可能導(dǎo)體とを接続した場合に,通常狀態(tài)時及び単一故障狀態(tài)時において,この規(guī)一部品の結(jié)合體一基礎(chǔ)絶緑と電流制限デバイス又は電圧制限デバイスとの集合體一構(gòu)造一信性3.56公衆(zhòng)電源(publicmains)建屋內(nèi)の常設(shè)設(shè)備の主幹線からの電源。3.57繰返しピーク電圧(recurringpeakvoltage)ある一定周期で繰返し発生する化圧のピーク花圧。3.58定常試験(routinetest)各個別の機(jī)器が,ある其準(zhǔn)に合致しているかを確認(rèn)するために,裂造中又は裂造後に火施する試験(IEC60050のIEV151-16-17)。3.59通常狀態(tài)及び単一故障狀態(tài)において,回路の電圧がAC30V(実効値),42.4V(ピーク値)又はDC60V以下の回路。ほかの回路の接地故障を含む。SELV回路は,保護(hù)接地には接続しない。3.60保全者は,業(yè)務(wù)遂行上,遭遇し得る危険(特に,電気的な危険),及び自分自身又は第三者若しくは裝置に與える危険を最小化する方策を認(rèn)識するのに必要な適切な技術(shù)的教育を受けた人であり,それらの経験B3502:20113.61多チャネルモジュールで,通常の稼動條件における最も過酷な組合せで動作させても,絶緑,端子,露出した導(dǎo)電性部などのいずれの部分も,規(guī)定の溫度制限以下で供給可能な電流値。注記一般に,多チャネルモジュールでは,全出力電流はチャネルごとの出力電流の合計よりも3.62形式試験(typetest)意図した仕様を満足していることを確認(rèn)するために,1臺以上の機(jī)器に対して行う試験(IEC60050のIEV151-16-16)。3.63システム內(nèi)のほかのユニットと接続する集合體(この集合體は,裝著するか又は別の方法で集合體に接続3.64より深刻な影響をもたらす一定量の物理量を作用させて,PLCシステムの正規(guī)の機(jī)能を遂行するための能力を損なわないことを検証する形式試験。3.65動作電圧(workingvoltage)機(jī)器に定格化圧(U)を供給したときに,個々の絶緑部に印加する交流(実効値)又は血流の最高花圧値。次に,関連事項を示す。一過渡狀態(tài)は,考慮しない。一間川路狀態(tài)及び通常動作狀態(tài)の両狀態(tài)を考慮する。4通常の稼動條件及び要求事項通常の稼動條件では,機(jī)器の稼動條件を超えないように用いることが,使用者の責(zé)任である。PLC及び使用者は,この規(guī)格で規(guī)定する環(huán)境條件を満足する設(shè)置環(huán)境にしなければならない。4.1環(huán)境條件及び要求事項裝置は,表2に示す動作周囲溫度に適合しなければならない。表2-PLCシステムの動作周囲單位℃閉鎖形裝置開放形裝置動作周用溫度範(fàn)囲最高40最低55自然対流による非換気方式の裝置においては,きょう體の垂直中央を通る水平面上で,きょう體から50mm以內(nèi)の1點での溫度を動作周叫溫度とする。換気を行う裝置においては,周囲溫度は,裝置の空気流入面から50mm以內(nèi)の1點での流入空気溫度を動作周囲溫度とする。強(qiáng)制外部空冷は想定しない。PLCシステムの一部として常設(shè)される開放形周辺裝置は,PLCの動作周囲溫度範(fàn)囲を満足しなければならない。ほかの裝置(例えば,盤面に取り付けたHMIなど)は,開放形及び閉鎖形裝置の組合せ特性を適用する。裝置は,結(jié)露なしで,10～95%の相対濕度に適合しなければならない。この要求事項は,6.1.3に基づいて検証す石。裝置は,標(biāo)高2000mまでの運(yùn)用に適合しなければならない。検証試験は不要である。製造業(yè)者による特別な指定がない限り,裝置は,汚損度2での使用を想定して設(shè)計する。4.2機(jī)械的な稼動條件及び要求事項振動,衝撃及び自然落下の條件は,設(shè)置狀態(tài)及び環(huán)境によって幅広く変化するため,機(jī)械的な稼動條件を規(guī)定するのは困難である。こん(捆)包を解いた狀態(tài)の攜帯形及びハンドヘルド形裝置と同様に,固定裝置に適用する次の要求事項で間接的に機(jī)械的な稼動條件を規(guī)定する(例外については,4.2.2び火述周辺裝説だけに適川する。これらの要求事項に適合する機(jī)器裝置は,工業(yè)環(huán)境での固定設(shè)置に適していることが経験的に分かっている。固定裝置は,常設(shè)の設(shè)備の一部である。表3-PLCシステムに対する正弦波振動の稼動條件周波數(shù)範(fàn)囲)Hz連続的な振動を受ける場合b)斷続的な振動を受ける場合b5≤f<8.4定振幅1.75mm定振幅3.5mm8.4≤f≤150定加速度4.9m/s2定加速度9.8.m/s2注記Gpek三9.8×0004024f2Dpekここに,Gnk:重力加速度(ピ一久值)(m/s2)Dpeak,:振幅(一久值)(mm).b)數(shù)値は,ピーク値を示す。振動は,相互に直交する3軸方向の各々に適用する。製造業(yè)者は,攜帶形及びハンドヘルド形問辺裝置の取付方法を指定する。B3502:2011この要求事項は,6.3.1に基づいて検証する。加える衝撃は,相互に直交する3軸方向の各々において,147m/s2,11ms,正弦波パルスである。有接點リレーは,147m/s2の衝撃に一時的に応動しても差し支えない。試験中の一時的な誤動作は許容するが,裝置は試験後,全ての機(jī)能が動作しなければならない。この要求事項は,6.3.2に基づいて検証する。表4一堅固な面への自然落下(攜帯形及びハンドヘルド形裝置)耐力試験規(guī)定項目一1000mm2回a)b)c)水平落下100mm2回一a)e)支持落下30°又は100mm2回一a)c)d)注衝撃時の一時的な誤動作は許容するが,試験後は全ての機(jī)能が動作し,衝撃による致命作した場合には,修正操作を必要としてもよい。b)表18で規(guī)定している姿勢(通常の使用位置)からの落下。Θランダム落下は,任意の辺,面又は角からの落下である。水平落下は,面からの落下である。支持落下は,辺からの落下である。④表18參照。この要求事項は,6.3.3に基づいて検証する。4.3翰送及び保管條件並びに要求事項次の要求事項は,製造業(yè)者が出荷こん包したモジュールに適用する。こん包していない攜帯形裝置の輸送及び保管は,4.2の要求事項に適合しなければならない。特定の制限條件がある部品(CMOS部品,電池など)を裝置が含む場合には,製造業(yè)者が定めた輸送及び保管の手段に従わなければならない。許容溫度範(fàn)囲は,一40～+70℃である。ー25～+70℃も許容するが,將來の設(shè)計では推奬しない。この要求亦項は,6.1.1に其づいて検証する。相対濕度は,10～95%(露なL)である。この要求事項は,6.1.3に基づいて検証する。輸送時の気圧の仕様は,標(biāo)高0～3000mと同等(最低70kPa)でなければならない。検証試験は不要である。4.3.4自然落下(製造業(yè)者の出荷こん包狀態(tài)でのPLCユニット)20mm回510～4055この規(guī)格に規(guī)定していない機(jī)械的條件に対しては,受渡當(dāng)事者間の協(xié)定による。この協(xié)定に,極低溫で4.4電気的稼動條件及び要求事項5.1.1參照。が抑制しなければならない。すなわち,過渡的な過電圧が,基礎(chǔ)絶緑のための定格電圧に対応するインパルス電圧以下でなければならない。裝置又は過渡的な過電圧を抑制する手段が,過渡的なエネルギーを吸工場環(huán)境における非周期的な過電圧のピークは,高エネルギー裝置の電力遮斷の結(jié)果(例えば,三相システムの一相のヒューズ溶斷)として裝置電源の電源ラインに現(xiàn)れる例えば,変圧器の設(shè)置などの必要な処置を施さなければならない。粒子,蒸気若しくは塩分による空気汚染,菌類,蟲若しくは小動物によって被害が生じるおそれなど,劣5機(jī)能に関する要求事項周辺裝置(常設(shè)/非常設(shè))周辺裝置(常設(shè)/非常設(shè))J→第三者裝置デー夕転送E÷裝置電源供給了F→補(bǔ)助電源出力→保護(hù)接地KHH及び任意選択HKGJAl_GCGGKKHDEEEFFF裝置電源は,電源投人,電源遮斷及び瞬時停電の間,下流の裝置を有効にしておかなければならない。22B3502:2011心圧周波數(shù)推奬使川川注記”定格許容範(fàn)囲定格許容範(fàn)囲供給電源入出力信號)DC24V+20%-15%一一OODC48VOOe)d)一一一AC24V+10%-15%50Hz又は60Hz+4%-6%一一AC48V一一)OO一OO一◎OAC200VOO一AC230VOOAC240VOO一AC400VO一e)の注ッアナログ入出力への供給電源については,7.10.3の項目5及び7.11.3の項目3を參照。屬書Bの計算式によって,表8の入力限界を算出するために用いる。電圧許容範(fàn)囲に加えて,定格電圧の5%のピーク值をもつAC成分は許容する。この場合,絶対定格は,DC24VでDC19.2～30V,DC48VでDC38.4～60Vとする。のタイプ2のデジタル入力を外部供給出源として川いる場合は,表8の注りを參照。D三相電源供給交流電圧は,裝置への入力點で測定した合計実効値(rm.s)を意味する。公稱周波數(shù)の10次未満の高調(diào)波成分(公稱周波數(shù)の整數(shù)倍)の合計実効値(rm.s)は,測定した電圧の10次以上の高調(diào)波成分の影響は,測定した電圧の約2%になることがあるが,一定の比較結(jié)果を得るために,位相角0°及び180°における10%の第3高調(diào)波分だけで裝置を試験する。23B3502:2011次の制限は,裝ù光源供給端子(図2のF端子)に適川する。表7に規(guī)定するように電源に対する短時間の電源障害に対し,PLCシステム[RIOS(5.6參照),非恒久的に設(shè)置した周辺機(jī)器を含む。]は,正常動作を継続しなければならない。より長い時間の電源停止に対しては,PLCシステムは,正常動作を継続するか,又は電源が正常に戻るまであらかじめ設(shè)定した狀態(tài)に遷移し,明確に規(guī)定された動作を継続しなければならない。注記同一の電源で駆動する出力及び高速応答入力は,これら電源の変動の影響を受ける可能性があこの項の要求事項は,6.4.2.3に基づいて検証する。表7一瞬時停電(機(jī)能要求)山源タイプǔ源條件の厳しさレベルD最大它源停止時UemnからU。に対する%DCPS1DCPS2ACPS20.5周期注電源電圧低下は,Ueminからの低下とする。。PS2は,AC電源,ACから平滑した電源及びDC電源から電源供給するPLCシステムに適用。d)Ueminは,表6の許容範(fàn)囲の最小電莊值。任意位相角度でFa=50又は60Hz(6.4.2.3參照)。場合,定格容量とは,指示した交換の方法及び期間を満たしている場合の容量)において,通常の稼動條上記と異なる場合,製造業(yè)者は,揮発性メモリのバックアップ時間を指定しなければならない。乙の要求項は,6.4.4に基づいて検證する。デジタル入力の形式には,電流シンク入力及び電流ソース入力があり,また,デジタル出力の形式には,山流シンク出力及びǔ流ソース出力がある。デジタル入出力の合せの例は,図3及び図3A～図3Cによ24B3502:2011入力入力zPS負(fù)荷出力図中の記號の意味は,次のとおりである。Z:入力PS:外部電源出力出力Cz負(fù)荷入力外のデジタル入力は,附屬書Bに示す計算式に従わなければならない。d)PLCシステムにおいては,出力を入力に接続する場合があるので,デジタル入出力の形式を正しく選は,製造業(yè)者がそれを指定しなければならない。25入力入力ZCEPLC入力出力----:短絡(luò)図3eー電流シンク入力·電流ソース出力のときの短絡(luò)一斷線狀態(tài)26B3502:2011出力C出力C電流ソースPLC入力言入力zPLCE5.2.1.1電圧·電流動作領(lǐng)域27B3502:2011U(V)U(V)個UHmaxUemxON領(lǐng)域/Hmax遷移領(lǐng)域/TminULmax又はUTmin/Lmin/Lmax01(mA)UHnin又はUrmax|TmaxUemin/HminULminImax及Iminは,ON領(lǐng)域(狀態(tài)1)に対する電流限界。U,Uemx及びUeminは,外部電源電圧の定格電圧及びその限界。28デジタル入力は,表8に示す限界內(nèi)で動作しなければならない。表8ーデジタル入力の標(biāo)準(zhǔn)動作範(fàn)囲定格電圧U.b定格Fn種別タイプ1限界値。タイプ2限界値注記狀態(tài)0遷移狀態(tài)1狀態(tài)0遷移狀態(tài)1狀態(tài)0遷移狀態(tài)1ULLUrUaULLUTTUHULUrUaDC24V一最大Dg最小—3ND50.52—3ND526—3ND52DC48V最大d)e)最小—6ND0.52—6ND26—6ND2AC24V50/60最大d)h)最小005120054600525AC48V50/60最大d)h)最小001200460025AC110VAC120V50/60最大UeUUed)0h))最小00120046002.55AC200VAC230VAC240V50/60最大40Ue40U?40Ued)ph))最小00402300405700402.55ND:定義なし注記JISC8201-5-2の近接スイッチは,タイプ2に適合し得る。この表の注りも參照。注乙の表は,已毛>匯對するシン久入力の電壓及工電流を示すものでぁり,y-又入力の場合は,電壓及下電流の極性を反転させて,乙の表を用いる。.Zの表忙記載のないDC12V,DC110V,AC220VなビDいては,附屬書Bで算出する。d)全ての論理信號は正論理。入カオープンは,狀態(tài)0として解積する。この表の數(shù)値を算出するために用いた計算式。電圧限界値は,交流成分を含む。D一般使用及び新規(guī)設(shè)計に推奬する。22線式近接スイッチに接続するタイプ2のDC24V外部花源花圧の最低值はDC20V以上,又は十分な安全余裕を確保するために,UhminはDC11V未満でなければならない。h)無接點スイッチは,入力信號の高調(diào)波の合計実効値(rm.s.)に影響を與える。このため,特に,タイプ2のAC24Vにおいて近接スイッチと直接接続する場合の互換性に影響を與えることがあるので,その要求事項についてはD通常用いられている複數(shù)の定格電圧を一種類の入力モジュールで共用することを促すため,限界値は,絶対値で示各入カチャネルは,入力狀態(tài)1のときに點燈するランプ又は同等の手段をもっていなければならなこの要求事項は,6.5.3に基づいて検証する。295.2.2.1定格值及び動作範(fàn)囲(交流)デジタル交流出力は,5.1.1.1によって裂造業(yè)者が定めた出力化圧において,表9及び図5に示す定格表9ーデジタル交流出力の定格値及び動作範(fàn)囲定格電流(狀態(tài)1)12狀熊1に対する電流範(fàn)囲保護(hù)なし出力3333保護(hù)付出力5555半導(dǎo)體出力接點出力半導(dǎo)體出力1222一接點出力一)漏れ電流が3mAを超える半導(dǎo)體出力は,タイプ2のデジタル入力·0.25A,ta=1s·0.5～2A,ta=2s/e0tt2時問(s)図5一交流出力の一時的な過負(fù)荷の波形3035003500製造業(yè)者が保護(hù)付出力と定めた出力は,次の條件を満たさa)定格電流(I)の1.1倍以上の定常負(fù)荷電流に耐えなければならない,及びノ又は保護(hù)素子によって出1)自動再始動保護(hù)付出力過負(fù)荷がなくなると自動的に復(fù)帰する保護(hù)付出力。2)信號制御再始動保護(hù)付出力遠(yuǎn)隔操作信號などによって復(fù)帰する保護(hù)付出力。3)手動再始動保護(hù)付出力人的操作によって復(fù)帰する保護(hù)付出力(保護(hù)は,ヒューズ,電気的インタ注記1長時間の過負(fù)荷狀態(tài)は,モジュールの動作壽命に影響を與える場合がある。注記2保護(hù)付出力は,外部配線を保護(hù)する必要はない。必要に応じて使用者の責(zé)任で外部配線の保護(hù)を施す。製造業(yè)者が短絡(luò)保護(hù)付出力と定めた出力については,次の條件を満足しなければならない。a)許容最大負(fù)荷電流を超える定格値(I)の2倍までの出力電流に対して正常に動作し,また,一時的c)定格値の2倍から20倍の出力電流又は製造業(yè)者が定めた限度a)を超える一時的な過負(fù)荷に対しては,製造業(yè)者が保護(hù)なし出力と定めた出力については,製造業(yè)者が準(zhǔn)備又は指定した保護(hù)素子を付加した場有接點リレー出力は,開閉素子の使用負(fù)荷種別AC-15(壽命クラス0.3)(JISC8201-5-1參照)の場合,31デジタルル流出力は,5.1.1.1によって製造業(yè)者が定めた出力化圧において,表10定格電流(狀態(tài)1)0.10.250.512注記最大電圧における連続電流(狀態(tài)1)最大(A)0.